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(b) 光電電解式測定器 光電電解式測定器は,附属書参考図3に示すように受光器(シリコン光電池)
が受ける放射エネルギーに応じて析出した水銀を計量して放射露光量を測定する。
測定器は,紫外・可視 (300700nm) 間の波長範囲の放射エネルギーを測定できるもので,入射
光補正器として受光器の前に紫外・可視用測定器フィルターを取り付けて使用する。1目盛の値の
校正値は,J/m2で付けられる。
(c) 熱電式測定器 熱電式測定器は,附属書参考図12の光電式受光器の代わりに熱電式受光器を用い
たもので,紫外−可視−赤外部の全波長 (3003 000nm) にわたる放射照度又は放射露光量を測定
する。
(d) 分光放射計 分光放射照度を測定し,これから必要な波長の放射照度を求める方法で,附属書参考
図46に示すように,発光体の分光分布が測定できる分光放射計を使用し,積分球又は拡散板を介
して測定する。
附属書参考図1
附属書参考図2
附属書参考図3
――――― [JIS B 7754 pdf 16] ―――――
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附属書参考図4 附属書参考図5
附属書参考図6
4. 測定方法
4.1 光電式測定器の場合 受光器を試験片と並べて試験片回転枠に取り付け,試験片とともに光源の周
囲を回転させて測定するか,又は試験に影響を及ぼさない位置に固定して測定し,放射照度(単位W/m2),
分光放射照度[単位W/(m2・nm)],放射露光量(単位J/m2)及び分光放射露光量[単位W/(m2・nm)]を求
める。
また,放射露光量又は分光放射露光量を測定した場合には必要に応じて,その値を点灯時間で割り,放
射照度(単位W/m2)又は平均分光放射照度[単位W/(m2・nm)]を求める。
なお,受光器を試験片と並べて取り付け,回転させて測定する場合は,受光器は放射による熱の影響を
受けないような構造とする。
4.2 光電電解式測定器の場合 測定器を試験片と並べて試験片回転枠に取り付け,試験片とともに光源
の周囲を回転させて露光し,露光時間中に析出した水銀の高さを目盛で読み取り,それに1目盛当たりの
校正値(単位J/m2)を乗じて,その時間中の放射露光量(単位J/m2)を求め,その値を点灯時間で割り,
放射照度(単位W/m2)を求める。
なお,測定は,試験片の試験と同時に行い試験片への水噴霧の有無にかかわらず,試験状態のままで行
うことができる。
4.3 熱電式測定器の場合 測定の操作は,4.1に準じる。
――――― [JIS B 7754 pdf 17] ―――――
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4.4 分光放射計の場合
(a) 分光放射照度標準電球を用いて,受光器の分光感度補正を行う。この補正は,最大の放射照度をも
つ波長の値を,相対値で100%を超えない値にするためと,受光器が波長による感度特性をもって
いるため,精密測定した波長ごとの相対値が,標準電球の各波長ごとの分光放射照度値と相対的に
合うようにするためで,例えば附属書参考図7に示す形となる。
なお,分光放射計の波長幅は,受渡当事者間の協定による。
附属書参考図7
(b) 次に発光部からの光を入射し,各波長ごとに相対放射照度を測定し,(a)で測定した標準電球の読み
値と絶対値との関係から附属書参考図8に示すように絶対値に値付けして分光放射照度を求める。
附属書参考図8
(c) 上記で求めた分光放射照度を附属書参考図9に示すように所定の波長域(例えば,300400nm)で
積分し,放射照度(単位W/m2)を求める。
――――― [JIS B 7754 pdf 18] ―――――
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附属書参考図9
5. 校正値の管理 放射測定器の校正値の経時変化に対する管理は,校正値付測定器及び校正用光源装置
を使用して次の方法で行う。
(1) 測定用及び校正用の2台用意し,校正には二つの受光器を光源に向けて並べて設置し,任意の時間露
光して,その結果の計測値を比較する。
(2) 校正用光源装置(校正用光源,安定光源及び点灯装置)を用意し,測定器受光部と校正用光源装置と
を一定の間隔で設置して受光させ,使用前と使用後との測定値を比較する。
なお,(1)及び(2)の管理は,適当な頻度で行う。
備考 放射測定器に付けられた校正値は,特定波長用を除きキセノンアークランプの測定にだけ有効
であって,その他の光源への流用はできない。
参考 光源の校正を行う実用的な方法として,次の二つがある。
(1) IS K 7200[耐光(候)試験機の照射エネルギー校正用標準試験片]による方法。
(2) IS L 0841(日光に対する染色堅ろう度試験方法)に規定するブルースケールを用いる方法。
関連規格 JIS B 7751 紫外線カーボンアーク灯式耐光性及び耐候性試験機
JIS B 7753 サンシャインカーボンアーク灯式耐候性試験機
JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方
――――― [JIS B 7754 pdf 19] ―――――
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JIS改正原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 山 形 昭 衛 東京都立立川短期大学家政学科
高 橋 明 通商産業省機械情報産業局
吉 田 藤 夫 工業技術院標準部
渡 辺 寧 工業技術院繊維高分子材料研究所
外 川 靖 人 工業技術院製品科学研究所
上 野 和 義 都立繊維工業試験場
峰 松 陽 一 芝浦工業大学工学部
田 村 恭 早稲田大学理工学部
池 田 順 一 財団法人日本規格協会
篠 原 貫 壽 財団法人日本ウエザリングテストセンター
大 石 不二夫 財団法人鉄道総合技術研究所
佐 藤 博 日本電信電話株式会社技術協力センター
今 井 修 二 財団法人化学品検査協会
高 野 忠 夫 財団法人高分子素材センター
大日本インキ化学工業株式会社鹿島工場(社団法
永 野 欽 司 人色材協会)
日産自動車株式会社中央研究所(社団法人自動車
渡 辺 幸 雄 技術会)
鈴 木 音次郎 財団法人日本化学繊維検査協会
斉 藤 昇 栄 財団法人日本染色検査協会
昭和電線電纜株式会社材料研究部(社団法人日本
会 田 二三夫 電線工業会)
関西ペイント株式会社技術企画管理部(社団法人
佐 藤 精 孝 日本塗料工業会)
野 中 典 夫 財団法人日本紡績検査協会
設 楽 正 弘 板橋理化工業株式会社
前 川 武 治 株式会社島津製作所航空機器事業部工業機器部
須 賀 蓊 スガ試験機株式会社
青 園 隆 司 タバイエスペック株式会社環境試験機器本部
菅 藤 好 美 株式会社東洋精機製作所
長 野 保 雄 株式会社ナガノ科学機械製作所
内 藤 昌 弘 株式会社丸東製作所
(事務局) 菅 野 久 勝 日本試験機工業会
JIS B 7754:1991の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 7754:1991の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1102:1981
- 指示電気計器
- JISG3442:2015
- 水配管用亜鉛めっき鋼管
- JISG3459:2016
- 配管用ステンレス鋼鋼管
- JISG3459:2021
- 配管用ステンレス鋼鋼管
- JISG4305:2012
- 冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯
- JISG4305:2021
- 冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯
- JISG4307:1987
- 冷間圧延ステンレス鋼帯
- JISH3100:2018
- 銅及び銅合金の板及び条
- JISH3250:2015
- 銅及び銅合金の棒
- JISH3250:2021
- 銅及び銅合金の棒
- JISH3300:2018
- 銅及び銅合金の継目無管
- JISH4000:2014
- アルミニウム及びアルミニウム合金の板及び条
- JISH5101:1988
- 黄銅鋳物
- JISK6742:2016
- 水道用硬質ポリ塩化ビニル管
- JISK6762:2019
- 水道用ポリエチレン二層管
- JISZ8703:1983
- 試験場所の標準状態
- JISZ8722:2009
- 色の測定方法―反射及び透過物体色