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C 5260-5 : 2000
してもよい。この場合には,個別規格に70 ℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線
上の折れ点を試験によって確認しなければならない。
動作領域が広げられた軽減曲線の例
2.2.4 素子最高電圧(最高使用量圧)
素子最高電圧の推奨値は,次による。
100V,160 V,200 V,250 V,315 V,400 V,500 V,630 V,800 V及び1 000 V(直流又は交流実
効値)
2.2.5 アイソレーション電圧
アイソレーション電圧は,丸めて10 V単位の値とし,個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は,次による。
大気圧下 : 最高使用電圧の1.42倍以上
減圧下 : 8 kPa,大気圧下でのアイソレーション電圧の2/3倍
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.2.6 附属スイッチの定格
スイッチの推奨定格は,次による。
交流実効値 :
1 A-125 V,1 A-250 V,2 A-250 V,3 A-125 V及び4 A-250 V
直流 :
1 A-250 V
2.3 推奨する試験の厳しさ
個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。
2.3.1 乾燥
JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
2.3.2 振動(正弦波)
JIS C 5260-1の4.35[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。
振動数範囲 : 次のどれかとする。
10Hz55 Hz
10Hz500 Hz
10Hz2 kHz(非巻線可変抵抗器の場合)
振幅 : 0.75 mm又は加速度98 m/s2(どちらか緩い方)
掃引耐久試験
総試験時間 : 6 h
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
2.3.3 バンプ
JIS C 5260-1の4.36(バンプ)及び次の条件を適用する。
ピーク加速度 : 400 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
バンプ回数 : 合計4 000
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
――――― [JIS C 5260-5 pdf 11] ―――――
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2.3.4 衝撃
JIS C 5260-1の4.37(衝撃)及び次の条件を適用する。
パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間 : 11 ms
厳しさ : 試料の一方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な可変抵抗器
構造的に類似な可変抵抗器とは,抵抗値が異なっていても,同様な工
程及び材料で製造され,同一の形状,構造であり,同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵抗器
とする。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5260-1の3.4(品質認証手順)による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は,この規格の3.3による。定数抜取の
計画を用いた手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は,認
証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなくて
もよい。
試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には,別々の抵抗温度係数を代表する係数を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の管理責
任者が提案する。IECQの場合は,国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各温度係数又は温度特性ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各温度係数又は温
度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追
加する。
3.2.2 試験
個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために,表IVに規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は,記載の順で行う。
全試料について,群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。
群“0”の試験での不良品は,その他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IVに定数抜取の試験計画を示す。これは,各試験群ごとに抜取方法,合格判定個数及び総
合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5260-1の第4章(試験及び測定方法)及びこの
規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IVは,試験方法,試験条件及び/又は要求性能について個別規格に規定するための選択
――――― [JIS C 5260-5 pdf 12] ―――――
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内容を示す。
定数抜取の試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に規
定する内容と同一とする。
表IV 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさの一部及び
抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は,この規格の関連項目による。
2. この表で :
n=試料数
c=合格判定個数(群当たりの許容不良数)。群2では,(1),(2)及び(3)でそれぞれ1個の
不良は許容されるが,群合計では2個以内とする。
t=総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群0,群18に対する許容
不良数)
D=破壊試験
ND=非破壊試験
Uab
参考 表中の U は,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
ac
表中の 到 抵抗値の変化量を示す。
表中の“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。
表IV 品質認証の試験計画(続き)
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
群0 ND 46+3 1 1
4.4.1 外観 (備考9.参照) 4.4.1による。表示が明りょう
で,個別規格の規定による。
4.6 素子抵抗値 4.6.3による。
4.4.2 寸法(ゲージ法) 個別規格の規定による。
4.7 端子間抵抗値(最小抵抗 端子aとbとの間の抵抗値 圀
R≦...
値) 端子bとcとの間の抵抗値 圀
R≦...
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による。
4.5 連続性 (巻線可変抵抗器だけに適用) 適用する場合は,4.5.1及び
4.5.2による。
4.15 しゅう動雑音 方法A(非巻線可変抵抗器に適 U≦...mV
用) R≦...%R
又は方法B(巻線可変抵抗器に
適用)
4.12 耐電圧 (絶縁形可変抵抗器だけに適 4.12.5による。
用)
(取付方法は備考10.による。)
大気圧下
4.11 スイッチ接触抵抗(適用 スイッチ接触抵抗を測定後,負 圀
R≦...m
する場合) 荷をかけてスイッチを5回 スイッチが外観的に本来の動
10回操作する。 作をする。
群1 D 8 1 3
4.18 始動トルク 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5260-5 pdf 13] ―――――
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C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
4.31.1 静的な封止 備考3.による。 リーク量は1 cm3/h以下
(種類A)
4.31.2.1 動的な封止 備考3.による。 4.31.2.1による。
(種類B)
4.31.3 容器の封止 備考3.による。 4.31.3による。
4.32 はんだ付け性 はんだ槽法 端子は,はんだが良好に付着し
(適用する場合) 温度 : 235 ℃±5 ℃ ている。
時間 : 2 s±0.5 s
又は
方法2 : はんだこて法
はんだこて先 : B
温度 : 350 ℃±10 ℃
時間 : 2 s±0.5 s
4.45 表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示が明りょうである。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法1 ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ...
Uab
4.21 操作軸固定トルク 出力電圧比 Uac
≦...%
(適用する場合) 外観 4.21.2による。
備考 原国際規格では,
4.21.3と記載され
ているが,4.21.2
の誤りであり訂正
した。
4.20 回転止め強度 外観 4.20.1による。
4.22 操作軸の押し及び引張 − 試料数3
り 4.22.2を適用
連続性 4.22.2による。
− 試料数3
4.22.3を適用
Uab
出力電圧比 Uac
≦...%
− 試料数2
4.22.4を適用
外観 4.22.4による。
4.40 機械的耐久性 操作サイクル数 : ...
(可変抵抗器) 操作速度 : ...サイクル/min
(備考4参照) 外観 4.40.6による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
始動トルク mN・m...mN・m
しゅう動雑音 :
方法A(非巻線可変抵抗器に適 U≦...mV
用)
又は
方法B(巻線可変抵抗器に適 R≦...%R
用),
封止(適用する場合)
− 4.31.3を適用 4.31.3による。
――――― [JIS C 5260-5 pdf 14] ―――――
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C 5260-5 : 2000
試料数及び総合
D
項目番号及び試験 試験条件 格判定個数 要求性能
又は
(備考1.参照) (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
n c t
(容器封止可変抵抗器にだ
け適用)
− 4.31.2.1を適用 4.31.2.1による。
備考 各方向に予備的に
圧力をかけることは許容さ
れる。
4.41 容量性負荷による電源 外観 4.41.5による。
スイッチの交流耐久性 接触抵抗 圀
R≦...m
(備考4.と備考11.を参照) 温度上昇 t≦...℃
絶縁抵抗 圀
R≧...M
耐電圧 : ...Vrms 絶縁破壊又はフラッシュオー
バがない。
又は
4.42 スイッチの直流耐久性 外観 4.42.2.1による。
(付属スイッチがある場合) スイッチ接触抵抗 圀
R≦...m
(備考4.と備考11を参照) スイッチトルク この群の始めに測定した始
動トルクの2倍以上で200
mN・m以下である。
絶縁抵抗 R≧1 G圀
(絶縁形可変抵抗器だけに
適用)(取付方法は備考
10.による。)
耐電圧 4.42.2.5による。
(絶縁形可変抵抗器だけに
適用)(取付方法は備考
10.による。)
群2 D 13 2
(1) 試料数7 7 1
4.30 端子強度 端子の形式に対応した試験を 4.30.8による。
行う。
外観 圀
(...%R+...
素子抵抗値
4.33 はんだ耐熱性(適用する 試験Tb,方法1B
場合) 温度 : 350 ℃±10 ℃
時間 : 3.5 s±O.5 s
又は
方法2
はんだこて先 : A
温度 : 350 ℃±10 ℃
時間 : 10 s±1 s 圀
(...%R+...
素子抵抗値
端子間抵抗値 : 圀
R≦...
端子aとbとの間の抵抗値 圀
R≦...
端子bとcとの間の抵抗値
4.44 本体の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2
後処理 : ...
――――― [JIS C 5260-5 pdf 15] ―――――
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JIS C 5260-5:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5:1992(MOD)
JIS C 5260-5:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC0046:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― スプリングハンマ衝撃試験方法
- JISC0066:2001
- 環境試験方法―電気・電子―炎着火源による固体非金属材料の燃焼性―試験方法のリスト
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-18:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第2-18部:耐水性試験及び指針
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-28:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐湿性試験 ― 指針
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-40:1995
- 環境試験方法―電気・電子―低温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-41:1995
- 環境試験方法―電気・電子―高温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-42:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
- JISC60068-2-43:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験方法
- JISC60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC60068-2-46:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験―指針
- JISC60068-2-47:2008
- 環境試験方法―電気・電子―第2-47部:動的試験での供試品の取付方法
- JISC60068-2-49:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験―指針
- JISC60068-2-50:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-51:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
- JISC60068-2-53:2014
- 環境試験方法―電気・電子―第2-53部:耐候性(温度・湿度)と動的(振動・衝撃)との複合試験及び指針
- JISC60068-2-54:2009
- 環境試験方法―電気・電子―はんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-59:2001
- 環境試験方法―電気・電子―サインビート振動試験方法
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)
- JISC60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JISC60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC60068-3-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第3-1部:低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試験の支援文書及び指針
- JISC60355:1993
- 環境試験方法―電気・電子―大気腐食に対する加速試験―指針
- JISC60695-1-2:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―電子部品)
- JISC60695-1-3:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―プリセレクションの用い方)
- JISC60695-11-2:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-2:2020
- 火災危険性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-3:1997
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 公称500W試験用炎及び指針
- JISC60695-11-3:2014
- 耐火性試験―電気・電子―第11-3部:試験炎―公称500W炎―試験装置及び炎確認試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC60695-2-12:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI)
- JISC60695-2-13:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT)
- JISC60695-2-2:2000
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法
- JISC60695-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)ヒータによる不完全接続耐火性試験方法
- JISC60695-2-4-0:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法
- JISC60695-4:2010
- 耐火性試験―電気・電子―第4部―電気・電子製品のための耐火性試験用語
- JISC60695-5-1:2011
- 耐火性試験―電気・電子―第5-1部:燃焼放出物による腐食損傷―一般指針
- JISC60695-5-2:1999
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験:燃焼放出物による腐食損傷の評価―試験方法の選択及び適用の指針
- JISC60695-7-1:2020
- 耐火性試験―電気・電子―第7-1部:火災による毒物危険性を最小にするための指針―一般指針