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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書Hに規定するリミットイコライザモードに設定した回路の波形等化後で,L0層測定のジッタは,
10 %以下とする。
摩耗輪の取扱いは,次による。
摩耗輪の取扱いは,ASTM D1044 [1]の規定に従うことが望ましい。
テーバ摩耗試験を行う前に,毎回両方の摩耗輪は,ST-11研磨石で表面を研磨することが望ましく,次
による。
− 新しい輪は,100回研磨する。
− 前に用いた輪は,25回研磨する。
――――― [JIS X 6230 pdf 181] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書D
(規定)
カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定
D.1 一般
附属書Dは,ディスクの指紋に対する感度を決めるために,人工の指紋(AFP)をディスクに付ける方
法を規定する。図D.1は,基本的な方法を示している。
4.9Nで10秒 4.9 Nで10秒
シリコンゴムスタンプ
インクパッド テストされるディスクに テストされるディスク
スタンプにインクを付ける スタンピング AFP付き
図D.1−ディスクへのAFPの付着
AFP付着後,AFPを付けた領域の各物理クラスタのランダムSER(33.4参照)は,AFPを通して記録し
再生してL0層を測定した場合は,4.2×10−3未満とする。各物理クラスタで,40バイト長以上のバースト
エラー数は,8未満及びバースト長の総和は,800バイト以下とする。
D.2 スタンプの規格
シリコンゴムスタンプは,次の規定による(図D.2参照)。
− 寸法 : スタンプの形状 : φ16 mm×φ12 mm×高さ20 mm
− スタンプ柱の固さ : A60
図D.2−スタンプの形及び準備
ランダムなきずがあるスタンプを作るために,#240番のサンドペーパで磨く。
――――― [JIS X 6230 pdf 182] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
サンドペーパは,ゆっくり一方向に10回20回の間動かす。サンドペーパに加える力は,4.9 Nと9.8 N
との間とする。
スタンプを,任意の角度回転させ前記の方法を繰り返す。
回転及び研磨は,少なくとも30回は繰り返す。
D.3 インクの準備
AFPを付けるインクは,次の成分によって構成する。
− M : メトキシプロパノール(M)。正確には,1−メトキシ2−プロパノール
− T : トリオレイン(T)。純度は,少なくとも60 %とする。
− D : 標準ほこり(D)。JIS Z 8901の規定に従い,試験用粉体1の11種(関東ローム)を選ぶ。さらに,
詳細の情報は,一般社団法人日本粉体工業技術協会(http://www.appie.or.jp/)で入手する。
インクのクリーニング用としては,エタノールを用いる。
M,T及びDの成分は,質量比240 : 20 : 8で合成する。混ぜたものは,プラスチックの棒を使い手で少
なくとも15秒間かき混ぜる。
D.4 インクパッドの準備
スタンプに決まった量のインクが付くように,インクは,インクパッドの上にスピンコートされる。こ
こに,インクパッドは,ピット及びグルーブのパタンのないポリカーボネートの成形基板とする。インク
をディスクに付ける前に,基板は,例えば,超音波振動などで少なくとも30秒間十分に揺する。
基板を,スピナ上で60回毎分で回転しながら,10秒間以内に少なくとも2 mlのインク液を概略12 mm
の半径位置に垂らす(図D.3参照)。
solution spreading
put on
基板に付けた
the solution
回転による
substrate 溶剤の広がり
by spinnig
溶剤
radius
半径
mm
12mm
12
図D.3−インクパッドスピンコート
ディスクにインクを付けた後,回転速度100回毎分で1秒間回す。そして,回転速度を5秒間の間に直
線的に5 000回毎分に上げ,その速度で1秒間維持する(図D.4参照)。回転降下時間は,問題とならない。
――――― [JIS X 6230 pdf 183] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
5 000
回毎分
インク溶剤を
注ぐ
<100 100
回毎分回毎分
60回毎分
0.1秒~1秒 1秒 5秒 1秒
図D.4−インクパッドスピンコートの速度プロファイル
D.5 インクパッド及びスタンプの使用
スタンプにインクを付けるのは,半径30 mm辺りがよい。
スタンプは,ベンコットのような,糸くずの出ないティシュできれいにできる。
スタンプは,最初に,エチルアルコールでぬらしたティシュできれいにし,その後,乾いたティシュで
拭き取ることができる。
――――― [JIS X 6230 pdf 184] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書E
(規定)
ウォブル振幅の測定
E.1 測定方法
ウォブル信号及びプッシュプル信号は,測定前にフィルタを通す。ウォブル信号は8 MHzの低域通過フ
ィルタを通し,プッシュプル信号は30 kHzの低域通過フィルタを通す。
グルーブの変調及びウォブルビートのために,ウォブル信号を普通のオシロスコープを使って十分正確
に求めることは,非常に難しい。したがって,ウォブル信号をスペクトラムアナライザを使って測定する
方法(らせんグルーブを連続トラッキングしながら)の手順を,次に示す。
a) ステップ1 : 正規化していないウォブル信号の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッシ
ュプル信号を次の設定で測定する。
− 中心周波数 : 956.5 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 30 kHz
− ビデオ帯域幅 : 100 Hz
− 掃引時間 : ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
この条件下で,スペクトラムアナライザは,時間に対しての入力信号の実効値を示す(図E.1参照)。
Mkr1 533 ms-39.6 dBV
Ref -32 dBV Atten 0 dBMkr2 367 ms-46.4 dBV
Log
2 dB/
Mkr1
Mkr2
中心956.5 kHz スパン0 Hz
分解能帯域幅30 kHz ビデオ帯域幅100 Hz掃引時間750 ms
図E.1−ウォブル信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr2での信号レベルは,最小ウォブル信号WSminのdBV値を表している。スペクトラムア
ナライザは,実効値を測定するため 2 2 の係数を乗じて,測定値を電圧の両ピーク値に変換する(例
の中の−46.4 dBVは,13.5 mVppに相当する。)。
――――― [JIS X 6230 pdf 185] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合