53
Z 3110 : 2017
これによって,微細なきずの検出が困難になるだけでなく,必要な透過度計の読取りをも低下させる
ことがある。
e) 後方散乱線は,画像のGV及びノイズの大きな要因となっており,通常,デジタル画像のCNRNには
役に立たないため,透過度計の識別性が低下する。
f) 高い放射線エネルギーは,一定のノイズレベルの同じGVに対してコントラストが低くなる。これに
よって,CNRNが低下するため,透過度計の識別度も低下する。これに対しては,必要なGVを上げる
か,又はフィルム撮影と比較してX線管電圧を下げることで,CPIの補償をしてもよい。
――――― [JIS Z 3110 pdf 56] ―――――
54
Z 3110 : 2017
附属書JA
(参考)
デジタルラジオグラフィの適用に関する事項
この規格に規定するデジタルラジオグラフィ(以下,D-RTという。)法は,フィルムラジオグラフィ(以
下,F-RTという。)法による撮影技術を基本としており,像質などの必要条件については,品質保証上差
異がない。むしろ,F-RT法にない画像処理及び繰返し使用が可能な優れた特徴があり,写真処理が不要な
どの利便性がある。
以下に,F-RT法と比較してD-RT法の主な特徴,機能,撮影の主要な項目及びシステムクラスについて
示す。これらの内容を参考として,撮影方法を選択するのがよい。
なお,この規格とF-RT法の規格であるJIS Z 3104などと比較できる点は撮影技術に限られるが,D-RT
法におけるきずの像の分類は,契約当事者間の協議によって,F-RT法の透過写真によるきずの像の分類方
法を適用することは差し支えない。
JA.1 F-RT法とD-RT法との類似及び相違
この規格が規定するD-RT法による撮影方法(CR及びDDA)とF-RT法の主な特徴を表JA.1に,機能
性を表JA.2に示す。
表JA.1−F-RT法及びD-RT法の主な特徴
F-RT法 D-RT法(CR) D-RT法(DDA)
・ 写真処理(現像等)が必要 ・ 写真処理が不要 ・ 写真処理が不要
・ IPの読取りが必要 ・ 撮影後直ちに画像が得られる
・ 繰返しの使用が可能 ・ 繰返しの使用が可能
・ 撮影に応じたフィルムタイプ(感・ 撮影に応じたIPタイプを選択
度,粒状性)を選択
・ フィルムはIP,DDAに比べて軽量 ・ IPはDDAに比べて軽量
・ 温度などの周囲の環境の影響を受・ 温度などの周囲の環境の影響 ・ 温度などの周囲の環境によっては
けにくい を比較的受けにくい 使用の制限(防爆,電源等が必要)
・ 画像処理が可能 ・ 画像処理が可能
表JA.2−F-RT法及びD-RT法の機能性
項目 F-RT法 D-RT法(CR) D-RT法(DDA) 関連する箇条
曲率面を有する シート(曲率面への密着可能) パネル(密着不可) 7.1.3 図2
試験体(配管等) 7.1.5 図8
への密着性 7.1.8 図13,図14
試験体に合わせ 形状加工が可能 形状加工が不可 7.1.4 図6,図7
た撮影媒体の加 7.1.5 図9,図10
工性 7.1.8 図16,図18
不良画素の補正 − 補正が不可欠 7.9.3
撮影条件の指標 濃度 正規化した信号対ノイズ比(SNRN) 7.3.1 表3及び表4
画像の観察 放射線透過写真観察器 観察用モニタ及びソフトウェア 7.10
透過写真のコントラスト 画像のコントラストはモニタ上で調整可能7.9.4
は固定
記録・保管 フィルム デジタルデータ及び記録メディア 7.10
――――― [JIS Z 3110 pdf 57] ―――――
55
Z 3110 : 2017
CR法のIPは柔軟性を有し,撮影時にX線フィルムと同様に,試験体の形状に密着させた撮影が可能で
ある。いずれも透過画像を潜像として蓄積するが,F-RT法は現像処理,CR法はレーザ光により潜像を可
視化する。DDA法は,放射線の照射下で電子的に走査するため,撮影と同時に画像化されるが,構造上,
不良画素の発生は不可避であり,不良画素の補正処理が必要である。
F-RT法では,適切な濃度が得られるように撮影条件を決めるが,CR法及びDDA法では,濃度に代え
て,正規化された信号対ノイズ比(以下,SNRNという。)を用いる。
一方,画像の観察に関して,F-RT法では,フィルムコントラストにより透過写真のコントラストが決ま
るが,CR法及びDDA法では,撮影後にソフトウェアを用いてモニタ上で画像のコントラストを調整でき
る利便性がある。
JA.2 F-RT法及びD-RT法に関する主要な項目
D-RT法による撮影は,基本的にF-RT法と同様である。主要な項目を表JA.3に示す。
D-RT法では,幾何学的不鮮鋭度による撮影配置の決定に加え,検出器の固有の不鮮鋭度を考慮してい
る。検出器の固有の不鮮鋭度は,検出器の物理的な画素の大きさではなく,撮影における実効的な画素サ
イズとして複線形像質計(JIS Z 2307)を用いて計測した不鮮鋭度ui(ui : SRb検出器の2倍)を用いる。
D-RT法の撮影条件の決定は,F-RT法と同等の撮影配置で,濃度の代わりにSNRNを用いている。
表JA.3−F-RT法及びD-RT法に関する主要な項目
主要な項目 F-RT法 D-RT法 関連する箇条
撮影配置 幾何学的不鮮鋭度 : uG 7.6
(合計不鮮鋭度 : uT) 線源−試験体間距離 : f,試験体−検出器間距離 : b,焦点寸法 : d
− 検出器の固有の不鮮鋭度 : ui7.6
基本空間分解能 : SRb 附属書B
(複線形像質計を用いる) 附属書C
撮影条件 試験体厚さに対する線源の選択 7.2
X線管電圧,γ線源,高エネルギーX線発生装置
透過画像の像質 IQI値(識別最小線径) 附属書B
濃度 SNRN 7.3 表3及び表4
CRでは,SNRNに対応する 附属書D
画素値(グレイ値)でも可 附属書E
金属スクリーンの有用性 増感効果,散乱線の除去 主に散乱線の除去 7.3
7.5
JA.3 F-RT法とD-RT法におけるシステムクラスについて
この規格の撮影条件の決定は,システムクラスの分類に基づいてF-RT法のISO 17636-1に対応している。
CR法におけるシステムクラスはISO 16371-1においてSNRNを規定しており,フィルムシステムクラス
の分類の指標である濃度2.0における階調度・ノイズ比に対応させている。このSNRNはDDA法における
撮影条件の決定にも適用できる。
注記 フィルムシステムクラスについてはISO 11699-1を,CRシステムクラスについてはISO 16371-1
を参照。
――――― [JIS Z 3110 pdf 58] ―――――
56
Z 3110 : 2017
参考文献
[1] ISO 5579,Non-destructive testing−Radiographic testing of metallic materials using film and X- or gamma
rays−Basic rules
[2] ISO 5580,Non-destructive testing−Industrial radiographic illuminators−Minimum requirements
[3] ISO 19232-3,Non-destructive testing−Image quality of radiographs−Part 3: Image quality classes for ferrous
metals
[4] EN 444,Non-destructive testing−General principles for radiographic examination of metallic materials by X-
and gamma-rays
[5] EN 12681,Founding−Radiographic examination
[6] EN 14784-2,Non-destructive testing−Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates
−Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
[7] EN 25580,Non-destructive testing−Industrial radiographic illuminators−Minimum requirements (ISO
5580:1985)
[8] ASTM E 1000,Standard Guide for Radioscopy
[9] ASTM E 2445,Standard Practice for Qualification and Long-Term Stability of Computed Radiology Systems
[10] ASTM E 2446,Standard Practice for Classification of Computed Radiology Systems
[11] ASTM E 2597,Standard Practice for Manufacturing Characterization of Digital Detector Arrays
[12] ASTM E 2698,Standard Practice for Radiological Examination Using Digital Detector Arrays
[13] ASTM E 2736,Standard Guide for Digital Detector Array Radiology
[14] ASTM E 2737,Standard Practice for Digital Detector Array Performance Evaluation and Long-Term Stability
[15] EN 12543 (all parts),Non-destructive testing−Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use
in non-destructive testing
[16] EN 12679,Non-destructive testing−Determination of the size of industrial radiographic sources−
Radiographic method
[17] ISO 11699-1,Non-destructive testing−Industrial radiographic film−Part 1: Classification of film systems for
industrial radiography
――――― [JIS Z 3110 pdf 59] ―――――
附属書JB
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
ISO 17636-2:2013,Non-destructive testing of welds−Radiographic testing−Part 2: X-
JIS Z 3110:2017 溶接継手の放射線透過試験方法−デジタル検出器によるX線
及びγ線撮影技術 and gamma-ray techniques with digital detectors
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと(V) JISと国際規格との技術的差異
国際 の評価及びその内容 の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
3 用語及び 3 規格で用いる用語の 追加 用語の引用元にJIS Z 2300を追加し国内で使用されている用語を使用す
定義 引用元を規定 た。 るために追加した。技術的差異はな
い。
− 原画像,IQI値及び不良画素の補間の
定義が不明瞭であったため,関連語
定義を追加した。 句をまとめた定義を追加した。技術
的差異はない。
固有の不鮮鋭度,要求される最大画表1中に記載されていたが,用語及
像不鮮鋭度及び合計不鮮鋭度の定義び定義の箇条で規定すべきであるた
を追加した。 め,箇条3に移動した。技術的差異
はない。
4 記号及び 4 表1で記号及び略語 変更 表1の見出しを“記号”から“記号 記号の列には,略語も記載されてい
略語 を規定 及び略語”に変更した。 るため変更した。
それぞれの用語の定義は箇条3に追
ui,uim,uTの用語をそれぞれ固有の
不鮮鋭度,要求される最大画像不鮮加して記載し,表1中では用語の記
鋭度,合計不鮮鋭度に変更した。 載に変更した。
要求される最大画像不鮮鋭度の記号規格中の表記を統一するため変更し
uimをuImに変更した。 た。
追加 IQIを略語とする用語に透過度計を 国内の事情に配慮した表現とし,追
追加した。 加した。
Z3
略語にGV,GVlin,GVmin,iSRb, 規格中で使用されている略語を追加
110
iSRb検出器を追加した。 した。
: 2
それぞれの用語の参照元を追加し 読みやすさを考慮して追加した。
01
た。
7
4
――――― [JIS Z 3110 pdf 60] ―――――
次のページ PDF 61
JIS Z 3110:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 17636-2:2013(MOD)
JIS Z 3110:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.160 : 溶接,ろう付け及びはんだ付け > 25.160.40 : 溶接継手及び溶接部分
JIS Z 3110:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2305:2013
- 非破壊試験技術者の資格及び認証
- JISZ2306:2015
- 放射線透過試験用透過度計
- JISZ2307:2017
- 放射線透過試験用複線形像質計による像の不鮮鋭度の決定
- JISZ4615:2007
- 工業用X線装置の実効焦点寸法測定方法