JIS X 6223:1987 ９０ｍｍフレキシブルディスクカートリッジ（１３２６２／１５９１６磁束反転／ｒａｄ） | ページ 3

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  なお,モジュレーションは,次式で表す。
                                              A  B
                         モジュレーション(%)        100
                                              A  B
                      ここに, A :  トラック1周のうち最大出力電圧を含む約2 000磁束反転の平均
                                      出力電圧
                                B :  トラック1周のうち最小出力電圧を含む約2 000磁束反転の平均
                                      出力電圧
8.8  トラックの品質
8.8.1  ミッシングパルス 2fのせん(尖)頭値が,その平均信号振幅の21の45%未満のものを,ミッシン
グパルスとする。
8.8.2  エキストラパルス 2fを記録した後,直流消去を行い,再生された信号のせん頭値が,その平均信
号振幅の21の20%を超える信号となるものをエキストラパルスとする。
8.8.3  トラックの必要条件 全トラックにおいて,次の条件を満足しなければならない。
(1) トラック00には,ミッシングパルス又はエキストラパルスがないこと。
(2) トラック00を除く全トラックにおいては,原則としてミッシングパルス又はエキストラパルスがない
    こと。
9. 耐久性及び耐候性
9.1   耐久性 耐久性は,附属書6の方法で試験する。試験前の平均信号振幅に対する試験後の平均信号
振幅の比は,0.7以上でなければならない。
9.2   耐候性 耐候性は,附属書7の方法で8.の各項目を試験し,それらの規格値を満足しなければなら
ない。
  また,この試験によってミッシングパルス又はエキストラパルスの数が増加してはならない。
10. 環境及び輸送
10.1 環境
10.1.1 試験環境 試験環境は,次のとおりとする。
      温度        : 23±2℃
      相対湿度      : 4060%、
      試験前放置時間 : 最低24時間
      周辺磁界     : 4 000A/m以下
  温度及び相対湿度の測定は,8.の各項目を試験する場合にはディスク装置の近傍の空気中で行い,その
他の場合にはフレキシブルディスクの近傍の空気中で行う。
  また,周辺磁界は,ヘッドによる磁束の集中効果を含めたフレキシブルディスク面上の値とする。
10.1.2 使用環境 フレキシブルディスクは,次の環境で使用する。
      温度        : 1051.5℃
      相対湿度      : 2080%
      湿球温度      : 29℃以下
      最大温度変化率 : 20℃/h
      周辺磁界     : 4 000A/m以下

――――― [JIS X 6223 pdf 11] ―――――

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X 6223-1987
  温度及び相対湿度の測定は,フレキシブルディスクの近傍の空気中で行う。フレキシブルディスクの外
面及び内面に結露してはならない。
  また,周辺磁界は,ヘッドによる磁束の集中効果を含めたフレキシブルディスク面上の値とする。
10.1.3 保存環境 フレキシブルディスクは,次の環境で保存する。
      温度    : 451.5℃
      相対湿度 : 890%
      周辺磁界 : 4 000A/m以下
  フレキシブルディスクは,外面及び内面に結露してはならない。
  なお,使用環境外の温湿度に長時間さらされたフレキシブルディスクは,使用環境下になじまぜた後に
使用する。
10.2 輸送 発送者は,輸送中フレキシブルディスクに対し十分な注意が払われるための責任をもたなけ
ればならない。
  保護箱は,内部が清浄で,ほこりや水が入らない構造とする。
  また,周辺磁界の影響を避けるため,フレキシブルディスクとこん(梱)包の外側との間には十分な間
げき(隙)をもたせる。
  輸送中,次の条件を満たさなければならない。
      温度       : −4051.5℃
      最大温度変化率 : 20℃/h
      相対湿度      : 890%
  フレキシブルディスクは,外面及び内面に結露してはならない。
11. 表示 フレキシブルディスクのケースに,次の事項を明りょうに表示する。
(1) 製造業者名又はその略号
(2) フレキシブルディスク,形式(両面),記録形式及びトラック数又はそれらの略号
(3) 製造年月又はその略号

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  引用規格 : 
    JIS X 0001 情報処理用語(基本用語)
    JIS X 0002 情報処理用語(算術演算及び論理演算)
    JIS X 0003 情報処理用語(装置技術)
    JIS X 0004 情報処理用語(データの構成)
    JIS X 0005 情報処理用語(データの表現)
    JIS X 0006 情報処理用語(データの準備及び取扱い)
    JIS X 0007 情報処理用語(プログラミング)
    JIS X 0008 情報処理用語(規制,完全性及び安全保護)
    JIS X 0009 情報処理用語(データ通信)
    JIS X 0010 情報処理用語(操作技法及び機能)
    JIS X 0011 情報処理用語(制御装置,入出力装置及び演算装置)
    JIS X 0012 情報処理用語(データ媒体,記憶装置及び関連装置)
    JIS X 0013 情報処理用語(図形処理)
    JIS X 0014 情報処理用語(信頼性,保守及び可用性)
    JIS X 0015 情報処理用語(プログラム言語)
    JIS X 0016 情報処理用語(情報理論)
  対応国際規格 : 
          ISO/DP 9529/1 Information processing−Data interchange on 90mm (3.5in)   lexible diskcartridges
              using modified frequency modulation recording at 15916 ftprad, on 80 tracks on each side−Part1 :
              Dimensional, physical and magnetic characteristics
関連規格 : JIS X 0201 情報交換用符号
          JIS X 0202 情報交換用符号の拡張法
          JIS X 0603 情報交換用フレキシブルディスクカートリッジのラベルとファイル構成
          JIS X 6201 200mmフレキシブルディスクカートリッジ
          JIS X 6211 130mmフレキシブルディスクカートリッジ
          JIS X 6221 90mmフレキシブルディスクカートリッジ(7958磁束反転/rad)
          ISO/DP 9529/2 Information processing−Data interchange on 90mm (3.5in)   lexible disk cartridges
              using modified frequency modulation recording at 15 916 ftprad, on 80 tracks on each side−Prat2 :
              Track format
          ISO 7665 File structure and labelling of flexible disk cartridges for information interchange

――――― [JIS X 6223 pdf 13] ―――――

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X 6223-1987
                                  附属書1      厚さゲージ
1. ゲージ ゲージは,クロムめっきを施した鋼鉄製等とし,内部の表面粗さは最大5          
2. ゲージの寸法 ゲージの寸法は,附属書1図及び次のとおりとする。
                        A≧96.0mm
                        B=91.0±0.1mm
                        C=8.50±0.01mm
                        D=3.80±0.01mm
                        E=4.20±0.01mm
                                    附属書1図 厚さゲージ

――――― [JIS X 6223 pdf 14] ―――――

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                        附属書2      可どう(撓)性の測定方法
1. フレキシブルディスクの可どう性の測定点 測定点は,附属書2図1に示すa, b, c, dの4点とし,そ
の間隔 (L5), (Lx) は,次のとおりとする。
                        L5=80.0±0.2mm
                        Lx=62.0±0.2mm
  なお,測定点a及びbは,それぞれ第1基準孔及び第2基準孔とする。
2. 可どう性試験装置 可どう性試験装置は,附属書2図2に示すように,平板上に垂直に立てた支柱P1
P5からなる。測定点a, b, c, dに対応した位置にそれぞれP1, P2, P3, P4を設け,ハブ操作孔に対応した位置
にP5を設ける。
  P1P5の寸法は,次のとおりとする。
(1)   1, P2の寸法 支柱P1及びP2の寸法は,附属書2図3及び次のとおりとする。
                        d1=6.00±0.01mm
                        d2=3.00±0.01mm
                        h1≦1.00mm
                        h2≦2.00mm
(2)   3, P4の寸法 支柱P3及びP4の寸法は,附属書2図3及び次のとおりとする。
                        d5=6.00±0.01mm
(3)   5の寸法 支柱P5の寸法は,附属書2図3及び次のとおりとする。
                        d3=12.70±0.01mm
                        d4=3.98±0.01mm
                                  03
                        h3=2.20 +.000
                                 .0 mm
                        r=2.5±0.3mm
(4)   1P4の上端面の平面度 支柱P1, P2, P3及びP4の上端面の高さの公差は,0.02mm以内とする。
3. 試験方法 フレキシブルディスクの測定点a, b, c, dを可どう性試験装置の支柱P1, P2, P3及びP4上に置
き,各測定点に対応する上部の4点にそれぞれ0.6Nの力を加えて測定する。

――――― [JIS X 6223 pdf 15] ―――――

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