180
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
b) ステップ2 : 正規化していないプッシュプル信号の測定 次に,トラッキングサーボオフのプッシュ
プル信号(I1−I2) ppを測定する(25.4参照)。
この例では,30 mVppであったとする。
c) ステップ3 : 正規化ウォブル信号(NWS)の計算
WSmin 135.
NWSmin .045
I1 I2 pp 30
d) ステップ4 : ウォブルビートの決定 マーカMkr1の信号レベルは,最大ウォブル信号WSmaxのdBV
値を表す。
ウォブルビートは,次による。
WSmax−WSmin=6.8 dB又はNWSmax=2.2×NWSmin
e) ステップ5 : ウォブル信号のキャリアノイズ比の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッ
シュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザを使って測定する。
− 中心周波数 : 500 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 30 kHz
− ビデオ帯域幅 : 10 Hz
− 掃引時間 : ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対しての500 kHzの帯域幅のノイズ信号の実
効値を示す(図E.2参照)。
Mkr1 1.27秒-75,4 dBV
Ref -60 dBV Atten 0 dB
Log
2 dB/
Mkr1
中心500 kHz スパン0 Hz
分解能帯域幅30 kHz ビデオ帯域幅10 Hz掃引時間1.767 秒
図E.2−ノイズ信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr1の信号レベルは,ノイズ信号の信号レベルをdBV値で表している。
ウォブルCNRは,このように簡単に計算でき,次による。
――――― [JIS X 6230 pdf 186] ―――――
181
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
WSmin−ノイズレベル=−46. 4+75.4=29 dB(例の値の場合)
f) ステップ6 : SHD/SHLの測定 この測定は,27.3.4に従って行う。
25.3.4のトラッキングの要求事項の下で,プッシュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザ
を用いて測定する。
基本波レベルの測定は,次の設定とする。
− 中心周波数 : 956.5 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 10 kHz
− ビデオ帯域幅 : 1 Hz
− 掃引時間 : 約5秒
2次高調波レベルの測定は,次の設定とする。
− 中心周波数 : 1 913 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 10 kHz
− ビデオ帯域幅 : 1 Hz
− 掃引時間 : 約5秒
これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の基
本波レベルの実効値を示す(図E.3参照)。
A-viewB-view
Ref-10dBm Atten10dB
Log FPZ3
10dB/
3dB
FDZ
中心956.5kHz スパン0Hz
分解能帯域幅10kHz ビデオ帯域幅1Hz 掃引時間5秒
図E.3−ウォブル基本波レベル測定の例
図E.3で下側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域で測定したFDZで示す基本波レベルを表す。
図E.3で上側の軌跡は,保護ゾーン3で測定したFPZ3で示す基本波レベルを表す。
FDZ及びFPZ3の値は,FDZ及びFPZ3の軌跡の平均値で決められる。
――――― [JIS X 6230 pdf 187] ―――――
182
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
同様に,スペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の2次高調波
レベルの実効値を示す(図E.4参照)。
A-viewB-view
Ref-10dBm Atten10dB
Log
10dB/
SDZ
-10.9dB
SPZ3
中心1913kHz スパン0Hz
分解能帯域幅10kHz ビデオ帯域幅1Hz 掃引時間5秒
図E.4−2次高調波レベルの測定例
図E.4で上側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域のSDZで示す2次高調波レベルを表す。
図E.4で下側の軌跡は,保護ゾーン3の任意の記録領域のSPZ3で示す2次高調波レベルを表す。
SDZ及びSPZ3の値は,SDZ及びSPZ3の軌跡の平均値で決められる。
SHD/SHLは,次の式で計算される。
SHD
SPZ3 SDZ FPZ3 FDZ
SHL
例では,
SHD
( 10)9. )3( 139. dB
SHL
E.2 フィルタの校正
ノイズ測定の分解能帯域幅フィルタの形は,理想的には方形である。そのようなフィルタは,実現でき
ないため,実際のスペクトラムアナライザのフィルタは測定値に影響を与える。ノイズの真の実効値を決
めるために,補正係数を適用することが望ましい。そのような補正係数は,通常,測定器の製造業者から
与えられ,実際のフィルタの形及びタイプに依存する。
――――― [JIS X 6230 pdf 188] ―――――
183
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書F
(規定)
試験のための記録パルス波形
F.1 記録パルス波形概要
この規格では,次の三つのタイプの記録ストラテジを規定する。
a) −1記録ストラテジ(図F.1参照)
b) /2記録ストラテジ(図F.3参照)
c) キャッスル記録ストラテジ(図F.6参照)
各パルスの開始は,図F.1,図F.3及び図F.6に示すとおりに規定する。
N−1及びN/2記録ストラテジに対し,次の項目が適用される。
− 最初のパルス幅は,Ttopとする。
− 最終パルス幅は,適用できる場合はTLPとする。
− 最初のパルスと最後のパルスとの間のパルスの幅は,TMPとする。
− パルス列の最初のパルスの前は,スペースレベル(PS)とする。
− 後に冷却レベル(PC)が来る最終パルスを除く各パルスの後は,バイアス記録レベル(PBW)とする。
− Ttop,TMP,及びTLPパルスの記録レベルは,PWとする。
− NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で冷却レベルの期間は,dTS時間分延ばすか又は縮めても
よい。
− 残りのNRZIの低レベルの時間は,スペースレベル(PS)とする。
キャッスル記録ストラテジに対し,次の項目が適用される。
− 各記録パルスの前は,スペースレベル(PS)とする。
− 各スペースレベルの前は,冷却レベル(PC)とする。
− 各スペースレベルの後は,記録レベル(PW)で長さはTtopとする。
− 各記録レベルの後は,2Tマークを除き,中間レベル(PM)とする。
− 各中間レベルの後は,2T及び3Tマークを除き長さTLPの記録レベルとする。
F.2 N−1記録ストラテジ
パルス幅は,次による。
パルス幅(F.5参照)は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか,若しくは
TXに関連した固定値[TX/16の整数倍で,1×Vref(基準速度)の場合はTX=15.15 nsであり,2×Vrefの場
合はTX=7.58 nsである。]に関連しているか,又はこれらの組合せである。全ての許容された記録速度で
許容されるパルス幅時間は,次に示す値で構成する(正の値は,図F.1のdTtopで示すとおりに進みであり,
負の値は,dTSで示すとおりに遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −14,−13,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T若しくは4T以上のマーク,及び/又は先
行する2T,3T,4T若しくは5T以上のスペースに依存しても
――――― [JIS X 6230 pdf 189] ―――――
184
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
よい。)
Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は30
k : 0,1,2,.. 又は30
0≦j+k≦i+15
k=0(この規格では)
(Ttopは,2T,3T若しくは4T以上のマーク,及び/又は先行
する2T,3T,4T若しくは5T以上のスペースに依存してもよ
い。)
TMP=p×(TW/16)+q×(TX/16)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は15
q : 0,1,2,.. 又は15
0≦p+q≦15
q=0(この規格では)
TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16)
ここに, s : 0,1,2,.. 又は15
t : 0,1,2,.. 又は15
0≦s+t≦16
t=0(この規格では)
(TLPは,3T又は4T以上のマークに依存してもよい。)
dTS=u×(TW/16)
ここに, u : −24,−23,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTSは,2T,3T又は4T以上のマークに依存してもよい。)
全てのパワーレベルPW,PBW,PS及びPCは,1×Vrefの場合は,継続時間は2.5 ns以上とし,2×Vrefの
場合は2.0 ns以上とする。
パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。
− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1×Vrefの場合は3となり,2×Vrefの場合は5となる。
− j+k−i(≧3T),p+q,j+k−i+u(2Tだけ)及びs+t+uの最大値は,1×Vrefの場合は13となり,2
×Vrefの場合は11となる。
パラメタはディスクに依存し,最適値は,15.8.3に示すとおりになる。PW,PBW,PC及びPSの値は,OPC
アルゴリズムに従って決定される(附属書G参照)。
――――― [JIS X 6230 pdf 190] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合