JIS C 8121-1:2019 ランプソケット類―第１部：一般要求事項及び試験 | ページ 5

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    注記1 表2a及び表2bの要求値を上回る沿面距離を求める電圧と周波数(30 kHzを超える)の組合
            せの場合,ランプ制御装置にはこの組合せの詳細が記載されている(out及びその関連する
            周波数fUout)[IEC 61347-1の7.1 w)参照]。沿面距離の要求値及び詳細はIEC 61347-1の16.2
            を参照。
  ランプソケットの定格イグニッション電圧に対する空間距離は,表3に規定する値以上でなければなら
ない。
    注記2 次の状況下では,定格電圧よりも高い動作電圧がランプソケットにかかる場合がある。
            − 電源電圧の公称値及び耐インパルスカテゴリがランプソケットの定格電圧以下の場合
            − 制御装置に表示されている動作電圧(実効値)及び最大動作ピーク出力電圧(out)に対
                する沿面距離が,それぞれランプソケットの定格電圧に対する沿面距離を上回らない場
                合
            − ランプ制御装置の動作電圧に対する空間距離が,ランプソケットの定格電圧及び定格イ
                グニッション電圧に対する空間距離を上回らない場合
        表3−イグニッションパルス電圧(等価変換ピーク電圧を含む。)に対する最小空間距離
                          定格イグニッショ         最小空間距離
                          ン電圧(波高値)             mm
                                              基礎絶縁      強化絶縁
                                kV          及び付加絶縁
                                  2               1             2.2
                                  2.5             1.5           3
                                  3               2             3.8
                                  4               3             6
                                  5               4             8
                                  6               5.5          10.4
                                  8               8            15
                                 10              11            19.4
                                 12              14            24
                                 15              18            31.4
                                 20              25            44
                                 25              33            60
                                 30              40            72
                                 40              60            98
                                 50              75           130
                                 60              90           162
                                                               a)
                                 80             130
                                                               a)
                               100              170
                         注a) 数値は未定義
  表3に規定する最小空間距離は,JIS C 60664-1(の5.1.3.2に規定する不平等電界の状態)から得た値で
ある。正弦波電圧及びイグニッション電圧の両方がかかる空間距離に対する最小距離は,耐インパルスカ
テゴリに関連して表2a,表2b及び表3に規定する最も大きな値以上でなければならない。
    注記3 イグニッションパルス電圧の全体の時間幅が750 μsより長いか,又は臨界周波数(crit)より
            も高い周波数成分をもつ場合,そのピーク電圧がランプソケットの定格イグニッション電圧
            よりも低いときであっても,表3の規定値を上回る空間距離を必要とすることがある。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 21] ―――――

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              そのため,それぞれの制御装置にはランプソケットの定格イグニッション電圧と直接比較
            可能な等価変換ピーク電圧を表示している。
  極性付ランプソケットの場合,充電部と外部金属部分又は絶縁材料の外面との間の沿面距離及び空間距
離を,極性ごとに設計することがある。この場合,沿面距離及び空間距離は,極性ごとに評価する。接触
片間の距離は,最大のイグニッション電圧によって設計しなければならない。
  沿面距離は規定された最小の空間距離以上でなければならない。
  合否は,絶縁距離を測定して判定する。
  例えば,接触片間の距離のように安全性に影響がない空間距離は,より緩和された電界条件から導いて
もよいが,この場合でも平等電界(JIS C 60664-1の5.1.3.3参照)の値が絶対最小値である。
  合否判定は,ランプソケットの定格イグニッション電圧に対応して,JIS C 60664-1の6.1.2.2.1.1に規定
する試験による。試験中に電圧低下があってはならない。
    注記4 この試験において,定格イグニッション電圧とは,JIS C 60664-1における定格インパルス電
            圧に相当する。

16 耐久性

  ランプソケットは,ランプピンとの良好な電気的接触を維持しなければならない。
  合否は,次の耐久性試験によって判定する。
  市販のランプの口金をランプソケットに10回着脱する。ランプは,適用可能なJISが存在する場合,JIS
に適合するものを用いる。
  次に,11.4に規定する試験用口金と同じ寸法の鋼製の試験用口金を,ランプソケットに挿入する。組み
合わせた一対のランプソケットの場合,擬似ランプは,絶縁保護がない鋼製の擬似ランプに置き換える。
  試験中に,コンタクトの温度超過又は鋼製の試験用口金に損傷が生じる場合は,市販のランプのピンを
用いてもよい。
  この状態のまま,ランプソケットを恒温槽内に置く。
  温度が安定した後,定格電流の1.1倍の電流を流しながら,定格動作温度の測定点が(90±5)℃,又は
Tマーク付きランプソケットの場合は[(T+10)±5]℃,に達するように槽内温度を調節する。
  照明器具一体形のランプソケットの場合,この温度は,JIS C 8105-1の12.4.2(合否)に規定する動作条
件で測定した値に10 Kを加えた値(ただし,許容差は±5 ℃)に置き換える。
  この温度に到達して維持した後,ランプソケットは,その状態下に48時間置く。
  この時間が経過した後,ランプソケットを恒温槽から取り出し,試験用口金又は擬似ランプを取り外し
て,24時間冷却する。
  試験中,ランプソケットは,特に次の観点から,継続使用を損なういかなる変化もあってはならない。
− 感電に対する保護機能の低下があってはならない。
− 電気的接触部の緩みがあってはならない。
− 割れ,膨張及び収縮があってはならない。
− ランプソケットは,JIS C 7709-3に規定するゲージがある場合,ゲージに適合しなければならない。
  耐久性試験の後,ランプソケットのコンタクト及び端子部の接触抵抗は,次のように測定する。
− 11.4に規定する試験用口金又は擬似ランプをランプソケットに挿入し,ランプソケットの定格電流に
    等しい電流を流して接触抵抗を測定する。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 22] ―――――

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− 口出線を備えたランプソケットの場合,接触抵抗は,ランプソケットの導線口出し位置から5 mm以
    内で測定する。
− 口出線がないランプソケットの場合,そのランプソケットに設計された最小断面積の導線(ただし,
    0.5 mm2以上の銅線)を接続する。接触抵抗は,取り付けた導線口出し位置から5 mm以内で測定する。
− プランジャがあるランプソケットの場合は,プランジャの位置にかかわらず,試験用口金は,ランプ
    ソケットに完全に取り付ける。
− 両口金ランプの場合は,組み合わせた一対のランプソケットを測定する。この場合,11.4に規定する
    擬似ランプを用いる。
  測定した抵抗値は,次の値を超えてはならない。
                        0.045+(A×n)(Ω)
                      ここに,    A :  係数
                                       n=2の場合,A=0.01
                                       n>2の場合,A=0.015
                                  n :  ランプソケットと口金との間の測定対象となる接触点数
  導体表面の酸化物が抵抗値の測定に影響を及ぼさないように注意を払うことが望ましい。

17 耐熱性及び耐火性

17.1 感電に対して保護するための絶縁材料の外郭部品,及び充電部又はELV部を所定の位置に保持する
絶縁材料部品は,耐熱性がなければならない。
    注記0A ELVの定義は,JIS C 8105-1の1.2.42を参照。
  合否は,図1に示す装置を用いたボールプレッシャー試験によって判定する。
  照明器具一体形ランプソケットは,17.6を除き,この箇条に規定する試験は行わない。これは,JIS C
8105-1の第13章(耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性)で同様の試験が要求されており,試験条件は
ランプソケット特有の条件及びこの箇条に規定している条件を考慮しているためである。
                                                                   単位 mm
                             図1−ボールプレッシャー試験の負荷装置
  ボールプレッシャー試験は,セラミック材料の部品及び電線の絶縁物には行わない。
  試験する部品の表面を,水平になるように置き,20 Nの力で直径5 mmの鋼球を表面に押し付ける。
  試験は,6.2の分類によって指定した定格動作温度に25 ℃±5 ℃を加えた温度の恒温槽の中で行う。ま
た,充電部を保持する部品を試験する場合,最低温度は125 ℃とする。
  負荷装置及び試験片受台は,試験前に規定した試験温度になるまで,十分な時間恒温槽の中に入れてお
く。
  試験する部品は,負荷装置を載せる前に1時間,恒温槽の中に入れておく。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 23] ―――――

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C 8121-1 : 2019
  試験する表面が湾曲しているときは,鋼球を押し付ける部分を支持する。完成品で試験ができない場合
は,試験に適した部分を切り出して試料としてもよい。
  試料の厚さは2.5 mm以上とする。2.5 mm未満の場合は,二つ以上重ね合わせて,2.5 mm以上にする。
  1時間後,試料から鋼球を取り除き,10秒以内に冷水に試料を浸し,室温まで冷やす。
  鋼球によって生じたへこみ部分の直径を測定したとき,2 mm以下でなければならない。
    注記1 試料表面が曲面でへこみ部分がだ(楕)円形のときは短辺を測定する。
    注記1A 疑義のある場合の代替方法に関する規定を削除した。
17.2 充電部又はELV部を所定の位置に保持する絶縁材料部品及び感電に対して保護するための絶縁材料
の外郭部品は,耐炎性及び耐着火性をもたなければならない。
  合否は,17.3及び17.4の試験によって判定する。
  これらの試験は,セラミック材料の部品には行わない。
17.3 感電に対して保護する導電性外面を含む絶縁材料の外郭部品及びELV部を所定の位置に保持する絶
縁材料部品(ELVランプのコンタクトを保持する部品を除く。)には,JIS C 60695-2-11のグローワイヤ試
験を行う。詳細は,次による。
− 試料は,ランプソケットの最終製品とする。試験のために部品を取り外してもよいが,試験時の状態
    が通常の使用状態から大きく逸脱していないように注意することが望ましい。
− 試料を運台に載せて,可能な限り試料上端から下方に15 mm以上離れた試料表面の平面部分の中央に
    グローワイヤの先端を1 Nの力で押し付ける。グローワイヤの試料への侵入深さは7 mmを限度とす
    る。
      試料が小さすぎて上記の試験ができない場合は,同じ製法で製作した同じ材料で,30 mm×30 mm
    の大きさで試料の最小厚さと同じ厚さの別の試料で行う。
− グローワイヤ先端の温度は650 ℃とする。30秒後にグローワイヤ先端を試料から引き離す。
      グローワイヤ温度及び加熱電流は,試験開始前の1分間一定にする。この期間中に,試料が熱放射
    の影響を受けないように注意する。
      グローワイヤ先端の温度は,JIS C 60695-2-11の規定に従って校正したシース付き細線熱電対を用い
    て測定する。
− 試料の火炎及び赤熱燃焼は,グローワイヤを引き離した後30秒以内に消えなければならない。燃焼滴
    下物によって,試料から200 mm±5 mm下に水平に広げたJIS P 0001の6228に規定する5層で1枚
    の包装用ティシュが着火してはならない。
17.4 充電部又はELVランプのコンタクトを保持する絶縁材料の部品には,JIS C 60695-11-5のニードル
フレーム試験を行う。詳細は,次による。
− 試料は,ランプソケットの最終製品とする。試験のために部品を取り外してもよいが,試験時の状態
    が通常の使用状態から大きく逸脱していないように注意することが望ましい。
− 試験炎は,試料表面の中央部分に当てる。
− 接炎時間は,10秒とする。
− 自己持続炎は,ガスの炎を離してから30秒以内に消えなければならない。燃焼滴下物によって,試料
    から200 mm±5 mm下に水平に広げたJIS P 0001の6228に規定する5層で1枚の包装用ティシュを
    発火させてはならない。
17.5 充電部若しくはELV部を所定の位置に保持するか,又はこれらと接触する絶縁材料の部品は,過度
の湿気にさらされる場合及び/又は過度のじんあいの堆積がある場合,耐トラッキング性のある材料でな

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                                                                                 C 8121-1 : 2019
ければならない。
  セラミック以外の材料は,JIS C 2134に規定する保証トラッキング試験によって合否を判定する。詳細
は,次による。
− 試料が15 mm×15 mm以上の平らな表面をもたない場合,試験中に試験液が試料から流れ落ちないと
    いう条件に当てはまるときは,規定の寸法以下の平らな表面で試験を行ってもよい。ただし,表面上
    に試験液をとどめるために人為的な手段を取らない方がよい。疑義がある場合は,規定の寸法で,同
    じ製法で製作した同じ材料の別の小片で試験を行ってもよい。
− 試料の厚さは,3 mm以上とする。3 mm未満の場合は,2枚以上重ねて合わせて,3 mm以上にする。
− 試験は,試料上の3か所,又は3個の試料で行う。
− 電極は白金とし,JIS C 2134の7.3(測定溶液)に規定する試験溶液Aを用いる。
− 試料は,PTI 175の試験電圧で,50滴の滴下に対して故障なく耐えなければならない。
− 試料表面上の電極間の導路に0.5 A以上の電流が2秒間以上流れて過電流継電器が作動するか,又は
    過電流継電器が作動せず試料に持続炎が発生した場合は,不合格とみなす。
− 浸食の判定は,適用しない。
17.6 ランプソケットの外郭部品及び絶縁材料の耐熱性は,(115±5)℃,又はTマーク付きランプソケッ
トの場合は[(T+35)±5]℃の温度の恒温槽で試験する。
  外郭部品及び絶縁材料の耐熱性がランプソケットの定格動作温度から外れている場合,試験温度は,こ
れらの部品の製造業者のカタログに指定した耐熱温度よりも(35±5)K高く調整する。
  照明器具一体形ランプソケットは,JIS C 8105-1で類似の試験を規定しているため,この試験を実施し
ない。
  ランプソケットに,中空でない鋼の試験口金又は箇条16に規定する鋼製の擬似ランプを装着する。
  ランプソケットは,試験温度のおよそ半分の温度の恒温槽へ置く。1時間±15分の時間をかけて規定す
る試験温度に上げ,168時間中断することなく試験を続ける。試験温度は±5 Kの許容差で維持する。
  試験中,ランプソケットは,特に次の観点から,継続使用を損なういかなる変化も受けてはならない。
− 感電に対する保護機能の低下があってはならない。
− 電気的接触部の緩みがあってはならない。
− 割れ,膨張及び収縮があってはならない。
− ランプソケットは,JIS C 7709-3に規定するゲージがある場合,ゲージに適合しなければならない。
  ゲージは,成形材料に起こる可能性がある変形を検査するために用いるもので,電気的接触部の検査を
するものではない。
  耐熱性試験後のランプソケットは,箇条13に規定する機械的強度の試験を実施し,この試験に耐えなけ
ればならない。ただし,落下高さは,50 mmで行う。
  充材は僅かな移動があってもよいが,充電部が露出するほど流出してはならない。

18 過度の残留応力(自然割れ)及びさび(錆)に対する抵抗力

18.1 銅又は銅合金のロール材の接点その他の部分は,故障によってランプソケットが不安全となるおそ
れがある場合,過度の残留応力によって損傷してはならない。
  合否は,次の試験によって判定する。
  試料の表面の汚れを注意して取り除く。ワニスはアセトンで取り除き,グリース及び指紋は石油成分又
は類似のもので取り除く。

――――― [JIS C 8121-1 pdf 25] ―――――

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