JIS Z 2355-2:2016 非破壊試験―超音波厚さ測定―第２部：厚さ計の性能測定方法 | ページ 3

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Z 2355-2 : 2016
  試験区分1,試験区分2-1又は試験区分2-3において,供給者が超音波厚さ計の性能を確認するために行
う場合は,次の9.12.1Aによって,最小及び最大測定可能厚さの試験片を測定し,その測定誤差が仕様範
囲内に入っていることを確認する。
9.12.1A 確認方法
  確認方法は,次による。
a) 試験片は,6.1で規定する試験片のうち,超音波厚さ計の最小測定可能厚さに相当する試験片及び最大
    測定可能厚さに相当する試験片を選定する。
b) 測定誤差の求め方は,9.13.1 c)   f)による。
c)   )で選定した試験片を用いて超音波厚さ計の測定誤差を求める。
d) この試験は,供給者が推奨する形式の探触子に対して行う。
9.12.2 合格基準
  それぞれの測定誤差は,供給者の仕様範囲内の場合,合格とする。

9.13 測定誤差

9.13.1 測定方法
  超音波厚さ計の測定誤差の求め方は,次による。
a) 試験片は,6.1で規定する試験片のうち,超音波厚さ計の測定範囲内の適切な3段階以上の厚さの試験
    片を選定する。
b) 一つの試験片で必要な厚さを選定できない場合は,複数の試験片を用いてもよいが,試験片が複数に
    なる場合は,互いに同等の音速をもつものとする。
c) 試験片の厚さは,マイクロメータ,ノギスなどで一つの測定面について3点以上測定し,それらを平
    均した値(T),又は厚さが既知の場合はその値(T)とする。この値(T)は,同一試験片を用いる場
    合には毎回測定する必要はない。
d) 必要に応じて音速調整を行う。音速調整は,次の方法による。
  1) あらかじめ音速値が分かっている試験片の場合は,供給者指定の方法でその値に調整する。
  2) 音速値が不明の試験片の場合は,使用する試験片を用いて,供給者指定の方法で音速を確認し,そ
      の値に調整する。
e) 必要に応じてゼロ点調整を行う。ゼロ点調整は,供給者が指定した方法で行う。
f)  測定誤差の求め方は,次による。
  1) ゲインを選定できる場合,適切なゲインに設定する。
  2)   )で選定した試験片の測定を5回繰り返し,その最小値を測定値(M)とする。
  3) 2)の測定値(M)と厚さ(T)の値との差が最も大きくなる値|T−M|を求め,これを測定誤差と
      する。
g) この試験は,供給者が推奨する形式の探触子に対して行う。
9.13.2 合格基準
  測定誤差は,供給者の仕様範囲内の場合は,合格とする。

9.14 音速設定範囲

  音速設定範囲を確認するための試験は,供給者指定の方法による。

9.15 調整

9.15.1 一般
  超音波厚さ計の調整とは,ゼロ点調整及び音速調整である。ゼロ点調整はJIS Z 2355-1の箇条4(測定

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方式)の方式3(多重エコー方式)以外の方式の場合に必要である。
9.15.2 調整方法
  調整方法は,次による。
a) 供給者が指定した方法で,必要に応じてゼロ点調整を行う。
b) 供給者が指定した方法で,必要に応じて音速調整を行う。
c) 調整終了後,供給者指定の試験片又は測定範囲のおおむね中間に相当する厚さの試験片を測定し,試
    験片厚さと測定値の差を確認する。
9.15.3 合格基準
  試験片厚さと測定値の差は,供給者の仕様範囲内の場合は,合格とする。

9.16 調整設定保存

9.16.1 確認方法
  ゼロ点調整及び音速調整後の調整設定保存を確認する方法は,次による。
a) 試験片は,6.1で規定する試験片のうち,超音波厚さ計の測定範囲のおよそ中間に相当する厚さのもの
    を使用する。
b) 9.13.1 c)   f)によって,測定誤差を求める。
c) 超音波厚さ計の電源を切り,3分以上の適切な時間が経過した後,再度電源を入れる。
d) 同じ試験片を測定して,表示値を記録する。
9.16.2 合格基準
  測定誤差は,供給者の仕様範囲内の場合は,合格とする。

9.17 データ保存

9.17.1 確認方法
  データ保存機能の確認方法は,次による。
a) 適切な試験体の測定を行い,データを保存する。
b) 保存データ数が超音波厚さ計の最大保存数となった状態で,更に1回測定を行う。
9.17.2 合格基準
  データ保存機能の適合基準は,次による。
a) 最大保存件数分のデータが保存できる。
b) 最大保存件数を超えたときのデータの扱い,表示動作などは,供給者の仕様による。

9.18 印刷

9.18.1 確認方法
  供給者が推奨するプリンタについて,印刷機能の確認を行う。
9.18.2 合格基準
  供給者が指定する様式で,誤りなく印刷項目が印刷される場合は,合格とする。

9.19 保存データ表示

9.19.1 確認方法
  保存データ表示機能を確認する方法は,次による。
a) 適切な試験体の測定を行い,測定データを保存する。
b) 保存された測定データを,表示させる。
9.19.2 合格基準
  供給者の指定の様式で,保存データのとおりに誤りなく表示される場合は,合格とする。

――――― [JIS Z 2355-2 pdf 12] ―――――

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9.20 表示更新回数

9.20.1 測定方法
  供給者の指定の方法によって,表示更新回数の確認を行う。ただし,表示更新回数が毎秒1回を超える
場合は確認を省略してもよい。
9.20.2 合格基準
  表示更新回数は,供給者の仕様範囲内の場合は,合格とする。

10 試験区分2

10.1 一般

  この試験は,全ての超音波厚さ計に対して行われる試験であり,7.2に示す区分とする。

10.2 目視点検

  供給者の取扱説明書及び次に従い,目視などによって点検を行う。
a) 超音波厚さ計本体の損傷の有無
b) 探触子の表面の平滑さ及び損傷の有無
c) 探触子保持具の操作性
d) 探触子ケーブルの異常及び損傷の有無
e) 探触子コネクタの異常の有無

10.3 最小及び最大測定可能厚さ

  最小及び最大測定可能厚さの測定は,9.12による。

10.4 測定誤差

  測定誤差の求め方は,9.13による。

10.5 測定下限

  試験区分2-2(定期点検)及び試験区分2-3(特別点検)において,必要と判断される場合は測定下限を
求める。測定下限の求め方は11.2.3による。

10.6 調整値の確認

  調整値の確認は,9.15による。

11 試験区分3(日常点検)

11.1 一般

  超音波厚さ計の日常点検は始業前点検によって行うものとし,次による。

11.2 始業前点検

  始業前点検は,目視点検及び測定誤差の確認を行う。また,必要に応じて測定下限の確認,調整設定保
存及びデータ保存の確認を行う。
11.2.1 目視点検
  目視点検は,10.2による。
11.2.2 測定誤差
  6.1の対比試験片RB-E,RB-Tなどを用い,超音波厚さ計及び探触子の組合せごとに通常使用する環境
下で,かつ,当日に測定する厚さの範囲において,測定誤差を求める。
  測定誤差の求め方は,次による。
a) 試験片 測定誤差の確認に使用する試験片は,次による。

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  1) 6.1で規定する試験片などを組み合わせて,適切な3段階以上の厚さの試験片寸法を選定する。適切
      な3段階の厚さとは,測定を行う試験体の設計板厚などを中心厚さとして,使用する測定範囲の上
      下限の厚さをいう。
  2) 鋼以外の材料の厚さ測定を行う場合は,使用する測定範囲内の適切な3段階以上の厚さの試験片寸
      法を選定する。測定に使用する試験片が複数になる場合は,互いに同等の音速をもつものとする。
  3) 試験片の厚さは,マイクロメータ,ノギスなどで一つの測定面について3点以上測定し,それらを
      平均した値(T)とする。この値(T)を記録することによって,同一試験片の場合,次回の測定に
      用いることができる。
b) ゼロ点調整 ゼロ点調整を要する超音波厚さ計は,供給者が指定した方法,又はa) 1)で選定した試験
    片を用い,ゼロ点を調整する。
c) 音速調整 音速の調整は,次による。
  1) 特に指定がない場合は,a) 1)又は2)で選定した試験片のうち,中間厚さ程度の試験片を用いる。
        なお,厚さの異なる2個の試験片を選定する場合は,使用する測定範囲内で適切な厚さを選定す
      る。
  2) 選定した試験片の厚さを表示するように音速を調整する。
d) 測定方法 測定方法は,次による。
  1) ゲインを選定できる場合,適切なゲインに設定する。また,エコー高さを変更できる場合,適切な
      エコー高さに設定する。
  2)   ) 1)又は2)で選定した試験片に対して5回測定を繰り返す。この測定において,表示値に不安定の
      ないことが確認された表示値の最小値を,測定値(M)とする。
  3) 測定値(M)と厚さ(T)の値との差が最も大きくなる値|T−M|を求め,これを測定誤差とする。
11.2.3 測定下限
  厚さ測定において必要と判断される場合は,測定下限を求める。設計板厚が6 mm以下の場合は,測定
下限の確認を推奨する。
  測定下限の求め方は,次による。
a) 試験片 6.1で規定するRB-T若しくは11.2.2 a)の試験片と同一の材料,又は11.2.2 a)の試験片と同等
    の音速をもつ材料で作製し,11.2.2 a) 3)と同様に測定した試験片を用いる。
b) ゼロ点調整 11.2.2 b)を行った厚さの試験片によって,調整又は確認する。
c) 音速調整 11.2.2 c)を行った厚さの試験片によって,調整又は確認する。
d) 測定方法 測定方法は,次による
  1) ゲインを選定できる場合には,適切なゲインに設定する。また,エコー高さを変更できる場合,適
      切なエコー高さに設定する。
  2)   B-T又は同等の試験片の厚い方から薄い方へ測定を行い,測定値と11.2.2 a) 3)で測定した厚さとの
      差が0.1 mm又は9.13.1 f)で求めた測定誤差のうち,大きい方の値より大きくなる直前の試験片厚さ
      を求め,これを測定下限値とする。
11.2.4 調整設定保存
  この試験は,調整設定値が適切に保存されていることを確認するものであり,次の方法に従って行う。
  なお,この試験は使用者の判断によって省略してもよい。
a) 確認方法 調整設定保存機能を確認する方法は,次による。
  1) 測定誤差の求め方は,9.13.1 c)   f)による。

――――― [JIS Z 2355-2 pdf 14] ―――――

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Z 2355-2 : 2016
  2) 超音波厚さ計の電源を切り,3分以上の時間が経過した後,再度電源を入れる。
  3) 同じ試験片を測定して,表示値を読み取り,記録する。
b) 合格基準 測定誤差は,使用者の指定範囲内の場合は,合格とする。
11.2.5 データ保存
  この試験は,データの保存及び表示機能が正常に動作することを確認するものであり,次の方法に従っ
て行う。
  なお,この試験は使用者の判断によって省略してもよい。
a) 確認方法 データ保存及び表示機能を確認する方法は,次による。
  1) 適切な試験体の測定を行い,測定データを保存する。
  2) 保存されたデータを表示させる。
b) 合格基準 供給者の指定の様式で保存データのとおりに誤りなく表示される場合は,合格とする。

――――― [JIS Z 2355-2 pdf 15] ―――――

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