185
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
NRZIチャネルビット
2T 3T 4T 5T 6T 7T 8T 9T
dTtop
Ttop
dTS
2T PS
PW
PC
0
dTtop
Ttop TLP
dTS
3T
PW PS
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TLP
dTS
4T PS
PW
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TMP TLP
dTS
5T PS
PW
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TMP TMP TLP
dTS
6T PS
PW
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TMP TMP TMP TLP
dTS
7T PS
PW
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TMP TMP TMP TMP TLP
dTS
8T PS
PW
PBW PC
0
dTtop
Ttop TMP TMP TMP TMP TMP TMP TLP
dTS
9T PS
PW
PBW PC
0
図F.1−N−1記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 図F.2に最小マーク及び最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例を
――――― [JIS X 6230 pdf 191] ―――――
186
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
示す。
NRZI データ
2T 2T 5T 5T
マーク スペース マーク スペース
PW
PS
PC
PBW
0
図F.2−N−1記録信号の例
F.3 N/2記録ストラテジ
パルス幅(F.5参照)は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか又はTXに関
連した固定値(TX/16の整数倍で,1×Vrefの場合はTX=15.15 ns又は2×Vrefの場合はTX=7.58 ns)に関連
しているか又はこれらの組合せである。全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は,次に示
す値で構成する(負の値は,図F.3のdTtopで示すとおりに遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T,[4T,6T,8T]又は[5T,7T,9T]マークに
依存してもよい。)
注記 記録ストラテジの表記において,4T以上の偶数パルスのいずれか又は4T以上の奇数パルスの
いずれかに対して,同様の記録ストラテジを適用する場合に,奇数及び偶数のパルスセットを
[4T,6T,8T],[5T,7T,9T]のように[ ]で囲う表記をしている。
Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は46
k : 0,1,2,.. 又は46
0≦j+k≦i+31
k=0(この規格では)
(Ttopは,2T,3T,[4T,6T,8T]又は[5T,7T,9T]マークに依
存してもよい。)
dTMP=m×(TW/16)
ここに, m : [6T,8T]マークでは,m=0
[7T,9T]マークでは,m=−8
TMP=p×(TW/16)+q×(TX/16)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は31
q : 0,1,2,.. 又は31
0≦p+q≦31
q=0(この規格では)
dTLP=r×(TW/16)
――――― [JIS X 6230 pdf 192] ―――――
187
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
ここに, r : [4T,6T,8T]マークでは,r=0
[5T,7T,9T]マークでは,r=−8
TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16)
ここに, s : 0,1,2,.. 又は31
t : 0,1,2,.. 又は31
0≦s+t≦32
t=0(この規格では)
(TLPは,[4T,6T,8T]又は[5T,7T,9T]マークに依存しても
よい。)
dTS=u×(TW/16)
ここに, u : −31,−30,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTSは,2T,3T,[4T,6T,8T]又は[5T,7T,9T]マークに依
存してもよい。)
全てのパワーレベルPW,PBW,PS及びPCは,1×Vrefの場合の継続時間は2.5 ns以上とし,2×Vrefの場
合は2.0 ns以上とする。
パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。
− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1×Vrefの場合は3となり,2×Vrefの場合は5となる。
− j+k−i+r(4T,5T),j+k−i+m(≧6T),p+q,j+k−i+u(3Tだけ),及びs+t−r+u [5T,7T,9T]
の最大値は,1×Vrefの場合は29となり,2×Vrefの場合は27となる。
− j+k−i+u(2Tだけ),s+t−r+u [4T,6T,8T]の最大値は,1×Vrefの場合は13となり,2×Vrefの場
合は11となる。
− i+u−32の最大値は,1×Vrefの場合は13となり,2×Vrefの場合は11となる。この制約は,異なるマ
ーク長のi及びuの全ての組合せに,適用する。
パラメタはディスクに依存し,最適値は15.8.3に示すとおりになる。PW,PBW,PC及びPSの値は,OPC
アルゴリズムに従って決定される(附属書G参照)。
――――― [JIS X 6230 pdf 193] ―――――
188
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
NRZIチャネルビット
2T 3T 4T 5T 6T 7T 8T 9T
dTtop2T dTS2T
Ttop2T
2T
PW PS
PC
0
dTtop3T dTS3T
Ttop3T
3T
PW PS
PC
0
dTtop4T dTLP4T dTS4T
Ttop4T TLP4T
4T
PW PS
PBW PC
0
dTtop5T dTLP5T dTS5T
Ttop5T TLP5T
5T
PW PS
PBW PC
0
dTtop6T dTMP6T dTLP6T dTS6T
Ttop6T TMP6T TLP6T
6T
PW PS
PBW PC
0
dTtop7T dTMP7T dTLP7T dTS7T
Ttop7T TMP7T TLP7T
7T
PW PS
PBW PC
0
dTtop8T dTMP8T dTMP8T dTLP8T dTS8T
Ttop8T TMP8T TMP8T TLP8T
8T
PW PS
PBW PC
0
dTtop9T dTMP9T dTMP9T dTLP9T dTS9T
Ttop9T TMP9T TMP9T TLP9T
9T
PW PS
PBW PC
0
図F.3−N/2記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 図F.4に,最小マーク及び最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例
を示す。
――――― [JIS X 6230 pdf 194] ―――――
189
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
NRZIデータ
2T 2T 5T 5T
マーク スペース マーク スペース
PW
PS
PC
PBW
0
図F.4−N/2記録信号の例
F.4 キャッスル記録ストラテジ
パルス幅(F.5参照)は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連している。
全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は,次に示す値で構成する(負の値は,図F.6の
dTSで示すとおりに遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T若しくは4T以上のマーク,及び/又は先
行する2T,3T若しくは4T以上のスペースに依存してもよい。)
Ttop=j×(TW/16)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は46
0≦j≦i+31
(Ttopは,2T,3T若しくは4T以上のマーク,及び/又は先行
する2T,3T若しくは4T以上のスペースに依存してもよい。)
dTC=k×(TW/16)
ここに, k : −31,−30,..,−1,0,1,2,.. 又は8
(dTCは,3T,4T又は5T以上のマークに依存してもよい。)
TLP=p×(TW/16)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は31
0≦p≦15−k
(TLPは,4T以上のマークだけに適用される。)
dTS=q×(TW/16)
ここに, q : −31,−30,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTSは,2T,3T又は4T以上のマークに依存してもよい。)
パラメタは,ディスクに依存し,最適値は,15.8.3に示すとおりになる。PW,PM,PC及びPSの値は,
OPCアルゴリズムに従って決定される(附属書G参照)。
全てのパワーレベルPW,PM,PS及びPCは,2×Vref及び4×Vrefの場合は継続時間は2.0 ns以上とする。
パワーレベルPW,PM(キャッスル形の場合の)及びPCは,6×Vrefの場合の継続時間は2.0 ns以上とす
る。
――――― [JIS X 6230 pdf 195] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合