JIS B 7517:2018 ハイトゲージ | ページ 3

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1
3
4
2
1 本尺目盛
2 ダイヤル目盛
3 本尺
4 スライダ
5
5 本尺目盛の読取り基準
本尺目盛の数字“10”は,100 mmを示す。
注記 この図の読取値は,109.56 mmとなる。
図10−ダイヤル目盛を備えたアナログ表示の例
4.4.2.6 ダイヤル目盛の設計
ダイヤル目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さは,特に指定がない限り,表3による。
表3−ダイヤル目盛を備えたハイトゲージの目盛線の太さ
単位 mm
項目 太さ 太さむら
本尺目盛線
0.100.30 0.03以下
ダイヤル目盛線
4.4.3 デジタル表示
本尺上に電子式スケール及びスライダ上にデジタル表示をもつハイトゲージの例を,図11に示す。

――――― [JIS B 7517 pdf 11] ―――――

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2
4
1
1 デジタル表示部 3
2 本尺
3 電子式スケール
4 スライダ
図11−デジタル表示の例
指示値を測定データとして出力する機能をもつ場合は,そのデータ出力プロトコル(インタフェース)
について,カタログ,仕様書などの製品文書(以下,製品文書という。)などに記載する。また,デジタル
表示のハイトゲージは,高速でのスライダ移動によって誤った指示値を示すおそれがある場合,及び電源
電圧が低下した場合,エラーメッセージなどの異常を表示する機能を備えていなければならない。
4.4.4 デジタル表示の使用環境に対する保護
デジタル表示のハイトゲージについて,防じん(塵)・防水を保証する場合,与える保護等級(JIS C 0920
に従ったIPコード)を製品,カタログなどに明示しなければならない。

4.5 測定子及びスクライバ

  測定子及びスクライバは,交換可能でなければならない。
スクライバ測定面は,耐摩耗性があり,また,スクライバ測定面の表面性状は,Ra 0.4以下とする。
スクライバの先端は鋭角になっているものとする。

4.6 ベース

  エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の表面性状は,Ra 0.4以下とする。ベースは,定盤上を
安定して移動ができるように設計しなければならない。エア浮上式で外部からエア供給の必要がある場合,
製造業者又は供給業者は必要な情報を提供しなければならない。

4.7 構造及び機能

  ハイトゲージの構造及び機能は,次による。
a) スライダは,作動範囲全域にわたって滑らかで,かつ,緩みがなく作動し,有害な遊びがあってはな
らない。
b) 本尺が移動できる機種では,本尺の移動は滑らかで,かつ,使用時には止めねじによって柱に確実に
固定できるものでなければならない。
c) スライダ及び微動送りは,止めねじなどによって本尺又は柱に確実に固定できるものでなければなら

――――― [JIS B 7517 pdf 12] ―――――

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ない。

4.8 硬さ

  エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の硬さは,500 HV以上又は49 HRC以上とし,スクライ
バ測定面の硬さは,700 HV以上又は60 HRC以上とする。

5 計測特性及び性能

5.1 一般

  ハイトゲージの計測特性及び性能の詳細を5.4に示すが,製造業者又は供給業者は,ハイトゲージの機
能に応じた計測特性及び性能を提供する必要がある。
ハイトゲージの計測特性及び性能は,適切な機器及び不確かさが明確な標準器,例えばJIS B 7506に規
定するブロックゲージなどによって測定する。測定は,ハイトゲージの測定範囲全域の計測特性及び性能
を評価できるものでなければならない。
注記 使用上,注意すべき事項を参考として附属書Aに示す。

5.2 検査条件

  製造業者又は供給業者は,特別な測定条件が必要な場合,使用者の要求によって,測定条件を示さなけ
ればならない。測定条件とは,例えば測定力,測定子径補正(双方向長さ測定誤差),温度補正(使用可能
であれば)などがある。

5.3 スライダの固定

  スライダを固定する場合,指示値は次の条件を満たさなければならない。
− アナログ表示のハイトゲージの場合,指示値は変化しない。
− デジタル表示のハイトゲージの場合,指示値の変化は1デジタルステップを超えない。
注記 デジタル表示は,指示値が切り替わる僅かな範囲にスライダが位置した場合,1デジタルステ
ップ変化する可能性がある。

5.4 指示値の最大許容誤差(MPE)

5.4.1  一般
指示誤差の特性は,5.1及び5.2に示した条件に基づく任意の指示値に適用する。
注記 指示誤差の特性のシンボル及びこれに対応する表示を,附属書JAに示す。
5.4.2 高さ測定誤差 E(最大許容誤差 EMPE)
高さ測定誤差は,ハイトゲージのベース基準面に垂直で,かつ,接触方向が下方向の場合の指示誤差と
する。高さ測定誤差は,全測定面接触又は部分測定面接触による指示誤差に適用する。
ハイトゲージの高さ測定誤差の最大許容誤差 EMPEは,表5によって測定したとき表4による。ただし,
表4の許容値は,この場合の基点合わせを定盤上で行うものとする。

――――― [JIS B 7517 pdf 13] ―――――

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表4−高さ測定誤差の最大許容誤差 EMPE
単位 mm
目量,最小表示量又は最小読取値
測定長(L)
0.05 0.02又は0.01
50以下 ±0.05 ±0.02
50を超え 100以下 ±0.06
±0.03
100を超え 200以下 ±0.07
200を超え 300以下 ±0.08
±0.04
300を超え 400以下 ±0.09
400を超え 500以下 ±0.10
±0.05
500を超え 600以下 ±0.11
600を超え 700以下 ±0.12
±0.06
700を超え 800以下 ±0.13
800を超え 900以下 ±0.14
±0.07
900を超え1 000以下 ±0.15
この表以外の測定長及び目量,最小表示量又は最小読取値をもつハイトゲージのEMPEは,受渡当事者間
の協定による。
注記 EMPEは,真直度,測定面の平面度及び基準面との平行度によって生じる測定誤差を含む。
高さ測定誤差は,ブロックゲージ又はゲージを用いて,ハイトゲージの測定範囲の異なる高さを測定す
る(図12参照)。
注記1 高さ測定誤差は,ハイトゲージの使用方法,例えば測定範囲内の測定位置,測定子の長さ及
び形状が,測定結果に影響するため,注意が必要である。
注記2 定盤の形状偏差は,測定結果に影響するため,注意が必要である。

――――― [JIS B 7517 pdf 14] ―――――

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3
1 ハイトゲージ
2 精密定盤
2
3 ブロックゲージ
図12−高さ測定誤差の測定
高さ測定誤差の測定方法は,表5による。
表5−ハイトゲージの高さ測定誤差の測定方法
項目 測定方法 図 測定用具
高さ測定誤差 a) 精密定盤上に置かれた ・JIS B 7506に規定
ブロックゲージ又はゲ する2級ブロッ
ージ類をハイトゲージ クゲージ又はこ
ブロックゲージ
のスクライバ測定面で れと同等以上の
挟んで測定する。 ハイトゲージ ゲージ
b) ハイトゲージの読みか ・JIS B 7513に規定
らゲージの寸法を減じ する1級精密定
て測定誤差を求める。 盤
精密定盤

――――― [JIS B 7517 pdf 15] ―――――

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JIS B 7517:2018の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 13225:2012(MOD)

JIS B 7517:2018の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 7517:2018の関連規格と引用規格一覧