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JIS B 7989:2008 規格概要
この規格 B7989は、工場及び事業所において,各種製造工程などから排出されるガス中の揮発性有機化合物の濃度を自動計測器によって測定する方法について規定。
JISB7989 規格全文情報
- 規格番号
- JIS B7989
- 規格名称
- 排ガス中の揮発性有機化合物(VOC)の自動計測器による測定方法
- 規格名称英語訳
- Measuring method for volatile organic compounds in flue gas by analyzers
- 制定年月日
- 2008年1月20日
- 最新改正日
- 2017年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 13.040.40, 71.040.40
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 環境測定 I-1 2021, 環境測定 I-2 2021, 環境測定 II 2021
- 改訂:履歴
- 2008-01-20 制定日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
- ページ
- JIS B 7989:2008 PDF [26]
B 7989 : 2008
pdf 目 次
ページ
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[1]
- 3 用語及び定義・・・・[1]
- 4 測定方法の概要・・・・[3]
- 5 試料ガスの採取・・・・[3]
- 5.1 試料ガス採取の概要・・・・[3]
- 5.2 試料ガスの採取の準備・・・・[4]
- 5.3 試料ガス採取装置・・・・[4]
- 5.4 試料ガスの採取・・・・[5]
- 5.5 試料ガス採取の記録・・・・[6]
- 5.6 試料ガスの希釈・・・・[6]
- 6 計測器・・・・[7]
- 6.1 計測器の種類及び測定範囲・・・・[7]
- 6.2 計測器の性能・・・・[7]
- 6.3 計測器の構造・・・・[8]
- 6.4 保守・点検・・・・[10]
- 7 測定方法・・・・[11]
- 7.1 測定方法の概要・・・・[11]
- 7.2 測定準備・・・・[11]
- 7.3 計測器による測定・・・・[12]
- 7.4 測定結果の記録及び報告・・・・[12]
- 7.5 測定結果の表示方法・・・・[12]
- 附属書A(規定)計測器の性能試験方法・・・・[14]
- 附属書B(参考)VOCから除く物質(メタンに限る。)の濃度の測定方法・・・・[19]
- 附属書C(参考)VOCから除く物質(メタンを除く。)の濃度の測定方法・・・・[21]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS B 7989 pdf 1] ―――――
B 7989 : 2008
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電気計測器工業会 (JEMIMA) 及
び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS B 7989 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
B 7989 : 2008
排ガス中の揮発性有機化合物 (VOC) の自動計測器による測定方法
Measuring method for volatile organic compounds in flue gas by analyzers
1 適用範囲
この規格は,工場及び事業所において,各種製造工程などから排出されるガス中の揮発性有機化合物(以
下,“VOC”という。)の濃度を自動計測器(以下,“計測器”という。)によって測定する方法について規
定する。試料ガス採取は,捕集バッグによるものとし,計測器の測定原理は,触媒酸化−非分散形赤外線
吸収方式及び水素炎イオン化検出方式に基づくものとする。
注記1 この規格で規定するVOCとは,排出口でガス状の有機化合物のうち大気汚染防止法施行規
則で除外物質と指定された物質を除いた有機化合物の総称である。
注記2 捕集バッグを用いて試料ガスを採取し,VOC濃度を測定する方法が,環境省告示第61号(平
成17年6月10日)として告示されている(附属書B及び附属書C参照)。
注記3 測定に用いる高圧ガス容器の取扱い及び設置は,高圧ガス保安法に合致する。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。これらの引用規
格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS K 0055 ガス分析装置校正方法通則
JIS K 0095 排ガス試料採取方法
JIS K 0151 赤外線ガス分析計
JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
JIS K 0212 分析化学用語(光学部門)
JIS K 0213 分析化学用語(電気化学部門)
JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門)
JIS Z 8103 計測用語
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS K 0211,JIS K 0212,JIS K 0213,JIS K 0215及びJIS Z 8103
によるほか,次による。
3.1
試料ガス
排出口から捕集バッグに採取された排ガス。
――――― [JIS B 7989 pdf 3] ―――――
2
B 7989 : 2008
3.2
ゼロガス
計測器の最小目盛値を校正するために用いるガス。
3.3
スパンガス
計測器の最大目盛値を校正するために用いるガス。
3.4
触媒酸化−非分散形赤外線吸収方式
VOCを加熱した触媒で二酸化炭素に酸化し,その濃度を赤外線の吸収強度から測定する方式で,この規
格ではNDIRという。
なお,非分散形は,光学フィルタ,又は波長選択性がある検出器を用い,波長分散を行う光学系をもた
ない計測器の形式名。
3.5
水素炎イオン化検出方式
水素炎に試料ガスを加えたときに生じるイオン電流を測定して,VOCの濃度を測定する方式。この規格
ではFIDという。
3.6
繰返し性
同一の計測器を用い同一の方法で同一の測定対象ガスを同じ条件で,比較的短い時間に繰り返し測定し
た場合,個々の測定値が一致する度合。
3.7
ゼロドリフト
計測器の最小目盛に対応する指示値の,ある期間の変動。
3.8
スパンドリフト
計測器の最大目盛に対応する指示値の,ある期間の変動。
3.9
感度
プロパンを用いて校正した計測器によって,濃度既知のVOCを含むガスを測定したときに得られる指
示値の値付けされた濃度(分析値)に対する百分率。
3.10
設定流量
計測器に定められた試料ガス,校正ガスなどの流量。
3.11
volppmC
炭素原子数を基準として表したVOC濃度の単位。
3.12
指示誤差
中間点ガスを導入したときの指示値と,その濃度との差の最大目盛に対する百分率。
3.13
――――― [JIS B 7989 pdf 4] ―――――
3
B 7989 : 2008
応答時間
計測器の指示値が,試験用ガスを導入してから最終指示値の90 %に相当する値に達するのに要する応答
遅れ時間 (lag time) と立ち上がり時間 (rise time) とを合わせた時間。
3.14
最小検出限界
ゼロ試験用ガス導入時の指示値の標準偏差を2倍した値の最大目盛に対する百分率。
4 測定方法の概要
排出口から排ガスを容器に吸引採取した後に,容器中の試料ガスを計測器に導入してVOC濃度を測定
する方法で,容器に捕集バッグを用いる。試料ガス中のVOC濃度が計測器の測定範囲を超える場合は,
測定範囲内の濃度となるように希釈した後に,測定する。この測定のフロー例を,図1に示す。
試料ガスの採取の準備
試料ガス採取装置
試料ガスの採取
試料ガスの輸送・保存
試料ガス中のVOC濃度が計測器
の測定範囲を超える場合
希釈は必要か
はい
いいえ
試料ガスの希釈
測定の準備
計測器の校正
計測器による測定
測定結果の記録及び報告
図1−排ガス中のVOC濃度測定のフロー例
5 試料ガスの採取
5.1 試料ガス採取の概要
試料ガスを採取するときは,施設の代表的なVOC排出濃度が把握できる採取条件,試料採取時の防爆
対策の必要性,VOCから除外される物質などについて,事前に調査する。また,捕集バッグを用いて排ガ
――――― [JIS B 7989 pdf 5] ―――――
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JIS B 7989:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.040 : 気質 > 13.040.40 : 固定施設からの発生ガス
JIS B 7989:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISK0055:2002
- ガス分析装置校正方法通則
- JISK0095:1999
- 排ガス試料採取方法
- JISK0151:1983
- 赤外線ガス分析計
- JISK0211:2013
- 分析化学用語(基礎部門)
- JISK0212:2016
- 分析化学用語(光学部門)
- JISK0213:2014
- 分析化学用語(電気化学部門)
- JISK0215:2016
- 分析化学用語(分析機器部門)
- JISZ8103:2019
- 計測用語