JIS F 0808:2009 船用電気器具環境試験通則 | ページ 2

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3.9
温度安定
供試品のすべての部分の温度が最終温度の2 ℃以下又は規定の条件(個別規格又は規則がある場合には
その規定に従った条件)に達したときの状態。
3.10
一連試験
供試品を,二つ以上の試験環境に順次さらす一連の試験。前処理及び後処理は,通常各試験の間で行う。
測定は,通常各試験の前後に行い,ある試験後の測定は次の試験の初めの測定となる。
なお,異なる試験環境に移す時間は,通常供試品に重要な影響を与えることはない。
3.11
標準状態
すべての試験及び測定を行うために規定した試験場所の状態。
3.12
基準状態
ある大気状態で測定した測定値を,計算によって補正するために基準とする大気状態。
3.13
判定状態
特性値が温度,湿度,気圧などの関係で変化するが,それらの間の関係が明らかでない場合には,基準
状態への換算が困難であるため,一定の状態における特性値によって性能を判定することができるように
定めた状態。
3.14
制限値
供試品からのエミッションの限度値。
3.15
電源ポート
供試品の電源端子。
3.16
信号及び制御ポート
供試品の信号,制御及び入出力のインタフェース。
3.17
外被ポート
供試品の外郭を表す。

4 標準試験状態

4.1 標準状態

  測定及び試験を行うための試験場所の標準状態は,表1による。

――――― [JIS F 0808 pdf 6] ―――――

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表1−試験場所の標準状態
温度 相対湿度 気圧
℃ % kPa
1535 4575 86106
大きな供試品又はこの限度内に温度を保つことができない試験場所に対しては,各器具の個
別規格で認める場合,規定温度範囲を540 ℃まで広げてもよい。
供試品を試験する場合,ある試験の一部として行う一連の測定の間,温度及び湿度の変動は
最小に保つ。

4.2 基準状態

  基準状態は,表2による。
表2−基準状態
温度 気圧
℃ kPa
20 101.3

4.3 判定状態

  判定状態は,表3による。
表3−判定状態
温度 相対湿度 気圧
記号 ℃ % kPa
公称値 1級 2級 1級 2級
1 20 ±1 ±2 6367 6070 86106
2 23 ±1 ±2 4852 4555 86106
3 25 ±1 ±2 4852 4555 86106
4 27 ±1 ±2 6367 6070 86106

4.4 標準前処理及び後処理状態

  標準前処理及び後処理状態は,表4による。
表4−標準前処理及び後処理状態
温度 相対湿度 気圧 処理時間
℃ % kPa
1535 7377 86106 試験ごとに規定
温度は,1535 ℃の範囲内で実際の試験室の温度±1 ℃以内とする。
処理時間は,この規格に基づく各試験方法に示された値と異なる場合は,個別規格にその値を規定
する。
なお,後処理方法は,次による。
4.4.1 後処理の実施方法
供試品は,試験終了後10分以内に後処理条件を満足する試験槽に入れる。後処理後直ちに行わなければ
ならない測定方法を個別規格に規定した場合,これらの測定は試験槽から取り出した後30分以内に終了し
なければならない。試験槽から取り出した後,最も急激な変化をすることが予測される特性から測定する。

――――― [JIS F 0808 pdf 7] ―――――

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4.4.2 試験槽の温度
供試品を試験槽から取り出したとき,湿度の吸収及び放出を防ぐために試験槽の温度は,試験室の周囲
温度にできるだけ近い温度とする。
4.4.3 特殊な後処理条件
特殊な後処理条件(例えば,後処理中に通電するなど)を必要とするときは,これを個別規格に規定す
る。

4.5 標準予備乾燥状態

  標準予備乾燥状態は,次による。
4.5.1 標準予備乾燥条件
一連の測定を開始する前に予備乾燥を必要とする場合は,個別規格に規定がない限り表5の条件に約6
時間置く。
表5−標準予備乾燥条件
温度 相対湿度 気圧
℃ % kPa
55±2 20を超えない 86106
4.5.2 標準予備乾燥条件以外での処置
標準予備乾燥状態で乾燥することができない場合は,実際に乾燥を行った状態及びその影響について記
録する。
4.5.3 試験温度条件
高温試験で規定の試験温度が55 ℃以下の場合には,予備乾燥はその規定温度で行う。

4.6 試験中の通電

  環境試験中は,特に規定がない限り,通常は器具に通電しない。通電を規定していない試験で,通電し
て試験を行う必要がある場合は,各器具の個別規格で通電条件を規定する。

5 測定及び判定

  測定及び判定は,次による。

5.1 初期測定

  供試品は,試験前に外観,構造,材料などについて試験を行う。また,必要がある場合は,各器具の個
別規格で規定することによって,電気的及び機械的要求事項の試験を行う。

5.2 中間測定

  必要がある場合は,各器具の個別規格で規定することによって,試験中及び/又は後処理中に電気的及
び機械的要求事項の試験を行う。

5.3 最終測定

  供試品は,後処理終了後,外観,構造,材料などについて試験を行う。また,各器具の個別規格の規定
による測定を行う。
なお,必要がある場合は,電気的及び機械的要求事項の試験を行う。

5.4 判定

  初期測定と最終測定との結果を対比し,各器具の個別規格の規定によって判定を行う。

――――― [JIS F 0808 pdf 8] ―――――

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6 試験要求事項

6.1 試験項目

  この規格で規定する環境試験項目は,次による。
なお,r) u) の試験は,括弧内に示した試験規格によって行う。
a) 低温試験(急変)
b) 低温試験(漸変)
c) 高温乾燥試験(急変)
d) 高温乾燥試験(漸変)
e) 温度サイクル試験
f) 湿度試験
g) 温湿度サイクル試験
h) 温度急変試験(熱衝撃)
i) 耐候性試験
j) 塩水噴霧試験
k) 傾斜試験
l) 動揺試験
m) 自由落下試験
n) 衝撃試験
o) 電源変動試験
p) 耐電圧試験
q) 絶縁抵抗試験
r) 耐油性試験(JIS K 6258による。)
s) 振動試験(JIS F 8006による。)
t) 外被の保護性能試験(JIS F 8007による。)
u) 防爆試験(JIS F 8009による。)
v) MC(電磁環境適合性)試験
1) 放射性エミッション試験
2) 伝導性エミッション試験
3) 伝導低周波妨害試験
4) 電源変動試験
5) 電源喪失試験
6) ファストトランジェント/バースト試験
7) サージ電圧試験
8) 伝導高周波妨害試験
9) 静電気放電(ESD)試験
10) 高周波放射電磁界試験

6.2 試験内容,後処理及び測定

6.2.1  低温試験(急変)
6.2.1.1 試験方法
試験方法は,次による。

――――― [JIS F 0808 pdf 9] ―――――

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a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
b) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定した状態で試験槽に入れる。
c) 供試品は,規定温度の試験槽に規定時間入れて行う。
d) 試験時間は,供試品が試験槽内で温度安定したときから測定する。
6.2.1.2 試験装置
この試験に用いる試験槽は,供試品の投入前後においても表6に規定する試験温度の許容差の範囲で温
度制御ができなければならない。
なお,試験槽は,強制通風循環方式であってもよい。
6.2.1.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表6及び表7による試験温度及び試験時間の組合せによる。
表6−試験温度 表7−試験時間
試験温度 試験時間
℃ h
−65±2 96
−55±2 72
−40±2 16
−25±2 2
−10±2
− 5±2
0±2
+ 5±2
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,±3 ℃まで広げてもよい。
6.2.1.4 後処理
後処理は,次による。
a) 規定時間経過後,試験槽から取り出した供試品は,霜が付着している場合は,それがとれるまで標準
状態で放置する。
b) 供試品に水滴が付着している場合は,手で振る,標準状態の空気を短時間吹き付けるなどして,落と
す。
c) 供試品は,試験槽から取り出した後,標準状態の温度で安定するまで少なくとも1時間,最高2時間
放置する。
6.2.2 低温試験(漸変)
6.2.2.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
b) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定した状態で試験槽に入れる。
c) 標準状態にある試験槽に供試品を入れてから徐々に冷却を開始する。このときの温度を下げる速さは,
0.21 ℃/min以内とする。
d) 試験時間は,供試品の温度が規定値に達したときから測定する。
e) 規定温度で規定時間経過後は,試験槽内の温度を徐々に標準状態に至るまで戻す。このときの温度を
上げる速さは,0.21 ℃/min以内とする。

――――― [JIS F 0808 pdf 10] ―――――

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JIS F 0808:2009の国際規格 ICS 分類一覧

JIS F 0808:2009の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISA1415:2013
高分子系建築材料の実験室光源による暴露試験方法
JISC1302:2018
絶縁抵抗計
JISC61000-4-11:2008
電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
JISC61000-4-16:2017
電磁両立性―第4-16部:試験及び測定技術―直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験
JISC61000-4-17:2004
電磁両立性―第4部:試験及び測定技術―第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対するイミュニティ試験
JISC61000-4-2:2012
電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
JISC61000-4-3:2012
電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JISC61000-4-4:2015
電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
JISC61000-4-5:2018
電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
JISC61000-4-6:2017
電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
JISF8006:1979
船用電気器具の振動検査通則
JISF8007:2004
船用電気機器―外被の保護等級及び検査通則
JISF8009:1998
船用防爆電気機器一般通則
JISF8081:2005
船用電気設備及び電子機器―電磁両立性
JISK6258:2016
加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―耐液性の求め方
JISK7362:1999
プラスチック―アンダーグラス屋外暴露,直接屋外暴露又は実験室光源による暴露後の色変化及び特性変化の測定方法
JISK8150:2006
塩化ナトリウム(試薬)
JISK8180:2015
塩酸(試薬)
JISK8180:2021
塩酸(試薬)
JISK8576:2019
水酸化ナトリウム(試薬)