38
Z 3110 : 2017
表B.14−全手法におけるクラスBの最大画像不鮮鋭度
像質クラスB : 複線形像質計JIS Z 2307
透過厚さw a) 複線形像質計の最小のIQI値 最大基本空間分解能
及び最大不鮮鋭度 (線径と間隔が同等)b)
(JIS Z 2307)b) SRb画像
mm mm mm
1.5 以下 D13+ 0.04
0.08
1.5 を超え 4 以下 D13 0.05
0.10
4 を超え 8 以下 D12 0.063
0.125
8 を超え 12 以下 D11 0.08
0.16
12 を超え 40 以下 D10 0.10
0.20
40 を超え 120 以下 D9 0.13
0.26
120 を超え 200 以下 D8 0.16
0.32
200 を超えるもの D7 0.20
0.40
注a) 二重壁片面撮影方法の場合,透過厚さwではなく,呼び厚さtを使用する。
b) システム選択時には,検出器又はカセットの表面に複線形像質計を直接置いてIQI値を
測定する(附属書C参照)。幾何学的拡大撮影技法(7.7参照)を使用する場合,複線形
像質計値の測定は,対応する拡大率の参照画像によって実施する。
注記 複線形像質計のD13がディップ20 %を超えて分離できる場合には,“D13+”を適用する。
――――― [JIS Z 3110 pdf 41] ―――――
39
Z 3110 : 2017
B.5 単壁撮影方法,透過度計(IQI)は線源側
表B.15−有孔形透過度計
像質クラスA
呼び厚さt IQI値
mm 呼び番号 孔の種類
(孔径 mm)
6 以下 X5 4T(1.02)
6 を超え 9.5 以下 X7 4T(1.02)
9.5 を超え 13 以下 X10 4T(1.02)
13 を超え 16 以下 X12 4T(1.27)
16 を超え 19 以下 X15 4T(1.52)
19 を超え 22 以下 X17 4T(1.78)
22 を超え 25 以下 X20 2T(1.02)
25 を超え 32 以下 X25 2T(1.27)
32 を超え 38 以下 X30 2T(1.52)
38 を超え 51 以下 X35 2T(1.78)
51 を超え 64 以下 X40 2T(2.03)
64 を超え 76 以下 X45 2T(2.29)
76 を超え 102 以下 X50 2T(2.54)
102 を超え 152 以下 X60 2T(3.05)
152 を超え 203 以下 X80 2T(4.06)
203 を超え 254 以下 X100 2T(5.08)
254 を超え 305 以下 X120 2T(6.10)
305 を超え 406 以下 X160 2T(8.13)
406 を超え 508 以下 X200 2T(10.2)
――――― [JIS Z 3110 pdf 42] ―――――
40
Z 3110 : 2017
B.6 単壁撮影方法,透過度計(IQI)は検出器側
表B.16−有孔形透過度計
像質クラスA
呼び厚さt IQI値
mm 呼び番号 孔の種類
(孔径 mm)
6 以下 X5 4T(1.02)
6 を超え 9.5 以下 X7 4T(1.02)
9.5 を超え 13 以下 X10 4T(1.02)
13 を超え 16 以下 X12 4T(1.27)
16 を超え 19 以下 X12 4T(1.27)
19 を超え 22 以下 X15 4T(1.52)
22 を超え 25 以下 X15 4T(1.52)
25 を超え 32 以下 X17 2T(0.89)
32 を超え 38 以下 X20 2T(1.02)
38 を超え 51 以下 X25 2T(1.27)
51 を超え 64 以下 X30 2T(1.52)
64 を超え 76 以下 X35 2T(1.78)
76 を超え 102 以下 X40 2T(2.03)
102 を超え 152 以下 X45 2T(2.29)
152 を超え 203 以下 X50 2T(2.54)
203 を超え 254 以下 X60 2T(3.05)
254 を超え 305 以下 X80 2T(4.06)
305 を超え 406 以下 X100 2T(5.08)
406 を超え 508 以下 X120 2T(6.10)
――――― [JIS Z 3110 pdf 43] ―――――
41
Z 3110 : 2017
B.7 二重壁撮影方法,透過度計(IQI)は線源側
表B.17−有孔形透過度計
像質クラスA
透過厚さw IQI値
mm 呼び番号 孔の種類
(孔径 mm)
6 以下 X5 4T(1.02)
6 を超え 9.5 以下 X7 4T(1.02)
9.5 を超え 13 以下 X10 4T(1.02)
13 を超え 16 以下 X12 4T(1.27)
16 を超え 19 以下 X15 4T(1.52)
19 を超え 22 以下 X17 4T(1.78)
22 を超え 25 以下 X20 2T(1.02)
25 を超え 32 以下 X25 2T(1.27)
32 を超え 38 以下 X30 2T(1.52)
38 を超え 51 以下 X35 2T(1.78)
51 を超え 64 以下 X40 2T(2.03)
64 を超え 76 以下 X45 2T(2.29)
76 を超え 102 以下 X50 2T(2.54)
102 を超え 152 以下 X60 2T(3.05)
152 を超え 203 以下 X80 2T(4.06)
203 を超え 254 以下 X100 2T(5.08)
254 を超え 305 以下 X120 2T(6.10)
305 を超え 406 以下 X160 2T(8.13)
406 を超え 508 以下 X200 2T(10.2)
――――― [JIS Z 3110 pdf 44] ―――――
42
Z 3110 : 2017
B.8 二重壁撮影方法,透過度計(IQI)は検出器側
表B.18−有孔形透過度計
像質クラスA
透過厚さw IQI値
mm 呼び番号 孔の種類
(孔径 mm)
6 以下 X5 4T(1.02)
6 を超え 9.5 以下 X7 4T(1.02)
9.5 を超え 13 以下 X10 4T(1.02)
13 を超え 16 以下 X12 4T(1.27)
16 を超え 19 以下 X12 4T(1.27)
19 を超え 22 以下 X15 4T(1.52)
22 を超え 25 以下 X15 4T(1.52)
25 を超え 32 以下 X17 2T(0.89)
32 を超え 38 以下 X20 2T(1.02)
38 を超え 51 以下 X25 2T(1.27)
51 を超え 64 以下 X30 2T(1.52)
64 を超え 76 以下 X35 2T(1.78)
76 を超え 102 以下 X40 2T(2.03)
102 を超え 152 以下 X45 2T(2.29)
152 を超え 203 以下 X50 2T(2.54)
203 を超え 254 以下 X60 2T(3.05)
254 を超え 305 以下 X80 2T(4.06)
305 を超え 406 以下 X100 2T(5.08)
406 を超え 508 以下 X120 2T(6.10)
――――― [JIS Z 3110 pdf 45] ―――――
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JIS Z 3110:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 17636-2:2013(MOD)
JIS Z 3110:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.160 : 溶接,ろう付け及びはんだ付け > 25.160.40 : 溶接継手及び溶接部分
JIS Z 3110:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2305:2013
- 非破壊試験技術者の資格及び認証
- JISZ2306:2015
- 放射線透過試験用透過度計
- JISZ2307:2017
- 放射線透過試験用複線形像質計による像の不鮮鋭度の決定
- JISZ4615:2007
- 工業用X線装置の実効焦点寸法測定方法