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表12
単位mm
形名 結晶寸法範囲
直径D ステップ 高さH ステップ 井戸内径W 井戸深さd
A 12.776.2 6.35 12.776.2 6.35 − −
B ±0.5 ±0.5
C 88.9127.0 12.7 25.4127.0 12.7 − −
D ±1.0 ±1.0
7WA8 44.5±0.5 − 50.8±0.5 − 19.1±0.5 38.1±0.5
7WB8
8WA8 50.8±0.5 50.8±0.5 28.6+0.5 38.1±0.5
8WB8
12WIA12 76.2±0.5 76.2±0.5 19.1±0.5 50.8±0.5
12WIIA12 28.6±0.5 50.8±0.5
WC 88.9127.0 12.7 88.9127.0 12.7 −(2) −(2)
±0.1 ±0.2
X 12.738.1 6.35 0.56.0 0.5 − −
±0.1 ±0.2
注(2) 井戸内径 (W) 及び井戸深さ (d) は,特に規定しない。ただし,寸法表示は,1mmを10として内径,深さの
順に形名の後に−で分けて表示する。
例 結晶寸法 直径88.9mm,高さ88.9mm,井戸内径28.6mm,井戸深さ50.8mmのとき
表示例 14WC14−286・508
8.2 光学窓 光学窓の厚さ及び材質は,表13のとおりとする。
表13
形名 光学窓
厚さmm 材質
A 3.0±0.2 光学ガラス,ほうけい酸ガラス又は石英
B
C 8.0±0.2
D
7WA8 3.0±0.2
7WB8
8WA8
8WB8
12WIA12
12WIIA12
WC 8.0±0.2
X 3.0±0.2
8.3 容器 容器の形状,寸法,入射窓厚及び材質は,表14のとおりとする。
なお,Oリングみぞの形状は,参考とする。
――――― [JIS Z 4321 pdf 6] ―――――
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表14
形名 容器
形状,寸法 入射窓厚mm 材質
A 付図1 0.8±0.1 アルミニウムの場合 :
B 付図2 JIS H 4040
C 付図3 2.0±0.1 JIS H 4080
D 付図4 JIS H 4170
7WA8 付図5 0.8±0.1 又はこれらと同等以上の品質のもの。
7WB8 ステンレス鋼の場合 :
8WA8 付図6 JIS G 4303
8WB8 又はこれと同等以上の品質のもの。
12WIA12 付図7 銅の場合 :
12WIIA12 JIS H 3100
WC 付図8 − JIS H 3300
又はこれらと同等以上の品質のもの。
X 付図9 標準のものとしては,厚さ30
ルミニウムを用いるが,厚さ150 リ
リウムでもよい。
8.4 反射材 反射材の材質は,X形においてアルミニウム,それ以外のものは,すべてマグネシア粉末
又はアルミナ粉末を用いる。
9. 外観 NaI (Tl) シンチレータの外観は,10.3の方法により試験を行ったとき,次の各項に適合しなけ
ればならない。
(1) ケース 機械的きず及び変形,接着箇所のはく離がないこと。
(2) 光学窓 ガラス中に気泡及びきずがなく,また,接着面に気泡及び異物の混入がないこと。
(3) 結晶 結晶中に不透明混入物がなく,また,加工時のきず,ひび割れ,着色,吸湿による表面変化が
ないこと。
(4) 反射材 円柱形及び井戸形については,反射材の充てん状態に異常がないこと。
10. 試験方法
10.1 試験条件
10.1.1 周囲条件 この試験方法の各試験は,特に指定のない限り,常温 (20±15℃),常湿 [(65±20) %]
で室内の自然光(電灯照明を含む。)又はそれ以下の照度で,測定用放射線源以外の放射線及び電磁気的誘
導のなるべく少ない場所で行う。
10.1.2 線源 NaI (Tl) シンチレータ試験用放射線源は,円柱形用,井戸形用,平板形用の3種類とし,そ
の構造及び強度は表15による。
表15
線源の用途 構造 線源の強度kBq [{ 椀紀
137Cs : 18.5185 [{0.55}]
円柱形用 図2(1)
137Cs : 0.373.7 [{0.010.1}]
井戸形用 図2(2)
55Fe : 3.7370 [{0.110}]
平板形用 図2(3)
――――― [JIS Z 4321 pdf 7] ―――――
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図2
10.1.3 電気的試験用結線及び一般的条件 電気的試験用結線及び一般的条件は,次の各項による。
(1) 電気的試験装置を図3のように結線して使用し,図3の点線の部分は遮光のため,図5のような測定
台を用いる。
(2) 供試NaI (Tl) シンチレータと光電子増倍管の接合及び取扱いについては,次による。
(a) 供試NaI (Tl) シンチレータと光電子増倍管は,シリコーン油により光学的に接合する。
(b) aI (Tl) シンチレータ及び光電子増倍管は,できるだけ暗所で取り扱うことが望ましく,また,試
験前は,24 時間以上暗所に保管されているのが望ましい。
(c) aI (Tl) シンチレータの光学窓と光電面が大きさにおいて一致することが望ましいが,もし,NaI
(Tl) シンチレータの光学窓が光電面より大きい場合,残りの面積はアルミニウムはくなどの適当な
反射材を用いて光を有効に光電面に入射させる必要がある。
(3) 回路は,すべて図3及び図4に準ずるが,パルス波高その他を調整後,適当なオシロスコープにより
波高分折器への入力信号を観測し,誘導,ひずみ,飽和現象などがないことを確認する。
(4) 使用線源及び幾何学的条件については,次の各項による。
(a) 円柱形NaI (Tl) シンチレータ 使用線源は,10.1.2に定めた円柱形用137Csを用い,線源はNaI (Tl)
シンチレータの中心軸上でNaI (Tl) シンチレータ結晶前面から約150mm離して固定する。
(b) 井戸形NaI (Tl) シンチレータ 使用線源は,10.1.2に定めた井戸形用137Csを用い,線源の先端をシ
ンチレータ中央に固定する。
(c) 平板形NaI (Tl) シンチレータ 使用線源は,10.1.2に定めた平板形用55Feを用い,(a)と同様の条件
――――― [JIS Z 4321 pdf 8] ―――――
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で使用する。ただし,線源と結晶前面との距離は,約30mmとする。
なお,ふたは外して使用する。
10.1.4 光学的接合用シリコーン油 25℃における粘度10 000cSt,屈折率1.5程度のものを使用する。
図3 電気的試験用結線図
図4 印加電圧分配器回路図
――――― [JIS Z 4321 pdf 9] ―――――
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図5 測定台
10.2 外形寸法試験 JIS B 7507に規定された1級以上の精度をもつノギスを使用し,外形寸法が,8.1の
規定に適合するかどうかを調べる。
10.3 外観試験 外観試験は,次の各項による。
(1) ケース 機械的きず及び変形,接着箇所のはく離の有無を調べる。
(2) 光学窓 ガラス中の気泡及びきず,接着面の気泡及び異物の混入の有無を調べる。
(3) 結晶 結晶中の不透明混入物,加工時のきず,ひび割れ,着色,吸湿による表面変化の有無を調べる。
(4) 反射材 円柱形及び井戸形について,反射材の充てん状態を調べる。
10.4 振動試験 供試NaI (Tl) シンチレータを光学窓を下にして振動台に確実に固定する。更に装置を水
平にして複振幅2±0.1mm,周波数20±2Hzで5時間正弦波振動をさせ,常温常湿において3か月放置し
た後,10.2,10.3及び10.8の試験を行い,供試NaI (Tl) シンチレータの損傷の有無を調べる。
なお,振動試験装置は,複振幅2mm,振動数2030Hzが得られ,具備すべき条件としてはJIS C 0911
の3.2(定振動数耐久試験装置)に定めるものに合致することが望ましい。
――――― [JIS Z 4321 pdf 10] ―――――
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JIS Z 4321:1995の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
JIS Z 4321:1995の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7507:2016
- ノギス
- JISC0911:1984
- 小形電気機器の振動試験方法
- JISG4303:2012
- ステンレス鋼棒
- JISG4303:2021
- ステンレス鋼棒
- JISH3100:2018
- 銅及び銅合金の板及び条
- JISH3300:2018
- 銅及び銅合金の継目無管
- JISH4040:2015
- アルミニウム及びアルミニウム合金の棒及び線
- JISH4080:2015
- アルミニウム及びアルミニウム合金継目無管
- JISH4170:1991
- 高純度アルミニウムはく
- JISZ4001:1999
- 原子力用語