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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
変調信号の変動は,次による。
− 連続記録した一つの層内 :
(I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.33
− 連続記録した1回転内 :
(I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.15
2層ディスクで,L0層及びL1層の変調信号の比は,連続記録された状態で,次による。
−0.25≦(I8H,L0−I8H,L1)/(I8H,L0+I8H,L1)≦+0.25
ここで,I8H,L0及びI8H,L1は,同じ場所で半径方向及び接線方向の両方向に測定される。
30.3 反射率-変調度積
変調度(正規化したI8pp変調振幅に等しい。)を乗じたディスクの反射率は,次による(附属書B参照)。
I8pp
R M R8 H
I8H
このR×Mは,次による。
− HTL単層ディスク :
0.050≦R×M≦0.15
− LTH単層ディスク :
0.060≦R×M≦0.18
− 2層ディスク :
0.016≦R×M≦0.048
I2解像度(正規化したI2pp変調振幅に等しい。)を乗じたディスクの反射率は,次による。
I2pp
R I2 R8H
I8H
このR×I2は,次による。
− 25.0 GBの容量の単層ディスク :
R×I2≧0.003 6
− 50.0 GBの容量の2層ディスク :
R×I2≧0.001 2
30.4 非対称性
HF信号の非対称性は,次による。
I8H I8L I2H I2L
−0.10≦ 2 2 ≦+0.15
I8pp
30.5 ジッタ
ジッタを測定するトラックは,29.4.3の規定に従って記録する。
ジッタは,記録5トラックの中心のトラックmで,基準速度で測定する。
トラックmで,前エッジ及び後エッジ両方(別々に測定)とも,容量によらず全てのディスクで,次に
――――― [JIS X 6230 pdf 171] ―――――
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よる。
− 単層ディスク及び2層ディスクのL0層の場合
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき,7.0 %以下とす
る。
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき,ジッタ測定で
2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを除いたとき,6.5 %以下とする。
− 2層ディスクのL1層の場合
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき,8.5 %以下とす
る。
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー
ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いたとき,6.5 %以下とする。
注記 2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを含まないということは,nが3以上かつmが3以上
の場合の,nTマーク又はnTスペースとmTスペース又はマークとの間にあるエッジだけの,
ジッタ測定を行うことを意味している。
30.6 読取耐久性
図128に示す直流読取りパワーで,一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは,その
後,動作環境で全ての規格を満たす。
DIバイト3639(15.8.3.3,15.8.3.4及び15.8.3.5参照)によって高い直流読取りパワーが規定されてい
る場合は,そのパワーを適用する。
2x ディスク 4xディスク 6xディスク
読取速度 単層 2層 単層 2層 単層 2層
1x 0.40 mW 0.70 mW 0.40 mW 0.70 mW 0.40 mW 0.70 mW
2x 0.45 mW 0.80 mW 0.45 mW 0.80 mW 0.45 mW 0.80 mW
4x --- --- 0.70 mW 1.30 mW 0.70 mW 1.30 mW
6x --- --- --- --- 0.70 mW 1.30 mW
図128−直流読取耐久性測定の読取りパワー値
図129に示す高周波重畳読取りパワーで,一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは,
その後,動作環境で全ての規格を満たす。
DIバイト4043(15.8.3.3,15.8.3.4及び15.8.3.5参照)によって,高い高周波重畳読取りパワーが規定
されている場合は,そのパワーを適用する。
2x ディスク 4xディスク 6xディスク
読取速度 単層 2層 単層 2層 単層 2層
1x 0.30 mW 0.60 mW 0.30 mW 0.60 mW 0.30 mW 0.60 mW
2x 0.35 mW 0.70 mW 0.35 mW 0.70 mW 0.35 mW 0.70 mW
4x --- --- 0.60 mW 1.20 mW 0.60 mW 1.20 mW
6x --- --- --- --- 0.60 mW 1.20 mW
図129−高周波重畳読取耐久性測定の読取りパワー値
――――― [JIS X 6230 pdf 172] ―――――
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高周波重畳は,次によることが望ましい(図130参照)。
− 重畳周波数(=1/THF-laser) (400±40) Hz
− パルス幅 (300±30) s
− ピークパワー及び平均パワーの比
− 1×Vref(基準速度)及び2×Vrefで 7.0±0.7
− 4×Vref及び6×Vrefで 4.5±0.5
− ピーク間のボトムレベルフラット
光強度 ピーク
THF-laser
パルス幅
(FWHM)
平均
時間
図130−高周波重畳されたレーザダイオードからの光パルス波形の図
追加で,SER(34.1参照)は,いずれのLDCブロックでも4.2×10−3未満とする[317カウント未満と
等価(=4.2×10−3×75 392バイト)]。
31 局所欠陥
“気泡”とか“黒点”(透過積層中に入ったほこり,記録層のピンホールなどの欠陥)といった,記録層
上又は透過積層中の欠陥は,いかなる意図しないトラックジャンプ及び訂正不能エラーも引き起こしては
ならない(33.4及び箇条34も参照)。
そのような欠陥の大きさは,次による。
− 気泡 : 直径<100 μm
− 複屈折を伴う黒点 : 直径<150 μm
− 複屈折を伴わない黒点 : 直径<150 μm
32 使用者データの特性
箇条32箇条34は,この規格にディスク上の使用者データが適合するかどうかを測定する一連の測定
方法を規定する。規定した測定は,使用者が記録したデータの読みやすさを確認している。データは,任
意と仮定している。
使用者が記録したデータは,任意の動作環境,速度,ドライブで記録されていてもよい。
33 使用者データの測定方法
33.1 一般
箇条32箇条34規定の読取試験は,基準ドライブで行う。
――――― [JIS X 6230 pdf 173] ―――――
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箇条24箇条30は,局所欠陥を考慮しなかったが,箇条32箇条34は,局所欠陥を,読取信号の避け
られない劣化として含んでいる。欠陥の程度は,次に示す読取りチャネルのエラー検出及びエラー訂正回
路のエラー訂正能力によって決められる。箇条32箇条34の要求事項は,データ交換のためのデータ品
質の下限を規定する。
33.2 環境条件
ディスクが,8.1.1に規定した許容される環境条件にない場合を除き,全ての信号は,規定した範囲内に
ある。
33.3 基準ドライブ
33.3.1 一般
全ての信号は,箇条9に規定した,基準ドライブの適したチャネルで測定する。
33.3.2 読取りパワー
読取りパワーは,ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り
パワーは,単層ディスクでは(0.35±0.1) W及び2層ディスクでは(0.70±0.1) Wとする。
33.3.3 読取りチャネル
ドライブは,9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は波形等化をし,データ信号処理の前にフィルタを通す。HF信号を2値の読取信号に変換するしきい値
は,記録中のパラメタの変動による,マーク及びスペースの大きさの変動の影響が小さくなるように制御
する。ディスクの品質測定では,波形等化,フィルタ及びスライサの特性,並びにPLLの特性は,ジッタ
測定用の附属書H(リミットイコライザ)に規定したものと同じにする。
33.3.4 エラー訂正
データバイトのエラーの訂正は,箇条13の規定に基づいた,エラー検出訂正システムで行う。
33.3.5 トラッキング要求事項
信号の測定中に,光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは,最大80 nmとし,
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは,最大20 nmとする。
4x及び6xディスクで大きな軸方向トラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは,附属書Iの規定に
従う。
33.3.6 走査速度
実際のディスクの回転速度は,平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周
波数が956.522 kHzとなる速度とする。
33.4 信号の定義
バイトエラーは,次による。
バイトエラーは,バイト中の1ビット又はそれ以上のビットが誤った場合に発生し,関連するエラー検
出回路及び/又は訂正回路によって検出される。
バーストエラーは,次による。
− バーストエラーは,任意の二つのエラーバイトの間に三つ以上の正しいバイトがない場合の,一連の
バイトで定義される(13.1及び13.8参照)。
− バーストエラー長は,少なくとも3バイト長以上の正しいバイトで,その前のエラーバイトから分離
された最初のエラーバイトから数え始め,次のエラーバイトの先頭から少なくとも3バイト長以上の
正しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数えた,総バイト数で定義する。
− バースト中のエラーバイト数は,実際のバースト中で正しくないバイト数で定義される(図131の例
――――― [JIS X 6230 pdf 174] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
を参照)。
x c c c x x c c x c x x x c c c ... c x
バースト長は,9 バイト
バースト中のエラーバイト数は,6
c = 正しいバイト,x = エラーバイト
図131−バーストエラーの例
シンボルエラー率は,次による。
N LDCブロックで平均をとったシンボルエラー率(SER)は,選択したLDCブロックの全てのエラーバ
イトの総和を,そのLDCブロックの全バイト数で除したもので定義され,次の式で表される。
N
Ea,i
i 1
N 75 392
ここに, Ea,i : LDCブロックi中のエラーバイト数
N : LDCブロック数
ランダムシンボルエラー率は,次による。
ランダムシンボルエラー率は,シンボルエラー率で,40バイト以上のバーストエラー中のエラーバイト
をSERの式の分子,分母両方から除いた式で定義され,次による。
N
Ea,i Eb,i
i 1
N
N 75 392 Eb,i
i1
ここに, Ea,i : LDCブロックiの全エラーバイト数
Eb,i : LDCブロックiで40バイト以上のバーストエラー中の全ての
エラーバイト数
N : LDCブロック数
34 記録情報の下限品質
34.1 シンボルエラー率
欠陥を含むディスクの品質を確認する場合に,SERを決めるために選んだ領域に任意の使用者データを
記録する。SERは,34.1で規定する要求事項を満たす。
連続及び不連続記録の品質は,次による。
全てのブロックが連続で記録された条件(図47参照),又はディスクの欠陥を除外し不連続で記録され
た条件(図46参照)で,いかなる連続した10 000 LDCブロックで平均化しても,次を満たす。
ランダムSER<2.0×10−4
34.2 最大バーストエラー
各記録ユニットブロックで,40バイト以上のバーストエラー個数及びバーストの長さの総和は,次によ
る。
− バーストエラー個数 : 八つ未満
− バーストの長さの総和 : 600バイト以下
――――― [JIS X 6230 pdf 175] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
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- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合