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Z 4329 : 2004
Z4
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(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
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規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
9 : 2
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
0 0
表示方法 : 点線の下線
4
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
3. 定義 レスポンス,デカード, レスポンス, 別の言葉で説明して
(続き) 変動係数, 変動係数, いるため削除した。
単位面積当たりの最小検 最小検出表面放出率, 指示値,デカードは,
出表面放出率, 検出器,測定装置, 現行JISにあり,本
検出器,測定装置, α,β及びα/β表面汚染サー 文中で記載があるた
α,β及びα/β表面汚染 ベイメータ め追加した。
サーベイメータ α,β及びα/β表面汚染モニ IEC規格の見直しの
タ, 際,改正提案を検討
高効率線源,小面積線源, する。
全等価厚
表面放出率
4. 種類 a) 検出器と測定装置が 5 JISと同じ IDT ―
4.1構成によ 一体型のもの。又は,ケ
る装置の種 ーブルなどで接続されて
類 いるが交換不可のもの。
b) 検出器と測定装置が
ケーブルなどで接続し,
検出器が交換可能なも
の。
4.2使用方法 a) 携帯形装置 5 JISと同じ IDT ―
による装置 b) 移動可能形装置
の種類
4.3電源によ a) 交流電源用 5 JISと同じ IDT ―
る装置の種 b) 一次電池又は二次電
類 池用
4.4測定放射 a) α線用 5 JISと同じ IDT ―
線による装 b) β線用
置の種類 c) α/β線用
――――― [JIS Z 4329 pdf 21] ―――――
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Z 4329 : 2004
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
5. 性能 5.1.1 汚染サーベイメー 9.4.1 JISと同じ IDT ―
5.1 相対基 タ及び警報付き汚染サー
準誤差 ベイメータの場合
5.1.2 測定装置の場合
5.2 機器効 9.2.3.2 JISと同じ IDT ―
率
5.3 検出限 9.4.3 JISと同じ IDT ―
界
5.4 β線エ 9.5.2.1 JISと同じ IDT ―
ネルギー特
性
5.5 検出器 9.3.1 JISと同じ IDT ―
入射窓面の
機器効率の
均一性
5.6 自然計 9.7 JISと同じ IDT ―
数率
5.7 他の放 5.7.1 γ線の影響 ―
射線の影響 a) α線測定 9.6.2.1 JISと同じ IDT
b) β線測定 9.6.2.2 JISと同じ IDT
5.7.2 β線の影響 9.6.3 JISと同じ IDT
5.7.3 α線の影響 9.6.4 JISと同じ IDT
9.6.5 中性子の影響 MOD “特に規定は定めない”ため削中性子の規定は,別
/削除 除。 途新たに,制作中の
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ため。
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――――― [JIS Z 4329 pdf 22] ―――――
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(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
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規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
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表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
: 2
表示方法 : 点線の下線
0 04
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
5.8感光性 光による計数率の増加 MOD 光による計数率の増加を規定。使用環境を考慮し
α線 : 0.01×As-1 /追加 た。
β線 : 0.1×As-1 IEC規格の見直しの
際,改正提案を検討
する。
5.9指示値変 8.1.1 JISと同じ IDT ―
動
5.10応答時 8.2.1 JISと同じ IDT ―
間
5.11温度特 温度安定度 10.1.1 JISと同じ IDT ―
性 温度衝撃
最低温度での起動試験
5.12耐湿性 10.2.1 JISと同じ IDT ―
5.13電源電 5.13.1交流電源使用時 10.3.1.1JISと同じ IDT ―
圧の変動に 5.13.2電池使用時 .1 JISと同じ
対する安定 10.3.2.1
性
5.14耐衝撃 I種,II種を記載 6.8 I種はJISと同じ MOD II種を追加し,現行JISの試験 I種でIEC規格と整
性 /追加 方法での性能を規定。 合。
II種についてIEC規
格の見直しの際,提
案を検討する。
5.15予熱時 5.15.1サーベイメータ 8.5.1 JISと同じ IDT ―
間 5.15.2測定装置 8.5.2 JISと同じ
5.16オーバ 8.7.1 JISと同じ IDT ―
ロード特性
5.17分解時 8.6.1 JISと同じ IDT ―
間
――――― [JIS Z 4329 pdf 23] ―――――
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(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
5.18高圧変 8.8 JISと同じ IDT ―
化時の指示
値安定度
(検出器だ
け)
5.19入力感 8.9 JISと同じ IDT ―
度安定性
(検出器だ
け)
5.20警報動 8.4.1 JISと同じ IDT ―
作
5.21静電気 10.4.1.1 JISと同じ IDT ―
放電の影響
5.22外部電 10.4.2.1 JISと同じ IDT ―
磁界の影響
5.23バース 10.4.3.1 JISと同じ IDT ―
ト及び無線
周波数の影
響(交流電源
駆動だけ)
5.24サージ 10.4.4.1 JISと同じ IDT ―
イミュニテ
ィの影響(交
流電源駆動
だけ)
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――――― [JIS Z 4329 pdf 24] ―――――
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(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格
(IV) ISと国際規格との技術的差異の項目ご
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規格番号 との評価及びその内容 との技術的差異の理
9 : 2
表示箇所 : 本体 由及び今後の対策
0 0
表示方法 : 点線の下線
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項目番号 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 の評価
5.25電源電 10.4.5.1 JISと同じ IDT ―
圧低下及び
電源一時的
遮断の影響
(交流電源
駆動だけ)
5.26放射電 10.4.6.1 JISと同じ IDT ―
磁界強度特
性
6. 構造 11.1 保管時の規定はJISと同じ MOD 構造一般を追加 サーベイメータの品
6.1構造一般 11.2 /追加 質を保証するうえか
らも構造を規定する
必要があり,IEC規
格の見直しの際,提
案を検討する。
6.2検出器 MOD 検出器構造追加 同上
/追加
6.3測定装置 MOD 測定装置構造追加 同上
/追加
6.4電源 MOD 電源構造追加 同上
/追加
7. 試験 7.1.1 共通試験条件
7.1試験条件 7.1.2 線源
α線源 : 241Am 7.2.3.1 α線源 : 241Am又は239Pu MOD 国内では,239Puを使用しない
に対して239Puを削除 /削除 ため削除した。
β線源 : 36Cl又は204Tl 7.2.3.2
7.2試験方法 7.2.1 試験の種類 JISと同じ IDT ―
7.2.2 試験方法一般 JISと同じ IDT ―
7.2.3 相対基準誤差試験 9.4.2 JISと同じ IDT ―
――――― [JIS Z 4329 pdf 25] ―――――
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JIS Z 4329:2004の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60325:2002(MOD)
JIS Z 4329:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
JIS Z 4329:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISZ4001:1999
- 原子力用語
- JISZ4334:2019
- 放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
- JISZ8103:2019
- 計測用語