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B 7517 : 2018
5.4.3 高さ測定誤差の繰返し精密度 R(最大許容誤差 RMPE)
高さ測定誤差の繰返し精密度は,同一の測定条件下で,測定範囲の任意の位置で行われる,同一の測定
量の連続した測定結果の一致の精密さとする。
部分測定面接触誤差の繰返し精密度は,スクライバ又は測定子の測定面の任意の位置で,任意の寸法(測
定範囲内の位置)に対して,ブロックゲージ又はゲージを用いて測定する。
注記 製造業者又は供給業者は,使用者からの要求によって,繰返し精密度の詳細を提供する場合が
ある。
5.4.4 双方向長さ測定誤差 B(最大許容誤差 BMPE)
双方向長さ測定誤差は,ハイトゲージのベース基準面に垂直で,かつ,下方向と上方向に接触して測定
した長さの指示誤差とする。
双方向長さ測定誤差は,ステップゲージ又はリングゲージなどの標準器を用いて測定する(図13参照)。
双方向長さ測定誤差の最大許容誤差BMPEは,各製品の設計特性に応じて,製造業者又は供給業者が使用
者の要求によって提供する。
注記1 双方向長さ測定誤差は,ハイトゲージの使用方法,例えば測定範囲内の測定位置,測定子の
長さ及び形状が,測定結果に影響するため,注意が必要である。
注記2 目盛誤差だけでなく,測定子の測定面の平行度及び形状偏差も含まれる。
注記3 定盤の形状偏差は,測定結果に影響するため,注意が必要である。
――――― [JIS B 7517 pdf 16] ―――――
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B 7517 : 2018
1
3
1 ハイトゲージ
2 精密定盤
2
3 ステップゲージ
図13−双方向長さ測定誤差の測定
5.4.5 直角度測定誤差 S(最大許容誤差 SMPE)
直角度測定機能をもつハイトゲージを直角度測定に用いる場合,直角度測定誤差は,本尺の基準端面に
垂直な方向の指示誤差とする。
直角度測定誤差の最大許容誤差SMPEは,各製品の設計特性及び追加アクセサリの影響を受けるため,製
造業者又は供給業者が使用者の要求によって提供する。
直角度測定誤差は,例えば円筒スコヤのような直角定規を用いて測定する(図14参照)。
注記 定盤の形状偏差は,測定結果に影響するため,注意が必要である。
――――― [JIS B 7517 pdf 17] ―――――
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1
3
1 ハイトゲージ
(直角度測定機能付き)
2 精密定盤
2
3 直角定規
図14−直角度測定誤差の測定
5.5 性能
5.5.1 ハイトゲージの性能
a) ベース基準面の平面度 エア浮上式以外のハイトゲージのベース基準面の平面度は,5.5.2によって測
定したとき0.005 mm以内とする。
b) ベース基準面と本尺又は柱の基準端面との直角度 ハイトゲージのベース基準面と本尺又は柱の基
準端面との直角度(mm)は,5.5.2によって測定したとき,次の式によって求められた値以内とする。
L
直角度 .001
1 000
ここに, L : 測定長を表す数値(mm)
――――― [JIS B 7517 pdf 18] ―――――
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B 7517 : 2018
c) ベース基準面とスクライバ測定面との平行度 ハイトゲージのベース基準面とスクライバの測定面
との平行度は,5.5.2によって測定したとき0.01 mm以内とする。
5.5.2 性能の測定方法
ハイトゲージの性能の測定方法は,表6による。
表6−ハイトゲージの性能の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
ベース基準 a) 精密定盤上に定置した呼び ・JIS B 7506に規定す
面の平面度 寸法の等しい2個のブロッ てこ式ダイヤル ハイトゲージ
る2級ブロックゲー
クゲージ又はゲージ類の上 ゲージ又は
電気マイクロメータ
ジ又はこれと同等
にハイトゲージを載せる。 以上のゲージ
b) スタンドに取り付けた てこ スタンド
・JIS B 7513に規定す
式ダイヤルゲージ又は電気 る1級の精密定盤
マイクロメータの測定子を ・JIS B 7533に規定す
ベース基準面に当てて測定 る目量0.002 mmて
する。得られた最大値と最小 こ式ダイヤルゲー
値との差を求める。 ジ
精密定盤 ブロックゲージ
・JIS B 7536に規定す
る電気マイクロメ
ータ
・スタンド
ベース基準 a) 堅ろうなスタンドに目量 ダイヤル・JIS B 7513に規定す
ゲージ
面と本尺又 0.01 mmのダイヤルゲージ2 る1級の精密定盤
は柱の基準 個をハイトゲージの柱又は ・JIS B 7526に規定す
端面との直 本尺の上下端に接触するよ るI形1級,平形又
ハイト
角度 うに取り付ける。 スタンド
直角定規 ゲージ は台付直角定規
b) 精密定盤上で直角定規で0 ・JIS B 7503に規定す
点調整して測定する。 る目量0.01 mmダイ
ヤルゲージ
・スタンド
精密定盤
ベース基準 a) 精密定盤上にハイトゲージ ・JIS B 7513に規定す
面とスクラ のベース基準面を密着させ る1級の精密定盤
てこ式ダイヤル
イバ測定面 て載せる。 ゲージ又は ・JIS B 7533に規定す
電気マイクロメータ
との平行度 b) スタンドに取り付けた てこ る目量0.002 mmて
式ダイヤルゲージ又は電気 こ式ダイヤルゲー
ハイトゲージ
マイクロメータの測定子を ジ
スクライバ測定面に当てて ・JIS B 7536に規定す
測定する。 る電気マイクロメ
c) 得られた最大値と最小値と ータ
の差を求める。 スタンド 精密定盤 ・スタンド
6 製品文書における表示
製品文書における最大許容誤差の表示の記号を,参考として附属書JAに示す。
――――― [JIS B 7517 pdf 19] ―――――
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B 7517 : 2018
7 仕様への適合の検証
7.1 一般
仕様への適合及び不適合の検証は,国際的に認められている仕様の範囲と合格の範囲が等しい場合の合
格基準(simple acceptance)を用いる。
注記 国際的に認められている合格基準とは,ISO/TR 14253-6:2012である。ただし,高性能機種の仕
様への適合及び不適合の検証は,JIS B 0641-1に準じることが望ましい。
7.2 計測特性及び性能の校正のための標準器
標準器は,国家標準又は国際単位系(SI)に対してトレーサブルな標準器を用いる。
7.3 標準温度
この規格で規定する性能の仕様は,JIS B 0680に規定する標準温度20 ℃における値とする。
8 検査
ハイトゲージの検査は,寸法,表示方式,測定子及びスクライバ,ベース,構造及び機能,硬さ,並び
に計測特性及び性能について行い,4.34.8及び箇条5の規定に適合しなければならない。
9 表示
ハイトゲージには,見やすい箇所に,容易に消えることがなく,かつ,品質を損なわない方法で,次の
事項を表示する。
a) アナログ表示の場合 : 目量又は最小読取値,及びそれらの単位記号
デジタル表示の場合 : 表示値の単位記号
b) 最大測定長
c) 製造業者名若しくは供給業者名又はその略号
d) 製造番号(英数字)
――――― [JIS B 7517 pdf 20] ―――――
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JIS B 7517:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 13225:2012(MOD)
JIS B 7517:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7517:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0642:2010
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―測定器の一般的な概念及び要求事項
- JISB0680:2007
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
- JISB7503:2017
- ダイヤルゲージ
- JISB7506:2004
- ブロックゲージ
- JISB7513:1992
- 精密定盤
- JISB7526:1995
- 直角定規
- JISB7533:2015
- てこ式ダイヤルゲージ
- JISB7536:1982
- 電気マイクロメータ
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISZ8103:2019
- 計測用語