JIS X 6255:2019 長期データ保存用光ディスクのためのデータ移行方法 | ページ 5

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                                                                X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
                                          附属書F
                                          (参考)
                      試験間隔及びデータ移行のガイドライン
F.1   一般
  附属書Fは,推定寿命が既知のディスク及び未知のディスクの両方について,試験間隔を選択する及び
データ移行を実施するためのガイドラインを示す。
  この規格に従って,光ディスクは定期的に試験を行い,ディスクのエラーが表2に定めた値を超える場
合データ移行が行われる。したがって,ディスクの推定寿命が十分長い場合,ディスクのデータ移行の間
隔も長くできる。
  しかしながら,データ移行の時期の前に読取デバイス及び/又はファイル構造及び/又は応用を含むシ
ステムの世代交代が起こった場合,保存したデータは簡単に読み取れない可能性がある。さらに,保存デ
ータの価値が高い場合,ユーザは,安全のために短い間隔でデータ移行を行う可能性がある。これらの要
因を考慮に入れて,データ移行の間隔をXmig(年)と定義し,この値は,この規格のユーザによって決定
される。
  データ移行の間隔Xmigは,ディスクの推定寿命が未知であった場合でも適用してもよい。
  附属書Eで,試験間隔及びデータ移行のための推定寿命は,Bmigライフ(B0.000 1ライフ : 0.000 1 %故障
時間)で定義する。Bmig[これ以降Bmig(年)とする。]の半分が試験間隔として設定され,定期性能試験
(PP試験)が行われる。試験間隔がBmigとなる2回のPP試験の後,試験結果が表2のレベル4の場合,
次の試験間隔は3年又はそれ以下に設定される。この場合,試験は2回に限ることを推奨する。
  試験間隔が長い場合は,適切な時期にディスクのサンプリング検査を行うことを推奨する。
F.2   試験間隔及びデータ移行
a) 初期性能試験の結果が表1のレベル1(推奨)の場合(レベル1以外の場合は使用しないほうがよい
    又は使用しない。)
  1)   mig−Bmig/2が0より大きい場合,最初の定期性能試験(PP試験)の試験間隔はBmig/2に設定する
      のがよい(図F.1参照)。
  2)   mig−Bmig/2が0以下の場合,最初のPP試験の試験間隔はXmigにするのがよい。試験の結果にかか
      わらず,最初のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい(図F.2参照)。
b) 1)のPP試験の結果が表2のレベル4(引き続き使用)の場合(レベル4以外の場合,データをできる
    だけ早く又は直ちにデータ移行する。)
  3)   mig−2×Bmig/2が0より大きい場合,第2回のPP試験までの間隔はBmig/2に設定するのがよい(図
      F.1参照)。
  4)   mig−2×Bmig/2が0以下の場合,第2回のPP試験までの間隔はXmig−Bmig/2に設定するのがよい。
      試験の結果にかかわらず,第2回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい(図F.2参照)。
c) 3)の試験結果が表2のレベル4(引き続き使用)の場合(レベル4以外の場合,データをできるだけ
    早く又は直ちにデータ移行する。)
  5)   mig−2×Bmig/2−3が0以上の場合,第3回のPP試験までの間隔は3年に設定するのがよい(図F.1
      参照)。

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X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
  6)   mig−2×Bmig/2−3が−2又は−1の場合,第3回のPP試験までの間隔は各々1年及び2年に設定す
      るのがよい。試験の結果にかかわらず,第3回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい
      (図F.2参照)。
d) 5)の試験結果が表2のレベル4(引き続き使用)の場合(レベル4以外の場合,データをできるだけ
    早く又は直ちにデータ移行する。)
  7)   mig−2×Bmig/2−2×3が0以上の場合,第4回のPP試験までの間隔は3年に設定するのがよい。試
      験の結果にかかわらず,第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい(図F.1参照)。
  8)   mig−2×Bmig/2−2×3が−2又は−1の場合,第4回のPP試験までの間隔は各々1年及び2年に設
      定するのがよい。試験の結果にかかわらず,第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのが
      よい(図F.2参照)。
  図F.1−ユーザが決めたデータ移行期間よりも推定寿命が比較的短い場合の定期性能試験(PP試験)
                                   及びデータ移行のタイミング

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図F.2−ユーザが決めたデータ移行期間よりも推定寿命が比較的長い場合の定期性能試験(PP試験)及び
                                     データ移行のタイミング
F.3   特定の計算例
  ケース1
  ディスクのBmigが20年,データ移行間隔Xmigが25年に設定され,初期性能試験の結果がレベル1の場
合。
  a)によって,Xmig−Bmig/2=25−10=15は0より大きく,最初のPP試験までの間隔は10年にするのがよ
い。最初のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
  b)によって,Xmig−2×Bmig/2=25−2×10=5は0より大きく,第2回のPP試験までの間隔は10年にす
るのがよい。第2回のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
  c)によって,Xmig−2×Bmig/2−3=25−2×10−3=2は0より大きく,第3回のPP試験までの間隔は3年
にするのがよい。第3回のPP試験の試験結果はレベル4になるとする。
  d)によって,Xmig−2×Bmig/2−2×3=−1は0以下であり,第4回のPP試験までの間隔は2年である。
試験の結果にかかわらず,第4回のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい。
  ケース2
  ディスクのBmigが50年,データ移行間隔Xmigが20年に設定され,初期性能試験の結果がレベル1の場

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X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
合。
  a)によって,Xmig−Bmig/2=20−25=−5は0以下であり,最初のPP試験までの間隔は20年にするのが
よい。試験の結果にかかわらず,最初のPP試験の時点でデータ移行を実施するのがよい。

――――― [JIS X 6255 pdf 24] ―――――

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                                          附属書G
                                          (参考)
                                          試験領域
  4.2で定期性能試験でデータ読取性能を確認するためにディスクの全ての記録済み領域を試験するのが
よいとした。ディスクは,記録領域全体にわたって均一な記録特性をもつことが望ましいので,アイリン
グ加速モデル又はアレニウス加速モデルに従うディスクの記録面の平均的な劣化は,部分的な領域での定
期性能試験で推定可能である。しかしながら,欠陥などによる部分的な劣化は,部分領域の試験では検知
できない可能性がある。結論として,記録済み領域全体の試験を推奨する。
  試験領域を少なくするのに応じてデータの信頼性は低下するが,ユーザは,情報の価値及び試験を行う
ディスクの枚数によって,試験を行う試験領域及びディスクの枚数を削減したがる可能性がある。
  一般的に,ディスク全体の記録した又は保存したデータの性能又は特性が分かっていなければ,データ
エラーの欠陥,不確実性又は予測不能のふるまいのために,データの信頼性は試験領域の割合に比例する
ことになる。幾つかの有効な情報が不確実性又はエントロピを下げる場合,部分的な試験であってもデー
タの信頼性が改善される。
  寿命推定に使用する故障時間が対数正規分布ではない場合,分布に適した統計的な推定が要求される。
    注記 上記の推定は部分欠陥に起因する故障時間には適用することができない。

――――― [JIS X 6255 pdf 25] ―――――

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