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5.21 耐トラッキング性 試料の表面に一定条件で電解液を滴下し汚染させながら,所定電圧を加え,ト
ラッキング破壊を発生させる。滴下数が50滴で試料に0.5A以上の電流が2秒間以上流れない最大電圧値
(CTI) を求める方法について規定する。
(1) 装置 装置は,次による。
(1.1) 試験回路 試験回路は,次の条件の装置を用いる。
(a) 試験電圧 100600V(周波数は,4860Hz)
(b) 電源容量 500VA以上
(c) 短絡電流 1±0.1A
(d) 電圧変動率 通電時,10%以下
(1.2) 電極 電極は,材質が白金で図29に示す形状の電極を用いる。
図29 電極形状
(1.3) 滴下装置 滴下装置は,滴下ノズルの直径が0.91.1mmのものを用いる。
(1.4) 試験液 試験液は,次による。
(a) 組成 0.1±0.002wt%の塩化アンモニウム水溶液
(b) 抵抗率 395±5 攀 23±1℃)
(2) 試料 試料は,次による。
(a) 公称板厚 1.6mmのものを用いる。
(b) 4.2の方法で全面エッチングによって銅はくを除去する。
(c) エッチングした積層板から20×20mm以上の大きさの試料を切断する。試料数は,各試験電圧5個
とする。
(3) 前処理 前処理は,表面をエタノールガーゼて清浄後,5.1.3による。
(4) 試験 試験は,次による。
(a) 前処理後,速やかに試験を実施する。試験室の温度は,20±5℃とし,試料周辺の通風は,遮断する。
(b) 試験は,試料の銅はく除去面に対して行う。
(c) 各試験前に,電極をJIS R 6001の研磨材2 000番の粒度をもつ耐水研磨紙で研磨した後,エタノー
ルガーゼで清浄にする。白金電極が摩耗して長さ12mmになったら取り替える。
(d) 試料,電極を図30のように配置する。試験ごとに電極間の距離をブロックゲージで4±0.1mmに調
整する。
――――― [JIS C 6481 pdf 31] ―――――
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(e) 電極の試料への圧着荷重は,1±0.05Nとする。
(f) 試験液滴下量は,2030
(g) 試験液滴下間隔は,30±2秒間とする。
(h) 滴下口の高さは,30mmとする。
図30 試料,電極の配置
(5) 最大電圧値 (CTI) の求め方 最大電圧値 (CTI) の求め方は,次による。
(a) 試験電圧は,50Vの整数倍とする。
(b) 破壊は,0.5A以上の電流が2秒間以上流れる場合とする。
(c) 5個の試験を行い,いずれも50滴で破壊しない最大電圧を求め,その電圧値を最大電圧値 (CTI) と
する。
(6) 記録 記録には,次の項目を記載する。
(a) 最大電圧値 (CTI)
(b) 試験室の条件(温度,湿度)
(c) 試験液滴下量
(d) 試験液滴下間隔
(7) 注意事項 試験液の塩化アンモニウムは,試薬特級を使用する。試薬は,経時変化のおそれがあるた
め,保存期間は1年以内とし,かつ,吸湿していないものを使用する。
5.22 反り率及びねじれ率(静置法)
5.22.1 装置 装置は,次による。
(1) IS B 7513に規定の定盤,又はこれと同等以上の平面度精度をもつもので,試料の寸法以上の有効長
さをもつものとする。
(2) IS B 7524に規定のすきまゲージ,JIS B 7517に規定のハイトゲージ,又はこれと同等以上の精度を
もつものとする。
――――― [JIS C 6481 pdf 32] ―――――
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C 6481-1996
(3) IS B 7514に規定のB級(長方形断面をもつもの)の直定規で,有効長さ1 500mm以上のもの。
5.22.2 試料 試料は,受理のままの原板から裁断された銅張積層板で,大きさは,JIS C 6480の3.2.4(大
きさ)に規定の記号C,D,E,F又はSとする。
5.22.3 試験 試験は,次による。
(1) 最大反りの測定 試料を図31(1)に示すように,定盤上に凸面を上向きにして無荷重の状態に置く。
定盤と試料の辺との間の隔たりを0.1mmまで測定する。
(2) 最大ねじれの測定 試料を図31(2)に示すように,定盤上に凸面を上向きにして3か所の角が接した状
態に置く。
定盤と試料との間で平面に接していない角との隔たりを0.1mmまで測定する。
図31 静置法による反り及びねじれの測定
5.22.4 算出 次の式によって反り率W1 (%) 又はねじれ率W2 (%) を算出する。
(1) 反り率
1
W1 100
1
ここに, D1 : 最大反り量 (mm)
L1 : 最大反り部分の試料辺長さ (mm)
(2) ねじれ率
2
W2 100
2
ここに, D2 : 最大ねじれ量 (mm)
L2 : 最大ねじれ部分の試料対角長さ (mm)
付表1 引用規格
JIS B 0601 表面粗さ−定義及び表示
JIS B 0651 触針式表面粗さ測定器
JIS B 1352 テーパピン
JIS B 7502 マイクロメータ
JIS B 7507 ノギス
――――― [JIS C 6481 pdf 33] ―――――
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C 6481-1996
JIS B 7512 鋼製巻尺
JIS B 7513 精密定盤
JIS B 7514 直定規
JIS B 7516 金属製直尺
JIS B 7517 ハイトゲージ
JIS B 7524 すきまゲージ
JIS B 7526 直角定規
JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS C 1303 高絶縁抵抗計
JIS C 5603 プリント回路用語
JIS C 6480 プリント配線板用銅張積層板通則
JIS K 6900 プラスチック−用語
JIS K 6911 熱硬化性プラスチック一般試験方法
JIS K 7100 プラスチックの状態調節及び試験場所の標準状態
JIS K 7121 プラスチックの転移温度測定方法
JIS K 8540 (+) −酒石酸ナトリウム二水和物(試薬)
JIS K 8576 水酸化ナトリウム(試薬)
JIS R 6001 研磨材の粒度
JIS R 6252 研磨紙
JIS Z 3282 はんだ
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 9110 照度基準
――――― [JIS C 6481 pdf 34] ―――――
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C 6481-1996
社団法人 日本プリント回路工業会JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 坂 内 正 夫 東京大学生産技術研究所
(幹事) 茨 木 修 日本電信電話株式会社
相 沢 靖 三 富士通株式会社
阿 部 三 郎 福島協栄株式会社
植 山 悌 次 日本化成工業株式会社
尾 本 啓 芳 新神戸電機株式会社
桐 井 博 史 日本電気株式会社
島 田 良 巳 ニッカン工業株式会社
高 山 金次郎 ソニー株式会社
塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
長 嶋 紀 孝 社団法人日本プリント回路工業会
野 口 節 生 日本電気株式会社
灰 田 雄二郎 日本メクトロン株式会社
町 田 英 夫 日本シイエムケイ株式会社
本 橋 巌 株式会社東芝
森 尾 篤 夫 財団法人日本電子部品信頼性センター
古 市 正 敏 工業技術院標準部
中 島 一 郎 通商産業省機械情報産業局
(事務局) 栗 原 正 英 社団法人日本プリント回路工業会
渡 部 美 子 社団法人日本プリント回路工業会
宍 戸 正 人 社団法人日本プリント回路工業会
小 幡 高 史 社団法人日本プリント回路工業会
分科会 構成表
氏名 所属
(分科会長) 尾 本 啓 芳 新神戸電機株式会社
(副分科会長) 植 山 悌 次 日本化成工業株式会社
石 井 賢 治 ダイヤ・エレクトロニクス株式会社
大 坂 喜 義 新神戸電機株式会社
片 山 統 夫 利昌工業株式会社
金 岡 威 雄 三菱ガス化学株式会社
神 田 英 一 ソニー株式会社
神 田 健 治 ソニー株式会社
小 林 広 行 住友ベークライト株式会社
鈴 木 鉄 秋 東芝ケミカル株式会社
竹 口 和 則 利昌工業株式会社
中 村 吉 宏 日立化成工業株式会社
長谷川 鉄 司 住友ベークライト株式会社
原 田 章 治 ニッカン工業株式会社
米 本 神 夫 松下電工株式会社
(事務局) 栗 原 正 英 社団法人日本プリント回路工業会
小 幡 高 史 社団法人日本プリント回路工業会
JIS C 6481:1996の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60249-1:1982(MOD)
JIS C 6481:1996の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.180 : プリント回路及びプリント配線板
JIS C 6481:1996の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISB0651:2001
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の特性
- JISB1352:1988
- テーパピン
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISB7507:2016
- ノギス
- JISB7512:2018
- 鋼製巻尺
- JISB7513:1992
- 精密定盤
- JISB7514:1977
- 直定規
- JISB7516:2005
- 金属製直尺
- JISB7517:2018
- ハイトゲージ
- JISB7524:2008
- すきまゲージ
- JISB7526:1995
- 直角定規
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC1303:1972
- 高絶縁抵抗計
- JISC5603:1993
- プリント回路用語
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC6480:1994
- プリント配線板用銅張積層板通則
- JISK6900:1994
- プラスチック―用語
- JISK6911:1995
- 熱硬化性プラスチック一般試験方法
- JISK7100:1999
- プラスチック―状態調節及び試験のための標準雰囲気
- JISK7121:1987
- プラスチックの転移温度測定方法
- JISK8540:2016
- (+)-酒石酸ナトリウム二水和物(試薬)
- JISK8576:2019
- 水酸化ナトリウム(試薬)
- JISR6001:1998
- 研削といし用研磨材の粒度
- JISR6252:2006
- 研磨紙
- JISZ3282:2017
- はんだ―化学成分及び形状
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ9110:2010
- 照明基準総則