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Z 3110 : 2017
t) 露出時間及び線源−検出器間距離
u) 像質計及び/又は透過度計の種類及びその配置
v) 使用したソフトウェアに関するデータ,像質計及び/又は透過度計の読取値を含む試験結果
w) 使用した画像処理パラメータ(例えば,デジタルフィルタ)
x) 特別な合意に基づくこの規格からの例外事項
y) 責任者の氏名,承認及び署名
z) 撮影日及び試験報告書の作成日
――――― [JIS Z 3110 pdf 31] ―――――
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Z 3110 : 2017
附属書A
(規定)
円周溶接継手に必要な推奨撮影枚数
最低限必要な撮影枚数を,図A.1図A.4に示す。これは,外径100 mm以上の円周継手に対して有用で
ある。
検査対象の継手に呼び厚さの違いがあり,Δt/tが20 %を超えない場合には,図A.3及び図A.4を適用す
ることができる。この撮影方法が推奨されるのは,横割れの検出性が低い(小さい)場合,又はこのよう
なきずを他の非破壊試験方法で実施する場合だけに限られる。
Δt/tが10 %以下の場合は,図A.1及び図A.2を使用する。この場合,横割れも併せて検出できる可能性
が高い。
単独の横割れを検出するためのデジタル撮影に必要な最低撮影枚数は,図A.1図A.4に示すよりも多
くする。
――――― [JIS Z 3110 pdf 32] ―――――
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Z 3110 : 2017
図A.1−外部線源による単壁撮影方法における最低撮影枚数N。
Δt/tが10 %以下の場合(クラスB)の評価
――――― [JIS Z 3110 pdf 33] ―――――
31
Z 3110 : 2017
図A.2−内部線源撮影(オフセット撮影)及び二重壁撮影における最低撮影枚数N。
Δt/tが10 %以下の場合(クラスB)の評価
――――― [JIS Z 3110 pdf 34] ―――――
32
Z 3110 : 2017
図A.3−外部線源による単壁撮影方法における最低撮影枚数N。
Δt/tが20 %以下の場合(クラスA)の評価
――――― [JIS Z 3110 pdf 35] ―――――
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JIS Z 3110:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 17636-2:2013(MOD)
JIS Z 3110:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.160 : 溶接,ろう付け及びはんだ付け > 25.160.40 : 溶接継手及び溶接部分
JIS Z 3110:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2305:2013
- 非破壊試験技術者の資格及び認証
- JISZ2306:2015
- 放射線透過試験用透過度計
- JISZ2307:2017
- 放射線透過試験用複線形像質計による像の不鮮鋭度の決定
- JISZ4615:2007
- 工業用X線装置の実効焦点寸法測定方法