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C 8201-4-3 : 2010
T0 : 短絡スイッチ開[9.3.4.1.6のa)]
T1 : 試験電流通電[9.3.4.1.6のb)]
T2 : 短絡スイッチ閉[9.3.4.1.6のc)]
T3 : SCPDによる短絡電流遮断
図I.2−9.3.4.1.6の短絡試験のタイムチャート
――――― [JIS C 8201-4-3 pdf 66] ―――――
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C 8201-4-3 : 2010
附属書J
(参考)
バイパス式半導体制御器の試験のフローチャート
参考文献 JIS C 4003 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方
注記 対応国際規格 : IEC 60085,Electrical insulation−Thermal evaluation and designation(MOD)
IEC 60439-1:1999,Low-voltage switchgear and controlgear assemblies−Part 1: Type-tested and
partially type-tested assemblies及びAmendment 1 (2004)
――――― [JIS C 8201-4-3 pdf 67] ―――――
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C 8201-4-3 : 2010
C8
64
附属書JA
201
(参考)
-
4-3
JISと対応国際規格との対比表
: 2010
IEC 60947-4-3:2007 Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-3: Contactors and
JIS C 8201-4-3:2010 低圧開閉装置及び制御装置−第4-3部 : 接触器及びモータスタ
ータ : 非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器 motor-starters−AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異の
国際規格 ごとの評価及びその内容 理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
8 構造及 8.3.2.1.1 高調波 8 8.3.2.1.1 高調波 変更 制御器又はスタータの定格電対応国際規格のこの箇条で引用して
び性能に JIS C 61000-3-2に IEC 61000-3-2に適合し いるIEC 61000-3-2の適用範囲は“16
流について“16 A以下”を,“20
関する要 適合しなければな なければならない。 A以下”に修正。 A以下”であるが,この規格で引用
求事項 らない。 定格電流16 A以下。 しているJIS C 61000-3-2では“20 A
定格電流20 A以下。 以下”と規定しているため。
9 試験 9.3.5 EMC試験 9 9.3.5 EMC試験 変更 使用負荷種別AC-51の試験電
エミッション及び JISとほぼ同じ。 流について“16 A”を,“20 A”
イミュニティ試験。 に修正。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60947-4-3:2007,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
JIS C 8201-4-3:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60947-4-3:2007(MOD)
JIS C 8201-4-3:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.130 : 開閉装置及び制御装置 > 29.130.20 : 低電圧開閉用及び制御装置
JIS C 8201-4-3:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB3502:2011
- プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験
- JISB3502:2021
- 工業プロセス測定及び制御プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験
- JISC60050-161:1997
- EMCに関するIEV用語
- JISC61000-3-2:2019
- 電磁両立性―第3-2部:限度値―高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISC8201-4-2:2010
- 低圧開閉装置及び制御装置―第4-2部:接触器及びモータスタータ:交流半導体モータ制御器及びスタータ
- JISC8269-1:2016
- 低電圧ヒューズ―第1部:通則