この規格ページの目次
- 7.3 平行六面体測定表面
- 7.3.1 平行六面体測定表面の面積及びマイクロホン位置
- 7.3.2 平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置
- 7.4 マイクロホン位置を選択するための付加的な手順
- 7.4.1 測定表面上の限定された部分へのマイクロホン位置の追加
- 7.4.2 マイクロホン位置の数の削減
- 7.4.3 移動マイクロホンのための測定経路
- 7.5 測定
- 7.5.1 環境条件
- 7.5.2 測定器
- 7.5.3 手順
- 8. 表面音圧レベル及び音響パワーレベルの計算
- 8.1 測定表面上で平均された音圧レベルの計算
- 8.2 バンド音圧レベルからのA特性音圧レベルの計算
- 8.3 暗騒音に対する補正
- JIS Z 8733:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS Z 8733:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS Z 8733:2000の関連規格と引用規格一覧
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Z 8733 : 2000
a) 基本マイクロホン位置において測定した音圧レベルの範囲(すなわち,最大音圧レベルと最小音圧レ
ベルとのデシベル差)が基本マイクロホン位置の数を超える場合か,又は
b) 測定対象機器が指向性の強い騒音を発するか,又は
c) 例えば,他の部分が覆われた機械の開口部分のように,大形の機器からの騒音が,小さな部分からだ
け放射されている場合
条件a)のときは,追加マイクロホン位置を使用する。半球面上のマイクロホン配列に対しては,附属書
Bの図B.1の最初の配列をz軸の周りに180度回転させることによって追加の10点が定義される(表B.1
及び図B.1参照)。新しい配列のz軸上の一番上の点が,最初の配列の一番上の点に一致することに注意し
なければならない。マイクロホン位置の総数は,10から19に増加する。
条件b)又はc)であるときは,測定表面上の騒音の放射の強い部分だけに測定位置を追加する(7.4.1参照)。
7.3 平行六面体測定表面
測定距離dとは,基準箱と測定表面との直角距離のことである。dの値は,少なくとも0.25mなければ
ならず,1mとするのが望ましい。
備考23.
dの値(単位はメートル)は,0.25,0.5,1,2,4又は8のいずれか一つであるのが望ましい。大形の
機器に対しては,1mよりも大きな測定距離を選択してもよい。選択したdの値に対し,附属書Aに
規定する環境的な要件を満足することが望ましい。
7.3.1 平行六面体測定表面の面積及びマイクロホン位置
マイクロホン位置は測定表面上にあり,その面とは,基準箱の側面に平行で,そこから距離d(測定距
離)だけ隔たった,その機器をすっぽりと包む面積Sの仮想的な面である。
図C.1図C.8に,平行六面体測定表面上でのマイクロホン位置を示す。図C.2図C.6による測定表面
の面積Sは,次の式で与えられる。
S=4 (ab+bc+ca) (3)
ここに, a=0.5l1+d
b=0.5l2+d
c=l3+d
l1,l2及びl3 : それぞれ,基準箱の長さ,幅及び高さ
機器が二つ以上の反射面に接して設置される場合,相応しい測定表面を定義するために図C.7及び図C.8
を引用しなければならない。これらの条件の下での測定表面積Sの計算が,それぞれの図に与えられてい
る。マイクロホン位置は,図C.1図C.6に従って配置する。
7.3.2 平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置
次の場合,平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置での音圧レベル測定が必要である。
a) 基本マイクロホン位置において測定した音圧レベルの範囲(すなわち,最大音圧レベルと最小音圧レ
ベルとのデシベル差)が基本マイクロホン位置の数を超える場合か,又は
b) 測定対象機器が指向性の強い騒音を発する場合か,又は
c) 例えば,他の部分が覆われた機械の開口部分のように,大形の機械からの騒音が,小さな部分からだ
け放射されている場合
条件a)のときは,追加マイクロホン位置を使用する。平行六面体上にあるマイクロホン配列に対しては,
附属書Cの図C.1に示すように,等しい大きさに分割された矩形の部分面積の数が増えるに従い,測定位
置の数が増える。
――――― [JIS Z 8733 pdf 21] ―――――
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Z 8733 : 2000
条件b)又はc)のときは,測定表面上の騒音の放射の強い部分だけに測定位置を追加する(7.4.1参照)。
7.4 マイクロホン位置を選択するための付加的な手順
7.4.1 測定表面上の限定された部分へのマイクロホン位置の追加
7.2.2又は7.3.2によって,測定表面上の限定した部分にマイクロホン位置を追加する場合,その部分内
での音圧レベルの詳細な分析を行う。この詳細分析の目的は,対象周波数バンドでの音圧レベルの最大値
と最小値とを算出することである。これらの追加マイクロホン位置では,通常,測定表面上の対応する面
積が必ずしも等しくなくてもよい。この場合,音響パワーレベルLW算出のために,JIS Z 8732 : 1986の附
属書2の2.2(測定球面又は測定半球面を不等面積に分割する方法)を使うものとする。
7.4.2 マイクロホン位置の数の削減
マイクロホン位置の数を削減して算出した表面音圧レベルが,7.2又は7.3の従い,すべてのマイクロホ
ン位置での測定から得られたものより,0.5dBよりも大きく変化しないことが,事前の試験により示され
ていることを前提として,マイクロホン位置の数を減らすことができる。一つの例としては,放射パター
ンが左右対称であることが示された場合がある。
備考24.
該当する個別規格において,安全上の理由に言及しているときは,一番上のマイクロホン位置
[overhead position (s) ] は削除してもよい。
7.4.3 移動マイクロホンのための測定経路
測定対象機器が定常騒音を放射するときは,離散的に配置したマイクロホン位置に替えて,附属書B及
び附属書Cに規定するように,測定表面に沿って一定速度でマイクロホンを移動させることにより表面音
圧レベルを測定することが可能である。経路に沿った最大の移動速度及びマイクロホンの向きを報告する。
――――― [JIS Z 8733 pdf 22] ―――――
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図1 基準箱と座標系の原点Qに対する特性寸法d0の例
7.5 測定
7.5.1 環境条件
マイクロホンの選択及び位置決めを適切にすることによって,使われるマイクロホンに対し測定に不利
な影響を与える環境条件(例えば,強い電場又は磁場,風,試験中の機器からの排気を受けること,高温
又は低温)を回避しなければならない。不利な環境条件に対応するために測定器の製造業者の取扱い上の
指示を遵守する。マイクロホンは,音波の入射角が,マイクロホンを校正したときのそれと一致するよう
に常時向けておくこととする。
――――― [JIS Z 8733 pdf 23] ―――――
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Z 8733 : 2000
7.5.2 測定器
5.に規定する仕様に加え,次を適用する。
JIS C 1505に適合した騒音計を使って測定する。時間重み特性Sで測定した音圧レベルの変動が±1dB
未満であることが示されない限り,時間平均音圧レベル(3.2.1)を測定する。時間重み特性Sで測定した音
圧レベルの変動が±1dB未満である場合,その最大レベルと最小レベルの算術平均を時間平均音圧レベル
として表示してもよい。
7.5.3 手順
時間平均音圧レベルは,測定対象機器にとって典型的な作動別時間で測定する。各マイクロホン位置に
おいて,対象周波数範囲の時間平均音圧レベルを読み取る。
次のものを算出しなければならない。
a) 測定対象機器の作動中のA特性音圧レベル又はバンド音圧レベルL'p
b) 暗騒音のA特性音圧レベル又はバンド音圧レベルL''pi
160Hz以下を中心とする周波数バンドに対しては,測定時間は,少なくとも30秒とする。200Hz以上を
中心とする周波数バンドに対しては,測定時間は少なくとも10秒とする。
移動マイクロホンを使う場合,積分時間は,少なくともマイクロホンが2回旋回する時間を含むことと
する。
備考 原国際規格では,ここに“分離可能な単発の音事象の測定に対しては,単発事象騒音レベルLp,1s
(3.2.2参照)を算出すること”を規定していたが,そのような過渡的な騒音はこの規格の対象
外であるため,除外した。
時間とともに変動する騒音に対しては,測定時間を注意深く規定することが重要であり,通常,これは,
試験の目的に依存する。騒音のレベルの異なる,複数の作動モードをもつ機械に対しては,それぞれのモ
ードに対し適切な測定時間を選択し,試験報告書にこれを明記する。
8. 表面音圧レベル及び音響パワーレベルの計算
8.1 測定表面上で平均された音圧レベルの計算
A特性音圧レベル又は測定対象周波数バンドごとの音圧レベルに対し,次の式を使って,測定した音圧
レベルL'piから測定表面上での平均音圧レベル L p を,そして,暗騒音のレベルL''piから測定表面上で平均
した暗騒音による平均音圧レベル L p を計算する。
N
1 1.0Lpi
Lp 10 log 10 10 dB (4)
N i1
N
1 1.0Lpi
Lp 10 log 10 10 (5)
N i1
ここに, Lp : 測定表面上で平均した作動中の測定対象機器の音圧レベル
(dB)
Lp : 測定表面上で平均した暗騒音の音圧レベル (dB)
L'pi : i番目のマイクロホン位置で測定した作動中の測定対象機器の
音圧レベル (dB)
L''pi : i番目のマイクロホン位置で測定した暗騒音の音圧レベル (dB)
N : マイクロホン位置の数
――――― [JIS Z 8733 pdf 24] ―――――
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備考25.
式(4)及び(5)の平均化手順は,測定表面上のマイクロホン位置が均等に配置されていることに基づいて
いる。
8.2 バンド音圧レベルからのA特性音圧レベルの計算
バンド音圧レベルからA特性音圧レベルを計算するときは,次の式を使う。
(1.0Lpj Aj )
LpA 10 log10 10 dB (6)
j
ここに, Lpi : バンドjでのバンド音圧レベル (dB)
Aj : 表2で規定する,バンドjの中心周波数でのA特性値 (dB)
備考26.
強い離散周波数成分を放射する音源に対しては,1/3オクターブバンドのA特性値を使って,計算す
ることを推奨する。
表2 A特性値Aj
オクターブバンド 1/3オクターブバンド A特性値
中心周波数 中心周波数 Aj
Hz Hz dB
50 −30.2
63 63 −26.2
80 −22.5
100 −19.1
125 125 −16.1
160 −13.4
200 −10.9
250 250 −8.6
315 −6.6
400 −4.8
500 500 −3.2
630 −1.9
800 −0.8
1 000 1 000 0
1 250 0.6
1 600 1.0
2 000 2 000 1.2
2 500 1.3
3 150 1.2
4 000 4 000 1.0
5 000 0.5
6 300 −0.1
8 000 8 000 −1.1
10 000 −2.5
8.3 暗騒音に対する補正
次の式を使い,(A特性又は周波数バンドごとの)暗騒音補正値K1を計算する。
K1=−10log10 (1−10−0.1 (7)
ここに,
LpLp
――――― [JIS Z 8733 pdf 25] ―――――
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JIS Z 8733:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3744:1994(MOD)
JIS Z 8733:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.140 : 音響及び音響測定 > 17.140.01 : 音響測定及び雑音除去一般
JIS Z 8733:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISA1409:1998
- 残響室法吸音率の測定方法
- JISC1502:1990
- 普通騒音計
- JISC1505:1988
- 精密騒音計
- JISC1515:2020
- 電気音響―音響校正器
- JISZ8732:2000
- 音響―音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法―無響室及び半無響室における精密測定方法
- JISZ8732:2021
- 音響―音圧法による騒音源の音響パワーレベル及び音響エネルギーレベルの測定―無響室及び半無響室における精密測定方法
- JISZ8737-1:2000
- 音響―作業位置及び他の指定位置における機械騒音の放射音圧レベルの測定方法―第1部:反射面上の準自由音場における実用測定方法