JIS H 8504:1999 めっきの密着性試験方法 | ページ 3

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                                      図6 曲げ試験の一例
18.3 試料 試料は,5.による。
18.4 試験方法 試験方法は,次による。
a) 試料を,図6に示すように,曲げ半径410mmの当て金を使用してしっかりと挟み固定し,90°曲
    げて元に戻す。
b) 次に,試料を反対側に曲げて元に戻す。
c) この操作を,定められただけ繰り返し行う(9)。
    注(9) 曲げ回数は,めっきの種類,製品の使用状態などによって適宜決めるとよい。
18.5 判定方法 判定方法は,7.による。
19. 巻付け試験方法
19.1 要旨 めっきされた細線又は条などを,一定の直径をもつマンドレルに巻き付けて,めっきの密着
性を調べる試験方法である。
    備考 この試験方法は,マンドレル試験方法ともいう。
19.2 試験器具 図7に示すように適当な柄の付いた保持具(10)に,直径12mm(11)の硬いマンドレル(12)
を取り付けたものとする。
    注(10) ハンドバイス又はドリルチャックを利用して作るとよい。
      (11) 原則として線径又は板厚と等しい直径。
      (12) 例えば,JIS G 3502のピアノ線材又はドリルの柄の部分。
19.3 試料 試料は,5.によるが,その形状は直径2mm以下の線,厚さ2mm,幅5mm以下の条などで,
長さは2030cmとする。
19.4 試験方法 試料の一端を保持具に固定し,他の端をペンチなどでくわえ,きっちりと3回以上巻き
付ける。
19.5 判定方法 判定方法は,7.による。
  なお,試験箇所は,巻き付けられた外側とする(13)。
    注(13) 試料が線の場合は,外側になった半円周の面,また条の場合は外面及び端面。

――――― [JIS H 8504 pdf 11] ―――――

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                                                                                   H 8504 : 1999
                             図7 試験器具及び巻き付けた状態の一例
20. 引張試験方法
20.1 要旨 試料に引張応力を与えてこれを破断し,めっきの密着性を調べる試験方法である。
    備考 素材の伸び率より伸び率の小さいめっきの試験に適用する。
20.2 装置 装置は,JIS B 7721に規定する試験機を使用する。
20.3 試料 試料は,次による。
a) 試験片は,JIS Z 2201に規定する4号試験片又は5号試験片とする。
b) 試験片の調製は,5.による。
20.4 試験方法 引張試験機に試料を取り付け,JIS Z 2241に規定する1030 N/sの速度で,引張応力を
与えて試料を破断する。
20.5 判定方法 試料が破断される過程でやや伸びを生じるが,その際,素地とめっき層との伸び率の相
違から,両者の間にずれを生じる。比較的伸び率の小さいめっきでかつ密着性がよい場合は,うろこ状に
なって素地に追従するが,密着性が不十分の場合は,りん片状になってめっきは素地から脱落する(14)。こ
の状態によってめっきの密着性の良否を判定する。
    注(14) 試料(試験片)の平行部だけが試験の対象となる。
21. 熱試験方法
21.1 加熱試験方法
21.1.1 要旨 試料を加熱することによって,めっきの密着性を調べる試験方法である。
21.1.2 装置 装置は,表1に示す試験温度において±10℃の範囲に維持できる加熱炉を用いる。
  なお,炉内に置く試料が,熱源からの直接放射を受けない構造とする。

――――― [JIS H 8504 pdf 12] ―――――

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21.1.3 試料 試料は,5.による。
21.1.4 試験方法 試験方法は,次による。
a) 室温状態の加熱炉内に試料を入れる。
b) 炉内の温度を表1の温度に上げ,規定温度に達したなら,試料を直ちに取り出し,常温まで放冷する
    (15)。
    注(15) 規定温度で保持時間を指示する場合は,受渡当事者間の協定による。
21.1.5 判定方法 判定方法は,7.による。
                                      表1 加熱炉内の温度
                                                                        単位℃
                            素地金属                     めっき金属
                                              クロム,ニッケル,銅
                                                                 すず,亜鉛,鉛
                                                                 カドミウム,金
                                              ニッケル−クロム,銀
                 鉄及び鋼                             300             200
                 銅及び銅合金                         300             200
                 アルミニウム及びアルミニウム合金     250             200
                 亜鉛合金                             200             200
21.2 熱衝撃試験
21.2.1 要旨 試料を加熱急冷する熱衝撃によって,めっきの密着性を調べる試験方法である。
21.2.2 装置 装置は,表2に示す試験温度において±10℃の範囲に維持できる加熱炉を用いる。
21.2.3 試料 試料は,5.による。
21.2.4 試験方法 試験方法は,次による。
a) 加熱炉の炉内を表2の温度に上げ,試料を炉内に入れる。
b) 規定温度で一定時間(16)保持した後,試料を取り出し,常温の水中に入れて急冷する。
    注(16) 保持時間は,受渡当事者間の協定による。
21.2.5 判定方法 判定方法は,7.による。
                                      表2 加熱炉内の温度
                                                                        単位℃
                            素地金属                     めっき金属
                                                                 すず,亜鉛,鉛
                                              クロム,ニッケル,銅
                                                                 カドミウム,金
                                              ニッケル−クロム,銀
                 鉄及び鋼                             300             150
                 銅及び銅合金                         300             150
                 アルミニウム及びアルミニウム合金     220             150
                 亜鉛合金                             150             150
22. 陰極電解試験方法
22.1 要旨 電解質水溶液中で試料を電解し,発生する水素ガスの作用によって,めっきの密着性を調べ
る試験方法である。
    備考 水素ガスを透過するめっき,例えば,鉄及び鋼素地上のニッケル,ニッケル−クロムめっきな
          どについて適用する。鉛,亜鉛,すず,銅,カドミウムなどのめっきには適用しない。
22.2 装置 装置は,小形直流電源装置及び電解槽で構成する。電解槽は,90±5℃に温度が維持できるも
のとする。

――――― [JIS H 8504 pdf 13] ―――――

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22.3 試験液 試験液は,水酸化ナトリウムの5%溶液を用いる。
22.4 試料 試料は,5.による。
22.5 試験方法 試験方法は,次による。
a) 試験液を電解槽に満たし,液温を90±5℃にする。
b) 電解槽に,試料と適当な大きさの鉄板を配置し,試料の一端を電源の陰極側に,鉄板を陽極側に接続
    する。
c) 電源スイッチを入れ,陰極電流密度約10A/dm2のもとで(17)電解を行う。
    注(17) 電解時間215分間の範囲内において適宜選択するとよい。
22.6 判定方法 電解時間2分間で試験面に膨れが発生すれば,めっきは明らかな密着不良であり,この
電解を15分間継続した後,膨れなどが生じなければめっきの密着性は極めて良好である。
    参考 試験液として,水酸化ナトリウム5%溶液の代わりに,硫酸5%溶液を用いてもよい。その場合,
          液温60±5℃,陰極電流密度約10A/dm2のもとで電解を行う。
                           付表1 各種密着性試験法へのめっきの適用例
       試験方法                           めっき金属                              備考
                                          銅
                    ニッケル クロム ニッケル  金  銀 亜鉛 カドミ すず ニッケル
                                 −クロム                ウム      −すず
やすり試験             ○           ○    ○                         ○
と石試験               ○    ◎                                      ○   50       上のめっきが必
                                                                          要
へらしごき試験                                ○  ○  ○  ○
押出し試験             ○    ◎     ○    ○                         ○   50       上のめっきが必
                                                                          要
エリクセン試験         ○    ◎     ○    ○                         ○
ショットピーニング試験                            ◎                      主に厚付け銀めっきに適
バレル研磨試験         ○    ○     ○    ○  ○  ○  ○  ○   ○    ○   比較的薄いめっきに適
テープ試験             ○                 ○  ○  ○  ○  ○   ○    ○   50        下の薄いめっき
                                                                          に適
はんだ付け試験         ○                 ○      ○                 ○   薄いめっきには適
たがね打込試験         ○    ○     ○            ○                 ○
けい線試験             ○           ○    ○  ○  ○  ○  ○   ○
曲げ試験               ○    ◎     ○    ○  ◎  ◎  ◎  ◎   ◎    ○
巻付け試験             ○    ○     ○    ○                         ○
引張試験               ○    ◎     ○                               ○
加熱試験               ○    ○     ○    ○  ◎  ◎           ○    ○
熱衝撃試験             ○    ○     ○    ○  ◎  ◎           ○    ○
陰極電解試験           ○    ○     ○

――――― [JIS H 8504 pdf 14] ―――――

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H 8504 : 1999
                 JIS H 8504(めっきの密着性試験方法)改正原案作成委員会 構成表
                              氏名                                所属
 (委員長)             神 戸 徳 蔵       東京都鍍金工業組合
                        青 江 徹 博       OEAガルバノ事務所
                        磯    明 夫       福島県ハイテクプラザ
                        伊 藤 哲 司       財団法人日本ウェザリングテストセンター
                        榎 本 英 彦       大阪市立工業研究所
                        海老名 延 郎      ヱビナ電化工業株式会社
                        大 嶋 清 治       工業技術院標準部材料規格課
                        大 高 徹 雄       上村工業株式会社
                        古 賀 孝 昭       荏原ユージライト株式会社
                        齋 藤 いほえ      東京都城南地域中小企業振興センター
                        須 賀     蓊      スガ試験機株式会社
                        滝 沢 貴久男      三洋電機株式会社
                        豊 永     実      豊永表面技術事務所
                        橋 本 繁 晴       財団法人日本規格協会
                        星 野 重 夫       武蔵工業大学
                        三田村 勝 昭      スガ試験機株式会社
                        山 添 英 司       富士通株式会社
                        矢 島 勝 司       工業技術院物質工学工業技術研究所
                        矢 部     賢      矢部技術事務所
                        山 崎 龍 一       神奈川県産業技術総合研究所
                        山 本 壮兵衛      山本サーフェイス・エンヂニヤリング コンサルタンツ&
                                                        ラボラトリー
                        渡 辺     博      株式会社東芝
                        金 子 國 雄       社団法人表面技術協会
 (事務局)             及 川 耕 一       社団法人表面技術協会