JIS Z 4324:2017 X線及びγ線用据置形エリアモニタ | ページ 4

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Z 4324 : 2017
− ライン−接地(信号) : ±1 kV
− DC電源 : ±2 kV
4) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
b) 線又はγ線を照射しないで試験する場合
1) 試験装置内にモニタを設置する。
2) モニタの指示値を読み取り,その値を基準とする。
3) 次に示す開回路試験電圧のサージを電源ケーブルに10回印加し,印加中の指示値を記録する。
− ライン−接地(AC電源) : ±2 kV
− ライン−ライン間(AC電源) : ±2 kV
− ライン−接地(信号) : ±1 kV
− DC電源 : ±2 kV
4) 指示値から基準値を差し引いた値を求める。
6.2.19 耐インパクト特性試験
耐インパクト特性試験は,JIS C 60068-2-75及び次によって試験する。
a) モニタの指示値を読み取り基準とする。
b) モニタを動作させた状態で,スプリングハンマなどを用いて1 Jの衝突エネルギーを与える。試験は,
モニタの検出部を保護するきょう(筐)体上のそれぞれの面に対して,製造業者の指示する箇所につ
いて3回実施する。
c) 衝撃を与えた後,基準値を読み取ったときと同じ条件で測定し,指示値を記録する。
d) 指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
6.2.20 動作安定性試験
動作安定性試験は,標準試験条件下で,連続100時間動作させ,その期間の警報の発生を記録する。

7 検査

7.1 一般

  モニタの検査は,形式検査2) と受渡検査3) とに区分し,箇条6に規定する方法で行い,箇条4の規定に
適合したものを合格とする。
なお,形式検査は,設計段階で一つ以上のモニタに対して行う。受渡検査の抜取検査の方式は,受渡当
事者間の協定による。
注2) 製品の品質が,設計で示した全ての特性を満足するかどうかを判定するための検査。
3) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする場合,必要と認める
特性が満足するものであるかどうかを判定するための検査。

7.2 形式検査

  形式検査は,次の項目について試験する。
a) 直線性
b) エネルギー特性
c) 方向特性
d) 指示値変動
e) 応答時間
f) ドリフト

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Z 4324 : 2017
g) オーバロード特性
h) 警報レベルの誤差
i) 警報レベルの安定性
j) 温度特性
k) 湿度特性
l) 電源電圧・周波数の変動に対する安定性
m) 放射無線周波数電磁界に対するイミュニティ特性
n) 電源周波数磁界イミュニティ特性
o) 静電気放電イミュニティ特性
p) 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性
q) サージイミュニティ特性
r) 耐インパクト特性
s) 動作安定性

7.3 受渡検査

  受渡検査項目は,直線性とするほか,受渡当事者間の協定によって定める項目とする。

8 表示

  モニタには,見やすい箇所に容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければならない。
a) 規格名称又は規格番号
b) 名称及び形名
c) 製造番号
d) 製造年月又はその略号
e) 製造業者名又はその略号
f) 基準照射方向

9 取扱説明書

  モニタには,次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。
a) 検出器の種類及び寸法
b) 直線性
c) 警報レベルの誤差
d) エネルギー特性
e) 方向特性
f) 有効測定範囲
g) 警報設定範囲
h) 据付方法
i) その他の取扱い上の注意事項

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附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 4324:2017 X線及びγ線用据置形エリアモニタ IEC 60532:2010,Radiation protection instrumentation−Installed dose rate meters,
warning assemblies and monitors−X and gamma radiation of energy between 50 keV and
7 MeV
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
1 適用範 原子力施設及び放射線施 1 50 keV7 MeVのエネ 変更 適用製品の使用環境を考慮し適用 技術的な差異はない。
囲 設の建屋内の作業環境に ルギーのX線及びγ線 範囲を建屋内に限定した。日本では
おける,X線及びγ線の周 の空気カーマ,線量当 通常周辺線量当量率で測定されて
辺線量当量率を連続的に 量,又は他の等方的な照 いるため,測定対象量を周辺線量当
監視するための据置形の 射量を測定するための 量率に限定した。
エリアモニタについて規 据置形のエリアモニタ。
定する。
2 引用規

3 用語及 JIS Z 4001及びJIS Z 8103 3 JISとほぼ同じ。 削除 技術的な差異はない。
本体で使用されているものを追加,
び定義 によるほか,合計15の用 追加 使用されていないものを削除とし
語及び定義を規定。 た。
4 性能 4.1 直線性 6.3 拡張不確かさの包含係 追加 拡張不確かさの包含係数を明確に 技術的な差異はない。
相対レスポンス 数の記載がない。 するために,包含係数(k=2)を規定
(0.7−Urel)(1.3+Urel) した。
4.2エネルギー特性 6.4 レスポンスに対する比 追加 IEC規格には,許容範囲に拡張不確技術的な差異はない。
レスポンスに対する比 0.751.4 かさが記載されていないため追加
(0.75−Urel)(1.4+Urel) した。
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Z4
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
3
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
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規格
: 2
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
0
及び題名 番号 の評価
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4 性能 4.5 応答時間 6.10 変更
60 μGy/h未満,60 μGy/h IEC規格では,測定前後の線量率が技術的な差異はない。
(続き) 60秒未満 1 000 μGy/h,1 000 指定されていない等記載が明確で
計数値積算方式を記載し μGy/hより大きい場合 ないため,要求を60秒未満という
た。 に分けて規定している。 内容に集約した。国内では計数値積
計数値積算方式の記載 算方式のモニタが存在するため,そ
はなし。 の記載を追加した。
4.6 ドリフト 6.11 JISの照射しないで試験追加 IEC規格では,感度変化による指示技術的な差異はない。
照射しないで試験する場 する場合と同じ。 値の変動が確認できないため,X線
合 又はγ線を照射して実施する試験
試験中にX線又はγ線を を追加し,いずれかの試験を選択で
照射した場合と照射しな きるようにした。
い場合の要求を記載した。
4.8 警報レベルの誤差 6.12 警報レベルの誤差の規 変更 IEC規格には,規格値が規定されて技術的な差異はない。
±30 % 格値が規定されていな いないため,規定値を規定すること
い。 で要求の明確化を実施した。
4.9 警報レベルの安定性 6.13 警報レベル200 %の信 変更 IEC規格の試験方法を要求に合わ 技術的な差異はない。
警報レベルの110 %の信 号を入力し,直ちに警報 せて警報レベルの見直しと,警報動
号入力したときに60秒以 が動作する。 作時間の明確化を実施した。
内に警報が動作する。
4.13 放射無線周波数電磁 7.2.4 JISの照射して試験する追加 国内では,X線又はγ線を照射した国内の試験機関環境による。
界に対するイミュニティ 場合と同じ。 状態でEMC試験の実施が困難のた
特性 め,照射しない場合の要求を追加し
試験中にX線又はγ線を た。
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。

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Z 4324 : 2017
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
4 性能 4.14 電源周波数磁界イミ 7.2.9 ±15 % 変更 IEC規格では,照射したときと同じ国際規格を改正するよう提案を検
(続き) ュニティ特性 討する。
規格値を採用しているため,要求の

0.7H0以下 適正化を行った。
4.15 静電気放電イミュニ 7.2.3 JISの照射して試験する追加 国内では,X線又はγ線を照射した国内の試験機関環境による。
ティ特性 場合と同じ。 状態でEMC試験の実施が困難のた
試験中にX線又はγ線を め,照射しない場合の要求を追加し
照射した場合と照射しな た。
い場合の要求を記載した。
4.16 無線周波電磁界によ 7.2.7 JISの照射して試験する追加 国内では,X線又はγ線を照射した国内の試験機関環境による。
って誘導する伝導妨害に 場合と同じ。 状態でEMC試験の実施が困難のた
対するイミュニティ特性 め,照射しない場合の要求を追加し
試験中にX線又はγ線を た。
照射した場合と照射しな
い場合の要求を記載した。
4.17 サージイミュニティ 7.2.6 JISの照射して試験する追加 国内では,X線又はγ線を照射した国内の試験機関環境による。
特性 場合と同じ。 状態でEMC試験の実施が困難のた
試験中にX線又はγ線を め,照射しない場合の要求を追加し
照射した場合と照射しな た。
い場合の要求を記載した。
5 構造 5.3 指示部 4.2.3 指示部という区分けが 追加 モニタの構成に指示部を追加し, 技術的な差異はない。
ない。 IEC規格のモニタの指示要求を記
載した。
6 試験 6.1.2 基準放射線 5.6.1 基準放射線による試験 追加 国内ではJIS Z 4511で規定されて JIS Z 4511は改正予定。
基準放射線による試験は, は,ISO 4037-1ISO いるものを使用しているため,追加
JIS Z 4511又はISO 4037-4に規定するX線 した。
4037-1ISO 4037-4に規 及び/又はγ線で行う。
定するX線及び/又はγ
Z4
線で行う。
324 : 2
0 17
4

――――― [JIS Z 4324 pdf 20] ―――――

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JIS Z 4324:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60532:2010(MOD)

JIS Z 4324:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 4324:2017の関連規格と引用規格一覧