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A 1415 : 2013
図1−試験片の配置替え方法例
5.10 試験片の取付け
試験片は,試験槽内の試験片ホルダに取り付ける。試験片の取付けは,均一な暴露状態が確実に得られ
るよう暴露領域に空き部分がないように行う。暴露領域に空き部分がある場合は,ダミーの試験片を試験
片ホルダに取り付ける。他の試験片を汚染させる可能性がある場合は,同時に暴露を行ってはならない。
6 試験方法
6.1 キセノンアークランプによる暴露試験方法
キセノンアークランプによる暴露試験方法の主な試験条件を表2に示す。試験条件の詳細は,JIS K
7350-2による。ただし,ブラックパネル温度は,JIS K 7350-2に規定する温度のうち,63±3 ℃の条件と
する。また,相対分光放射照度の分布を表3及び表4に示す。
注記 各種フィルタの種類による分光透過率の例を,附属書Aに示す。
――――― [JIS A 1415 pdf 6] ―――――
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表2−キセノンアークランプによる暴露試験方法の試験条件
WX-A法
サイ 暴露 放射照度b) ブラック 槽内温度 相対湿度d)
クル サイクルa) 広帯域 狭帯域 パネル温度c)
No. (300 nm400 nm) (340 nm)
W/m2 W/(m2・nm) ℃ ℃ %
1 102分間照射 60±2 0.51±0.02 63±3 38±3 50±10 b)
18分間照射 60±2 0.51±0.02 − − −
及び水噴霧
2 102分間照射 60±2 0.51±0.02 63±3 制御なし 50±10又は
制御なし
18分間照射 60±2 0.51±0.02 − − −
及び水噴霧
WX-B法
サイ 暴露 放射照度b) ブラック 槽内温度 相対湿度d)
クル サイクルa) 広帯域 狭帯域 パネル温度c)
No. (300 nm400 nm) (420 nm)
W/m2 W/(m2・nm) ℃ ℃ %
3 連続照射 50±2 1.10±0.02 63±3 38±3 50±10 b)
4 連続照射 50±2 1.10±0.02 63±3 制御なし 50±10又は
制御なし
注記 ±の範囲は,放射照度,ブラックパネル温度,槽内温度及び相対湿度の平衡状態における設定値からの許容
範囲である。これは,設定値を±の範囲で変更できることを意味しない。
60±2を例に挙げると,60は設定値で変更することは許されず,±2は制御するときの許容範囲を示すもの
である。
注a) 受渡当事者間の協定によって,その他のサイクルで実施してもよい。例えば,48分間照射後,12分間照射及
び水噴霧の条件などがある。
b) 放射照度設定値は,歴史的に用いてきた値であり,この値は,290 nm800 nmにおいて550 W/m2に相当す
る。
c) 受渡当事者間の協定によってその他の温度に変更してもよい。また,受渡当事者間の協定によって,ブラッ
クスタンダード温度によってもよい。この場合,ブラックパネル温度との相関を求めておく必要がある。
d) 湿度に敏感な材質では,(65±10) %の相対湿度の条件とすることが望ましい。
――――― [JIS A 1415 pdf 7] ―――――
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表3−WX-A法の相対分光放射照度の分布a), b)
分光波長域 最小値c) CIE No.85の表4 d), e) 最大値c)
λ : 波長(nm) % %
λ<290 − − 0.15
290≦λ≦320 2.6 5.4 7.9
320<λ≦360 28.2 38.2 39.8
360<λ≦400 54.2 56.4 67.5
注a) この表は,指定の波長域における放射照度を,290 nm400 nmの放射照度に対する百分率で示す。相
対分光放射照度の測定は,通常2 nmごとに行う。特殊フィルタを通したキセノンアークランプの相
対分光放射照度を求めるには,250 nm400 nmの分光放射照度を測定する。次いで,個々の波長域の
放射照度を集計し,250 nm400 nmの放射照度で除す。
b) この表の最小値及び最大値は,異なる製造ロット及び各種経時変化したデイライトフィルタを通し
た,製造業者の推奨する水冷及び空冷のキセノンアークランプの100以上の分光放射照度分布のデー
タを基にしている(参考文献[4]参照)。さらに,多くの分光放射照度分布が得られれば,許容範囲の
小規模な変更は可能である。最小値及び最大値は,全ての測定値の平均値から3 σ以内である。
c) 最小値及び最大値の欄は,測定値の最小値及び最大値を記載しているので,合計は必ずしも100 %に
ならない。個々の相対分光放射照度分布の百分率の合計は,この表の波長域で計算すると100 %にな
る。個々のデイライトフィルタを通したキセノンアークランプの放射照度の,各波長域中の計算され
た割合は,この表の最小値と最大値との間に入ることを確認する。許容範囲と異なる相対分光放射照
度分布のキセノンアーク装置での試験結果は,異なることがある。用いたキセノンアークランプ及び
フィルタの相対分光放射照度分布のデータについては,試験装置の製造業者から入手する。
d) IE No.85の表4(参考文献[3]参照)の値は,エアマス1.0,標準気圧での大気オゾン含有量0.34 cm,
下降水量1.42 cm及び500 nmでの混濁係数0.1のときにおける水平面全天放射照度である。これらは,
デイライトフィルタを通したキセノンアークランプの目標値である。これらの値を比較のために示
す。
e) IE No.85の表4に代表される太陽光について,290 nm800 nmの放射照度との百分率で示すと,紫
外放射(290 nm400 nm)は11 %で,可視放射(400 nm800 nm)は89 %である。キセノンアーク
ランプで暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は,暴露される試験片の数及び
反射特性によって異なることがある。
――――― [JIS A 1415 pdf 8] ―――――
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表4−WX-B法の相対分光放射照度の分布a), b)
分光波長域 最小値c) CIE No.85の表4の窓ガ 最大値c)
λ : 波長(nm) ラスフィルタの影響を加
えた値d), e)
% % %
λ<300 − − 0.29
300≦λ≦320 0.1 1以下 2.8
320<λ≦360 23.8 33.1 35.5
360<λ≦400 62.4 66.0 76.2
注a) この表は,指定の波長域における放射照度を,290 nm400 nmの放射照度に対する百分率で示す。相
対分光放射照度の測定は,通常2 nmごとに行う。特殊フィルタを通したキセノンアークランプの相
対分光放射照度を求めるには,250 nm400 nmの分光放射照度を測定する。次いで,個々の波長域の
放射照度を集計し,290 nm400 nmの放射照度で除す。
b) この表の最小値及び最大値は,異なる製造ロット及び各種経時変化したデイライトフィルタを通し
た,製造業者の推奨する水冷及び空冷のキセノンアークランプの30以上の分光放射照度分布のデー
タを基にしている(参考文献[4]参照)。さらに,多くの分光放射照度分布が得られれば,許容範囲の
小規模な変更は可能である。最小値及び最大値は,全ての測定値の平均値から3 σ以内である。
c) 最小値及び最大値の欄は,測定値の最小値及び最大値を記載しているので,合計は必ずしも100 %に
ならない。個々の相対分光放射照度分布の百分率の合計は,この表の波長域で計算すると100 %にな
る。個々の窓ガラスフィルタを通したキセノンアークランプの放射照度の,各波長域中の計算された
割合は,この表の最小値と最大値との間に入ることを確認する。許容範囲と異なる相対分光放射照度
分布のキセノンアーク装置での試験結果は,異なることがある。用いたキセノンアークランプ及びフ
ィルタの相対分光放射照度分布のデータについては,試験装置の製造業者から入手する。
d) このデータは,CIE No.85(参考文献[3]参照)の表4に窓ガラスの影響を加えた値である。3 mm厚さ
の窓ガラス(JIS K 5600-7-7参照)の分光透過率データをCIE No.85に乗じている。これらは,窓ガ
ラスフィルタを通したキセノンアークランプの目標値である。これらの値を比較のために示す。
e) IE No.85の表4に代表される太陽光について,300 nm800 nmの放射照度との百分率で示すと,紫
外放射(300 nm400 nm)は9 %で,可視放射(400 nm800 nm)は91 %である。キセノンアークラ
ンプで暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は,暴露される試験片の数及び反
射特性によって異なることがある。
――――― [JIS A 1415 pdf 9] ―――――
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6.2 オープンフレームカーボンアークランプによる暴露試験方法
オープンフレームカーボンアークランプによる暴露試験の主な試験条件を表5に示す。試験条件の詳細
は,JIS K 7350-4による。ただし,試験に用いるフィルタは,表5に示すものとする。また,特定波長に
おけるガラス製フィルタの分光透過率を表6に示す。
表5−オープンフレームカーボンアークランプによる暴露試験方法の試験条件
項目 暴露試験方法
WS-A WS-B
カーボンアーク電圧・電流 交流電圧 許容範囲 48 V52 V
設定値 50±1 V
交流電流 許容範囲 58 A62 A
設定値 60±1.2 A
フィルタ 表6のI形又はII形による。 表6のIII形による。
ブラックパネル温度a) 63±3 ℃
相対湿度 (50±5) %(照射安定時)
試験片面への水噴霧サイクルb) 噴霧時間18±0.5分間 水噴霧なし
噴霧停止時間102±0.5分間
照射方法 連続照射
注記1 I形のフィルタは,従来から多くの試験で使用されているもので,昼光の立ち上がり波長より
も短い放射のエネルギーを透過させる。II形のフィルタは,通常,昼光には存在しない波長の
放射を吸収する。III形のフィルタは,単層ガラスの紫外線透過特性を示すように作られている。
注記2 オープンフレームカーボンアークランプのガラス製フィルタは,2 000時間の使用を限度とし,
交換は,例えば,8枚の場合は,2枚ずつを500時間の間隔で交換するとよい。
注a) 受渡当事者間の協定によって,ブラックスタンダード温度によってもよい。この場合,ブラック
パネル温度との相関を求めておく必要がある。
b) 受渡当事者間の協定によって,その他のサイクルで実施してもよい。例えば,水噴霧サイクルは,
噴霧時間12±0.5分間後,噴霧停止時間48±0.5分間の条件などがある。
表6−特定波長におけるガラス製フィルタの分光透過率(使用前)
I形 II形 III形
波長 透過率 波長 透過率 波長 透過率
nm % nm % nm %
255 1以下 275 2以下 295 1以下
302 7186 320 6580 320 40以上
360以上 91以上 400700 90以上 400700 90以上
――――― [JIS A 1415 pdf 10] ―――――
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JIS A 1415:2013の国際規格 ICS 分類一覧
JIS A 1415:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7751:2007
- 紫外線カーボンアーク灯式の耐光性試験機及び耐候性試験機
- JISK7100:1999
- プラスチック―状態調節及び試験のための標準雰囲気
- JISK7350-1:1995
- プラスチック―実験室光源による暴露試験方法 第1部:通則
- JISK7350-1:2020
- プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第1部:通則
- JISK7350-2:2008
- プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第2部:キセノンアークランプ
- JISK7350-4:2008
- プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第4部:オープンフレームカーボンアークランプ
- JISK7362:1999
- プラスチック―アンダーグラス屋外暴露,直接屋外暴露又は実験室光源による暴露後の色変化及び特性変化の測定方法
- JISZ8703:1983
- 試験場所の標準状態