JIS C 2103:2013 電気絶縁用ワニス試験方法 | ページ 4

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C 2103 : 2013
6.5.1.3  手順
  試験片3個を試験する。試験装置の配置は,二つの金属製円柱の間に中間層としてゴム円盤を介して試
験片を置いた構成とする。全体の配置の一例を,図1に示す。
                                                                            単位 mm
                               図1−体積抵抗率の試験装置の配置例
  試験電圧は直流で,1 000 V/mmの電界が得られるように調整する。試験片は,脱塩水に浸せきする前及
び浸せきした後に試験する。特に規定がない場合,水の温度は23 ℃±2 ℃とし,浸せき時間は168時間
±1時間(7日間)とする。試験片を水から取り出し,ろ紙の間に挟んで余分な水を吸い取った後,直ちに
試験装置に取り付ける。抵抗の測定は,取付け完了後15分±1分間後に始める。読みは,電圧を印加して
から60秒±5秒間後に行う。
  例えば,上部電極の直径が60 mmの場合,体積抵抗率は,次の式によって計算する。
                            .283 R
                            d1  d2
                      ここに,    ρ :  体積抵抗率(  攀
                                 d1 :  鋼板の上面の塗膜の厚さ(mm)
                                 d2 :  鋼板の下面の塗膜の厚さ(mm)
                                 R :  抵抗の測定値(体積抵抗)(   
  上部電極の直径が60 mm以外の場合は,係数2.83を次によって置き換える。
                                   2
                            .283 D
                         k
                              3 600
                      ここに,    k :  係数
                                 D :  電極の直径(mm)
6.5.1.4  報告
  各鋼板の両面の塗膜の厚さ,電極の直径,用いた電圧,水浸せき前後の3個の試験結果及び適用した規
格を報告する。試験結果は,体積抵抗及び体積抵抗率とする。

――――― [JIS C 2103 pdf 16] ―――――

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6.5.2  誘電正接(tanδ)及び比誘電率(εr)
  誘電正接及び比誘電率は,JIS C 2138による。試験する材料にJIS C 2138が適用できない場合は,6.5.2.1
6.5.2.4の方法を用いてもよい。
6.5.2.1  装置
  装置は,市販のインピーダンスメータで,精度±10 %のものとする。
6.5.2.2  試験片
  試験片は,6.1.1に規定する鋼板に塗装したものとする。
6.5.2.3  手順
  塗装した鋼板の金属板部分を下部電極として用いる。上部電極は,直径40 mm以上とし,遮蔽電極で囲
ってあってもなくてもよい。上部電極は,下部電極の中心に置き,下部電極の端部から10 mm以上離れる
ようにする。上部電極は,導電性塗料(銀又はグラファイト)を塗るか,厚さが0.005 mm以下の金属は
くを少量の油ではり付けるか又は同等の適切な手順で形成する。
  特に規定がない場合,試験は,23 ℃±2 ℃で,周波数1 kHzの正弦波電圧で行う。試験片との接続は,
試験装置の取扱説明書による。試験片2個を試験する。
6.5.2.4  報告
  報告には,次の事項を報告する。
a) 試験条件 試験条件は,次の事項を報告する。
  1) 各鋼板の塗膜の厚さ
  2) 試験温度
  3) 用いた電極
  4) 試験電圧及び用いた周波数
b) 試験結果 試験結果は,次の事項を報告する。
  1) 適用した規格
  2) 誘電正接及び比誘電率
6.5.3  絶縁破壊電圧及び絶縁破壊の強さ
  絶縁破壊電圧及び絶縁破壊の強さは,JIS C 2110-1による。試験する材料にJIS C 2110-1が適用できな
い場合は,電極,試験片及び周囲媒体を6.5.3.16.5.3.4のように修正してもよい。
6.5.3.1  電極
  電極の配置は,球−平面とする。高電圧電極は,直径10 mm±0.000 5 mmで表面粗さが0.001 mm以下
の研磨した鋼球とする。この鋼球として,ボールベアリング(クラスIII)に用いる研磨した鋼球が容易に
入手でき,この目的に適用できる。
  塗装した試験片の金属板を接地電極として用い,これをアースに接続した直径75 mm±1 mmで角を直
径3 mm±0.1 mmの丸みを付けた板の上に置く。全体の配置の一例を,図2に示す。
    注記 球−平面の電極配置では,平面−平面の組合せに対して,球の直径及び試験片の厚さによって
          電界の強さが少し増加する。例えば,直径10 mmで試験片の厚さ0.1 mmでは,平面−平面の
          組合せでの電界の強さに比べて約10 %増加する。
6.5.3.2  試験片
  試験片は,6.1.1に規定する鋼板に塗装したものとする。
6.5.3.3  手順
  電圧の上昇率は,200 V/s以下とする。特に規定がない場合,試験温度は23 ℃±2 ℃とする。試験は,

――――― [JIS C 2103 pdf 17] ―――――

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規定の温度に調整し循環させた絶縁油中に,試験片及び電極を置いて行う。特に規定がない場合,JIS C
2320に規定する未使用の鉱物性絶縁油又はIEC 61099:2010に規定する未使用の合成有機エステルを用い
る。試験片5個を試験する。
    注記 試験装置として組立式で液体を入れることができ,下部にアース電極を取り付けた適切な大き
          さの丸いガラス容器を用いた場合,電圧を印加するときに試験片の状態を目視で確認ができる。
          さらに,このような容器では,アースとの接続が可能で,また,底から絶縁油を入れ,上部か
          ら流出させることができる(図2参照)。
6.5.3.4  報告
  試験温度,用いた絶縁油の種類及び適用した規格に基づく5個の試験結果を報告する。試験結果には,
破壊した箇所の試験片の厚さ,絶縁破壊電圧及び絶縁破壊の強さを含める。

6.6 鉄に対する水系,又はエマルジョン系ワニスの発せい(錆)性(水系又はエマルジョン系)

  鋼板は6.1.1によるもので,6.1.3によって塗装されたものとする。硬化及び/又は乾燥直後に鋼表面に,
発せい(錆)又は変色の跡の有無を調べる。発せい(錆)の報告は“あり”又は“なし”とする。

6.7 水系又はエマルジョン系ワニスの揮発有機成分量(水系又はエマルジョン系)

  揮発分量が質量分率15 %以上の場合はISO 11890-1:2000に規定する方法,揮発分量が質量分率15 %未
満の場合にはJIS K 5601-5-1に規定する方法を用いる。

6.8 水系又はエマルジョン系ワニスの水分含有量(水系又はエマルジョン系)

  JIS K 0113の8.(カールフィッシャー滴定方法)に規定する方法を用いる。
                                       図2−電極の配置例

――――― [JIS C 2103 pdf 18] ―――――

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                                         附属書JA
                                          (規定)
                                   塗膜厚さの測定方法
  この附属書は,ISO 2808:1997に規定する塗膜厚さの測定方法の概要を示す。
     測定No.及び内容        技術内容及び適用   測定器具の誤差a) 及び精度      特記事項
 方法No.1                A. コームゲージ                 −            測定によって,乾いたときの
 ぬれた皮膜の厚さの評価  塗布したばかりのぬれた                        大体の皮膜厚さが得られる。
                         塗膜厚さのための測定方                        現場で使用可。
                         法                                            実験室で測定する場合は,ひ
                         B. ホイールゲージ     誤差 : ±2.5 %+1 μm    ょう量法で乾燥皮膜の厚さ
                         C. ひょう量法         再現性 : ±15 μm        の測定に適用する。
                         塗布したばかりのぬれた
                         塗膜厚さのための測定方
                         法
 方法No.2                押付け式のジグによって測定値は,正確ではない。 平均の厚さが,指定の範囲内
 乾燥皮膜の面積に対する  測定することができない                        であることを確認するため
 質量を測定し,計算によっくらい軟質の皮膜に適用                        測定する。
 て厚さを算出            する。                                        塗膜は,損傷を受けない。
 方法No.3                A. マイクロメータ法   誤差 : ±2 μm           塗膜は,マイクロメータヘッ
 押付け式のジグを用いて  試験パネル又は塗膜表面再現性 :                 ドの接触に十分耐え得る強
 乾燥皮膜の厚さを測定    がかなり平滑なもの    ・薄膜の場合,±30 %,  度をもっていることが必要。
                                               ・厚膜の場合,±20 %    塗膜は,試験中に損傷を受け
                                                                       る。
                                                                       この方法は,25 μm以下の塗
                                                                       膜厚さには一般的に適用で
                                                                       きない。
                         B. ダイヤルゲージ法   再現性 : ±10 %          塗膜は,ダイヤルゲージヘッ
                         試験パネル又は塗膜表面(膜厚が2 μm以上のもの ドの接触に十分耐え得る強
                         がかなり平滑なもの又はに適用)                度をもっていることが必要。
                         一方向に湾曲しているも
                         の
 方法No.4                十分平滑な表面の塗膜の再現性 : ±10 %          塗膜は,プロファイル追跡触
 プロフィロメトリック法  判定方法を推奨する。  (膜厚が2 μm以上のもの 針の刻みに十分耐え得る強
 によって乾燥塗膜の厚さ                        に適用)                度をもっていることが必要。
 を測定                                                                塗膜は,試験中に損傷を受け
                                                                       る。
 方法No.5                A. 断面観察法         誤差 : ±2 μm           被塗布物を切り出し,注型樹
 マイクロスコープ法によ  種々の工程を経た基材上再現性 : ±10 %          脂に埋め込み硬化する。その
 って乾燥塗膜の厚さを測  の塗膜,例えば,ブラス                        硬化物の断面を切断し,研磨
 定                      トされたグリッドスチー                        した後試験片とする。
                         ルなどの塗膜の判定法を                        塗膜は,試験中に損傷を受け
                         推奨する。                                    る。
                         単一の塗料で構成された
                         塗膜に適用する。

――――― [JIS C 2103 pdf 19] ―――――

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C 2103 : 2013
     測定No.及び内容        技術内容及び適用   測定器具の誤差a) 及び精度      特記事項
                         B. 切込み法           再現性 : ±10 %          塗膜を突き抜け基材まで達
                         もろくて砕けやすい塗膜(膜厚が2 μm以上のもの する切込みには特別な切断
                         には適用できない。    に適用)                ジグが必要。
                                                                       塗膜は,試験中に損傷を受け
                                                                       る。
                         C. 表面観察法         再現性 : ±10 %          基材まで切り取られた微小
                         透明又は半透明な塗膜                          な切込み部分を観察するた
                         で,基材からきれいに                          めに,特別なマイクロスコー
                         がせる塗膜に適用する。                        プ(スプリットビームマイク
                                                                       ロスコープ)を用いる。
                                                                       透明な塗膜だけは試験中に
                                                                       損傷を受けない。
 方法No.6                A. 電磁気誘導法       誤差 : ±2 %+1 μm      塗膜は,プローブの接触に十
 磁気法 : 磁気金属基材に塗                      再現性 : ±10 %          分耐え得る強度をもってい
 布された塗膜の厚さを測  B. 永久磁石pull-off法 誤差 : ±5 %+1 μm      ることが必要。
 定                                                                    現場で使用する。
 方法No.7                         −           誤差 : ±2 %+1 μm      測定器は,渦電流原理で動作
 渦電流法 : 非磁気基材に塗                      再現性 : ±10 %          する。
 布された塗膜の厚さを測                                                塗膜は,プローブの接触に十
 定                                                                    分耐え得る強度をもってい
                                                                       ることが必要。
                                                                       現場で使用する。
 方法No.8                塗布面への測定機器接触再現性 : ±10 %          測定機器は,次のいずれかの
 非接触法                を避けたい場合に適用す                        原理で動作する。
                         る。                                          a) ベータ粒子後方散乱原
                         かなり平たん(坦)な塗                           理
                         膜に適用する。                                b) 蛍光X線原理
                                                                       測定精度のために,塗布皮膜
                                                                       は均一でなければならない。
 方法No.9                種々の工程を経た基材上          −            塗膜及び基材の溶解前後の
 (溶解物の)質量測定法  の塗膜,例えば,ブラス                        質量を測定し,その差を塗膜
                         トされたグリッドスチー                        の質量とする。その塗膜の質
                         ルなどに塗布された塗                          量を密度及び面積で除した
                         膜,及び塗膜中の有機溶                        値を塗膜の厚さとする。
                         剤に侵されない合成樹脂
                         基材に塗布された塗膜に
                         適用する。
 方法No.10               表面が凹凸(ブラスト処          −            測定器は,電磁気誘導原理で
 ブラスト処理された金属  理)した金属基材に塗布                        動作する。
 基材に塗布された塗膜の  され,乾燥した塗膜に適                        現場で使用する。
 厚さを測定              用する。                                      方法No.5A.(断面観察法)又
                                                                       は方法No.9(質量測定法)で
                                                                       行う場合がある。
 注a) 測定器具の誤差は,製造業者から提供されたデータを元にしている。

――――― [JIS C 2103 pdf 20] ―――――

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