JIS B 7754:1991 キセノンアークランプ式耐光性及び耐候性試験機 | ページ 2

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B 7754-1991
(2) 回転機構 回転機構は,電動機及び減速機による駆動とする。
(3) 試験片ホルダ 試験片ホルダは,試験片を固定し,かつ,ラック又は回転盤に取付けできる構造であ
    ること。
            材料は,JIS G 4305に規定するSUS 304若しくはJIS H 4000に規定するA1100Pに耐食処理
          を施したもの,又はこれと品質が同等以上の材料を用いる。
    備考 裏側が開放されているもの,又は開放されていないものがある。
5.10 試験片表面噴霧装置 試験片表面噴霧装置は,試験片に対し一定周期で一定時間,円すい形で均等
かつ連続して水を噴霧する装置で,サイクルメータ,減圧弁,水圧計,電磁弁及び複数の噴霧ノズルから
なり,次による。
(1) サイクルメータ サイクルメータは,電動機,カム及びマイクロスイッチの組合せによるもの,又は
    電気式若しくは電子式タイムスイッチであって,所定の時間ごとに電磁弁を開閉することができるも
    のでなければならない。
(2) 噴霧ノズル 噴霧ノズルは,JIS H 3250に規定するC 3604 BD又はこれと同等以上の耐食性が優れた
    材料とする。
(3) 減圧弁 供給された水圧を所定の圧力に減圧できなければならない。
(4) 水圧計 噴霧圧力を示すものでなければならない。
(5) 電磁弁 サイクルメータの信号に従い開閉できる構造でなければならない。
(6) 給水経路の配管 噴霧装置の給水経路に使用する配管材料は,給水中に試験片に有害な影響を与える
    成分が析出したり,さびなどが生じる材料を用いてはならない。一般にJIS H 3300,JIS G 3459,JIS
    K 6742に規定する管又はプラスチック,ゴムなどの管を用いることが望ましい。
5.11 冷却装置 冷却装置は,次による。
(1) キセノンアークランプ冷却芸置 キセノンアークランプ冷却装置は,次による。
      キセノンアークランプから発する熱をとるもので,水冷及び空冷がある。
(2) 試験槽冷却装置(10) 試験槽冷却装置は,光源から出る放射熱によって試験槽内壁の温度が上昇し,試
    験片に影響を与えることを防ぐためのものである。必要に応じて試験槽内壁に向けて水を噴射する複
    数のノズルを設けてもよい。
      その際,噴霧水が試験片にかからないような構造でなければならない。
      材料は,JIS H 3250に規定するC 3604 BD又はこれと同等以上の耐食性が優れたものを用いなけれ
    ばならない。
    注(10) 冷却装置をもつものに適用する。
    備考 明暗サイクルの消灯時に試験片の裏面に水を噴射して,試験片を冷却する装置をもつ試験機も
          ある。
5.12 計装機器 計装機器は,次による。
(1) 積算時間計 積算時間計は,試験機の運転時間若しくはキセノンアークランプの点灯時間又はこの両
    者を積算表示できるもので,同期電動機を用いたもの又はこれと品質が同等以上のものであり,少な
    くとも9999.9h表示できること。
(2) タイムスイッチ タイムスイッチは,時計時間又は放射露光量によって運転時間を任意に設定できる
    もので,同期電動機を用いたもの又はこれと品質が同等以上のものとする。
      設定範囲 024h以上
      日量 30min以下

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(3) 放射照度又は放射露光量指示器(11) 放射照度又は放射露光量指示器は,試験片面の放射照度又は放射
    露光量を指示できるものとする。
      単位は,放射照度はW/m2,放射露光量はJ/m2で表示できること。
(4) 電力計(11) 電力計は,キセノンアークランプの放電電力を指示できるもので,JIS C 1102に規定する
    配電盤用2.5級又はこれと同等以上のもの。
(5) 電圧計(11) 電圧計は,キセノンアークランプ放電電圧及び入力電圧を実効値で指示できるもので,JIS
    C 1102に規定する配電盤用2.5級又はこれと同等以上のもの。
(6) 電流計(11) 電流計は,キセノンアークランプ放電電流を実効値で指示できるもので,JIS C 1102に規
    定する配電盤用2.5級又はこれと同等以上のもの。
(7) 温湿度指示又は記録計(11) 温湿度指示又は記録計は,ブラックパネル温度,試験槽温度(乾球又は湿
    球),試験槽内相対湿度などを指示又は記録できるもの。
(8) 水圧計(11) 水圧計は噴霧の水圧を指示できるもの。
(9) 水質計(11) 水質計は,噴霧用の水,水冷式キセノンアークランプ冷却用の水などの規定のうち電気伝
    導率を指示できるもの。
    注(11) それぞれの機器を備えたものに適用する。
5.13 絶縁抵抗 試験機の絶縁抵抗は,1M     坎  上とする。
6. 安全装置(12) 安全装置は,試験機の操作における安全確保のため,水冷式キセノンアークランプを使
用する試験機では,キセノンアークランプ冷却水不足の際に,また,空冷式のものでは,送風停止の際に
電源を遮断するものでなければならない。
  また,停電,試験槽温度の過上昇,電動機過電流に対応する安全装置,試験槽の扉を開けた状態でキセ
ノンアーク始動装置が動作しない安全装置及び電気回路の安全装置を設けなければならない。
    注(12) この安全装置は,試験片の保全のためにも有効である。
7. 表示 試験機には,見やすい箇所に次の事項を表示しなければならない。
(1) 名称又はその略称
(2) 製造業者名又はその略号
(3) 製造年月
(4) 製造番号
(5) 入力電圧(V)
(6) 周波数(Hz)
(7) 設備電源容量(kVA)
8. 取扱い上の注意事項
8.1   設置条件 試験機設置場所の電気設備,給排水設備,環境状態などは,表2による。

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                                         表2 設置条件
         項目                                      内容
       電気設備  (1) 電源 電圧変動が少ない給電設備とし,その電圧は,AC200±20Vとする。ただし,
                    受渡当事者間の協定によって特定の電圧を選んでもよい。
                 (2) 容量 試験機に表示された設備電源容量を十分に満足すること。
                 (3) 接地 試験機は,第3種の接地を行う。
                 (4) 漏電遮断器 必要に応じて設けることが望ましい。
       給排水設備(1) 配管 給水管は,JIS K 6742,JIS K 6762,JIS G 3442に規定する管,又はこれらと
                    同等以上の材料を用いた管で施工する。
                      排水管は,詰まりなどが起こらないように配管の内径,長さ,こう配などに注意す
                    る。
                 (2) 給水圧 0.150.20MPaで水圧変動が少ないこと。必要に応じて水圧計を設ける。
                 (3) 水質 使用する水のpHは6.08.0とし,用途に応じて,次に述べる水を用いる。
                      また,必要に応じて脱イオン装置などを用いる。
                   (a) 噴霧用の水 試験片に付着物が生じない水(13)。
                   (b) 試験槽冷却用の水 試験室内壁などに,さびが生じない程度の清浄な水。
                   (c) 加湿器用の水 水あか又はさびが生じない水。
                   (d) キセノンアークランプの冷却用の水 キセノンアークランプ(水冷式)及びフィル
                      ターに付着物が生じない水。
                   (e) ウイック給湿用の水 ウイックの給湿性を低下させたり,給水管に目詰まりが生じ
                      ない程度の清浄な水。
                   (4) 水温 1020℃とするのが望ましい。
       環境状態  (1) 温度 設置場所の温度は,JIS Z 8703に規定する標準温度状態23℃5級 (23±5℃) と
                    するのが望ましい(14)。
                 (2) 湿度 設置場所の湿度は,JIS Z 8703に規定する標準湿度状態65%20級(相対湿度
                    65±20%)とするのが望ましい。
                 (3) 排気設備 試験機から排出する熱気及び発生ガスは,直接屋外に排出することが望ま
                    しい。
                 (4) ちり,ほこりが少ない場所であること。
                 (5) 外部からの有害ガスの影響がない場所であること。
       その他    (1) 水平に設置する。
                 (2) 振動が少ない場所であること。
       注(13) 噴霧用の水は,試験結果に影響するので,試験材料に応じて電気伝導率を適宜選択することが望
            ましい。
              なお,装置によっては,給水経路が分割されていないものがある。
         (14) 規定した環境状態が得られず,また,規定した温度条件が保てない場合に,試験条件に影響を及
            ぼさないように,吸気の温度調節など適切な配慮をすることが望ましい。
                                 (参考) 給水設備の水質の例
                          種類       用途                水質
                          XF形 ウイック用      pH 6.08.0
                                               全固形分 200ppm以下
                                加湿器用       pH 6.08.0
                                               全固形分 100ppm以下
                                キセノンアーク pH 6.08.0
                                               全固形分 100ppm以下
                                ランプ(空冷式)
                                のフィルター冷
                                却用

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                                                                                    B 7754-1991
                          種類       用途                水質
                          XW    噴霧水用        pH 6.08.0
                          形                    全固形分 20ppm以下
                                                脱イオン水が望ましい。
                                キセノンアーク pH 6.08.0
                                               電気伝導率 10
                                ランプ(水冷式)            一         下
                                の冷却用       全固形分 20ppm以下
                                               脱イオン水が望ましい。
                                キセノンアーク pH 6.08.0
                                               全固形分 100ppm以下
                                ランプ(空冷式)
                                のフィルター冷
                                却用
                                加湿器用       pH 6.08.0
                                               全固形分 100ppm以下
                                試験槽冷却用   pH 6.08.0
8.2   運転操作 運転に伴う注意事項は,表3による。
                                         表3 運転操作
           項目                                       内容
      操作者の安全確保 (1) 発光部から発する光には,紫外線が豊富に含まれているので,やむを得ず発光
                         させたまま試験槽内を観察したりするときは,紫外線及び赤外線遮断ガラスの眼
                         鏡を用い,裸眼で見たり,また皮膚に照射を受けたりしないこと。
                      (2) 運転中,発光部周辺は通電しており,また高熱になっているので,直接又は金
                         属などを介して間接にも触れないこと。
                      (3) 送風機などの回転部は,運転中,点検などのために手を触れないこと。
      発光部の点検    (1) 運転前に各部品及び絶縁物の異状の有無を点検し,異状があれば修理を行う。
                      (2) 発光部は,キセノンアークランプの電気回路になっている部分が多いので,運
                         転中は,直接又は金属などを介して間接にも触れないこと。
      噴霧圧力の調整  水圧が変わったときは,減圧弁を調整する。特に夜間など特定時間に水圧変動が起
                      きる場合があるので,注意しなければならない。
      ウイックの取扱い XF形に用いるウイック又は湿度検出に用いるウイックは,新しいものは柔軟性があ
                      り,十分に水分を含んでいるが,使用中にほこり,水あかが付着して硬化し,吸水
                      能力が低下するので,ときどき目視観察と手ざわりとによってウイックの状態を調
                      べ,必要に応じて洗濯したり新しいものと交換する。
      その他          試験機の運転開始時には,特に発光部,回転機構,送風機などの作動状態を確認す
                      る。
8.3   発光部の取扱い
(1) キセノンアークランプ及びフィルターは,その表面に手あか(垢),指紋その他の汚れが付着しないよ
    うに注意して取り扱う。万一汚れが付着したときは,それを取り除いてから点灯する。
      また,冷却水,冷却空気などによる汚れが付着しているときは(目に見えない汚れが付着している
    場合があるので,十分に確認する。),それを取り除いてから点灯する。
(2) 入力電圧の変動に対するキセノンアークランプの電力の調節は,点灯後電力を確認し,必要に応じて
    調整すること。特に夜間には入力電圧が上昇する場合が多いので,注意する。
(3) キセノンアークランプは,使用時間につれて放射エネルギーが減衰するので,設定した放射照度が保
    てなくなったときには,交換しなければならない(15)。
    注(15) ランプの寿命は,点滅の度合い,点灯電力の大小によって異なる。
(4) フィルターは,石英ガラス(分光透過率の減退が少ない。)を除き,使用時間につれて分光透過率が減

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    少する。特に紫外部が大きい。そのため適切な使用時間ごとに新しいものと交換する(16)。
    注(16) フィルターの寿命は,使用条件によって異なる。
(5) 発光部の使用時間に伴う放射照度の減衰の調節は,次による。
  (a) 段階的ランプ電力調節方式 あらかじめ定めた使用時間が経過するごとにキセノンアークランプの
      電力を手動で調節する。
  (b) 放射照度又は放射露光量測定による手動調節方式 受光器(17)をラック又は回転盤に試験片ととも
      に回転させるか又は適当な位置に固定して,放射照度又は放射露光量を測定し,放射照度が一定に
      なるようにキセノンアークランプの電力を手動で調節する。
    注(17) 受光器は,温度,湿度などの影響を受けない構造又は取付方法による。
  (c) 自動制御方式 設定した放射照度が自動的に維持される。
8.4   ブラックパネル温度計の取扱い ブラックパネル温度計の取扱いは,次による。
(1) ブラックパネル温度計は,使用状況に応じ,適当な時期に正確さを確認する。
(2) ブラックパネル温度計の取付け又は取外しに際しては,衝撃を与えたり,きずを付けたりしないよう
    注意する。
(3) ブラックパネル温度の読取りは,ブラックパネル温度計をラック又は回転盤に取り付け,その指示温
    度が安定した時点で,連続して適当な回数で読み取り,その平均値を求め,ブラックパネル温度計の
    指示温度とする。ただし,XW形では試験片表面への噴霧終了後に取り付けて読み取る。
                                  付図1 ブラックパネル湿度計

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