ISO 25498:2018 マイクロビーム分析—分析電子顕微鏡法—透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析 | ページ 5

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

2 規範的参照

以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO/IEC 17025, 試験および校正機関の能力に関する一般要件

2 Normative references

The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO/IEC 17025, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories