JIS K 6932:2018 再生プラスチック製標識くい | ページ 3

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7.7 耐候性

7.7.1  一般
  耐候性試験は,プラスチック製キャップに対して行う。
7.7.2  装置
  装置は,次に示すものを用いる。
a) 試験機 試験機は,JIS A 1415に規定する実験室光源WX形又はWS形を用いる。
b) 測色計 測色計は,JIS Z 8722の5.3.1の“a) 幾何条件a”に規定する照明及び受光の幾何学条件をも
    つ測色計を用いる。
7.7.3  試験片
  試験片は,くいの上部に付けるキャップから30 mm70 mm程度の正方形を切り取る。
7.7.4  操作
  JIS A 1415によって200時間暴露し,暴露前後のL*a*b*系による色差ΔEab*を求める。

7.8 環境に与える影響など

  製品が環境に与える影響などについての試験(以下,環境安全性試験という。)が必要な場合は,受渡当
事者間の協定による(附属書A及び附属書Bに例を示す。)。

8 検査

8.1 一般

  製品の検査は,性能検査と受渡検査とに区分して行う。

8.2 性能検査

  環境安全性に関する項目を除く性能検査は,圧縮強さ,衝撃強さ,耐熱性及び耐候性について行う。検
査は,7.4,7.5,7.6及び7.7に従って行い,それぞれの試験において,表1に規定する性能に適合しなけ
ればならない。
  検査品の個数及び検査の頻度は,合理的な方法で製造業者が決定する。
  なお,製造業者は,試験実施日,実施場所及び性能検査の結果を,性能試験報告書として保管しておか
なければならない。また,環境安全性試験を行う場合は,受渡当事者間の協定による。

8.3 受渡検査

  受渡検査は,外観,形状及び寸法について行う。検査は,7.2及び7.3に従って行い,4.1,箇条5及び箇
条6に規定する項目に適合しなければならない。
  なお,各項目の検査品の個数は,受渡当事者間の協定による。

9 試験報告書

  受渡検査の試験報告書には,少なくとも次の事項を記載しなければならない。
a) この規格番号(この規格に基づいて試験を行ったことの記載)
b) 試験実施日及び実施場所
c) 試験結果
  性能検査の結果要求があった場合には,8.2に規定した性能試験報告書を提出する。

――――― [JIS K 6932 pdf 11] ―――――

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K 6932 : 2018

10 呼び方

  くいの呼び方は,次の構成による(表6及び表7参照)。
− この規格番号(JIS K 6932又はK 6932)
− 材料を示す記号
− 頭部辺長(D)
− くいの長さ(L)
                                       表6−くいの呼び方
                        規格番号 −X−nnn−nnnn
                                                          長さ(L)
                                                          頭部辺長(D)
                                                          材料
                                     呼び方に用いる記号の定義
         材料                R      再生プラスチック
         頭部辺長(D)       nnn    mm単位で表した基準寸法とする。
         長さ(L)          nnnn    mm単位で表した基準寸法とする。
                                        表7−呼び方の例
                                                                    単位 mm
                                呼び方の例                      寸法
                                                           D           L
                   JIS K 6932−R−45−450                  45         450
                      K 6932−R−90−900                   90         900

11 表示

  製品又は包装若しくは結束には,次の事項を表示しなければならない。
a) 箇条10に規定する呼び方
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月又はその略号

――――― [JIS K 6932 pdf 12] ―――――

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                                          附属書A
                                          (参考)
                    環境安全性試験−重金属の溶出試験(例A)
  再生プラスチック製標識くいの組成物が,人体及び環境に有害な影響を及ぼすものを,有害量を含まな
いことを確認するための試験項目及び試験方法の例を表A.1示す。判断基準には,土壌溶出基準,水質汚
濁に係る環境基準及び排水基準などがある。
                                             表A.1
                        重金属の例                  試験方法の例
                   カドミウム          JIS K 0102の55.
                                       環境庁告示第46号
                   鉛                  JIS K 0102の54.
                                       環境庁告示第46号
                   六価クロム          JIS K 0102の65.2
                                       環境庁告示第46号
                   シアン化合物        JIS K 0102の38.
                                       環境庁告示第46号
                   ひ素                JIS K 0102の61.
                                       環境庁告示第46号
                   総水銀              環境庁告示第59号付表1
                                       環境庁告示第46号
                   アルキル水銀        環境庁告示第59号付表2
                                       環境庁告示第64号付表3
                   セレン              JIS K 0102の67.2,67.3,又は67.4
                                       環境庁告示第46号
                   ふっ素              JIS K 0102の34.1,又は34.4
                   ほう素              JIS K 0102の47.1,47.3,又は47.4

――――― [JIS K 6932 pdf 13] ―――――

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K 6932 : 2018
                                          附属書B
                                         (参考)
                      環境安全性試験−放射線量試験(例B)
  くい表面の表面汚染密度又は表面線量率を測定し,測定値が表面汚染密度は0.4 Bq・cm−2以下,表面線
量率は0.23マイクロシーベルト(μSv)/h以下であることを確認する。方法は,次による。
a)   Mサーベイメータ(表面汚染密度の測定)
      測定は,次の点を踏まえつつ,具体的な測定機器の使用方法については,それぞれの測定機器の説
    明書などを参照。
  ・ 一般に測定対象物からおよそ1 cmの高さを計測する。
  ・ プローブ(検出部)は入射窓の面(窓面)を測定対象面に向ける。
  ・ 時定数を設定できる測定機器は,時定数の3倍以上の時間が経過してから測定する。
  ・ 指示値が安定するのを待って測定値を読み取る。安定後も指示値は変動するため,その中心を測定
      値とする。
  ・ 測定機器に表示された計数率(cpm)をBq・cm−2の単位に換算する(JIS Z 4504の4.2.3.2参照)。
                               n  nB
                         AS
                              i W    S
                      ここに,         AS :  表面汚染密度(Bq・cm−2)
                                        n :  総計数率(s−1)
                                       nB :  バックグラウンド計数率(s−1)
                                        εi :  β粒子又はα粒子に対する機器効率
                                       W :  放射線測定器の有効窓面積(cm2)
                                       εS :  放射性表面汚染の線源効率
b) シンチレーション式サーベイメータ(表面線量率の測定)
      測定は,以下の点を踏まえつつ,具体的な測定機器の使用方法については,それぞれの測定機器の
    説明書などを参照。
  ・ 一般に測定対象物からおよそ1 cmの高さを計測する。
  ・ プローブ(検出部)は測定対象面に平行にし,体からなるべく離す。
  ・ 時定数を設定できる測定機器は,時定数の3倍以上の時間が経過してから測定する。
  ・ 指示値が安定するのを待って測定値を読み取る。安定後も指示値は変動するため,その中心を測定
      値とする。
  ・ バックグラウンドの影響が大きい場合には,コリメータを使用して測定する。
参考文献 JIS K 0102 工場排水試験方法
          JIS Z 4504 放射性表面汚染の測定方法−β線放出核種(最大エネルギー0.15 MeV以上)及びα
              線放出核種