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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
附属書I
(規定)
測定方法
I.1 一般
ディスクの品質を検証するために,この規格に多くの規定がされている。BDレコーダブルディスクの
品質を決めるために必要な測定の再現性を最大化するために,附属書Iに幾つかの測定方法を規定する。
I.2 基準ドライブの初期調整
BDレコーダブルディスクの評価の前に,基準ドライブを調整する。
幾つかの項目を調整する。
初期調整は,ディスクの各測定場所で行う。
調整順番は,次による。
a) 球面収差
b) フォーカスオフセット
c) 半径方向の傾き
d) 接線方向の傾き
e) トラッキングサーボ利得(AGCがない場合だけ適用する。)
f) フォーカスサーボ利得
g) トラッキングオフセット
h) 自動スライサオフセット(任意)
上記のa) g)の調整の準備として,未記録ディスクに29.4.3の規定に従ってランダムデータを記録する。
そして,基準ドライブの初期設定条件で,a) c)の調整をI8ppが最大になるまで繰り返す。
次に,記録ディスクを基準速度で読み取り,全てのエッジのジッタが最小になるようにa) h)の調整を
繰り返す。全てのエッジのジッタは,PLLクロックに対して測定し,チャネルクロック周期で正規化する。
ジッタは,トラックジャンプの領域を除き,全ての連続したマーク及びスペースの期間を1回転分測定す
る。
調整手順を,規定した順番でジッタの測定結果が前回よりも良くなることが0.1 %未満となるまで繰り
返す。
I.3 ジッタ測定
ジッタ測定を行うために,測定条件(附属書H参照)を満たす。
ジッタは,1トラック分を平均化し,前エッジと後エッジとを別々に測定する。
他に規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジで測定する。
ジッタ測定を行うために,次の方法を順番に行うことが望ましい。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) タイムインタバルアナライザ(TIA)を準備する。TIAの測定窓幅TWを,トラックジャンプ領域を除
――――― [JIS X 6230 pdf 211] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
いた1回転に設定する。最小の測定窓幅は,次の式で計算できる。
2 πR
TW .0005 秒
Vref
ここに, Vref : 基準速度
R : 測定半径
0.005 : トラックジャンプ及びPLLのプルインの時間を表す。
TIAの取込み回数は,この測定期間を使い次のとおりに計算できる。
TW
TIAの取込み回数 9
51.51 10
ここに, 51.51×10−9 : Vrefで1回転中のマーク又はスペースの平均時間を表す。
TIAのトリガ遅延は,各基準ドライブによる。適度な値に設定することが望ましい。
c) ジッタは,29.5の規定に従って信号を供給して測定することが望ましい。
d) 前エッジの測定を行う。
e) 後エッジの測定を行う。
I.4 変調振幅測定
変調振幅測定を行うためには,測定条件(30.2参照)を満たす。
I.5 I2pp/I8pp及びI3pp/I8ppの解像度の測定
I.5.1 I2pp及びI8ppの測定方法
解像度の測定は,29.3.3の規定を適用して行う。I2ppは,スペクトラムアナライザを使って測定する。I8pp
は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)を使って測定する。スペクトラムアナライザ及びDSO
は,同じHF基準ドライブの出力を測定しケーブル終端を用いる。
次の測定方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがかか
り,1回転後に,アクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) 2pp及びI8ppの測定条件
− スペクトラムアナライザの設定
− 中心周波数 : 16.5 MHz(2T)
− スパン : 500 kHz
− 分解能帯域幅(RBW) : 30 kHz
− ビデオ帯域幅(VBW) : 10 Hz
− 掃引時間(SWT) : 約5秒
− ディスク信号
− 信号 : I2単一周波数,I8ランダム信号
− トラック : 1トラック
− 測定方法
− I2ppは,単一周波数信号をスペクトラムアナライザを使って測定する(図I.1参照)。
− I8ppは,HF信号をデジタルストレージオシロスコープを使って測定する(図127参照)。
――――― [JIS X 6230 pdf 212] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
分解能帯域幅 30kHz
Marker1[T1]
ビデオ帯域幅 10Hz 11.21dBmV
Ref 47dBmV Att30dB 掃引時間 5秒 16.500000000MHz
40
A
SGL
30
20
1
10
0
-10
-20
-30
-40
-50
中心周波数16.5MHz 50kHz/ スパン500kHz
図I.1−スペクトラムアナライザを用いたI2変調度の測定例
スペクトラムアナライザで得られる,I2ppの単位は,dBmVであり,一方,I8ppは,mVの値が得られる。
そこで,I2pp/I8ppは,次による。
I2pp dBmV
20
2 2 10
I2pp / I8pp
I8pp mVpp
I.5.2 I3pp/I8pp,I8pp/I8H及び非対称性の測定方法
I3pp/I8pp,I8pp/I8H及び非対称性の測定は,29.3.3に規定した条件を適用して行う。
I3pp/I8pp,I8pp/I8H及び非対称性の測定は,次の方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) スライサによって2値化したHFデータ信号は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)のトリ
ガ信号として用いる。
c) 2L,I2H,I3L,I3H,I8L及びI8Hの値を,DSO又はアナログオシロスコープで測定する。
d) SOを使う場合は,各波形は,周内に均等に分散している1 000回測定分を平均化する。
e) 3pp/I8ppの値は,次による。
I3H I3L
I3pp/ I8pp
I8H I8L
f) 8pp/I8Hの値は,次による。
I8H I8L
I8pp/ I8H
I8H
g) 非対称性の値は,次による。
――――― [JIS X 6230 pdf 213] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
I8H I8L I2H I2L
非対称性 2 2
I8H I8L
I.6 トラッキングエラー信号測定(PPnorm測定方法)
PPnormの測定は,25.3.3及び25.4に規定した信号を使って行う。
PPnorm信号は,ディスク1回転中にDSOでサンプリングされる。測定は,図I.2の測定領域として示し
た場所で測定する。
PPnorm信号は,ディスク1回転中少なくとも15波は出現するようにする。
基準ドライブの調整は,フォーカスオフセット及び球面収差の調整(記録トラックのI8ppの振幅が最大
になるようにする。)の後に,PPnorm,recを測定する。
次のステップとして,PPnorm,rec測定で得られたのと同じフォーカスオフセット及び球面収差の設定条件
で,未記録トラックでPPnorm,unrecを測定する。
PPnormの値の測定は,次の方法を順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを,半径方向トラッキングオープンモード(フォーカスサーボオンで,半径方向サーボ
オフ)にする。
b) SOのトリガに,1回転パルス(PPR)を使い1回転分のPPnorm信号を表示する。
c) 10トラック連続の,PPnorm振幅を決める(例えば,図I.2の測定領域1)。
d) 得られた10個の値の平均をとる。
e) )で測定した場所の反対側(トリガをディスク1回転の半分遅らせる。)に位置する10トラック連続
のPPnorm振幅を決める(例えば,図I.2に示す測定領域2)。
f) 得られた10個の値の平均をとる。
g) )及びf)の二つの値の平均をとる。
h) )で得られたPPnorm信号の,最大値及び最小値を決める。
30
)
V
プッシュプル(
20
10
t(秒)
0
0 0.005 0.010 0.015 0.020 0.025
−10
−20
測定領域1 測定領域2
−30
図I.2−PP測定領域の指示
――――― [JIS X 6230 pdf 214] ―――――
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
I.7 軸方向トラッキングの残留エラー測定方法
軸方向トラッキングの残留エラー測定は,11.4に規定したフィルタを通したフォーカスエラー信号を使
って行う。測定を行う前に,信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を
超える場合は,欠陥部の測定を避けるために,信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位
置を動かす。
次に示す方法を,軸方向の残留エラー値測定に順番に用いるのがよい。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブはフォーカス及びトラッキングサーボがかか
り,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) 9.10に規定したとおりに,軸方向のトラッキング基準サーボの軸方向サーボ特性を調整する。
c) 11.4に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順で,ピーク値を測定する。
− フィルタをLPFとし,カットオフ周波数を,次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは,1.6 kHz
− 4xディスク及び6xディスクの半径36 mm未満では,3.2 kHz
− 6xディスクの半径36 mm及びそれよりも外側では,4.8 kHz
− トラックジャンプ領域を除き,1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を,次に示す方法で測定する。
− フィルタをBPFとし,カットオフ周波数を,次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは,1.6 kHz & 10 kHz
− 4xディスク及び6xディスクの半径36 mm未満では,3.2 kHz & 20 kHz
− 6xディスクの半径36 mm及びそれよりも外側では,4.8 kHz & 30 kHz
− 1回転分のエラー信号波形を表示する。
− ノイズの実効値を,トラックジャンプ領域を除き,DSOの機能(2xディスクでは積分時間20 ms
とし,4xディスク及び6xディスクでは10 msとする。)を使って測定する。
注記 この値は,他の測定器でも測定できる。
4xディスク及び6xディスクの軸方向の残留エラーの測定中に,例えば,ほこり,きずなどによるスパ
イクが残留エラーの中に生じる可能性がある。
これらのスパイクは,残留エラー測定結果に望ましくない影響を与える。
4x及び6xディスクの,軸方向の最大残留エラーを決めるために,次の一連の測定を順番に用いる。
a) 測定をディスク1回転で行う。
b) F信号に,振幅で20 %よりも大きい影響を与えるスパイクを除く(図I.3参照)。
c) )の残りのスパイクで,次の条件のいずれかを満たす大きなスパイクを除く。
− 80 nmの軸方向のエラーの限界値を超え,かつ,Tspike≦(700 μm)/Vscanningの条件を超えるもの
− 6xディスクで,110 nmの軸方向のエラーの限界値を超え,かつ,Tspike≦(700 μm)/Vscanningの条件を超
えるもの
d) )で残ったスパイク中最大のものが,その半径の最大軸方向残留エラーの最大値となる。
――――― [JIS X 6230 pdf 215] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合