JIS X 6223:1987 ９０ｍｍフレキシブルディスクカートリッジ（１３２６２／１５９１６磁束反転／ｒａｄ） | ページ 4

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X 6223-1987
                                      附属書2図1 測定点
                                     附属書2図2 試験装置
                                       附属書2図3 寸法

――――― [JIS X 6223 pdf 16] ―――――

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                           附属書3      トラック幅の測定方法
  7トラックの幅にわたり直流消去を行い,記録再生ヘッドを消去した幅の中央に位置決めし,消去ヘッ
ドも作動させながら1fの周波数で記録する。次に,ヘッドを半径方向に0.01mmを超えないピッチで附属
書3図の左及び右へ,再生信号が25%になるまで移動させる。附属書3図のように21実効トラック幅A及
びBをそれぞれ測定し,A及びBの和からトラック幅を求める。ただし,試験に使用するヘッドのギャッ
プ幅は,実効トラック幅以上とする。
                               附属書3図 トラック幅の測定方法

――――― [JIS X 6223 pdf 17] ―――――

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X 6223-1987
                            附属書4 光透過率の測定方法
  附属書4図1及び附属書4図2に示す測定器及び測定回路を用い,書込み禁止孔を開いたときの電圧計
の読取り値V0と,書込み禁止孔をカバーで閉じたときの読取り値V1とを測定する。
  光透過率tは,次式によって求める。
                                1
                        t(%)      100
                                0
                                      附属書4図1 測定器

――――― [JIS X 6223 pdf 18] ―――――

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                                     附属書4図2 測定回路
                          項目                       仕様
                                    最大放射光の波長 : 攀愀     940±10nm
                                    半値幅 : b=±50nm
                                    ディスクまでの距離 : 
                     発光ダイオード               5.3
                                           L1         mm
                                                2 tan
                                    ここに, 懿  発光ダイオードの最大光度の95%
                                              以上を得るために必要な角度
                                    開口厚 : 1.21.4mm
                                                    愀
                                    開口径 : D=2L2tan
                     マスク
                                           ここに,L2=L1+1.5mm
                                    表面塗装 : 黒色,つや消し
                     ホトダイオード 受光面 : マスク開口径の100120%
                                                 Rf 0  1
                                     Rf0とRf1の比 : 
                     抵抗器 (Rf0, Rf1)
                                                 Rf1   50
                                    精度 : 1%

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X 6223-1987
                         附属書5      ピークシフトの測定方法
1. 試験装置
1.1   測定回路 ピークシフトの測定回路とタイムチャートは,附属書5図1及び附属書5図2に示すと
おりとする。これらの図において,信号a, b, c,······, gは,次のとおりとする。
a: インデックスパルス トラックの始点と終点を表す。
b: インデックスパルスタイマ インデックスパルスによって起動される1msのタイマであり,記録電流
    がオフになったとき不連続記録部のサンプリングを防ぐために用いる。
c: 再生信号 テストパターンの再生出力であり,1対のビットの最初のビットの立ち上がりはLS74フリ
    ップフロップを起動し,立ち下がりはLS221タイマを起動する。
d: ビット周期ウィンド LS221タイマの出力であり,再生信号の1対のビットの2番目のビットの立ち
    上がりとタイミングをとり,LS74フリップフロップをリセットする。
e: ビット周期 LS74フリップフロップの出力であり,再生信号の1対の2ビット間の時間間隔T'を示す。
f:  サンプリング周期 サンプリング周期は,インデックスパルスタイマがリセットされてから,2番目
    のLS74フリップフロップがdの後縁によってセットされるときに始まり,次のインデックスパルス
    タイマの周期の間に生じる最初のLS221タイマの後縁によって終わる。
g: 出力 gの波形は,ビット周期 (e) とサンプリング周期 (f) の否定論理積であり,時間間隔カウンタ
    に送られる。
1.2   LS221タイマの周期 LS221タイマの周期は,3              
1.3   時間間隔カウンタ 時間間隔カウンタの分解能は,5ns以上でなければならない。
2. 試験方法
2.1   消去 フレキシブルディスクを交流でバルク消去する。
2.2   記録 テストパターン110110110110 (DB6) を連続して,両面のトラック79に記録する。この記録
は,インデックスパルスとともに始まり,インデックスパルスが検出されたときに終わる。
2.3   再生 記録に使用したディスク装置と同じディスク装置によって再生し,時間間隔カウンタによっ
て時間間隔T'を測定する。
    備考 ディスク装置の回転速度による誤差を最小限にするため,記録した後,直ちに再生する必要が
          ある。
2.4   サンプリング方法
2.4.1  データ記録領域 データ記録領域は,インデックスパルスの後縁から次のインデックスパルスの後
縁までとする。
2.4.2  サンプリング領域 サンプリング領域は,インデックスパルスタイマのリセットから次のインデッ
クスパルスの後縁までとする。
2.4.3  サンプリング方法 サンプリング方法は,サンプリング領域においてすべての時間間隔T'を測定す
る。ただし,すべての時間間隔T'を測定することが不可能なサンプリングレートである場合は,サンプル
サイズ(測定数)が1 000以上の条件でランダムサンプリングしてもよい。

――――― [JIS X 6223 pdf 20] ―――――

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