200
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
− LTHディスク : r=29/32 (5.0 dB)
リミットイコライザモードで,係数rを,次のとおりに設定する。
− HTLディスク : r=40/32 (7.0 dB)
− LTHディスク : r=29/32 (5.0 dB)
H.4 リミットイコライザ回路
リミットイコライザ回路は,図H.4に示すとおりに,補間器,適応リミッタ,及び高域強調回路で構成
される。
HF前処理回路が,従来波形等化器モードに設定されると,リミットイコライザは,適応リミッタの出
力を0に変えるか又は高域強調部の係数mを0に設定することによって,オフに切替えができる。
T T T
-k 1+k 1+k -k
2 2 2 2
+
補間器
適応リミッタ
T T T
IP(i) OP(i)
-m +m +m -m
+
高域強調
リミットイコライザ リミットイコライザ
入力 出力
T T T +
図H.4−リミットイコライザの例
補間器は,次の伝達関数をもつ,トランスバーサルフィルタである。
k 1 k 1 k k
Hz z1 z2 z3
2 2 2 2
ここに, k : 3/16
適応リミッタの出力信号OP(i)は,次による。
− abs[IP(i) ]≦Thの場合,
OP(i)=IP(i)
− そうでない場合,
OP(i)=sgn[IP(i) ]×Th
ここに, Th : しきい値
abs (x) : 変数xの絶対値
sgn (x) : 変数xの極性(+又は−)
適応リミッタのしきい値は,IP(i)の各ゼロクロスごとに,次の方法で更新する。
――――― [JIS X 6230 pdf 206] ―――――
201
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
− sgn[IP(i) ] ≠ sgn[IP(i−1) ]の場合,
c abs IP i IPi 1 Th
Th: Th
n
− そうでない場合,
Th:=Th
ここに, c : 1/2
n : 256
Th: : 次のTh
高域強調の部分は,次の伝達関数のトランスバーサルフィルタである。
Hz m m z1 m z2 m z3
ここに, m : 1
高域強調部分の出力は,適度に遅らせたリミットイコライザの入力信号に加算する。
H.5 周辺回路の規定
H.5.1 増幅器及びフィルタ
HF信号前処理回路ユニットのフィルタの部分は,次による。
− 交流結合(高域通過フィルタ) : 1次,f−3dB=10 kHz
− プリLPF : f−3dB=25 MHz33 MHz
50 MHzよりも大の周波数の抑圧は,−30 dBよりも小さい
− ポストLPF : f−3dB=30 MHz±3 MHz,
50 MHzよりも大の周波数の抑圧は,−50 dBよりも小さい
プリLPFの入力からポストLPFの出力まで[HTLディスクで,r=40/32 (7.0 dB)及びLTHディスクで,
29/32 (5.0 dB)に設定した,従来波形等化器モードの波形等化器及びゼロ次ホールドのD/Aコンバータを含
む。]を測定したHF信号前処理回路の周波数特性は,図H.5に示すものとする。
16.5 MHzの利得−0.1 MHzの利得=7.0 dB±0.5 dB
――――― [JIS X 6230 pdf 207] ―――――
202
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
利得
等化器単体特性
全体特性
周波数(MHz)
図H.5−従来波形等化器の周波数特性
フォトディテクタ,プリアンプ,交流結合,プリLPF,従来波形等化器モード設定の波形等化回路セッ
ト,D/Aコンバータ及びポストLPFの全体の特性は,図H.5に示した特性に対し,3 MHzと22 MHzとの
間で,次に示す範囲に入る。
− 利得の偏移 : 0.0 dB±1 dB
− 群遅延の最大変動 : 2 ns pp
H.5.2 PLLの開ループ伝達特性
PLLの開ループ伝達特性は,図H.6に示すものとする。
利得
(dB)
−40 dB/decade
−20 dB/decade
0 dB
8 32 100 周波数
(kHz)
−40 dB/decade
図H.6−PLL開ループ伝達関数の図
――――― [JIS X 6230 pdf 208] ―――――
203
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
H.5.3 スライサ
スライサは,−3 dB閉ループ帯域幅が10 kHzの1次の積分帰還形自動スライサとする。スライサの帰
還は,2値出力の平均デューティサイクルを50 %に制御する。
図H.7に,このようなスライサの例を示す。
+VS
Ri
Ci
Ui
Ri
UO
CO
RO
RO
CO
図H.7−帰還自動スライサの例
H.6 測定条件
ジッタは,箇条9の条件及びこの附属書に規定した追加条件のもとで測定する。
全てサーボは,固定利得及び次に示すオフセット設定とする。
a) 半径方向のトラッキングサーボは,記録層上の光スポットの中心がトラックの中心から9 nm以内と
なる直流オフセットを与える。
b) フォーカスサーボは,対物レンズが,図H.8に示すとおりに最適位置Dから最大でも0.03 μm以内と
なるような直流オフセットを与える。最適フォーカス位置Dは,ディスクのボトムジッタの位置に相
当する。
――――― [JIS X 6230 pdf 209] ―――――
204
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
フォーカスエラー
電圧
(S-カーブ)
0.03m 0.03m
対物レンズとディスクの
D 距離
最適フォーカス位置
ジッタ
ボトムジッタ
対物レンズ゛とディスクの
距離
最適距離
図H.8−最適フォーカスオフセットを含むジッタ曲線及びフォーカスS曲線の例
H.7 ジッタ測定
ジッタは,1トラック分を平均する。そして,前エッジと後エッジとを別々に測定する。
他に規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジを使って測定する。
――――― [JIS X 6230 pdf 210] ―――――
次のページ PDF 211
JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合