この規格ページの目次
13
C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
(2)試料数6 6 1
4.34 温度変化 備考5.による。
(備考12.参照) TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
備考記号 び びTB
に変更した。
放置時間t1=30 min
外観 4.34.5による。
Uab
出力電圧比 ≦...%
Uac
(半固定可変抵抗器だけに適
用)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.36 バンプ(又は4.37 衝撃) 取付方法 : 個別規格の規定によ
(備考6.参照) る。
ピーク加速度 : 400 m/s2
(この規格の2.3.3参照)
バンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.37 衝撃(又は4.36 バンプ) 取付方法 : 個別規格の規定によ
(備考6.参照) る。
パルス波形 : 片正弦波
ピーク加速度 : 500 m/s2
(この規格の2.3.4参照)
作用時間 : 11 ms
外観 4.37.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.35 振動(正弦波) 取付方法 : 個別規格の規定によ
(備考7.参照) る。
掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度98
m/s2(どちらか緩い方)
総試験時間 : 6 h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性(4.35.4を適 100 譎 連続性がな
用) い。
最終測定 4.35.5による。
外観
Uab
出力電圧比(半固定可変抵抗 Uac
≦...%
器だけに適用)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
(3) すべての試料 13 1
4.38 一連耐候性
− 高温(耐熱性) 外観 4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル
(12+12時間サイクル)の
――――― [JIS C 5260-5 pdf 16] ―――――
14
C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
最初のサイクル
− 低温(耐寒性) 始動トルク ...mN・m...mN・m
スイッチトルク(適用する場 T≦400 mN・m
合)
− 減圧 8 kPa
備考 JIS C 5260-1で引
用しているJIS C 0029に合
わせて変更した。
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ 4.38.5.3による。
に適用)(取付方法は備考
10.による。)
− 温湿度サイクル
(12+12時間サイクル)
の残りのサイクル
− 直流負荷 備考8.による。
− アイソレーション電圧 備考8.による。 4.38.8による。
備考 原国際規格では,
4.38.2と記載されているが,
4.38.8の誤りであり訂正し
た。
− 最終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ R≧100 M圀
けに適用)(取付方法は備考
10.による。)
スイッチ接触抵抗(適用する場 圀
R≦...m
合)
連続性 適用する場合は,4.5.1及び
4.5.2による。
始動トルク ...N・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ 4.38.10.7による。
に適用)(取付方法は備考
10.による。)
群3 D 8 1
4.43.2 70 ℃での電気的耐久 試験時間 : 1 000 h
性
48 h,500 h及び1 000 hでの
検査 :
外観 4.43.2.6のa)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
1 000 hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器
だけに適用)(取付方法は
備考10.による。)
しゅう動雑音 :
――――― [JIS C 5260-5 pdf 17] ―――――
15
C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
方法A(非巻線可変抵抗 U≦...mV
器)
又は
方法B(巻線可変抵抗器), R≦...%R
個別規格で要求がある場合は,
8 000 hまで延長する。
2 000 h,4 000 h及び8 000 hで
の検査 :
素子抵抗値 圀
(...%R+...
結果は,情報としてだけに扱
う。
群4 ND 8 1
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的操作角度 最
無効操作角度(反時計方向)
無効操作角度(時計方向)
4.9 抵抗変化特性 (個別規格には,この規格の
2.1.5から選んだ試験条件と
必要性能を規定する。)
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
群5 D 8 1
4.39 高温高湿(定常) 1) 4.39.2.1
第1のグループ : 試料数2
第2のグループ : 試料数3
第3のグループ : 試料数3
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数4
第2のグループ : 試料数4
直流負荷(備考8.による。)
アイソレーション電圧(備考 4.39.4による。
8.及び取付方法は備考10.に
よる。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ R≦100 M圀
けに適用)(取付方法は備考
10.による。) 圀
R≦...m
スイッチ接触抵抗(適用する場 適用する場合は,4.5.1及び
合) 4.5.2による。
連続性(巻線可変抵抗器だけに ...mN・m...mN・m
適用)
始動トルク
しゅう動雑音 : U≦...mV
方法A(非巻線可変抵抗器に適
用)
又は R≦...%R
――――― [JIS C 5260-5 pdf 18] ―――――
16
C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
方法B(巻線可変抵抗器に適 4.39.6.8による。
用),
耐電圧(絶縁可変抵抗器だけに
適用)(取付方法は備考10.
による。)
群6 D 8 1
4.43.3 カテゴリ上限温度での 試験時間 : 1 000h
電気的耐久性(適用する場合備 − 端子aとcとの間
考7.参照) に負荷48 h,500 h及び1 000
hでの検査 :
外観
素子抵抗値 4.43.3.7のa)による。
− 端子aとbとの間 圀
(...%R+...
に負荷48 h,500 h及び1 000
hでの検査 :
外観
端子aとbとの間の抵抗値 4.43.3.7のa)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
1 000 hでの検査 : 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ
けに適用)(取付方法は備考
10.による。)
群7 ND 8 1
R
4.14 抵抗温度特性 カテゴリ下限温度/20 ℃ R ≦...%
R
20 ℃/70 ℃ R ≦...%
R
20 ℃/カテゴリ上限温度 R ≦...%
群8 D 8 1
4.43 70 ℃以外の温度での電気 (この群は,この規格の2.2.3
的耐久性(適用する場合,備考 に規定するものと異なる軽
9.参照) 減曲線を個別規格で規定す
る場合だけに適用する。)
試験時間 : 1 000 h
− 端子aとcとの間に負荷
48 h,500h,1000hでの
検査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
(群3と同じ)
− 端子aとbとの間に負荷
48 h,500 h及び1 000 h
での検査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(...%R+...
(群3と同じ)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
1 000 hでの検査 :
――――― [JIS C 5260-5 pdf 19] ―――――
17
C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1 G圀
だけに適用)(取付方法は備
考10.による。)
備考3. 封止の試験は,可変抵抗器が封止の構造をもっている場合に適用する。
種類Aの封止試験(4.31.1)及び種類Bの封止試験(4.31.2.1)は,操作軸とパネルとが封止された可変抵抗器
に対し1回行う。
4. スイッチ付可変抵抗器の場合は,可変抵抗器部及びスイッチ部の機械的耐久性試験を一つの試験として同
時に実施する。
5. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は,どちらか方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
7. この試験は耐候性カテゴリが25/-/-,40/-/-,55/-/-及ぴ65/-/-の可変抵抗器に適用する。
8. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別
規格に規定する。
9. “群8”を適用する場合は,“群0”の試料数を8個増やす。
10. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付ける穴があっても,端子でプリント配線
板に取り付けて試験する。
11. 個別規格には,4.41及び4.42のどちらを適用するかを規定する。
12. この試験は,カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との温度差が95 ℃以上の場合に適用する。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,構造的に類似な可変抵抗器(3.1参照)で構成し,次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C : 1) 試料は,13週にわたって集める。
2) 試料は,期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D : 群Cと同じとする。ただし,試料は,検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は,高抵抗値,低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格JIS C 5260-5-1及びJIS C 5260-5-2の第2章(検査の要求事項)の表IIに示す。
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格及び個別規格に規定する評価水準は,次の表VA及び表VBの中から
選択することが望ましい。
――――― [JIS C 5260-5 pdf 20] ―――――
次のページ PDF 21
JIS C 5260-5:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5:1992(MOD)
JIS C 5260-5:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC0046:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― スプリングハンマ衝撃試験方法
- JISC0066:2001
- 環境試験方法―電気・電子―炎着火源による固体非金属材料の燃焼性―試験方法のリスト
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-18:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第2-18部:耐水性試験及び指針
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-28:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐湿性試験 ― 指針
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-40:1995
- 環境試験方法―電気・電子―低温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-41:1995
- 環境試験方法―電気・電子―高温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-42:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
- JISC60068-2-43:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験方法
- JISC60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC60068-2-46:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験―指針
- JISC60068-2-47:2008
- 環境試験方法―電気・電子―第2-47部:動的試験での供試品の取付方法
- JISC60068-2-49:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験―指針
- JISC60068-2-50:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-51:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
- JISC60068-2-53:2014
- 環境試験方法―電気・電子―第2-53部:耐候性(温度・湿度)と動的(振動・衝撃)との複合試験及び指針
- JISC60068-2-54:2009
- 環境試験方法―電気・電子―はんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-59:2001
- 環境試験方法―電気・電子―サインビート振動試験方法
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)
- JISC60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JISC60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC60068-3-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第3-1部:低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試験の支援文書及び指針
- JISC60355:1993
- 環境試験方法―電気・電子―大気腐食に対する加速試験―指針
- JISC60695-1-2:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―電子部品)
- JISC60695-1-3:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―プリセレクションの用い方)
- JISC60695-11-2:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-2:2020
- 火災危険性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-3:1997
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 公称500W試験用炎及び指針
- JISC60695-11-3:2014
- 耐火性試験―電気・電子―第11-3部:試験炎―公称500W炎―試験装置及び炎確認試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC60695-2-12:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI)
- JISC60695-2-13:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT)
- JISC60695-2-2:2000
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法
- JISC60695-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)ヒータによる不完全接続耐火性試験方法
- JISC60695-2-4-0:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法
- JISC60695-4:2010
- 耐火性試験―電気・電子―第4部―電気・電子製品のための耐火性試験用語
- JISC60695-5-1:2011
- 耐火性試験―電気・電子―第5-1部:燃焼放出物による腐食損傷―一般指針
- JISC60695-5-2:1999
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験:燃焼放出物による腐食損傷の評価―試験方法の選択及び適用の指針
- JISC60695-7-1:2020
- 耐火性試験―電気・電子―第7-1部:火災による毒物危険性を最小にするための指針―一般指針