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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
PW ×m(P)
W
直線近似
Ptarget= κ×thr
P
Pthr Ptarget 記録パワーPW
図G.2−変調度に記録パワー乗じたもの 対 記録パワーの関数
κの値は,Ptarget及びPthrの比で規定し,次による。
Ptarget
κ
Pthr
PWO,PBWO,PSO,PCO,PMO及びその関係を決めるために必要なパラメタを,次に示す定義並びに図G.1
及び図G.2に示す。
− mIND : ディスク情報に,PINDの場合の変調度として示す。
− κ : 変調度カーブの中でOPCを行うべきポイントを示すPW及びPthrのターゲット比
− PIND : ディスク情報中に示すPtargetの推定値
κにおける実際の記録ピークパワー
− Ptarget=κ×Pthr :
− ρ : PtargetからPWOを求めるための乗算係数
− PWO=ρ×Ptarget : 最適記録ピークパワーPWO
− εBW : 記録バイアスパワーと記録ピークパワーとの比
− PBWO=εBW×PWO : 最適記録バイアスパワーPBWO
− εS : スペースパワーと記録ピークパワーとの比
− PSO=εS×PWO : 最適スペースパワーPSO
− εC : 冷却パワーと記録ピークパワーとの比
− PCO=εC×PWO : 最適冷却パワーPCO
− εM : 中間パワーと記録ピークパワーとの比
− PMO=εM×PWO : 最適中間パワーPMO
追加で,次に示すPWOから得られるベータ値が内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に
含まれる。
− βWO : PWOを用いることによって得られる,HF信号の最適ベータ値
βWOの値は,PWOを決めるためにベータ値を用いるドライブが使用してもよい。
直線近似方法は,次による。
PBW=εBW×ρ×PIND(PSOPINDを使って,異なる記録パワーPWiでランダムデータを試験記録することによって,それに伴う変調度
miが求められる。
PW×m(PW)=mmax×(PW−Pthr)の直線を,幾つかのポイント(PWi,mi×PWi)に当てはめることによって,
――――― [JIS X 6230 pdf 201] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
これらのポイントに対応するmmax及びPthrを簡単に決めることができる(モデルの正確度の限界から,mmax
は,1よりも大となる可能性があることを認識しておくことが望ましい。)。
G.3 ディスクのOPCパラメタを決める方法
メディア製造業者は,最初に,ディスクの最適パワーPWO,PBWO,PSO,PMO及びPCOを決めなければな
らない。これは,幾つかのPW,PBW,PS,PM,及びPCの条件で試験記録をし,箇条30に従って記録パラ
メタの結果を測定することによってできる。記録及び測定は,箇条9に適合した基準ドライブを使用し,
T=23 ℃で行う。
最適記録パラメタとなるPW=PWO,PBW=PBWO,PS=PSO,PM=PMO及びPC=PCOの組合せを選んだ後に,
εBW=PBWO/PWO,εS=PSO/PWO,εC=PCO/PWO及びεM=PMO/PWOの比が決められる。
次のステップでは,内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定する他のパラメタ(κ,
PIND,mIND及びρ)を決める。メディア製造業者は,ターゲット記録パワーの推定指示値PINDを選び,こ
のPINDでの変調度mINDを測定する。乗算係数は,ρ=PWO/PINDとする。
最後のステップは,内側ゾーンの,ADIP予備フレームの中のディスク情報に規定するβWOの値を決め
ることである。
κの値を決める方法は,次による。
PBW=εBW×PWi,PS=εS×PWi,PM=εM×PWi及びPC=PCOを使って,0.9×PIND1.1×PINDの範囲で,異な
る記録パワーPWiでランダムデータを記録した後に,その結果の変調度miを測定する。記録及び変調度mi
の測定の両方を,基準ドライブを使いT=23 ℃で行う。
次に,G.2に従って得られた測定ポイントに対して直線近似を行い,それによってPthrが決まり,κが次
のとおりに計算できる。
PIND
κ
Pthr
留意事項1 必ずしも全ての記録パラメタは,独立には最適化できないであろうことから,製造業者
のディスクに対しての記録パラメタの最適値の組合せを決めることは,製造業者に任せ
る。
留意事項2 変調度の測定は,値が小さい場合には幾分か不正確になるため,記録パワーの範囲(す
なわちPIND)は,一番低いパワーでの変調度が20 %を超えるように選ぶことが望ましい。
さらに,変調度及び記録パワーの測定は,変調度が飽和レベルよりも十分に下のレベル
で行うことが望ましい。
G.4 ベータ値を決める方法
ベータ(β)は,波形等化を行う前の,交流結合したHF信号を使用して求める。ベータは,次の式で規
定し,A1及びA2のピークレベルの差(A1+A2)を両ピークレベル(A1−A2)で正規化したものである(図G.3
参照)。
β=(A1+A2)/(A1−A2)
βWOの値は,G.2に示した方法に従って得られるPWOを適用することによって決まる。
――――― [JIS X 6230 pdf 202] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
A1
高反射レベル
A1
A1
信号
0
HF
A2
A2
低反射レベル
A2
図G.3−異なる記録パワーで記録した交流結合のHF信号
OPCの結果として,PWOを用いて得られるベータ値は,DIの表に含まれる(15.8.3参照)。
――――― [JIS X 6230 pdf 203] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書H
(規定)
ジッタ測定のためのHF信号の前処理
H.1 一般
ディスク上のデータは高密度であり,そのために,I2pp変調振幅は,若干小さい。光ディスクの読取りシ
ステムに用いる装置には,次がある。
a) 従来波形等化器 一般的に,光ディスクの読取りシステムで使う従来波形等化器は,少しの高周波の
強調しかできない。なぜならば,そのような形の波形等化器でもっと高域強調をすると符号間干渉が
更に増え,良いジッタ値が得られないからである。
b) リミットイコライザ リミットイコライザと呼ばれる波形等化器は非線形の波形等化器だが,符号間
干渉を起こすことなく高周波成分を強調することができる。そのような波形等化器は,スライサに入
れるHF信号の品質の改善ができ,ジッタが小さくなり,システムのマージンが増える。
附属書Hでは,従来波形等化器モードとリミットイコライザモードとの切替えができる,HF信号の前
処理の流れ全体を規定する。
H.2 波形等化器の実装一般
図H.1の回路は,切替えができる波形等化器及びその周辺回路の実装例を示す。
プリ アナログ゛
プリアンプ HPF HF 読取り
LPF
信号
4分割 2値
フォトディテクタ HF 読取り
信号
従来の リミットイコライザ ポスト
A/D D/A スライサ
波形等化器 LPF
TIA
PLL
図H.1−前処理回路の実装例
9.5に規定したHF読取りチャネルからのHF信号は,図H.1に示す高域通過フィルタ(HPF)によって
信号処理回路に交流結合される。
低域通過フィルタ(プリLPF)は,折返しひずみを防ぐために,ナイキスト周波数以上の周波数成分を
除く。
8ビット以上の分解能のA/Dコンバータによって,チャネルビットレートに同期したクロック信号で,
HF信号をサンプリングする。サンプリングは,チャネルビットのエッジがアイパタンのゼロクロスに相
当するため,チャネルビットの中央で行う(図H.2参照)。
――――― [JIS X 6230 pdf 204] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
サンプリング後に,HF信号は,デジタル的に波形等化される。
デジタル信号処理の後で,信号はD/Aコンバータ及びその後の適度な低域通過フィルタ(ポストLPF)
にて変換され,アナログ信号に戻る。アナログの波形等化されたHF信号は,スライサによって2値化さ
れる。
2値化されたHF信号は,箇条30に規定されたタイムインタバルアナライザ(TIA)を使って,ジッタ
の測定及び箇条34の規定によるシンボルエラー率(SER)の測定に使用される。
アナログHF読取信号は,箇条30の規定による信号パラメタの決定に使用される。
ゼロクロスレベル
サンプリングタイミング
図H.2−サンプリングタイミングの規定
H.3 従来の波形等化回路
HF信号前処理ユニットが従来波形等化器モードに設定されると,リミットイコライザ回路はオフとな
り,この従来波形等化器回路(図H.3参照)が高域の強調を行う。
リミットイコライザモードに設定されると,この従来波形等化器回路は,プリ波形等化器として機能す
る。
従来波形等化器回路は,次の伝達関数をもつ4タップのトランスバーサルフィルタである。
r 1 r 1 r r
Hz z1 z2 z3
2 2 2 2
波形等化器 T T T
入力
-r 1+r 1+r -r
2 2 2 2
+
波形等化器
出力
図H.3−従来波形等化器回路の例
従来波形等化器モードで,係数rを,次のとおりに設定する。
− HTLディスク : r=40/32 (7.0 dB)
――――― [JIS X 6230 pdf 205] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合