14
X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
附属書C
(参考)
BERとPI SUM 8との関係
バイト誤り率(BER)は,エラーのあるバイト数をバイトの総数で除した値である。内符号コードの一
つのコードワードの長さは182であるため,エラーのある内符号コードワードの確率Npiは,エラーが無
作為に発生するという前提で,次の二項確率の式(C.1)による。
182
182 i
Npi Ci
182 pi 1 p (C.1)
i 1
ここに,pはBERを表す。
図C.1に示すとおり,外符号長が208であるので,8 ECCブロックのPIエラーの数Npis8は式(C.2)によ
る。
Npis8 208 8 Npi (C.2)
1.8E+03
1.6E+03
1.4E+03
1.2E+03
M8
1.0E+03
I SU
8.0E+02
P
6.0E+02
4.0E+02
2.0E+02
0.0E+00
1.0E-05 1.0E-04 1.0E-03 1.0E-02 1.0E-01
BER (p)
図C.1−BER(p)とPI SUM 8との関係
――――― [JIS X 6255 pdf 16] ―――――
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X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
附属書D
(参考)
厳しいストレス条件の場合の推定寿命補正のガイドライン
実際の保存条件で,温度及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %から外れる可能性があり,そのことに
よって推定寿命が変動する。その場合,25 ℃及び相対湿度50 %における推定寿命を実際の保存条件にお
ける推定寿命に,次に示す方法で補正することが望ましい。
JIS X 6256によって,アイリング法に基づいた推定寿命B5ライフは,次の式(D.1)による。
B5ライフ exp x .164
0 110 2 x20 (D.1)
ここに, 0 ln A ,1 H/k, 2 B
x10及びx20 : 各々が制御保存条件(25 ℃及び相対湿度50 %)におけ
る温度依存因子及び相対湿度依存因子
A : 定数
ΔH : 1分子当たりの活性化エネルギー
k : ボルツマン定数
B : 相対湿度の指数定数
保存温度及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %と異なる場合,B5ライフは,m及びnが各々温度及び
相対湿度を表す数詞として,次に示す式による B5ライフ(m,n) と置き換えられる。x1m及びx2nは,各々温度m
における温度依存因子及び相対湿度nにおける相対湿度因子を表す。式(D.1)のB5ライフは,式(D.2)を使
って,同様にB5ライフ(0,0)と表すことができる。
B5ライフ(m,n)
exp x .164 (D.2)
0 11m 2 x2n
B5ライフで正規化した補正係数であるAd (m,n)=B5ライフ(m,n) / B5ライフは,次の式(D.3)による。
Ad (m,n)
exp x x .164 / exp x x .164
0 11m 2 2n 0 110 2 20
(D.3)
exp
1 x1m x10 2 x2nx20
JIS X 6256の例を使用し,推定寿命B5ライフ(年)(B5ライフ/24/365)の補正係数Ad (m,n)を計算した例
を表D.1に示す。25 ℃及び相対湿度50 %におけるB50ライフ(年)が1 110年及びB5ライフ(年)が893
年という条件の下で,温度を25 ℃から35 ℃まで1度単位で変更し,相対湿度を50 %から80 %まで5 %
単位で変更して計算している。
表D.1は,表B.1に示す推奨する通常保存条件の範囲であっても,25 ℃及び相対湿度50 %から温度及
び相対湿度がより厳しくなる場合,推定寿命が急に短くなることを示している。例えば,保存条件の温度
及び相対湿度が25 ℃及び相対湿度50 %の場合に比して30 ℃及び相対湿度80 %の場合は,推定寿命が約
1/6に短くなる。したがって,実際の保存条件には十分な注意を払うことが望ましい。
追加して,あるディスクの補正係数を計算するためには,そのディスクが所属する母集団の推定寿命及
びアイリング法の係数の推定値が必要である。JIS X 6256を使用して寿命推定を行う場合を除き,ディス
ク製造業者にディスクの補正係数を問い合わせることを推奨する。
――――― [JIS X 6255 pdf 17] ―――――
16
X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
表D.1−推定寿命の補正係数
相対湿度
(n)
n 0 1 2 3 4 5 6
m 50 % 55 % 60 % 65 % 70 % 75 % 80 %
0 25 ℃ 1.00 0.86 0.74 0.64 0.55 0.47 0.41
1 26 ℃ 0.84 0.72 0.62 0.54 0.46 0.40 0.34
温
2 27 ℃ 0.70 0.61 0.52 0.45 0.39 0.33 0.29
度
(m) 3 28 ℃ 0.59 0.51 0.44 0.38 0.33 0.28 0.24
4 29 ℃ 0.50 0.43 0.37 0.32 0.27 0.24 0.20
5 30 ℃ 0.42 0.36 0.31 0.27 0.23 0.20 0.17
注記 この表は,JIS X 6256:2019の附属書Bの参考データを使用した計算例である。
――――― [JIS X 6255 pdf 18] ―――――
17
X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
附属書E
(参考)
B50ライフ及びB5ライフを用いたBmigライフの計算
JIS X 6256は,光ディスクの推定寿命をB50ライフ,B5ライフ及びB5ライフの95 %下側信頼限界[(B5
ライフ) L]を定義している。推定寿命B5ライフは,製品の5 %が故障する寿命を意味している。したがっ
て,元のデータを完全に保つために長期保存の試験間隔及びデータ移行を決定する場合に,信頼性の観点
から,推定寿命としてB5ライフを使用するのは適切ではない。
データ移行の場合,故障確率が十分に低いことが必要である。したがって,この規格では試験間隔又は
データ移行間隔を決めるために,百万分の1の製品が故障時間に達する時間を推定寿命として使用される。
B0.000 1ライフは,寿命分布の0.000 001分位点(0.000 1 %故障時間)であり,この規格ではBmigライフと定
義する。Bmigライフは,B50ライフ及びB5ライフを使用して計算ができ,次による。
JIS X 6256によって, ln B は,式(E.1)による。
p
ln B x x zp/ 100
(E.1)
p 0 110 2 20
2
ここに, z : N ,0 の分位点
10,x
x 20 : 各々が制御保存条件(25 ℃及び相対湿度50 %)におけ
る温度依存因子及び相対湿度依存因子
式(E.1)を使用して,故障確率が百万分の1となる推定寿命のln B0.000 1は,式(E.2)による。百万分の1の
故障確率の推定寿命は,正規分布の場合4.75 σに相当する。
ln B x .475 .475 (E.2)
0
.0 000 1 110 2 x20 ln B
50
5
一方, lnBは式(E.3)による。
ln B x .164 .164 (E.3)
5 0 110 2 x20 ln B
50
B50ライフ及びB5ライフを式(E.2)及び式(E.3)に挿入し,式(E.4)による。
ln B
ln B
B.0000 1ライフ
exp ln B .475
exp ln B .475 50 5
50 50
.164
exp 9.2 ln B 5
9.1 ln B
50 (E.4)
したがって,
Bmig ライフB.0000 1 ライフ 5
exp 9.2 ln B 50
9.1 ln B (E.5)
例えば,JIS X 6256:2019の附属書Bでは,アイリング法によって求めた制御保存条件(25 ℃及び相対
湿度50 %)におけるB50ライフ及びB5ライフのデータを示している。
B50 ライフ1 110 年 9 724 120 時間
ln B 16.090 12
ln 9( 724 120)
50
B5 ライフ 893 年 7 826 297 時間
――――― [JIS X 6255 pdf 19] ―――――
18
X 6255 : 2019 (ISO/IEC 29121 : 2018)
ln B 15.873 00
ln 7( 826 297)
5
Bmigライフは,これらの値を式(E.5)に代入することによって計算される。
Bライフ
mig
5 9.1 ln B
exp 9.2( ln B 50 )
exp 9.2(15.873 009.1 16.090 12)
5 180 811 時間591 年
他の例では,JIS X 6256:2019の附属書Cでアレニウス法によって求めた過酷保存条件(30 ℃及び相対
湿度80 %)におけるB50ライフ及びB5ライフのデータを示している。
B50 ライフ1 62 年 1 417 280 時間
ln B 14.164 25
ln 1( 417 280)
50
B5 ライフ 124 年 1 087 462 時間
ln B 13.899 36
ln 1( 087 462)
5
Bmigライフは,これらの値を式(E.5)に代入することによって計算される。
Bライフ
mig
5 9.1 ln B
exp 9.2( ln B 50 ) xp 9.2(13.899 36 9.1 14.164 25)
657 413 時間75 年
――――― [JIS X 6255 pdf 20] ―――――
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JIS X 6255:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 29121:2018(IDT)
JIS X 6255:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6255:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISX6232:2017
- 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm単層(25ギガバイト/ディスク)及び2層(50ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク
- JISX6233:2017
- 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm3層(100ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク
- JISX6246:2005
- 120mm(4.7GB/面)及び80mm(1.46GB/面)DVD―書換形ディスク(DVD-RAM)
- JISX6248:2007
- 80mm(1.46GB/面)及び120mm(4.70GB/面)DVD リレコーダブルディスク(DVD-RW)
- JISX6249:2009
- 80mm(1.46GB/面)及び120mm(4.70GB/面)DVDレコーダブルディスク(DVD-R)
- JISX6250:2009
- 120mm(4.7GB/面)及び80mm(1.46GB/面)+RWフォーマット光ディスク(4倍速まで)
- JISX6251:2009
- 120mm(4.7GB/面)及び80mm(1.46GB/面)+Rフォーマット光ディスク(16倍速まで)
- JISX6252:2011
- 120mm(8.54Gbytes/面)及び80mm(2.66Gbytes/面)2層DVDレコーダブルディスク(DVD-R for DL)
- JISX6282:2009
- 情報交換用120mm追記形光ディスク(CD-R)
- JISX6283:2009
- 情報交換用120mmリライタブル光ディスク(CD-RW)