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Z 4324 : 2017
Z4
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
3
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
24
規格
: 2
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
0
及び題名 番号 の評価
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6 試験 6.2.1 一般 5 試験方法の一般要求に 追加 技術的な差異はない。
ゼロ調整後の試験は,全ての試験に
(続き) ゼロ調整を行った後に実 は記載がなく,6.11に記 共通するため,一般に記載すること
施する。 載している。 とした。
6.2.2 直線性試験 6.3 調整の記載と電気信号 追加 理解のためにIEC規格では,明確 技術的な差異はない。
試験前のモニタ調整と電 の具体的な説明がない。 に記載されていなかった手順及び
気信号の説明を記載した。 説明を記載した。
6.2.3 エネルギー特性試験 6.4 基準照射線源の使用の 追加 IEC規格では,この試験で基準放射国内の試験機関環境による。
は基準照射線源を使用す 記載がない。 削除 線を使用することが明確にされて
る。 具体的なエネルギーが いなかったため,明確にするため追
記載されている。 加した。国内において,低線量率の
X線の照射ができないため,具体的
なエネルギーは規定しないことと
した。
6.2.5 指示値変動試験 6.9 読取回数の記載がない。 追加 IEC規格では明確にされていなか 技術的な差異はない。
10回指示値を読み取る。 った読取回数を明確にした。
6.2.7 ドリフト試験 6.11 JISの照射しないで試験追加 IEC規格の記載では,感度変化によ技術的な差異はない。
X線又はγ線を照射しな する場合と同じ。 る指示値の変動が確認できないた
いで試験する場合とX線 め,X線又はγ線を照射して実施す
又はγ線を照射して試験 る試験を追加し,いずれかの試験を
する場合のいずれかを選 選択できるようにした。
択する。
6.2.9 警報レベルの誤差試 6.12 指示値から警報レベル 追加 IEC規格では,指示値から警報レベ技術的な差異はない。
験 の誤差を算出する方法 ルの誤差を算出する方法が明確で
誤差を算出する方法を記 の記載がない。 なかったため,記載した。
載した。
――――― [JIS Z 4324 pdf 21] ―――――
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
6 試験 6.2.10 警報レベルの安定 6.13 指示値の200 %の指示 変更 IEC規格の試験方法を要求に合わ 技術的な差異はない。
(続き) 性試験 値に線量率のX線又はγ せて警報レベルの見直しと,警報動
指示値の110 %の指示値 線を照射したときに,直 作時間の明確化を実施した。電気信
に相当する信号を入力し ちに警報が動作する。 号による試験を追加し,いずれか選
たときに60秒以内に警報 択できるようにした。
が動作する。
6.2.11 温度特性試験 7.4.1 分割して温度試験する 追加 技術的な差異はない。
装置全体での試験が困難な場合は,
各部を分割して実施する 場合の記載がない。 各部を分割して試験してもよいこ
試験方法を記載した。 とを追加した。
6.2.12 湿度特性試験 7.4.2 分割して温度試験する 追加 技術的な差異はない。
装置全体での試験が困難な場合は,
各部を分割して実施する 場合の記載がない。 各部を分割して試験してもよいこ
試験方法を記載した。 とを追加した。
6.2.13 電源電圧及び周波 7.1 交流電源を用いるモニ 追加 国内では直流電源を用いるモニタ 技術的な差異はない。
数の変動に対する安定性 タの試験方法だけ記載 が存在するため,直流電源を用いる
試験 している。 モニタの試験方法を追加した。
使用する電源ごとに試験
方法を記載した。
6.2.14 放射無線周波数電 7.2.4 X線又はγ線を照射して変更 試験方法の明確化と,国内では,X国内の試験機関環境による。
磁界イミュニティ特性試 試験する試験方法だけ 追加 線又はγ線を照射した状態でEMC
験 記載している。また,照 試験の実施が困難のため,照射しな
試験中にX線又はγ線を 射する線量率の記載が い試験を追加し,いずれかの試験を
照射するか,照射しないか ない。 選択できるようにした。
のいずれかを選択する。
6.2.16 静電気放電イミュ 7.2.3 X線又はγ線を照射して変更 試験方法の明確化と,国内では,X国内の試験機関環境による。
ニティ特性試験 試験する試験方法だけ 追加 線又はγ線を照射した状態でEMC
試験中にX線又はγ線を 記載している。また,照 試験の実施が困難のため,照射しな
照射するか,照射しないか 射する線量率の記載が い試験を追加し,いずれかの試験を
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のいずれかを選択する。 ない。 選択できるようにした。
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――――― [JIS Z 4324 pdf 22] ―――――
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
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国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
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規格
: 2
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
0
及び題名 番号 の評価
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6 試験 6.2.17 無線周波電磁界に 7.2.7 X線又はγ線を照射して変更 試験方法の明確化と,国内では,X国内の試験機関環境による。
(続き) よって誘導する伝導妨害 試験する試験方法だけ 追加 線又はγ線を照射した状態でEMC
に対するイミュニティ特 記載している。また,照 試験の実施が困難のため,照射しな
性試験 射する線量率の記載が い試験を追加し,いずれかの試験を
試験中にX線又はγ線を ない。 選択できるようにした。
照射するか,照射しないか
のいずれかを選択する。
6.2.18 サージイミュニテ 7.2.6 X線又はγ線を照射して変更 試験方法の明確化と,国内では,X国内の試験機関環境による。
ィ特性試験 試験する試験方法だけ 追加 線又はγ線を照射した状態でEMC
試験中にX線又はγ線を 記載している。また,照 試験の実施が困難のため,照射しな
照射するか,照射しないか 射する線量率の記載が い試験を追加し,いずれかの試験を
のいずれかを選択する。 ない。 選択できるようにした。
7 検査 7.1 一般 − − 追加 検査で実施する項目を規定した。 技術的な差異はない。
7.2 形式検査
7.3 受渡検査
8 表示 − − 追加 表示すべき項目を規定した。 技術的な差異はない。
9 取扱説 − − 追加 取扱説明書に記載する項目を規定 技術的な差異はない。
明書 した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60532:2010,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
JIS Z 4324:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60532:2010(MOD)
JIS Z 4324:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.280 : 放射線防護
JIS Z 4324:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISC61000-4-8:2016
- 電磁両立性―第4-8部:試験及び測定技術―電源周波数磁界イミュニティ試験
- JISZ4001:1999
- 原子力用語
- JISZ4344:2017
- X線及びγ線用可搬形エリアモニタ
- JISZ4511:2018
- X線及びγ線用線量(率)測定器の校正方法
- JISZ8103:2019
- 計測用語