23
Z 4329 : 2004
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
7.2試験方法 a) 型式試験 9.4.2.1 JISと同じ IDT ―
(続き) b) 製造試験 9.4.2.2 JISと同じ IDT ―
9.4.2.3 JISと同じ IDT ―
7.2.4 機器効率試験 9.2.3 MOD 線源配置条件を追加 機器効率データの整
線源配置条件を追加 /追加 合性を取るため追加。
IEC規格の見直しの
際,提案を検討する。
7.2.5 検出限界試験 9.4.3 JISと同じ IDT ―
7.2.6 β線エネルギー特 9.5.2.2 JISと同じ IDT ―
性試験
7.2.7 検出器入射窓面の 9.3.2 JISと同じ IDT ―
機器効率の均一性試験
7.2.8自然計数率試験 9.7 MOD a)α線計数時間30分以上を追加
統計的誤差を考慮し
a),b)を追加 /追加 て規定した。
b)β線計数時間10分以上を追加
IEC規格の見直しの
際,提案を検討する。
7.2.9 他の放射線の影響 JISと同じ IDT ―
に対する試験
a) γ線の影響 9.6.2 JISと同じ IDT ―
b) β線の影響 9.6.3 JISと同じ IDT ―
c) α線の影響 9.6.4 JISと同じ IDT ―
9.6.5 中性子の影響 MOD 中性子の規定は,別途
“特に規定は定めない”ため削
試験方法は特に定めない /削除 除 新たに,制作中のた
め。
7.2.10 感光性試験 MOD 使用環境を考慮。
一定照度を照射したときの計数
/追加 率増加試験を追加 IEC規格の見直しの
Z4
際,提案を検討する。
32
7.2.11 指示値変動試験 8.1.2 JISと同じ IDT ―
9 : 2
7.2.12 応答時間試験 8.2.2 JISと同じ IDT ―
0 0
2
4
3
――――― [JIS Z 4329 pdf 26] ―――――
24
Z 4329 : 2004
Z4
24
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
32
規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
9 : 2
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
0 0
表示方法 : 点線の下線
4
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
7.2試験方法 7.2.13 温度特性試験 10.1.2 JISと同じ IDT ―
(続き) a) 温度安定度 a) JISと同じ IDT ―
b) 温度衝撃 b) JISと同じ IDT ―
c) 最低温度時の起動試 c) JISと同じ IDT ―
験(室外用だけ)
7.2.14 耐湿性試験 10.2.2 JISと同じ IDT ―
7.2.15電源電圧の変動に 10.3 JISと同じ IDT ―
対する安定性試験
a) 交流電源使用時 JISと同じ
10.3.1.1.2 IDT ―
JISと同じ
10.3.1.1.3 IDT ―
b) 電池使用時 10.3.2.2 JISと同じ IDT ―
7.2.16耐衝撃性試験 ―
a) 種 耐衝撃性試験 6.8 JISと同じ IDT ―
b) I種 耐衝撃性試験 MOD 現行JISの試験方法をII種用と I種でIEC規格と整
/追加 して追加 合。
II種についてIEC規
格の見直しの際,提
案を検討する。
7.2.17予熱時間試験 ―
a) サーベイメータ 8.5.1 JISと同じ IDT ―
b) 測定装置 8.5.2 JISと同じ IDT ―
7.2.18オーバロード試験 8.7.2 JISと同じ IDT ―
7.2.19分解時間試験 ―
a) サーベイメータ 8.6.1 JISと同じ IDT ―
b) 検出器 8.6.2 JISと同じ IDT ―
c) 測定装置 8.6.3 JISと同じ IDT ―
7.2.20高圧変化時の指示 8.8 JISと同じ IDT ―
値安定性試験(検出器だ
け)
――――― [JIS Z 4329 pdf 27] ―――――
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Z 4329 : 2004
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
7.2試験方法 7.2.21入力感度安定性試 8.9 JISと同じ IDT ―
(続き) 験(検出器だけ)
7.2.22警報動作試験 8.4.2 JISと同じ IDT ―
7.2.23静電気放電の影響 10.4.1.2JISと同じ IDT (IEC 61000-4-2に対応したJIS
に対する試験 (IEC 61000-4-2を引用) を引用)
7.2.24外部電磁界の影響 10.4.2.2JISと同じ IDT (IEC 61000-4-3に対応したJIS
に対する試験 (IEC 61000-4-3を引用) を引用)
7.2.25バースト及び無線 10.4.3.2JISと同じ IDT (IEC 61000-4-4,4-6に対応した
周波数の影響に対する試 (IEC 61000-4-4,4-6を引用) JISを引用)
験
7.2.26サージイミュニテ 10.4.4.2JISと同じ IDT (IEC 61000-4-5に対応したJIS
ィの影響に対する試験 (IEC 61000-4-5を引用) を引用)
7.2.27電源電圧低下及び 10.4.5.2JISと同じ IDT ―
電源一時的遮断の影響に
対する試験
7.2.28放射電磁界強度特 10.4.6.2JISと同じ IDT ―
性試験
8.表示 MOD IECには機体銘板の記載なし IEC規格の見直しの
/追加 際,提案を検討する。
9.取扱説明 12 JISと同じ IDT ―
書
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― IDT·················· 技術的差異がない。
Z4
― MOD/削除········· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
3
― MOD/追加········· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
29
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
: 2
― MOD··············· 国際規格を修正している。
0 0
2
4
5
JIS Z 4329:2004の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60325:2002(MOD)
JIS Z 4329:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
JIS Z 4329:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISZ4001:1999
- 原子力用語
- JISZ4334:2019
- 放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
- JISZ8103:2019
- 計測用語