JIS C 8121-1:2019 ランプソケット類―第1部:一般要求事項及び試験 | ページ 2

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3.7
ランプコネクタ(lamp connectors)
ランプを支持しないが,ランプと電気的に接続するために特別に設計した,一対の接触子(極)。
3.8
形式試験(type test)
形式試験用試料について行う一つの試験,又はその一連の試験をいい,その製品設計の,該当する規格
の要求事項への適否の判定を目的とした試験。
3.9
形式試験試料(type test sample)
形式試験のために,製造業者又は責任のある販売業者が提出する,1個以上の同種の試料。
3.10
充電部(live part)
感電を引き起こす可能性がある導電部。
3.11
耐インパルスカテゴリ(過電圧カテゴリ)(impulse withstand category)
過渡的な過電圧状態を定めている数字。
注記 耐インパルスカテゴリは,次に示すとおり,I,II,III及びIVに分類される(この規格では,
JIS C 60664-1に規定する過電圧カテゴリを耐インパルスカテゴリと読み替える。)。
a) 耐インパルスカテゴリ分類の目的 耐インパルスカテゴリは,利用の継続性及び故障の許
容可能な危険性に関して,機器の可用性の程度を区別するために用いる。
耐インパルスレベルで機器の選定を行うことによって,故障の発生確率を許容されるレ
ベルにまで低減し,設備全体の絶縁協調が達成できる。
耐インパルスカテゴリの数字が大きいほど,機器の耐インパルスレベルが高いことを示
しており,また,過電圧抑制のための方法のより幅広い選択ができる。
耐インパルスカテゴリの概念は,商用電源から直接給電される機器に対して用いる。
b) 耐インパルスカテゴリの説明 耐インパルスカテゴリIの機器は,建築物の固定電気設備
に接続することを意図している機器であって,規定のレベルにまで過渡過電圧を抑制する
ために,機器の外部(固定設備中又は固定設備と機器との間)に保護手段を用いる。
耐インパルスカテゴリIIの機器は,建築物の固定電気設備に接続する機器である。
耐インパルスカテゴリIIIの機器は,固定電気設備の一部となる機器及びより高い有用性
を期待されている機器である。
耐インパルスカテゴリIVの機器は,建築物の電気設備の引込口部又はその近傍で使用し,
配電盤の電源側で用いる機器である。
3.12
一次回路(primary circuit)
商用電源に直接接続される回路。
注記 一次回路には,例えば,商用電源への接続手段,変圧器又はモータの一次巻線,その他の負荷
装置を含む。
3.13
(削除)

――――― [JIS C 8121-1 pdf 6] ―――――

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3.14
基礎絶縁(basic insulation)
感電に対する基礎的な保護を与えるために充電部に施した絶縁。
注記 基礎絶縁には,機能目的だけに使われる絶縁(機能絶縁)は含まれない。
なお,機器の適切な機能だけに必要な導電部間の絶縁を機能絶縁という。
3.15
付加絶縁(supplementary insulation)
基礎絶縁が破壊したときに,感電に対する保護を行うために基礎絶縁に追加した独立の絶縁。
3.16
二重絶縁(double insulation)
基礎絶縁及び付加絶縁の二つから構成する絶縁。
3.17
強化絶縁(reinforced insulation)
指定された条件下で二重絶縁と同程度の感電保護を与える充電部に施した単一の絶縁方式。
注記 “絶縁方式”は,必ずしも絶縁が単一で均質なものであることを意味しない。付加絶縁又は基
礎絶縁として単独に試験できない数層の絶縁で構成される場合がある。
3.18
外郭付強化絶縁ランプソケット(enclosed reinforced insulated lampholder)
二重絶縁又は強化絶縁に対する要求事項に適合する絶縁外郭をもつ,クラスII照明器具に組み込むラン
プソケット。
注記0A クラスIIの定義は,JIS C 8105-1の1.2.23を参照。
3.19
部分強化絶縁ランプソケット(partly reinforced insulated lampholder)
二重絶縁又は強化絶縁に対する要求事項を満たすために,部分的な追加手段を必要とする器具内用ラン
プソケット。
注記 絶縁距離(沿面距離及び空間距離)は照明器具に組み込み後,達成してもよい。
3.20
極性付ランプソケット(polarized lampholder)
非対称のイグニッション電圧に対応して,高圧側の極が決まっている,特別に設計された器具内用ラン
プソケット。
3.21
片極印加イグニッション電圧(single contact ignition voltage)
ランプソケットの片側の極だけに印加するイグニッション電圧。
注記 3.6の注記を参照。
3.22
両極印加イグニッション電圧(dual contact ignition voltage)
ランプソケットの両極で分割して負担するイグニッション電圧。
注記 3.6の注記参照。
3.23
臨界周波数,crit(critical frequency)

――――― [JIS C 8121-1 pdf 7] ―――――

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ある空間距離において絶縁破壊電圧の低下が始まる(生じる)周波数。
注記 臨界周波数は,次の式で求めることができる。
crit≒0.2/d(MHz)
ここに, d : 周波数にかかわらず表3に規定する空間距離(mm)。基礎絶
縁又は付加絶縁,及び強化絶縁についてそれぞれ規定する。
3.24
イグニッション電圧(ignition voltage)
放電ランプを始動するために印加するピーク電圧。
注記 3.6の注記参照。
3.24.1
イグニッションパルス電圧(ignition pulse voltage)
10 ms間において,絶対最大ピーク値の50 %の位置における各パルスの幅の合計が750 μs以内のピーク
イグニッション電圧。
注記0A 3.6の注記参照。
注記1 イグニッションパルス波形が,30 kHzを超える支配的な周波数成分を含まない場合,又は(振
動波形であっても)大きく減衰する(20 s後のピーク電圧レベルが最大ピーク電圧の半分未
満)場合,イグニッションパルス電圧とみなしてよい。支配的な周波数の評価については,
IEC 60664-4の附属書Eを参照することが望ましい。
3.25
最大動作電圧(maximum working voltage)
Uout
通常動作状態又は異常動作状態中に,制御装置の出力端子間又は出力端子とアースとの間に発生する動
作電圧(実効値)の最大値。
注記 過渡電圧及びイグニッション電圧は除く。
3.26
最大動作ピーク出力電圧(maximum working peak output voltage)
out
通常動作状態又は異常動作状態中に,制御装置の出力端子間又は出力端子とアースとの間に繰り返し発
生する,ピーク動作電圧の最大値。ただし,過渡電圧を除く。
3.27
等価変換ピーク電圧(equivalent transformed peak voltage)
Up
組み合わせるランプ制御装置が出力する周波数における,最も厳しいピーク電圧をイグニッションパル
ス電圧へ変換した出力ピーク電圧。
注記1 製造業者による等価変換ピーク電圧(Up)の宣言値は,構成部品を選択するための重要なパ
ラメータである。
注記2 3.24.1参照
注記3 基礎絶縁における等価変換ピーク電圧(Up)の宣言値を決定するためには,発生する最大ピ
ーク電圧及び周波数の最も厳しい組合せを考慮する必要がある。つまり,IEC 61347-1:2015
の表10における,基礎絶縁による最大の空間距離を意味する。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 8] ―――――

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注記4 強化絶縁における等価変換ピーク電圧(Up)の宣言値を決定するためには,発生する最大ピ
ーク電圧及び周波数の最も厳しい組合せを考慮する必要がある。つまり,IEC 61347-1の表
11における,強化絶縁による最大の空間距離を意味する。
注記4A JIS C 8147-2-12では“ignition voltage”の記号にUpを使っている。

4 一般要求事項

  ランプソケットは,通常の使用において確実に機能し,かつ,人及び周囲に危険を与えない設計及び構
造でなければならない。
一般に合否は,規定する全ての試験を行って判定する。
注記 適合性に関する旧規格との差異については,附属書Eを参照。

5 一般試験条件

5.1   この規格による試験は,形式試験とする。
注記1 この規格の要求事項及びその許容差は,形式試験用試料の試験に関わるものである。形式試
験用試料の合否は,製造業者の全ての製品の合否を保証するものではない。製品の適合性は,
製造業者の責任であり,形式試験のほか,日常の試験及び品質保証を含む。
注記2 工程における適合性に関する試験の詳細は,JIS C 7709-0を参照。
5.2 特に規定がない場合,試験は,20±5 ℃の周囲温度,及び通常の使用において最も不利な位置にラ
ンプソケットを置いて行う。
種類の異なるランプ口金を装着可能なランプソケットであると製造業者が宣言する場合,装着可能な全
ての口金の要求事項に適合しなければならない。
合否は,5.3に規定する試料の組合せによって判定する。
種類の異なる口金を装着可能なランプソケットである場合,1個の試料について,全ての口金との適合
性を確認する。
試験は,最も不利な口金及びゲージを用いて,厳しい順に全ての試験を行う。
5.3 試験又は検査は,次の数量の試料を用いて箇条番号の順に行う。
− 両口金ランプ用のランプソケットの場合,10組の試料
一組のランプソケットが同一のランプソケットで構成される場合,一組のランプソケットが必要と
なる箇条8,11.2,11.3,箇条13,箇条16及び17.6を除く試験は,片側のランプソケットで行えばよ
い。
− 片口金ランプ用のランプソケットの場合,10個の試料
各箇条に用いる数量は,次による。
− 3組又は3個の試料 : 箇条4箇条15(9.2を除く)
注記 9.2に規定する端子に対する試験は,関連する規格に規定された数量で行う。
− 3組又は3個の試料 : 箇条16及び17.6
− 1組又は1個の試料 : 17.1
− 1組又は1個の試料 : 17.3
− 1組又は1個の試料 : 17.4
− 1組又は1個の試料 : 17.5及び箇条18
製造業者は,これらの試料とともに,取扱説明書(7.3参照)を提供しなければならない。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 9] ―――――

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取扱説明書に口金を挿入した状態でだけ定格イグニッション電圧に関する要求事項に適合する旨を記載
したランプソケットの場合,適切な口金及びランプソケットの形式試験試料の組合せで試験する。また,
これに関連した試験は,口金を挿入した状態で行う。
5.4 全ての試料が5.3に規定する全ての試験に合格する場合,ランプソケットは,この規格に適合すると
みなす。
一つの試験において,1個の試料が不合格となった場合,5.3に規定する数量の試料を別途用意して,不
合格になった試験及びその試験の結果に影響する可能性のある先行する試験を繰り返し,全ての試料がこ
の再試験に合格しなければならない。再試験でも不合格があった場合,ランプソケットは,この規格に不
適合とみなす。
試験申請者が試験機関に試験を依頼する場合,最初に提出する数量の試料に加えて,1個の不合格に備
えて同数の予備の試料を提出してもよい。試験機関は,1個の試料が不合格となった場合,予備の試料で
試験する。更に不合格があった場合,不適合とみなす。
予備の試料が同時に提出されなかった場合は,最初の1個の不合格をもって不適合とみなす。

6 分類

  ランプソケットは,次のように分類する。
6.1 取付け状態による分類は,次による。
− 外郭のないランプソケット
− 外郭付ランプソケット
− 部分強化絶縁ランプソケット
− 外郭付強化絶縁ランプソケット
注記 ランプソケットを定格電圧の50 %以下の動作電圧で用いる場合,強化絶縁ランプソケットと同
等であるとみなすことができる。
6.2 耐熱性による分類は,次による。
− 定格動作温度が80 ℃以下のランプソケット
− 定格動作温度が80 ℃を超えるランプソケット(以下,Tマーク付きランプソケットという。)
動作温度の測定点は,ランプロ金とコンタクトとの電気的接触点とする。ランプソケットの絶縁物,端
子部及び口出線の耐熱性が動作温度と異なる場合は,これらの値を製造業者のカタログ(印刷物又は電子
カタログ)に記載しなければならない。この場合,ランプソケットを照明器具内に適切に組み込んだ後,
又は適切な外郭を取り付けた後,該当する規格に規定する試験によってその適合性を評価する。
6.3 極性による分類は,次による。
− 極性のないランプソケット
− 極性付ランプソケット
6.4 イグニッション電圧による分類は,次による。
− 片極印加イグニッション電圧用のランプソケット
− 両極印加イグニッション電圧用のランプソケット
注記 両極印加イグニッション電圧用のランプソケットは,沿面距離及び空間距離の要求値を低減
できるという利点がある。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 10] ―――――

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JIS C 8121-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60838-1:2017(MOD)

JIS C 8121-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 8121-1:2019の関連規格と引用規格一覧