JIS C 8117:2008 蛍光灯電子安定器 | ページ 4

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c) ランプに接続される計器の電流回路コイルのインピーダンスは,その電圧降下が,ランプ電圧の2 %
    以下となるような十分低いものとする。
d) 計器の大地に対する静電容量成分が,供試安定器の動作を妨げないようにする。

6.2 試験方法

6.2.1  構造及び表示試験
  構造,端子,保護接地,口出線,コンデンサ,充電部との偶発接触からの保護,電源からの絶縁,沿面
距離及び空間距離,並びに表示試験は,目視又は適切な測定器具によって行う。
6.2.2  二次電圧試験
  二次電圧試験は,JIS C 8147-1の附属書1の4.1による。
6.2.3  二次短絡電流試験
  二次短絡電流試験は,JIS C 8147-1の附属書1の4.2による。
6.2.4  ランプ電流及び光出力試験
  ランプ電流及び光出力試験は,供試及び試験用安定器を例えば,図3のように接続し,ランプ電流は,
供試安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えて測定し,供試安定器に表示された定格二次電流値に
対する比を求める。光出力は,供試安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときと,試験用安定
器に定格入力周波数の試験用基準電圧を加えたときの比を求める。ただし,試験用ランプの定格値からの
誤差の百分率(%)を比に加えて補正してもよい。
  供試安定器の測定値の変化が無視し得る程度のものであるか,その補正が可能なものは,図4のa) 又
はb) のように接続して試験してもよい。試験のときは,次の事項に留意する。
a) 光出力の測定は,ランプ中央部から一定の距離に固定した照度計などによって測定する。この場合,
    受光部をランプ以外の光から遮へいする。
b) 安定器からランプ電流測定のための中間導線を設けてあるものは,その両端に電流計を接続して測定
    する。
c) ラピッドスタート形ランプを試験用安定器によって点灯する場合は,陰極予熱変圧器を用いるが,こ
    の二次電圧は,主回路の電圧を増加させないように接続し,その定格二次電圧は3.6 Vとする。
d) 高周波専用ランプを試験用安定器で始動させる場合の陰極予熱電圧は,6 Vとし始動後は陰極予熱は
    行わない[図3 c) のスイッチSW2を開く。]。

――――― [JIS C 8117 pdf 16] ―――――

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                                a) スタータ形ランプを使用するもの
                             b) ラピッドスタート形ランプを使用するもの
                               図3−ランプ電流及び光出力測定回路

――――― [JIS C 8117 pdf 17] ―――――

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                               c) 高周波専用形ランプを使用するもの
                           図3−ランプ電流及び光出力測定回路(続き)
6.2.5  光出力変動率試験
  光出力変動率試験は,6.2.4の光出力試験における安定器接続と同一回路を用い,同試験用ランプを負荷
とし,供試安定器と試験用安定器とに定格周波数で,定格入力電圧及び試験用基準電圧の90 %及び110 %
の電圧を切り換えて加えたとき,それぞれの印加電圧における供試安定器による光出力の試験用安定器に
よる光出力に対する比を求める。
6.2.6  ランプ電流波形試験
  ランプ電流波形試験は,適合ランプを負荷とし,供試安定器に定格周波数の定格入力電圧を加え,ラン
プの動作が正常になったときのランプ電流の波形を陰極線オシロスコープなどで調べる。
  測定回路の一例を,図4に示す。

――――― [JIS C 8117 pdf 18] ―――――

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        a) 検出抵抗による方法(片側の陰極予熱を遮断したとき,安定器の動作が影響を受けない場合)
         b) 検出抵抗による方法(片側の陰極予熱を遮断したとき,安定器の動作が影響を受ける場合)
                                  図4−ランプ電流波形測定回路

――――― [JIS C 8117 pdf 19] ―――――

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                                    c) 電流プローブによる方法
              図4 b) のように擬似陰極負荷抵抗,又はランプの陰極を付加して測定してもよい。
              ランプ電流を測定するときには,正規の接続状態に比べ,光出力の変化が3 %以下に
            なるように図4 a) 又は図4 b) のいずれかを用いて測定を行う。
            注a)   による電圧降下は,ランプ電圧の2 %以下とする。
              b) ランプ電流波形を測定する場合,陰極線オシロスコープ (CRO) の電源入力を絶縁
                 変圧器で電気的に絶縁するなど,供試安定器の回路動作が変化しないように,適切
                 な処置をしたうえで測定する。
                              図4−ランプ電流波形測定回路(続き)
6.2.7  入力電流及び入力電力試験
  入力電流及び入力電力試験は,供試安定器を図5のように接続し,試験用ランプを負荷とし,供試安定
器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えて,入力電流及び入力電力を測定する。
                               図5−入力電流及び入力電力測定回路
6.2.8  回路力率試験
  回路力率試験は,6.2.7の測定値を用い,次の式によって求める。
                             W
                            V  A
                      ここに,          力率
                                V :  定格入力電圧 (V)
                                W :  定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときの,入力電力 (W)
                                A :  定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときの,入力電流 (A)
6.2.9  磁気影響による電流値の変動率試験
  磁気影響による電流値の変動率試験は,試験用ランプを負荷とし,定格入力周波数の定格入力電圧を加

――――― [JIS C 8117 pdf 20] ―――――

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