この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語、定義および略語
3.1 用語と定義
このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。
ISO および IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。
3.1.1
焼き出し
ハードウェア内の分子状 汚染物質(3.1.11) の含有量を減らす目的で,ハードウェアの温度を上げて ガス放出(3.1.28) 速度を速める活動。
注記 1:焼き出しは通常、真空環境で実行されますが、制御された雰囲気で実行される場合もあります。
3.1.2
バイオエアロゾル
気体環境中の分散した生物学的作用物質[例:生存 粒子(3.1.29) ,アレルゲン,毒素又は微生物由来の生物活性化合物]。
3.1.3
生物汚染
材料、装置、個人、表面、液体、ガスまたは空気の生存 粒子による汚染 (3.1.29)
3.1.4
クリーンベンチ
ろ過された気流がベンチトップ全体に集中するテーブルまたはベンチトップの作業面
注記 1:これらのベンチトップには、空気中の最大許容 汚染物質 (3.1.11) の確立された分類があります。
3.1.5
清潔度
特定の領域または体積、またはコンポーネントでの最大許容汚染量の確立
注記1:この用語は、予測または測定された汚染の程度にも適用される場合があります。
3.1.6
清浄度要求仕様
CRS
宇宙船のアイテムと汚染に敏感な環境エリア、寿命の最初と最後に許容される汚染レベル、および該当する汚染環境を定義および識別する文書
3.1.7
クリーンルーム
空気中の 粒子(3.1.29) の数濃度が制御および分類され、室内への粒子の導入、生成および滞留を制御するように設計、建設および運用される部屋
注記1浮遊 粒子濃度の等級(3.1.30及び3.1.31) が規定されている。
注記2空気中の化学物質、実行可能な濃度、またはナノスケールの濃度、および粒子、ナノスケール、化学物質および実行可能な濃度 に関する表面清浄度(3.1.39) などの他の清浄度属性のレベルも指定および管理される場合があります。
注記 3: 温度、湿度、圧力、振動、静電気など、その他の関連する物理パラメータも必要に応じて制御される場合があります。
[出典:ISO 14644-1:2015, 3.1.1]
3.1.8
クリーンルーム用衣服
クリーンルーム(3.1.7) で作業する人員によるハードウェアの汚染を防ぐために特別に設計、製造、着用される衣類
注記 1:クリーンルーム用衣類には、カバーオール、フロック、手袋、ブーツ、指サック、あごひげカバーなど、職員が着用するすべてのアイテムが含まれます。
3.1.9
クリーンゾーン
空中浮遊 粒子(3.1.29) の数濃度が制御及び分類され,空間内への 汚染物質(3.1.11) の導入,生成及び滞留を制御する方法で建設及び運用される,定義された空間。
注記1浮遊 粒子濃度の等級(3.1.30及び3.1.31) が規定されている。
注記2空気中の化学物質、実行可能な濃度、またはナノスケールの濃度、および粒子、ナノスケール、化学物質および実行可能な濃度 に関する表面清浄度(3.1.39) などの他の清浄度属性のレベルも指定および管理される場合があります。
注記3クリーンゾーンは, クリーンルーム(3.1.7) 内の定義された空間である場合もあれば,分離装置によって達成される場合もある。このような装置は、クリーンルームの内側または外側に配置できます。
注記 4: 温度、湿度、圧力、振動、静電気など、その他の関連する物理パラメータも必要に応じて制御される場合があります。
[出典:ISO 14644-1:2015, 3.1.2]
3.1.10
収集された揮発性凝縮性物質
CVCM
材料からガスを放出し、続いてコレクター上で凝縮する質量で、最初の試験片質量のパーセンテージとして表される
3.1.11
汚染物質
それが取り付けられているハードウェアの関連するパフォーマンスまたは寿命に影響を与える、または低下させる可能性のある不要な分子または粒子状物質
3.1.12
汚染
望ましくない分子または粒子状物質(微生物学的物質を含む)をアイテムまたは対象環境に導入すること
[出典:ISO 10795:2019, 3.62]
3.1.13
汚染および清浄度管理プログラム
宇宙システム プロジェクトのすべての段階で、許容できる清浄度と汚染レベルを確立し、達成するための組織的な取り組み
3.1.14
汚染および清浄度管理計画
CCCP
独立した文書または統合プロジェクト計画の一部として、 汚染および清浄度管理プログラム (3.1.13) を実施する方法を説明する文書
3.1.15
汚染予算
地上および飛行操作の各段階におけるハードウェアの汚染の許容レベル
3.1.16
汚染プロファイル
地上および飛行操作の各段階における汚染関連の条件
注記1:条件には、浮遊微粒子の清浄度クラス、圧力、湿度、温度、作業に従事する人数、清掃活動、施設の概要などが含まれます。
注記2:汚染プロファイルは、 汚染および清浄度管理計画(CCCP)(3.1.14) の一部です。
3.1.17
交差汚染
ある表面または構成要素から別の表面または構成要素への 汚染物質 (3.1.11) の移動
注記1:移動は、表面に沿った移動、物理的接触、エアロゾルとしての空中浮遊、またはガスまたは分子物質として発生する可能性があります。
3.1.18
デブリ
最大寸法が約 1 mm (1 000 μm) を超える固体
3.1.19
静電放電
ESD
誘電体またはガスまたは真空のギャップ、および異種材料の表面界面の電気的破壊で、誘電体材料の部分とそれらの界面の帯電の差によって引き起こされる
[SOURCE:ISO 11221:2011, 2.10, modified — 略語「ESD」が追加された.]
3.1.20
全体的にきれい
製造残留物、汚れ、油、グリース、加工 破片(3.1.18) 、または目視検査に基づくその他の異物がないこと
注記 1:このレベルは、汚染に敏感なハードウェアには適用されない。
[SOURCE:ISO 14952-1:2003, 2.12, modified — 略語「GC」は削除された。]
3.1.21
地上支援機器
GSE
打ち上げ、着陸、または回収サイトでの宇宙システムの輸送、受け取り、取り扱い、組み立て、検査、テスト、チェックアウト、サービス、打ち上げ、および回収の操作をサポートするために必要な非飛行システム、機器またはデバイス
[出典:ISO 14625:2007, 3.1.5]
3.1.22
インターフェイス制御ドキュメント
ICD
システム、サブシステム、およびその他の要素の間の境界で制御する必要がある特性を記述した仕様。
3.1.23
微生物
生命機能を遂行するように構成された微視的な個体
注記1:微生物には、細菌、原生動物、酵母、カビ、菌類、藻類などの生物、およびウイルスや寄生虫などの生殖のために他の生命体に依存する生物が含まれます。
注記2多細胞生物及び微生物の凝集体は肉眼で見えることがある。
3.1.24
分子汚染
表面への分子の堆積、または気体または液体中の分子の存在による汚染
3.1.25
安静時に
クリーンルーム (3.1.7) or クリーンゾーン (3.1.9) に機器が設置され、合意された方法で操作されているが、人員が存在しない状態
[出典:ISO 14644-1:2015, 3.3.2]
3.1.26
操作可能な
クリーンルーム(3.1.7) or クリーンゾーン(3.1.9) が指定された方法で機能し,装置が作動し,指定された数の人員がいる合意された状態。
[出典:ISO 14644-1:2015, 3.3.3]
3.1.27
ガス抜き
液体または固体物質から大気中への気体生成物の進化
注記 1:これは、人間の健康への医学的影響を考慮して、居住可能な容積で適用するためのものです。
3.1.28
ガス抜き
材料からの気体種の発生、通常は真空中
3.1.29
粒子
観測可能なサイズの固体または液体の物質の単位
[出典:ISO 14952-1:2003, 2.20]
3.1.30
粒子濃度
<表面上>単位面積あたりの 粒子数(3.1.29)
3.1.31
粒子濃度
<体積による>流体の単位体積あたりの 粒子(3.1.29) の数
3.1.32
責任組織
汚染および清浄度管理プログラム(3.1.13) に責任を持ち、プログラムを実行するために必要な権限とリソースを提供される組織
3.1.33
質量損失の回復
RML
wRML = wTML − wWVR
どこ| w_ | は、回収された質量損失 (%) です。 | |
| w_ | 初期質量に対する総質量損失の比率 (%) です。 | |
| w_ | 回収された 水蒸気(3.1.42) の初期質量に対する比率(パーセント)。 |
注記 1いくつかの宇宙システム(5.6.3 を参照)にとって水は重大な 汚染物質(3.1.11) ではないため,RML の量が導入されている。ほとんどの場合、WVR の値はガス放出された水の質量の値に似ています。ただし、WVR は、標本から流出した水の質量と正確に同じではありません。したがって、RML は、水以外の質量損失の実際の値と等しくありません。
3.1.34
機密性の高いハードウェア
汚染によって劣化する可能性のあるハードウェア
3.1.35
重要な表面
確立された 清浄度レベル (3.1.5) 要件を満たすために必要なアイテムまたは製品の表面
3.1.36
宇宙船の充電
表面に衝突する低エネルギーの電子束に起因する宇宙船表面の静電ポテンシャルの増加
3.1.37
不妊症
生存 微生物の不在(3.1.23)
注記1不活化された微生物は依然として 生物汚染の重要な形態である可能性がある (3.1.3) .
3.1.38
サプライヤー
プロバイダ
製品またはサービスを提供する組織
例:
製品またはサービスの生産者、流通業者、小売業者、またはベンダー。
注記 1プロバイダーは、組織の内部または外部に存在する可能性があります。
注記 2:契約上の状況では、プロバイダーは「契約者」と呼ばれることがあります。
[出典:ISO 9000:2015, 3.2.5, 修正 — 「プロバイダー」は認められた用語に変更されました。]
3.1.39
表面の清浄度
重要な表面の汚染レベル(3.1.35)
3.1.40
全質量損失
TML
指定された一定温度及び動作圧力で指定された時間維持され,試験チャンバー内で測定された試験片からガス放出された物質の総質量。
注記 1: TML は、初期試験片質量のパーセンテージとして表されます。
3.1.41
目に見えてきれい
指定された光源と入射角、視野距離と角度、および通常または拡大視野を使用して検査した場合、表面の汚染がないこと
注記1:このレベルは精密洗浄法を必要とするが, 粒子(3.1.30) のカウントは任意でよい。
注記2蛍光は,例えば炭化水素による汚染の可能性を示す。
注記3:再洗浄しても蛍光表示が除去されない場合は、品目の材料が自然に蛍光を発するかどうか、または洗浄方法が適切かどうかを判断するために調査を行う必要があります。
[SOURCE:ISO 14952-1:2003, 2.35, modified — 略語「VC」は削除された。]
3.1.42
水蒸気が回復した
WVR
指定された相対 湿度 雰囲気 ( 通常 50 % 23 °C または 20 °C で 65 %) で 24 時間
グレード 1 からエントリー:素材によっては、24 時間以上水を吸収し続けるものがあります。さまざまな時間 (24 時間、48 時間、72 時間など) 後に質量測定を繰り返すと、材料の吸水性をよりよく理解できます。
3.2 略語
| AIT | 組み立て、統合、およびテスト |
| おー | 原子状酸素 |
| ボル | (運用またはミッション)人生の始まり |
| CCCP | 汚染および清浄度管理計画 |
| CRS | 清浄度要求仕様 |
| CVCM | 収集された揮発性凝縮性物質 |
| ECSS | 宇宙標準化のための欧州協力 |
| EOL | (運用またはミッション) 寿命の終わり |
| ESA | 欧州宇宙機関 |
| ESA | 露出面積 |
| ESD | 静電放電 |
| GSE | 地上支援機器 |
| GSFC | ゴダード宇宙飛行センター (NASA) |
| ICD | インターフェイス制御ドキュメント |
| IEST | 環境科学技術研究所(アメリカ) |
| JAXA | 宇宙航空研究開発機構 |
| NASA | 米国航空宇宙局 (USA) |
| NPD | NASAの政策指令 |
| NPG | NASA の手順とガイドライン |
| RML | 質量損失の回復 |
| TML | 全質量損失 |
| 紫外線 | 紫外線 |
| WVR | 水蒸気が回復した |
参考文献
国際規格
| [1] | ISO 9000:2015, 品質管理システム — 基礎と語彙 |
| [2] | ISO 10795:2019, 宇宙システム - プログラム管理と品質 - 語彙 |
| [3] | ISO 11221:2011, 宇宙システム — 宇宙ソーラー パネル — 宇宙機の充電による静電放電試験方法 |
| [4] | ISO 14625:2007, 宇宙システム - 打ち上げ、着陸、または回収サイトで使用するための地上支援機器 - 一般要件 |
| [5] | ISO 14644-2, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 2: 粒子濃度による空気清浄度に関連するクリーンルームのパフォーマンスの証拠を提供するためのモニタリング |
| [6] | ISO 14644-3, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 3: 試験方法 |
| [7] | ISO 14644-4, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 4: 設計、建設、立ち上げ |
| [8] | ISO 14644-5:2004, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 5: 操作 |
| [9] | ISO 14644-7, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 7: 分離装置 (クリーン エア フード、グローブ ボックス、アイソレーター、ミニ環境) |
| [10] | ISO 14644-8, クリーンルームおよび関連する管理された環境 — 8: 化学物質濃度による空気清浄度の評価 (ACC) |
| [11] | ISO 14952-1:2003, 宇宙システム — 流体システムの表面清浄度 — 1: 語彙 |
| [12] | ISO 15859-3, 宇宙システム — 流体特性、サンプリングおよび試験方法 — 3: 窒素 |
| [13] | ISO 15859-4, 宇宙システム — 流体特性、サンプリングおよび試験方法 — 4: ヘリウム |
| [14] | ISO 15859-9, 宇宙システム — 流体特性、サンプリングおよび試験方法 — 9: アルゴン |
ECSS 文書
| [15] | ECSS-Q-ST-70-01C, 宇宙製品保証 — 清浄度と汚染管理 |
| [16] | ECSS-U-ST-20C - 宇宙の持続可能性 - 惑星の保護 (2019 年 8 月 1 日) |
| [17] | ECSS-Q-ST-70-58C - クリーンルームのバイオバーデン管理 |
| [18] | ECSS-E-10-04A 宇宙工学 - 宇宙環境 |
NASAの文書
| [19] | NPD 8020.7E, アウトバウンドおよびインバウンドの惑星探査機の生物学的汚染管理 |
| [20] | NPG 8020.12B, ロボット地球外ミッションのための惑星保護規定 |
IEST 文書
| [21] | IEST-STD-CC1246, 製品の清浄度レベルおよび汚染管理プログラム |
| [22] | IEST-RP-CC003, クリーンルームおよびその他の管理された環境のための衣服システムに関する考慮事項 |
| [23] | IEST-RP-CC003.2 (補足)、微生物学的に管理された環境のための衣服滅菌に関する考慮事項 |
| [24] | IEST-RP-CC006, クリーンルームのテスト |
| [25] | IEST-RP-CC012, クリーンルーム設計の考慮事項 |
| [26] | IEST-RP-CC016, クリーンルームにおける不揮発性残留物の堆積速度 |
| [27] | IEST-RP-CC022, クリーンルームおよびその他の管理された環境での静電気帯電 |
| [28] | IEST-RP-CC023, クリーンルームの微生物 |
| [29] | IEST-RP-CC026, クリーンルーム オペレーション |
ASTM 文書
| [30] | ASTM E1216, テープリフトによる粒子汚染のサンプリングの標準プラクティス |
| [31] | ASTM E1235, 宇宙船の環境管理区域における不揮発性残留物 (NVR) の重量測定の標準試験方法 |
| [32] | ASTM E1548, 航空宇宙汚染管理計画の準備のための標準プラクティス |
| [33] | ASTM E1549, 非危険および危険な操作のための宇宙船のクリーンルームおよび管理された環境で必要な ESD 管理された衣服の標準仕様 |
| [34] | ASTM E1559, 宇宙船材料の汚染ガス放出特性の標準試験方法 |
| [35] | ASTM E1560, クリーンルーム ワイパーからの不揮発性残留物の重量測定の標準試験方法 |
| [36] | ASTM E1731, クリーンルーム手袋からの不揮発性残留物の重量測定のための標準試験方法 |
| [37] | ASTM E1997, 宇宙船材料の選択に関する標準プラクティス |
| [38] | ASTM E2042, 管理区域とクリーンルームの清掃と維持のための標準プラクティス |
| [39] | ASTM E2088, クリーンルームおよび関連する管理された環境での粒子沈着を測定するための証面の選択、準備、露出、および分析のための標準プラクティス |
| [40] | ASTM E2090, 光学および走査型電子顕微鏡を使用したクリーンルーム ワイパーから放出された粒子および繊維のサイズ微分計数の標準試験方法 |
| [41] | ASTM F50, シングル サブ マイクロメートル以上の粒子を検出できる機器を使用した、粉塵管理区域およびクリーン ルームにおける空中浮遊粒子の継続的なサイジングおよび計数の標準プラクティス |
| [42] | ASTM F51, クリーンルームの衣服内および衣服上の粒子状汚染物質のサイジングおよびカウントのための標準試験方法 |
その他のドキュメント
| [43] | COSPARの惑星保護方針、 |
| [44] | 月およびその他の天体を含む宇宙空間の探査および利用における国家活動を律する原則に関する国際連合条約、第 IX 条、1967 年 10 月 10 日 |
3 Terms, definitions and abbreviated terms
3.1 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
3.1.1
bakeout
activity of increasing the temperature of hardware to accelerate its outgassing (3.1.28) rates with the intent of reducing the content of molecular contaminants (3.1.11) within the hardware
Note 1 to entry: Bakeout is usually performed in a vacuum environment but may be done in a controlled atmosphere.
3.1.2
bioaerosol
dispersed biological agents [e.g. viable particles (3.1.29) , allergens, toxins or biologically active compounds of microbial origin] in a gaseous environment
3.1.3
biocontamination
contamination of materials, devices, individuals, surfaces, liquids, gases or air with viable particles (3.1.29)
3.1.4
clean bench
table or bench-top working surface where a filtered airflow is concentrated across the bench top
Note 1 to entry: These bench tops have an established classification of maximum allowable airborne contaminants (3.1.11) .
3.1.5
cleanliness level
established maximum allowable amount of contamination in a given area or volume, or on a component
Note 1 to entry: The term may also apply to the predicted or measured extent of contamination.
3.1.6
cleanliness requirement specification
CRS
document that defines and identifies the spacecraft items and the environmental areas which are sensitive to contamination, the acceptable contamination levels at beginning and end of life and the applicable contamination environment
3.1.7
cleanroom
room within which the number concentration of airborne particles (3.1.29) is controlled and classified, and which is designed, constructed and operated in a manner to control the introduction, generation and retention of particles inside the room
Note 1 to entry: The class of airborne particle concentration (3.1.30 and 3.1.31) is specified.
Note 2 to entry: Levels of other cleanliness attributes such as chemical, viable or nanoscale concentrations in the air, and also surface cleanliness (3.1.39) in terms of particle, nanoscale, chemical and viable concentrations might also be specified and controlled.
Note 3 to entry: Other relevant physical parameters might also be controlled as required, e.g. temperature, humidity, pressure, vibration and electrostatic.
[SOURCE:ISO 14644-1:2015, 3.1.1]
3.1.8
cleanroom garment
clothing designed, manufactured and worn specifically to prevent contamination of hardware by personnel working in the cleanroom (3.1.7)
Note 1 to entry: Cleanroom garments include all items worn by personnel, such as coveralls, frocks, gloves, boots, finger cots and beard covers.
3.1.9
clean zone
defined space within which the number concentration of airborne particles (3.1.29) is controlled and classified, and which is constructed and operated in a manner to control the introduction, generation and retention of contaminants (3.1.11) inside the space
Note 1 to entry: The class of airborne particle concentration (3.1.30 and 3.1.31) is specified.
Note 2 to entry: Levels of other cleanliness attributes such as chemical, viable or nanoscale concentrations in the air, and also surface cleanliness (3.1.39) in terms of particle, nanoscale, chemical and viable concentrations might also be specified and controlled.
Note 3 to entry: A clean zone(s) can be a defined space within a cleanroom (3.1.7) or might be achieved by a separative device. Such a device can be located inside or outside a cleanroom.
Note 4 to entry: Other relevant physical parameters might also be controlled as required, e.g. temperature, humidity, pressure, vibration and electrostatic.
[SOURCE:ISO 14644-1:2015, 3.1.2]
3.1.10
collected volatile condensable material
CVCM
mass that outgasses from a material and subsequently condenses on a collector, expressed as a percentage of the initial specimen mass
3.1.11
contaminant
unwanted molecular or particulate matter that can affect or degrade the relevant performance or lifetime of the hardware to which it is attached
3.1.12
contamination
introduction of any undesirable molecular or particulate matter (including microbiological matter) into an item or into the environment of interest
[SOURCE:ISO 10795:2019, 3.62]
3.1.13
contamination and cleanliness control programme
organized effort to establish and achieve acceptable cleanliness and contamination levels during all phases of the space system project
3.1.14
contamination and cleanliness control plan
CCCP
document that describes how to implement a contamination and cleanliness control programme (3.1.13) , as either an independent document or a part of the consolidated project plan
3.1.15
contamination budget
allowable levels of contamination of hardware at each phase of ground and flight operations
3.1.16
contamination profile
contamination-related conditions in each phase of ground and flight operations
Note 1 to entry: Conditions include airborne particulate cleanliness classes, pressure, humidity, temperature, number of personnel engaged in operations, cleaning activities, outlines of facilities and so on.
Note 2 to entry: The contamination profile is part of the contamination and cleanliness control plan (CCCP) (3.1.14) .
3.1.17
cross-contamination
transfer of contaminants (3.1.11) from one surface or component to another
Note 1 to entry: Transfer can occur by migration along a surface, by physical contact, airborne as an aerosol, or as a gas or molecular matter.
3.1.18
debris
solid objects with their largest dimension greater than approximately 1 mm (1 000 μm) in size
3.1.19
electrostatic discharge
ESD
electrical breakdown of dielectric or gas or vacuum gaps, and also of surface interface of dissimilar materials, caused by differential charging of parts of dielectric materials and their interfaces
[SOURCE:ISO 11221:2011, 2.10, modified — The abbreviated term"ESD" has been added.]
3.1.20
generally clean
free from manufacturing residue, dirt, oil, grease, processing debris (3.1.18) , or other extraneous contamination based on visual examination
Note 1 to entry: This level does not apply to hardware that is sensitive to contamination.
[SOURCE:ISO 14952-1:2003, 2.12, modified — The abbreviated term"GC" has been removed.]
3.1.21
ground support equipment
GSE
non-flight systems, equipment or devices necessary to support the operations of transporting, receiving, handling, assembly, inspection, test, checkout, servicing, launch and recovery of a space system at launch, landing or retrieval sites
[SOURCE:ISO 14625:2007, 3.1.5]
3.1.22
interface control document
ICD
specification that describes the characteristics that must be controlled at the boundaries between systems, subsystems and other elements
3.1.23
microorganism
microscopical individual constituted to carry out life functions
Note 1 to entry: Microorganisms include organisms such as bacteria, protozoa, yeasts, moulds, fungi, algae and organisms that depend upon other life forms for reproduction such as viruses and parasites.
Note 2 to entry: Multicellular organisms and agglomerations of microorganisms may be visible to the unaided eye.
3.1.24
molecular contamination
contamination due to deposition of molecules on surfaces or their presence in gases or liquids
3.1.25
at-rest
condition where the cleanroom (3.1.7) or clean zone (3.1.9) is complete with equipment installed and operating in a manner agreed upon, but with no personnel present
[SOURCE:ISO 14644-1:2015, 3.3.2]
3.1.26
operational
agreed condition where the cleanroom (3.1.7) or clean zone (3.1.9) is functioning in the specified manner, with equipment operating and with the specified number of personnel present
[SOURCE:ISO 14644-1:2015, 3.3.3]
3.1.27
offgassing
evolution of gaseous products from a liquid or solid material into an atmosphere
Note 1 to entry: This is for the application in habitable volume considering medical impact on human health.
3.1.28
outgassing
evolution of gaseous species from a material, usually in a vacuum
3.1.29
particle
unit of solid or liquid matter with observable size
[SOURCE:ISO 14952-1:2003, 2.20]
3.1.30
particle concentration
<on surface> number of particles (3.1.29) per unit area
3.1.31
particle concentration
<by volume> number of particles (3.1.29) per unit volume of fluid
3.1.32
responsible organization
organization that is responsible for the contamination and cleanliness control programme (3.1.13) and which is provided with the authority and resources needed to carry out the programme
3.1.33
recovered mass loss
RML
wRML = wTML − wWVR
where| wRML | is the recovered mass loss, in per cent; | |
| wTML | is the ratio of the total mass loss to the initial mass, in per cent; | |
| wWVR | is the ratio of the water vapour regained (3.1.42) to the initial mass, in per cent. |
Note 1 to entry: The quantity RML is introduced because water is not a critical contaminant (3.1.11) for some space systems (see 5.6.3). In most cases, the value of WVR is similar to that of the mass of outgassed water. However, WVR is not exactly the same as the water mass effused from the specimen. Therefore, RML is not equal to the real value of the mass loss other than water.
3.1.34
sensitive hardware
hardware that can be degraded by contamination
3.1.35
significant surface
surface of an item or product that is required to meet established cleanliness level (3.1.5) requirements
3.1.36
spacecraft charging
increase in electrostatic potential on spacecraft surfaces resulting from low-energy electron flux impinging on the surface
3.1.37
sterility
absence of viable microorganisms (3.1.23)
Note 1 to entry: Inactivated microbes can still represent an important form of biocontamination (3.1.3) .
3.1.38
supplier
provider
organization that provides a product or a service
EXAMPLE:
Producer, distributor, retailer or vendor of a product or a service.
Note 1 to entry: A provider can be internal or external to the organization.
Note 2 to entry: In a contractual situation, a provider is sometimes called “contractor”.
[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.2.5, modified —"provider" has been changed to an admitted term.]
3.1.39
surface cleanliness
level of contamination on a significant surface (3.1.35)
3.1.40
total mass loss
TML
total mass of material outgassed from a test specimen that is maintained at a specified constant temperature and operating pressure for a specified time and measured within the test chamber
Note 1 to entry: TML is expressed as a percentage of the initial specimen mass.
3.1.41
visibly clean
absence of surface contamination when examined using a specified light source and angle of incidence, viewing distance and angle, and normal or magnified vision
Note 1 to entry: This level requires precision-cleaning methods but a particle (3.1.30) count may be optional.
Note 2 to entry: Fluorescence indicates possible contamination by, for example, a hydrocarbon.
Note 3 to entry: If recleaning fails to remove fluorescent indications, an investigation should be made to determine if the item material is naturally fluorescent or if the cleaning method is adequate.
[SOURCE:ISO 14952-1:2003, 2.35, modified — The abbreviated term"VC" has been removed.]
3.1.42
water vapour regained
WVR
mass of water vapour absorbed by a test specimen, after determination of total mass loss (TML) (3.1.40) and collected volatile condensable material (CVCM) (3.1.10) , on exposure to a specified relative humidity atmosphere (usually 50 % at 23 °C or 65 % at 20 °C) for 24 h
Note 1 to entry: Some types of materials continue to absorb water for longer than 24 h. Repeated mass measurements after various time periods (e.g. 24 h, 48 h and 72 h) give a better understanding of the material's water absorbency.
3.2 Abbreviated terms
| AIT | assembly, integration and test |
| AO | atomic oxygen |
| BOL | beginning of (operational or mission) life |
| CCCP | contamination and cleanliness control plan |
| CRS | cleanliness requirement specification |
| CVCM | collected volatile condensable material |
| ECSS | European Cooperation for Space Standardization |
| EOL | end of (operational or mission) life |
| ESA | European Space Agency |
| ESA | exposed surface area |
| ESD | electrostatic discharge |
| GSE | ground support equipment |
| GSFC | Goddard Space Flight Center (NASA) |
| ICD | interface control document |
| IEST | Institute of Environmental Sciences and Technology (USA) |
| JAXA | Japan Aerospace Exploration Agency |
| NASA | National Aeronautics and Space Administration (USA) |
| NPD | NASA policy directive |
| NPG | NASA procedures and guidelines |
| RML | recovered mass loss |
| TML | total mass loss |
| UV | ultra violet |
| WVR | water vapour regained |
Bibliography
International Standards
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| [2] | ISO 10795:2019, Space systems — Programme management and quality — Vocabulary |
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| [4] | ISO 14625:2007, Space systems — Ground support equipment for use at launch, landing or retrieval sites — General requirements |
| [5] | ISO 14644-2, Cleanrooms and associated controlled environments — 2: Monitoring to provide evidence of cleanroom performance related to air cleanliness by particle concentration |
| [6] | ISO 14644-3, Cleanrooms and associated controlled environments — 3: Test methods |
| [7] | ISO 14644-4, Cleanrooms and associated controlled environments — 4: Design, construction and start-up |
| [8] | ISO 14644-5:2004, Cleanrooms and associated controlled environments — 5: Operations |
| [9] | ISO 14644-7, Cleanrooms and associated controlled environments — 7: Separative devices (clean air hoods, gloveboxes, isolators and mini-environments) |
| [10] | ISO 14644-8, Cleanrooms and associated controlled environments — 8: Assessment of air cleanliness by chemical concentration (ACC) |
| [11] | ISO 14952-1:2003, Space systems — Surface cleanliness of fluid systems — 1: Vocabulary |
| [12] | ISO 15859-3, Space systems — Fluid characteristics, sampling and test methods — 3: Nitrogen |
| [13] | ISO 15859-4, Space systems — Fluid characteristics, sampling and test methods — 4: Helium |
| [14] | ISO 15859-9, Space systems — Fluid characteristics, sampling and test methods — 9: Argon |
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| [35] | ASTM E1560, Standard Test Method for Gravimetric Determination of Nonvolatile Residue from Cleanroom Wipers |
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Other documents
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| [44] | United Nations Treaty on Principles Governing the Activities of States in the Exploration and Use of Outer Space, including the Moon and Other Celestial Bodies, Article IX, 10 October 1967 |