JIS C 8285:2018 工業用プラグ，コンセント及びカプラ | ページ 5

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    も曲げる(たわませる)ことができる。
− 始点を,原点から10°及び20°まで変化させることができる。
      注記2 基準方向及び始点は規定しない。
  直線位置から試験位置までの導体の曲げは,接続装置の締付ユニットから一定の距離で,表4-1に規定
する力を導体に加える適切な装置によって実行する。
  曲げ装置は,次のような設計とする。
− 力が導体に垂直な方向に加わる。
− 締付ユニット内の導体が回転することなく,曲げを行える。
− 規定の電圧降下測定を行っている間,力が加わったままの状態を維持できる。
  導体を曲げるための力を,表4-1に規定する。距離“D”は,導体のガイドがある場合には,それを含
めた接続装置の端から導体に加わる力の作用点までを測定した距離とする。
                                     表4-1−たわみ試験の力
                     試験導体の断面積又は直径 たわみ試験の力a)      距離
                                                                     D
                        mm2         mm               N              mm
                         1.0         −             0.25 b)         100
                         1.5         −             0.5 b)          100
                         −          1.6            0.75            100
                         2.5         −             1.0 b)          100
                         −          2              1.3             100
                         −          2.6            2.0             100
                         4           −             2.0 b)          100
                         6           −             3.5 c)          100
                        10          −              7.0 c)          100
                    注a) 力は,弾性限界に近い応力が導体にかかるものを選択する。
                       b) これらの値は,JIS C 2814-2-2による。
                       c) これらの値は,IEC 60352-7による。
  図19 b) の例に示すように,導体を差し込んだとき,試験中の締付ユニット全体での電圧降下が測定で
きるように,準備しておく。
  試験品は,試験導体を自由に曲げられるように,試験装置の固定部に取り付ける。
  試験導体の表面は,悪影響を及ぼす汚れ又は腐食があってはならない。
  締付端子は,通常に使用するときと同じように,表3又は表3Aに規定する最小断面積をもつ中空でな
い単線の銅導体を取り付け,1回目の試験手順を実施する。1回目の試験手順で不合格とならなければ,最
大断面積をもつ導体を用いて,同じ締付端子に2回目の試験手順を実施する。
  試験は,連続電流(すなわち,試験中に電流のオン・オフの切替えがない。)で実施する。電流変動が±
5 %に収まるように,適切な電源を用いる。
  表4-4に従って接続した導体に配分される電流の1/10を,接続装置に流す。曲げ力を,12の方向の一つ
に,図19 a) に示すように加えて,この締付ユニットの電圧降下を測定する。
  次に,同一の試験手順に従って,図19 a) に示す残りの11の方向のそれぞれに連続的に力を加える。
  12の試験方向のいずれかでの電圧降下が2.5 mVよりも大きければ,電圧降下が2.5 mV以下に減るまで
この力を維持するが,その時間は1分間以下とする。電圧降下が2.5 mV以下になったら,同じ方向で更に

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30秒間その力を維持し,その時間内に電圧降下が大きくなるようなことがあってはならない。
  試験セットの他の二つの試験品は,同一の試験手順に従って,力の方向が試験品ごとに約10°異なるよ
うに,12の方向をずらして試験を行う。
  試験品の一つが試験荷重の加わる方向の一つで不合格となった場合は,別の試験品のセットで試験をや
り直し,別の全ての試験品は再試験に合格しなければならない。
11.4 絶縁貫通端子(IPT)
11.4.1 絶縁貫通端子は,表3又は表3Aに示す公称断面積をもつ銅又は銅合金製の導体を適切に接続でき
るものでなければならない。
  適否は,目視検査,並びにタイプ1の場合は表3及び表10,又はタイプ2の場合は表3Aに従った最大
絶縁導体を導入して判定する。
11.4.2 絶縁貫通端子は,十分な接触圧力で,導体をきず付けることなく金属面の間に導体を締め付けるよ
うに設計しなければならない。
  適否は,目視検査並びに11.5及び11.6の試験によって判定する。
  代わりに,11.7の試験に合格している場合,絶縁貫通端子は,金属部と絶縁部との間の導体を締め付け
るものでもよい。
  適否は,目視検査並びに11.5及び11.7の試験によって判定する。
11.4.3 絶縁貫通端子は,適切な機械的強度をもたなければならない。
  適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。
  端子が使用を意図した導体の各タイプで,タイプ1の場合は表3及び表10,又はタイプ2の場合は表3A
に従って,最大直径をもつ導体の5回の差込み及び引抜きを行う。
  導体の差込み及び引抜きは,製造業者の取扱説明書に従って行う。
  絶縁貫通端子が導体の接続にねじを用いる場合は,表15のトルク値を用いる。製造業者の技術文書に明
記されていれば,より高いトルク値を用いてもよい。
  5回目を除き,1回の試験ごとに新品の導体を用いるが,5回目は4回目の差込みに用いた導体を同じ場
所で締め付ける。差し込むたびに,導体を締付ユニットのできるだけ奥まで押し込むか,正しく接続でき
たことが明らかになるように差し込む。導体を差し込んだ後,毎回90°までねじり,その後引き抜く。
  これらの試験後,端子は,最小及び最大の導体での使用ができなくなるほどの損傷があってはならない。
11.4.4 導体の接続又は引抜きは,一般工具,又は導体の差込み若しくは引抜きを助けるような便利な端子
と一体形の装置によって行わなければならない。
  導体の引抜きは,導体を単に引っ張るだけではない操作を必要とするものでなければならない。引抜き
は,手を使って,又は適切な工具を用いて,導体を引き抜く意図的な動作を必要とするものでなければな
らない。
  適否は,目視検査によって判定する。
11.4.5 導体の差込み又は引抜きを助ける工具用の穴が必要な場合,この穴は,導体用の穴と明確に区別で
きなければならない。
  適否は,目視検査によって判定する。
11.4.6 端子は,次のような設計及び構造でなければならない。
− 各導体を,それぞれ別の締付ユニットで個別に締め付ける(穴は,必ずしも別々に設ける必要はない。)。
− 差込み又は引抜き中に,導体を同時に又は個別に,差し込み又は引き抜くことができる。
  規定する最大数まで,何本の導体でも確実に締め付けることができるものでなければならない。

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  適否は,目視検査及び11.5の試験によって判定する。
11.5 端子の機械試験
11.5.1 新品の端子に,断面積が最小及び最大の新品の導体を取り付け,図15に示す装置を使って試験を
行う。
  試験は,断面積が最小のもの3個及び最大のもの3個,合計6個の試験品で実施する。
  試験導体の長さは,表4-2に規定する高さHよりも75 mm長くする。
  締付ねじがある場合は,それを表15に規定するトルクで締め付ける。締付ねじがない場合は,製造業者
の取扱説明書に従って端子を接続する。
  各導体に,次の試験を行う。
  導体の端を,表4-2に示すように,機器の下方の高さHに配置したプラテンの中の適切なサイズのブッ
シングに通す。ブッシングは,その中心線が直径75 mmの円を描き,水平面上の締付ユニットの中心と同
心になるように,水平面上に配置する。次にプラテンを(10±2)r/minの速度で回転させる。
  締付ユニットの口からブッシング上面までの距離は,表4-2の高さの15 mm以内でなければならない。
ブッシングには,絶縁導体の巻き付き,ねじれ又は回転を防止するように潤滑剤を付けてもよい。表4-2
に示すおもりの質量による荷重は,導体の端に加える。試験の継続時間は,15分間とする。
  試験中,導体が締付ユニットから外れて落ちたり,締付ユニットの近くで破断するようなことがあって
はならない。
  試験中に端子が導体に損傷を与え,それ以上使用することができなくなってはならない。

――――― [JIS C 8285 pdf 23] ―――――

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C 8285 : 2018
                                     表4-2−機械試験の条件
                導体断面積又は直径           ブッシングの径      高さa)     おもりの質量
        より線及び可とう   単線接続のもの
         導体接続のもの                                            H
             mm2                mm                mm              mm             kg
                0.75             −                6.5            260            0.4
                1.0              −                6.5            260            0.4
                1.25             −                6.5            260            0.4
                1.5              −                6.5            260            0.4
                2.0              −                9.5            280            0.7
               −                1.6               9.5            280            0.7
                2.5              −                9.5            280            0.7
                3.5              −                9.5            280            0.9
               −                2                 9.5            280            0.9
                4.0              −                9.5            280            0.9
                5.5              −                9.5            280            1.4
               −                2.6               9.5            280            1.4
                6.0              −                9.5            280            1.4
                8.0              −                9.5            280            2.0
               −                3.2               9.5            280            2.0
               10.0              −                9.5            280            2.0
               14.0              −               13.0            300            2.9
               16.0              −               13.0            300            2.9
               22.0              −               13.0            300            4.5
               25.0              −               13.0            300            4.5
               35.0              −               14.5            300            6.8
               38.0              −               14.5            320            6.8
               50.0              −               15.9            343            9.5
               70.0              −               19.1            368           10.4
               95.0              −               19.1            368           14.0
              120.0              −               22.2            406           14.0
              150.0              −               22.2            406           15.0
              185.0              −               25.4            432           16.8
              240.0              −               28.6            464           20.0
              300.0              −               28.6            464           22.7
              400.0              −               31.8            495           50.0
              500.0              −               38.1            572           50.0
              630.0              −               44.5            660           70.3
       注記 ブッシングの穴が,導体を縛らずに収容するのに適切でなければ,次の大きい方の穴があるブ
            ッシングを用いてもよい。
       注a) 高さHの許容差 : ±15 mm
11.5.2 引き続き,コンセント又は機器用インレット端子用のクラス1又はクラス2導体,及びプラグ又は
コネクタ端子用のクラス5導体を用いて,表3又は表3Aに規定する断面積が最大及び最小の導体につい
て確認する。
  6.1.7に従って,可とう導体しか受け入れないねじなし端子又は絶縁貫通端子付きのコンセント又は機器
用インレットの場合は,クラス5導体を用いて確認する。
  導体を締付ユニットに接続し,製造業者が製品上又は指示書にトルク値を指定していない場合,締付ね

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                                                                                             23
                                                                                   C 8285 : 2018
じ又はナットを表15に規定するトルク値の2/3のトルクで締め付ける。
  表4-3の値に従って,各導体に導体を差し込んだ方向とは逆方向の引張力を加える。引張力は,急激な
力なしに1分間加える。試験導体の最大長さは1 mとする。
  試験中,導体が端子から外れて落ちたり,導体が締付ユニットのところで,又はその中で断線するよう
なことがあってはならない。
                                         表4-3−引張力
                             タイプ        公称断面積        引張力
                                              mm2              N
                         タイプ1                1              35
                                                1.5            40
                                                2.5            50
                                                4              60
                                                6              80
                                               10              90
                                               16             100
                                               25             135
                                               35             190
                                               50             236
                                               70             285
                                               95             351
                                              120             427
                                              150             427
                                              185             503
                                              240             578
                                              300             578
                                              400             690
                                              500             778
                                              630             965
                         タイプ2 a)            14 以下        100
                                               22             124
                                               38              200
                         注a) 外部接地端子については,最大断面積に対する値。
11.6 ねじなし端子及び絶縁貫通端子の電圧降下試験
  次の試験を,その他の試験に一度も用いていない新品の試験品で行う。
  試験は,タイプ1の場合は表3及び表10,又はタイプ2の場合は表3Aに従った最小及び最大の断面積
をもつ新品の銅製導体を用いて行う。
  導体の種類別の試験品の数は,次のとおりとする。
− 単線導体しか受け入れない端子の場合 :             6個の試験品
− 非可とう導体しか受け入れない端子の場合 :         6個の試験品
− 可とう導体しか受け入れない端子の場合 :           6個の試験品
− あらゆる種類の導体に対応する端子の場合 :        12個の試験品
  最小の断面積をもつ導体を,3個の端子のそれぞれに,通常使用する場合と同じように接続する。最大
の断面積をもつ導体を残りの3個の端子のそれぞれに,通常使用する場合と同じように接続する。3個一

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