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L15≧12.3mm
L16≧11.5mm
L17=35.5±0.2mm
L18=9.00±0.20mm
R3=0.5±0.1mm
R4≧8.85mm
(7) 書込み禁止 孔書込み禁止孔の中心は,基準線Y上とし,基準線Xからの距離 (L19) 及び大きさ (L20,
L21) は,図2及び次のとおりとする。
L19=67.75±0.25mm
L20≧3.5mm
L21≧4.0mm
(8) 識別孔 識別孔の中心位置 (L5, L9) 及び大きさ (L49, L50) は,図1,図2及び次のとおりとする。
L49≧3.5mm
L50≧4.0mm
(9) シャッタ部分の形状 シャッタが装着されている部分の形状寸法 (L22L31, L45) 及び切欠き角( 懿 戀
は,図3及び次のとおりとする。
L22=8.0±0.2mm
L23=76.0±0.3mm
L24=68.0±0.3mm
L25=64.50±0.35mm
L26=57.00±0.35mm
L27=55.5±0.6mm
L28≧3.5mm
L29=17.5±0.2mm
L30=17.00±0.15mm
L31=15.50±0.25mm
L45=12.50±0.25mm
懿 45±2°
拿 135±2°
(10) シャッタ シャッタが開いた状態での基準線Yからの距離 (L32) 及びウィンドの幅 (L33) は,図2,
図3及び次のとおりとする。
L32=53.75±1.25mm
L33=12.0±0.2mm
なお,シャッタの移動は,L25からL28までの範囲とする。
4.2 ライナ ライナは,ヘッドウィンド開口部から0.2mm以上はみ出してはならない。
4.3 ディスク ディスクは,次による。
(1) 寸法 ディスクの直径 (D4) 及び厚さ (E2) は,図4及び次のとおりとする。
D4=85.8±0.2mm
E2=0.080±0.008mm
(2) 磁性層の有効領域 磁性層の有効領域は,次に示す半径の二つの円で囲まれる範囲とする。
――――― [JIS X 6223 pdf 6] ―――――
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内半径=20.6mm
外半径=42.0mm
(3) 記録面 記録面は,ハブ操作孔のある側を0面,他の側を1面とする。
4.4 ハブ ハブは,図4に示すように中央部とフランジ部で構成する。
図4 ディスク及びハブ
(1) 大きさ 中央部の直径 (D5),フランジ部の直径 (D6),中央部の面からディスクの0面までの距離 (L34)
及びL34の測定位置の半径 (R7) は,次のとおりとする。
00
.015
D5= 25.00.0 mm
D6≦31.15mm
L34=1.36±0.10mm
R7 : 公称値14mm
(2) 位置決め孔 ハブには,中心孔と駆動孔の二つの位置決め孔を設ける。
(a) 中心孔 中心孔の正方形の一辺を長さ (L35),ディスク回転中心からの距離 (L36) 及び角部の半径
(R5) は,次のとおりとする。
L35≧4.00mm
L36=1.995 5mm
――――― [JIS X 6223 pdf 7] ―――――
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R5=1.0±0.3mm
ディスクの回転中心は,ディスクの幾何学的中心の0.5mm以内とし,位置は,孔の二辺について
測定する。
(b) 駆動孔 駆動孔は,直交する2本の基準線A, Bによって規定する。その角度 (最 孔の大きさ (L37, L38),
基準線A, Bからの距離 (L39, L40),3か所の角部の半径 (R5) 及び4番目の角部の半径 (R6) は,次の
とおりとする。
柿 15±3°
L37=8.0±0.3mm
L38≧4.5mm
L39=2.0±0.2mm
L40=10.00±0.15mm
R5=1.0±0.3mm
R6=2.0±0.1mm
4.5 ノッチ ノッチを付ける場合,基準線Xからの距離 (L41),大きさ (L42, L43) 及び基準面XYからの
深さ (L44) は,図1,図2及び次のとおりとする。
L41=7.50±0.15mm
L42≧3.0mm
L43=4.2±0.2mm
L44≧2.0mm
4.6 フレキシブルディスクとディスク装置との接触断面 フレキシブルディスクをディスク装置に装着
したとき,基準面XYからハブ中央部表面までの距離 (L46),ケース1面の厚さ (E3),L47とL48で規定され
た環状帯の厚さ (E4) 及び環状帯の位置 (L47, L48) は,図5及び次のとおりとする。
L46 : 公称値0.3mm
E3=1.3±0.1mm
E4≦2.5mm
L47=22.6mm
L48=21.7±0.2mm
図5 フレキシブルディスク接触断面図
4.7 可どう性 フレキシブルディスクは,附属書2に示す試験方法で試験するとき,P1P4にフレキシ
ブルディスクが接触しなければならない。
――――― [JIS X 6223 pdf 8] ―――――
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5. 材料
5.1 ケース ケースは,適切な材料(例えば,ABS樹脂)とする。
5.2 ライナ ライナは,ディスクをきずつけないでほこりを除去できる材料(例えば,不織布)とする。
5.3 ディスク ディスクは,適切なベース(例えば,2軸に延伸したポリエチレンテレフタレート)の両
面に強固で柔軟性のある磁性塗膜(例えば,磁性材としてCo− 最 攀 いた塗膜)を形成したものとす
る。
5.4 ハブ ハブは適切な材料(例えば,SUS430又はこれと同等な磁気特性をもつ材料)とする。
6. トラック
6.1 トラック数 記録面には,磁性層の有効領域に80本の同心のトラックをもつ。
6.2 トラック番号 トラック番号は,外周から始まる00から79までの10進2けたの数字で表す。
6.3 トラック幅 記録されたトラック幅は,0.115±0.008mmとする。また,隣接するトラックの間は,
消去されているものとする。
なお,トラック幅の測定方法は,附属書3による。
6.4 トラック位置 トラック位置は,次のとおりとする。
(1) トラック番号とトラック半径の関係 トラック中心線の半径の公称値 (Rn) は,次式による値とする。
Rn=X−0.187 5n
ここに, Rn : トラック中心線の半径の公称値 (mm)
X : 0面の場合39.500mm,1面の場合38.000mm
n : トラック番号 (0079)
(2) トラック半径の許容差 試験時における各トラック半径の許容差は,10.1.1で測定したとき,±
0.020mmとする。
7. 物理的・機械的特性
7.1 燃焼性 ディスク,ケース及びライナの材料は,マッチの炎によって着火しても差し支えないが,
二酸化炭素中で燃焼し続けるものであってはならない。
7.2 ディスクの熱線膨張係数 ディスクの熱線膨張係数は, (17±8) ×10-6/℃とする。
7.3 ディスクの湿度線膨張係数 ディスクの湿度線膨張係数は, (015) ×10-6/%RHとする。
7.4 トルク 始動トルク及び回転トルクは,次のとおりとする。
(1) 始動トルク 始動トルクは,ヘッドをディスクに接触させない状態で,0.006Nmを超えてはならない。
(2) 回転トルク ディスクの回転を維持するのに必要な回転トルクは,ヘッドをディスクに接触させない
状態で,0.000 50.002 5Nmとする。ただし,回転数は,300±3rpmとする。
7.5 シャッタ機構 シャッタの開閉力は,閉じた位置で0.2N以上,開いた位置で1N以下とする。
7.6 書込み禁止孔 書込み禁止孔は,機械的なスイッチ又は光学的検出器によって利用される。書込み
禁止孔を閉じたとき,閉じた部分はケースの基準面より飛び出さないものとし,3Nの荷重をかけたとき,
基準面から0.3mmを超えるへこみを生じてはならない。
また,附属書4に示す光学系を用いて測定したとき,書込み禁止孔における光透過率は閉じた状態で1%
以下とする。
――――― [JIS X 6223 pdf 9] ―――――
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8. 電気的・磁気的特性
8.1 試験条件 電気的・磁気的特性の測定は,磁束反転密度15916磁束反転/radで行い,その試験条件は,
次のとおりとする。
(1) 磁束反転周波数 磁束反転周波数は,次のとおりとする
1f=250 000±250磁束反転/s
2f=500 000±500磁束反転/s
(2) 試験記録電流 試験記録電流は,トラック00において1fを記録したとき,基準磁界を生ずべき電流
の148152%の記録電流とする。
(3) 直流消去 特に指定のない限り,記録に先行して,試験記録電流にほぼ等しい直流電流によって消去
を行う。
(4) 回転数 ディスクの回転数は,300±3rpmとする。
なお,回転方向は,フレキシブルディスクの0面から見て反時計方向とする。
8.2 平均信号振幅 平均信号振幅は,標準フレキシブルディスク(2)を用いて同じ条件で記録したときの
標準信号振幅に対して,トラック00の1f出力は,130%以下,トラック79の2f出力は80%以上とする。
注(2) 電気的・磁気的特性の測定に用いる標準フレキシブルディスクは,副標準フレキシブルディス
クに代えることができる。
8.3 分解能 トラック79において,2fの平均信号振幅を1fの平均信号振幅で除した値は,標準フレキシ
ブルディスクを用いて測定したときの値に対して,80%以上とする。この試験は,両面において行う。
8.4 ピークシフト ピークシフトは,附属書5の方法で測定したとき,標準フレキシブルディスクを用
いて同じ条件で測定したときの値に対して,63137%とする。この試験は,両面のトラック79において
行う。
なお,ピークシフトは次式で表す。
T T
ピークシフト
2
ここに, T : 再生波形における1対のビット間隔の周期の平均。テス
トパターン (DB6) における値と, (B6D) における値の
平均とする。
T : 2fパターンの周期で,2
8.5 重ね書き 直流消去を行った後,トラック00に1fを1周にわたって記録し,1fの平均信号振幅を測
定する。次に消去を行わないで2fを1周にわたって重ね書きし,1fの残留平均信号振幅を測定する。これ
らの平均信号振幅の測定には,周波数選択レベル計(セレクティブ電圧計)を使用する。これらの測定値
から次式によって平均信号振幅比を算出したとき,その値は,標準フレキシブルディスクに対する値の
125%以下とする。
2 f 記録後の1 f 残留平均信号振幅
平均信号振幅比
1 f 平均信号振幅
この試験は,両面において行う。
8.6 飽和特性 トラック00において,1fの試験周波数で記録し,これを再生するとき,平均信号振幅が
その最大値(飽和値)の95%となる最小記録磁界は,基準磁界の±20%以内とする。
8.7 モジュレーション トラック00における1fのモジュレーション及びトラック79における2fのモジ
ュレーションは,10%以下とする。
――――― [JIS X 6223 pdf 10] ―――――
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JIS X 6223:1987の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/DP 9529-1(MOD)
JIS X 6223:1987の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6223:1987の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX0001:1994
- 情報処理用語―基本用語
- JISX0002:1987
- 情報処理用語(算術演算及び論理演算)
- JISX0003:1989
- 情報処理用語(装置技術)
- JISX0004:2002
- 情報処理用語(データの構成)
- JISX0005:2002
- 情報処理用語(データの表現)
- JISX0006:1989
- 情報処理用語(データの準備及び取扱い)
- JISX0007:2001
- 情報処理用語―プログラミング
- JISX0008:2001
- 情報処理用語―セキュリティ
- JISX0009:1997
- 情報処理用語(データ通信)
- JISX0010:1987
- 情報処理用語(操作技法及び機能)
- JISX0011:1989
- 情報処理用語(処理装置)
- JISX0012:1990
- 情報処理用語(データ媒体,記憶装置及び関連装置)
- JISX0013:1998
- 情報処理用語(図形処理)
- JISX0014:1999
- 情報処理用語―信頼性,保守性及び可用性
- JISX0015:2002
- 情報処理用語(プログラム言語)
- JISX0016:1997
- 情報処理用語(情報理論)