JIS P 8142:2005 紙及び板紙―７５度鏡面光沢度の測定方法

                                                                                   P 8142 : 2005

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,紙パルプ技術協会
(JAPAN TAPPI)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの
申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS P 8142:1993は改正され,この規格に置き換えられる。
  改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 8254-1:1999,Paper and board−
Measurement of specular gloss−Part 1:75°gloss with a converging beam,TAPPI methodを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
  JIS P 8142には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定)光沢度計の光学系仕様
    附属書B(参考)参考文献
    附属書1(規定)紙及び板紙の75度鏡面光沢度試験方法(平行光方式)
    附属書2(参考)JISと対応する国際規格との対比表

(pdf 一覧ページ番号 1)

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P 8142 : 2005

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  3.1 光沢・・・・[2]
•  3.2 正反射;鏡面反射・・・・[2]
•  3.3 拡散反射・・・・[2]
•  3.4 鏡面光沢度・・・・[2]
•  4. 原理・・・・[2]
•  5. 装置・・・・[2]
•  5.1 光沢度計・・・・[2]
•  5.2 光沢標準面・・・・[2]
•  5.3 ゼロ光沢標準・・・・[3]
•  6. 試験片の採取及び調製・・・・[3]
•  7. 装置の校正・・・・[4]
•  8. 操作・・・・[4]
•  9. 精度・・・・[4]
•  10. 報告・・・・[4]
•  附属書A(規定)光沢度計の光学系仕様・・・・[6]
•  附属書B(参考)参考文献・・・・[8]
•  附属書1(規定)紙及び板紙の75度鏡面光沢度試験方法(平行光方式)・・・・[9]
•  附属書2(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[12]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              P 8142 : 2005

紙及び板紙−75度鏡面光沢度の測定方法

Paper and board−Measurement of 75° specular gloss− Converging beam method

序文

 この規格は,1999年に第1版として発行されたISO 8254-1,Paper and board−Measurement of specular
gloss−Part 1:75°gloss with a converging beam,TAPPI methodを翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更
して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。また,附属書1(規定)には,従来JISで規定した平行光方式の紙及
び板紙の75度鏡面光沢度の試験について規定する。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。変更の一覧表をそ
の説明を付けて,附属書2(参考)に示す。

1. 適用範囲

 この規格は,紙及び板紙の紙面の法線に対して75°の角度における鏡面光沢度を測定する
方法について規定する。この規格は,主として塗工紙に適用するが,スーパーカレンダ処理された紙のよ
うな,つや(艶)のある非塗工紙にも適用できる。
    備考1. 平行光方式を採用している附属書1の紙及び板紙の75度鏡面光沢度の試験方法は,この規格
            の発効後も一定の移行期間使用を認め,最終的に2008年3月31日に廃止するものとする。
            移行期間における本体と附属書1の違いを明確にするため,10.(報告)では“75度ISO光
            沢度”とし,附属書1の8.(報告)では,“75度JIS光沢度”とした。
        2. この規格は,反射像の質を評価するのではなく,キャストコート紙,ラッカー紙,高度にワ
            ニス処理,ワックス処理した紙又は高光沢インキフィルムには適用しない。これらの紙に対
            しては,20°の角度が望ましいが,この規格の方法でも,紙又は板紙上のインキ皮膜の光沢
            度の測定には適していることが示されている。この規格の方法によって測定された光沢度は,
            インキ皮膜の色と拡散反射率との違いにはほとんど影響されない。例えば,他の物性が同等
            な,白色と黒色との表面の光沢度を測定すると,白色の表面の方が黒色の表面より1光沢単
            位未満高い値を示す程度である。
        3. ISO 2813 : 1978 塗料及びワニス−非メタリック塗膜の20°,60°及び85°の鏡面光沢度の
            測定方法−が幾つかの紙の測定に適している。
        4. この規格の対応国際規格を,次に示す。
              なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
            (修正している),NEQ(同等でない)とする。
            ISO 8254-1:1999,Paper and board−Measurement of specular gloss−Part 1:75° gloss with a
              converging beam,TAPPI method (MOD)

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P 8142 : 2005

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
    JIS P 8110 紙及び板紙−平均品質を測定するためのサンプリング方法
      備考 ISO 186:1994 Paper and board−Sampling to determine average qualityからの引用事項は,この
             規格の該当事項と同等である。
    JIS P 8111 紙,板紙及びパルプ−調湿及び試験のための標準状態
      備考 ISO 187:1990 Paper,board and pulps−Standard atmosphere for conditioning and testing and
             procedure for monitoring the atmosphere and conditioning of samples からの引用事項は,この規
             格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8120 光学用語
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 8701 色の表示方法−XYZ表色系及びX10Y10Z10表色系
    JIS Z 8741 鏡面光沢度−測定方法

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS P 0001及びJIS Z 8120によるほか,次による。

3.1 光沢

 (gloss) 表面の選択的な方向特性によって,物体の明るい反射がその表面に写り込んでいるよう
に見える見え方。

3.2 正反射;鏡面反射

 (regular reflection; specular reflection) 幾何光学の反射の法則に従う,拡散がない
反射。

3.3 拡散反射

 (diffuse reflection) 巨視的にみて正反射が認められない反射による拡散。

3.4 鏡面光沢度

 (specular gloss) 鏡面反射方向の規定の開き角(1)内に試験片表面から反射される光束と,
同じ条件での鏡面反射標準面からの反射光束との比をパーセントで表したもの。
    注(1) 開口の大きさとレンズの焦点距離で決まる角度のことで,入射光軸及び受光軸に対して何度傾
          いた光まで含めなければならないかを,示している。

4. 原理

 試験片表面の法線方向から75°の方向で試験片表面に入射する光と,法線方向から75°の鏡面
反射方向に反射される光のうち,規定された開き角内の反射光が受光器で検出され,その出力が計器に表
示される。

5. 装置

5.1 光沢度計

 光沢度計は,附属書Aに規定する主要部分の一般的な配置と相対的寸法をもつもので,次
に規定する構成部で構成する。
a) 光源
b) 試験片に入射する収束光を作るレンズ
c) 必要に応じ,試験片を平らに保つ吸引板のような装置
d) 試験片からの反射光を測定する受光器
      これらの構成部は,内面がつや(艶)消しの黒色で,測定環境温度で構造的にも光学的にも安定な
    遮光された容器に収められる。

5.2 光沢標準面

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                                                                                   P 8142 : 2005
5.2.1 鏡面光沢度の基準 理論的な鏡面光沢度の基準は,理想的な完全反射平面鏡であり光沢単位384.4
をもつ。平滑に研磨された清浄な黒色ガラスで,589.26 nmにおける屈折率1.540のものは,フレネルの式
から計算すると,この尺度で100光沢単位となる。
5.2.2 高光沢参照標準面 高光沢参照標準面は,研磨した黒色ガラスの清浄な板で,その75°鏡面光沢度
は波長589.26 nmでの屈折率から計算で求められる。
    備考 屈折率が分かれば,光沢度の値は,標準の屈折率1.540から屈折率が0.001異なるごとに100.0
          に0.065を加減算して求められる。例えば,黒色ガラスの屈折率が1.523であれば,光沢度の値
          は98.9となる。
5.2.3 中間光沢標準面 中間光沢標準面は,試験に供する紙と近似する反射光分布で,測定位置に置いた
場合にふらつかないように十分平らなセラミック板からなり,中央部分が均一な光沢をもつものである。
中間光沢標準面のすべては,5.1に規定された装置を用いて,信頼ある試験所において高光沢作業標準面に
対して校正しなければならない。
5.2.4 作業標準面 作業標準面は,光沢レベルに応じて異なった反射光分布をもち,5.1に規定した装置を
用いて,中間光沢標準面(5.2.3)に対して校正する。これらの標準面は,使用しない場合には密封容器に保
管する。表面をきずつけたり,汚したりするちりを避ける。汚れていたり,きずをつけるおそれのある表
面に,標準面を当てるように置いてはならない。人の皮膚の脂質が標準面に付着しないように,常に標準
面の両端を挟むように扱う。標準面を清浄にするには,温水及び弱い洗浄剤を用いて,柔らかいナイロン
ブラシでこする(石けん液を使用してはならない。)。洗浄剤は熱い流水(温度約65℃)で洗い流し,仕上
げは蒸留水で洗う。中間光沢標準面(5.2.3)はふいてはならない。洗浄後の標準面は乾燥器中で乾燥する。
    備考1. 高光沢参照標準面(5.2.2)は,毛羽の立たない紙タオル又はその他の毛羽の立たない吸収性の
            よい物で軽くふくようにする。
        2. 表面の屈折率及び高光沢参照標準面(5.2.2)の光沢値は,数年を経過すると徐々に変化して,
            均一でなくなる。これらの標準面は,少なくとも2年に1回の割合で,信頼できる研究機関
            に送り,校正を行い,必要に応じて均一性を保つために再研磨することが望ましい。

5.3 ゼロ光沢標準

 黒色ベルベットをはった光トラップ又は同様な光トラップ。
    備考 黒色つや(艶)消し塗料で塗装されていたり,内部が黒色の角すい(錐)構造となっている筒
          を利用する。

6. 試験片の採取及び調製

a) 試験片はJIS P 8110に規定する方法によって採取した試験用紙から採取し,JIS P 8111に規定する標
    準条件で前処置する。
    備考 紙を高湿度にさらすとしばしば光沢が低下する。紙を相対湿度65 %以上で試験する場合には,
          試験報告に相対湿度を記載しなければならない。
b) 試験片の寸法は,装置の試験片を置く開口部を完全にふさぐ大きさとし,少なくとも10枚を準備する。
c) 測定面積(附属書A参照)は,(0.1d×0.05d/cos 75°)によって算出する。d(附属書A図1参照)の
    寸法が100 mmの場合,測定面積は195 mm2±40 mm2となる。したがって10回の測定は,約2 000 mm2
    の面積の平均値を与える。距離dが100 mmよりも小さい場合,測定面積はd 2に比例して減少するの
    で,同じ面積の平均値を得るためには試験片の数を増やすことが望ましい。

――――― [JIS P 8142 pdf 5] ―――――

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