JIS B 7754:1991 キセノンアークランプ式耐光性及び耐候性試験機 | ページ 3

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                               付図2 ブラックパネル形温度調節器

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B 7754-1991
                      参考図1 発光部,試験片ホルダ,噴霧ノズルの相対位置

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                                        参考図2 発光部

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B 7754-1991
                   参考図3 水冷式キセノンアークランプの分光放射照度(例)
                                    石英ガラスと紫外線遮断用
                                ガラス製フィルター(I)の組合せの例
                   参考図4 空冷式キセノンアークランプの分光放射照度(例)
                                    赤外線遮断用と紫外線遮断用
                                 ガラス製フィルターの組合せの例

――――― [JIS B 7754 pdf 14] ―――――

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                   附属書 放射照度及び放射露光量の測定方法
1. 適用範囲 この附属書は,試験機の放射照度及び放射露光量の測定方法について規定する。
2. 概要 発光部からの放射は短時間的には安定しているが,長時間的にはキセノンアークランプ,フィ
ルターなどの劣化及び汚染によって大きく低下するので,定期的に放射照度又は放射露光量を測定する必
要がある。これらの測定には,次のような方法がある。
(1) 放射照度計を用いて,放射照度 (W/m2) 又は特定波長における分光放射照度 [W/(m2・nm)   ] を測定す
    る。
(2) 任意の時間内の放射照度の積分値を測定して,放射露光量 (J/m2) 又は分光放射露光量 [J/(m2・nm)   ] を
    求める。
(3) 分光放射計を用いて分光放射照度 [W/(m2・nm)   ] を測定するとともに放射照度 (W/m2) を求める。
    備考1. フィルターを透過するキセノンアークランプの放射のスペクトルは,約2703 000nmの広範
            囲にわたっているが,試験機用の測定では,通常その中から紫外部 (300400nm),紫外可視
            部 (300700nm又は300800nm),可視部 (400700nm又は400800nm) 又は特定波長
            (340nm, 420nmなど) を選び出して測定する。そのために放射測定器の受光器の前に紫外用フ
            ィルター,紫外可視用フィルター,可視用フィルター又は特定波長用フィルターを取り付け
            て測定を行う。
2. 特定波長は,試験する材料の光劣化の作用波長を考慮して受渡当事者間で協定する。
  特定波長として使用するフィルターの透過極大波長を選びフィルター透過率の半値幅を測定波長幅とみ
なす。
3. 測定器 放射照度及び放射露光量の測定には,次に示す光電効果及び熱電効果応用の放射測定器又は
分光放射計を用いる。
  (a) 光電式測定器 光電式測定器は,シリコン光電池などの光電式受光器を用い,発光部からの放射を
      光電変換し,その出力を直接表示する放射照度計と積算表示する放射露光量指示器がある。
        放射照度計は,附属書参考図1に示すように受光器の光電流を増幅して計測するもので,1目盛
      の値はW/m2又はW/ (m2・nm) で付けられる。
        放射露光量は,附属書参考図2に示すように受光器の光電流を増幅した後,パルス変換器によっ
      てパルスに換え,規定時間内のパルス数を計数するもので,1カウント当たりの校正値はJ/m2又は
      J/ (m2・nm) で付けられる。
        測定器には,紫外部 (300400nm),紫外可視部 (300700nm又は300800nm),可視部 (400
      700nm又は400800nm),特定波長用 (340, 420nm) などの波長範囲別があり,それぞれ受光器の前
      に紫外用,紫外可視用,可視用,特定波長用などのフィルターを取り付けて放射照度又は放射露光
      量を測定する。
        附属書参考図12の入射光補正器は,これらのフィルター,減光器及び拡散器などを意味する。

――――― [JIS B 7754 pdf 15] ―――――

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