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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
34.3 使用者記録データ
HF読取りチャネルで読み取る記録ユニットブロック(RUB)の中の使用者記録データは,箇条13に規
定したエラー訂正システムで,訂正不能となるバイトがあってはならない。
35 BCA
r1とr3との間のゾーンは,バーストカッティング領域(BCA)に使うために,予約している(15.2及び
図54参照)。
BCA領域は,製造工程が終わった後に,ディスクに情報を追加するために用いる。
BCA符号は,レコーダブルディスクの場合は,高パワーレーザシステムで記録できる。
BCA符号の全ての情報は,全ての同心円上で全く同じ情報であり,内容は,半径方向に整列しており,
CAVモードで記録する(図132参照)。
0.0 0.2 mmとの間に記録する(BCA符号は,保護ゾーン1の
−
BCA符号は,L0層の半径 213.−0.3
mmと
22 0.0.0
一部と重なってもよい。)。
BCA符号は,L1層には書かない。しかし,L0層にBCA符号を記録する影響がL1層に見えてもよい。
BCA符号は,円周方向に配置した低反射率のストライプの連続で記録する。各ストライプは,BCA領
域の半径方向の幅最大限に伸ばす。
BCA符号の情報は,L0層の半径21.3 mmと22.0 mmとの間の任意の半径位置で,ドライブで読むこと
ができる。
BCA符号を記録するかどうかは,アプリケーションによって決められる。アプリケーションが規定する
場合を除いて,BCA符号はBCA領域に記録しない。BCA符号のフォーマット及び内容は,関連団体の合
意によって定義をしている。
バーストカッティング領域
BCA符号
図132−BCAの図
――――― [JIS X 6230 pdf 176] ―――――
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附属書A
(規定)
多層の場合の透過積層の厚さ
A.1 一般
透過積層全体がk層の構成の場合は,個々の層の厚さを決めるために,この附属書の方法を用いる。
− d1 .. dk : 層1 .. kの厚さ
− n1 .. nk : 層1 .. kの屈折率
− D(n) : 図19の屈折率nの場合の公称厚さ
層kの厚さdkは,次の式と等しくなることが望ましい。
k 1
di
dk D(nk ) 1
i1D(ni )
A.2 カバー層及びスペーサ層の全ての層の屈折率ni
カバー層及びスペーサ層の各層の屈折率niは,次による。
1.45≦ni≦1.70
A.3 透過積層の厚さばらつき
透過積層jの相対厚さは,次による。
k
di
RTj
i1 D ni
ディスク全体で測定する,全透過積層の相対厚さRTは,次による。
a) S0の相対厚さRT0 : 95≦100×RT0≦105
b) S1の相対厚さRT1 : 70≦75×RT1≦80
注記 記録層の厚さは大変薄く,タイプDL/HTLディスクの場合の厚さの計算では無視できる。
A.4 単層の厚さ計算例
屈折率がn1=1.70であり,公称厚さ75 μmのカバーシートが,基板に屈折率がn2=1.45の接着シートで
付けられていると仮定する。
図19から,次のことが分かる。
D(n1)=102.4及びD(n2)=98.5
上の式によって,次の計算ができる。
75
d2 985. 1 26.356 μm
1024.
――――― [JIS X 6230 pdf 177] ―――――
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附属書B
(規定)
反射率の測定
B.1 一般
ディスクの反射率は,幾つかの方法で測定できる。二つの一般的な方法を,次に示す。
− 平行光測定法
− 収束光測定法
ディスクの反射率は,既知の反射率の基準ディスクを使うことによって収束光測定法で測定される。一
方で,基準ディスクの反射率は,平行光測定法で校正される。
収束光測定法で反射率を測定する場合は,ディスクの反射層から帰ってきた光(Rm)だけがフォトディ
テクタに当たる。ディスク表面での反射光及びディスク内部での付随した折返し反射光は,大部分はフォ
トディテクタの外に出る。平行光測定法では,全体反射(R//)だけが測定でき,反射層からの主反射を決
めるためには計算が必要となる。
B.2 校正方法
例えば,0.1 mmのガラスのカバー層で,金の反射ミラーをもつような複屈折の影響がない良い基準ディ
スクを選ぶ。図B.1に示すとおりに,基準ディスクは,平行光測定法で測定する。
Rint
R//
ディテクタへ Rm
Rs
r R
IB
入射ビーム
図B.1−反射率校正
この図で,次の式を適用する。
R = 記録層の反射率(透過積層内の折返し反射光を含む。)
r = 表面の反射率
Rref = 収束光によって測定した反射率(Rm/IBで規定)
IB = 入射ビーム
Rs = 入射面の反射率による反射
Rm = 記録層の反射率による主反射
――――― [JIS X 6230 pdf 178] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
Rint = 入射面と記録層との間の,内部反射による反射
R// = 測定値(Rs+Rm+Rint)
入射面の反射率は,次による。
2
1
r
1
ここに, n : カバー層の屈折率
収束光によって測定した反射率として,次の式が導かれる。
R//
1( r) 2 r
Rm IB
Rref
IB R//
1 r 2
IB
ここに, Rm : 次の式による主反射
Rm=R//−Rs−Rint
基準ディスクは,基準ドライブで測定する。収束光で測定し,基準ディスクで得られるディテクタの全
電流(4分割の総和=Itotal)によって,上に規定したRmが計算される。
これで装置は校正され,収束光反射率は,入射面の反射とは関係なく,記録層及び透過積層内の折返し
反射光の反射率に比例することになる。
B.3 測定方法
未記録の記録領域の反射率は,次による。
基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ,基準ディスクからの反射光による全ディテクタ電流(I1+I2) refを測定する。
b) 測定するグルーブ及びその両側の隣接する2トラックが記録されていない,調査対象のディスクのグ
ルーブトラックからの反射光による全ディテクタ電流(I1+I2) Gを測定する。
c) 未記録ディスクの記録領域の,グルーブトラックの反射率Rg−vは,次による。
I1 I2 G
Rgv Rref
I1 I2 ref
記録済み記録領域の反射率は,次による。
基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ,基準ディスクからの反射光による全ディテクタ電流(I1+I2) refを測定する。
b) 測定するグルーブ及び最低限その両側の隣接する2トラックが記録済みの,調査対象のディスクの記
録済みグルーブトラックからのI8Hを測定する。トラックの記録は,OPCアルゴリズム(附属書G参
照)の規定による最適パワーで行う。
c) 記録領域のグルーブトラックの記録済みディスクの反射率R8Hは,次による。
I8 H
R8 H Rref
I1 I2ref
――――― [JIS X 6230 pdf 179] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書C
(規定)
カバー層のきず耐久性の測定
C.1 一般
ディスクの入射面は,十分なきず耐久性をもつ。保護コートをして改善してもよい。
C.2 テーバ摩耗試験
“テーバ摩耗”と呼ばれる試験は,ディスクの入射面のきず耐久性が十分かどうか検証する。
摩耗素材に覆われた2本の輪が,規格値の負荷をかけて,試験を受けるディスクに載せられる(図C.1
参照)。
ディスクの回転軸
輪の回転
ディスクの
回転方向
ディスクの中心を
通る線
輪の回転軸の投影
図C.1−標準的な摩耗試験の構成
試験条件は,次による。
試験の構成は,JIS K 7204に従い,次に詳細を示す。
− 輪のタイプ : CS10F
− 各輪への負荷値 : 2.5 N
− 回転回数 : 5
− 摩耗試験は,試験に必要な記録を行う前に実施する。
試験後の結果は,次による。
――――― [JIS X 6230 pdf 180] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合