6
B 7544-1994
番号 性能 測定方法 図 測定用具 備考
4 器差 最小測定長における JIS B 7506に規
誤差をゼロに調整し 定する0級又は1
た後,精密定盤上に 級のブロックゲ
最大測定長より長 ージ又はこれと
く,かつ,寸法の等 同等以上のゲー
しい一対のブロック ジ
ゲージを置き,これ JIS B 7513に規
にマイクロメータの 定する0級又は1
基準面を密着させ 級の精密定盤又
る。 はこれと同等以
次に,マイクロメ 上の定盤
ータと精密定盤との
間に,別のブロック
ゲージを置き,マイ
クロメータのラチェ
ットを回して,測定
面を接触させたとき
のマイクロメータの
読みとブロックゲー
ジの寸法との差を求
める。
5 スピンド 番号4の手順で求め スピンドルが差
ルの送り た各測定長における し替えられるも
誤差 器差のうち最大値と のの場合は,0
最小値との差を求め 25mm用の替え
る。 スピンドルを使
用して測定した
ときの器差の最
大差からスピン
ドルの送り誤差
を求める。
――――― [JIS B 7544 pdf 6] ―――――
7
B 7544-1994
番号 性能 測定方法 図 測定用具 備考
6 測定力 はかり又は力計の荷 目量20g以下の
重点とスピンドルの 上皿ばね式指示
測定面中心との間に ばかり
鋼球を挟み,スピン 感度0.2N以下の
ドルの軸が鉛直にな 力計又は同等以
り,かつ,はかり又 上の精度の測定
は力計の読みが零に 機
なるように両者を調
整した後,ラチェッ
トストップ又はフリ
クションストップを
回転させ,はかり又
は力計の読みの最大
値を読み取る。
この手順を5回繰
り返し,その平均値
を求める。
7 測定力の 番号6の手順によっ
ばらつき て求めた測定力の最
大値と最小値との差
を測定値とする。
備考 器差及びスピンドルの送り誤差の測定に使用するブロックゲージの寸法は,スピンドルの整数回転の位置だけ
でなく,中間の位置の誤差も求められるようなものを選ぶことが望ましい。
例えば,ブロックゲージの寸法差が2.5mm,5.1mm,7.7mm,10.3mm,12.9mm,15mm,17.6mm,20.2mm,
22.8mm及び25mmとなるように,ブロックゲージをセットにして使用すればよい。
11. 検査 マイクロメータの検査は,測定範囲,性能,目盛,形状・寸法,構造及び機能,並びに材料及
び硬さについて行い,4.,5.,6.,7.,8.及び9.の規定に適合しなければならない。ただし,測定面に超硬
合金を用いたものは,その硬さの測定を省略してもよい。
12. 製品の呼び方 マイクロメータの呼び方は,規格番号又は規格の名称,測定範囲及び機械式又は電子
式ディジタル表示の有無による。
例 JIS B 7544 0 25mm
デプスマイクロメータ 0150mm
デプスマイクロメータ0150mm 電子式ディジタル表示
13. 表示 マイクロメータには,次の事項を表示しなければならない。
(1) 測定範囲(4)
(2) 目量又は最小表示量
(3) 製造業者名又はその略号
注(4) 測定範囲は,格納箱に表示する。
14. 取扱い上の注意事項 電子式ディジタル表示のものは,磁場,電界,湿度,ノイズなど,その電子部
分の機能に影響を受ける場合があるため,その使用環境に対して特に注意が必要である。
――――― [JIS B 7544 pdf 7] ―――――
8
B 7544-1994
附属書 デプスマイクロメータ用替えスピンドル
1. 適用範囲 この附属書は,デプスマイクロメータ用の替えスピンドルについて規定する。
2. 名称 替えスピンドルの名称は,附属書図1による。
附属書図1 主要部の名称
3. 呼び寸法の種類 替えスピンドルの呼び寸法は,その替えスピンドルを用いた場合の最大測定長によ
って表し,その種類は,附属書表1による。
附属書表1 呼び寸法の種類
単位 mm
25 125 225
50 150 250
75 175 275
100 200 300
4. 形状・寸法 替えスピンドルの形状及び寸法は,次による。
(1) 測定面の形状は,平面とする。
(2) 替えスピンドルの直径は,44.5mmとする。
5. 替えスピンドルを差し替えたときのゼロ点のずれ 替えスピンドルを差し替えたときのマイクロメ
ータのゼロ点のずれの許容値は,附属書表2による。
附属書表2 ゼロ点のずれの許容値
替えスピンドルの呼び寸法 mm 許容値
25 ±3
25を超え 75以下 ±4
75を超え 150以下 ±5
150を超え 225以下 ±6
225を超え 300以下 ±7
――――― [JIS B 7544 pdf 8] ―――――
9
B 7544-1994
6. 材料 替えスピンドルの材料は,規格本体の表6による。
7. 替えスピンドルを差し替えたときのゼロ点のずれの測定方法 替えスピンドルを差し替えたときの
マイクロメータのゼロ点のずれの測定方法は,附属書表3による。
附属書表3 ゼロ点のずれの測定方法
項目 測定方法 図 測定用具
マイクロメー 025mm用の替えスピンド JIS B 7506に規定する
タのゼロ点の ルを取り付けたときのゼロ 0級,1級のブロックゲ
ずれ 点における誤差がゼロに調 ージ,又はこれと同等
整されていることを確認す 以上のゲージ
る。 JIS B 7513に規定する
次に,替えスピンドルを差 0級,1級の精密定盤,
し替え,その替えスピンドル 又はこれと同等以上の
によって測定できる最小測 定盤
定長と対応するように定盤
上のブロックゲージの寸法
差を調整した後,測定力をか
けて測定したときのマイク
ロメータの読みを求める。
――――― [JIS B 7544 pdf 9] ―――――
10
B 7544-1994
参考 デプスマイクロメータの総合誤差
この参考は,デプスマイクロメータの総合誤差について記述するもので規定の一部ではない。
規格本体の表2の性能に適合するデプスマイクロメータを用いて標準状態,又はこれに近い環境の下で,
金属又はこれと同等の材質の品物を測定した場合の総合誤差は,参考表1による。
参考表1 デプスマイクロメータの総合誤差
最大測定長 mm 総合誤差
25以下 ±7
25を超え 50以下 ±8
50を超え 100以下 ±9
100を超え 150以下 ±10
150を超え 200以下 ±11
200を超え225以下 ±12
225を超え250以下 ±13
250を超え275以下 ±14
275を超え300以下 ±15
備考 電子式ディジタル表示のものは,表示されている
末尾のけたのところで数字の一つ分の不確かさ
による誤差は,総合誤差に含まれていない。
JIS B 7502 改正原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 石 森 晴 日本精密測定機器工業会
津 田 博 通商産業省機械情報産業局
若 松 茂 三 工業技術院標準部
清 野 昭 一 財団法人日本品質保証機構
小 山 誠 財団法人機械振興協会
高 内 国 士 ISO/TC3/SC3国内対策委員
庄 司 典 明 神奈川県工業試験所
川 口 廣 株式会社科学計器研究所
風 間 正 也 株式会社ツガミプレジション
宮 林 光 行 株式会社彌満和製作所
青 木 往 男 株式会社鷺宮製作所
今 永 亨 日本測定工具株式会社
猪 原 進 株式会社ミツトヨ
岡 村 清 治 株式会社中村製作所
(事務局) 羽 田 勝 彦 日本精密測定機器工業会
市 川 忠 治 日本精密測定機器工業会
JIS B 7544:1994の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器