JIS F 0808:2009 船用電気器具環境試験通則 | ページ 3

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F 0808 : 2009
6.2.2.2 試験装置
この試験に用いる試験槽は,供試品の投入前後においても表8に規定する試験温度の許容差の範囲内で
温度制御ができなければならない。
なお,試験槽は,強制通風循環方式であってもよい。
6.2.2.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表8及び表9に示す試験温度及び試験時間の組合せによる。
表8−試験温度 表9−試験時間
試験温度 試験時間
℃ h
−65±2 96
−55±2 72
−40±2 16
−25±2 2
−10±2
− 5±2
0±2
+ 5±2
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,±3 ℃まで広げてもよい。
6.2.2.4 後処理
後処理は,次による。
a) 供試品に水滴又は霜が付着している場合は,手で振る,標準状態の空気を短時間吹き付けるなどして,
落とす。
b) 供試品は,試験直後から最低1時間標準状態で放置する。
なお,1回の試験で複数個の供試品を試験する場合,最後の1個の最終測定は,試験槽から取り出
してから2時間を経過してはならない。
6.2.3 高温乾燥試験(急変)
6.2.3.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
b) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定した状態で試験槽に入れる。
c) 供試品は,規定温度の試験槽に規定時間入れて試験を行う。
d) 試験時間は,供試品が試験槽内で温度が安定したときから測定する。
6.2.3.2 試験装置
この試験に用いる試験槽は,供試品の投入前後においても規定の温度許容差範囲において制御ができな
ければならない。
なお,試験槽は,強制通風循環方式であってもよい。相対湿度は,50 %を超えてはならない。
6.2.3.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表10及び表11に示す試験温度及び試験時間の組合せによる。

――――― [JIS F 0808 pdf 11] ―――――

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F 0808 : 2009
表10−試験温度 表11−試験時間
試験温度 試験時間
℃ h
+200±2 96
+175±2 72
+155±2 16
+125±2 2
+100±2
+ 85±2
+ 70±2
+ 55±2
+ 40±2
+ 30±2
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,100 ℃以下では±3 ℃,125 ℃以上では
±5 ℃まで広げてもよい。
6.2.3.4 後処理
後処理は,次による。
a) 供試品は,試験直後から最低1時間,標準状態で放置する。
b) 1回の試験で複数個の供試品を試験する場合,最後の1個の最終測定は,試験槽から取り出してから2
時間を経過してはならない。
6.2.4 高温乾燥試験(漸変)
6.2.4.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
b) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定する。
c) 標準状態にある試験槽に供試品を入れてから徐々に温度を上げる。このときの温度を上げる速さは,
0.21 ℃/min以内とする。
d) 試験時間は,供試品の温度が規定値に達したときから測定する。
e) 規定温度で規定時間経過後は,試験槽内温度を徐々に標準状態になるまで戻す。このときの温度を下
げる速さは,0.21 ℃/min以内とする。
6.2.4.2 試験装置
この試験に用いる試験槽は,6.2.4.3に規定する試験温度の許容差の範囲内で温度制御ができなければな
らない。
なお,試験槽は,強制通風循環方式であってもよい。また,相対湿度は,50 %を超えてはならない。
6.2.4.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表12及び表13に示す試験温度及び試験時間の組合せによる。

――――― [JIS F 0808 pdf 12] ―――――

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F 0808 : 2009
表12−試験温度 表13−試験時間
試験温度 試験時間
℃ h
+200±2 96
+175±2 72
+155±2 16
+125±2 2
+100±2
+ 85±2
+ 70±2
+ 55±2
+ 40±2
+ 30±2
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,100 ℃以下では±3 ℃,125 ℃以上では
±5 ℃まで広げてもよい。
6.2.4.4 後処理
後処理は,次による。
a) 供試品は,試験直後から最低1時間,標準状態で放置する。
b) 1回の試験で複数個の供試品を試験する場合,最後の1個の最終測定は,試験槽から取り出してから2
時間を経過してはならない。
6.2.5 温度サイクル試験
6.2.5.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
b) 供試品を表14に規定する温度に保った低温の試験槽に入れ,表16に規定する時間その中に放置する。
なお,特に規定がない場合の放置時間は,0.5時間とする。
c) 供試品を試験槽から取り出し,標準状態に23分間放置する。
d) 供試品を表15に規定する温度に保った高温の試験槽に入れ,表16に規定する時間その中に放置する。
なお,特に規定がない場合の放置時間は,0.5時間とする。
e) 供試品を試験槽から取り出し,標準状態に23分間放置する。
f) b) e) を1サイクルとし,表17に規定するいずれかのサイクルを行う。ただし,初めの5サイクル
は連続して行い,その後のサイクルはいずれのサイクルで中断してもよい。サイクルを中断したとき,
供試品は,試験を再び開始するまで標準状態に保持しておく。特にサイクル数の規定がない場合は,5
サイクルとする。
6.2.5.2 試験装置
この試験に用いる試験槽は,6.2.5.3に規定する試験温度の許容差の範囲内で温度制御ができるものでな
ければならない。
なお,試験に用いる試験槽は,強制通風循環方式であってもよい。また,高温用試験槽は通常強制通風
循環方式とする。
6.2.5.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表14表17に示す試験温度,放置時間及びサイクル数の組合せによる。

――――― [JIS F 0808 pdf 13] ―――――

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F 0808 : 2009
表14−試験温度 表15−試験温度 表16−放置時間 表17−サイクル数
(低温の場合) (高温の場合)
試験温度 試験温度 放置時間 サイクル数
℃ ℃ h 5
− 5±2 + 30±2 1/6 25
−10±2 + 40±2 0.5 50
−25±2 + 55±2 1 100
−40±2 + 70±2 2
−55±2 + 85±2 3
−65±2 +100±2 4
+125±2
+155±2
+175±2
+200±2
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,100 ℃以下では±3 ℃,125 ℃以上では
±5 ℃まで広げてもよい。
6.2.5.4 後処理
供試品は,後処理として,試験終了後回復のため4.4に規定する状態に12時間放置する。
6.2.6 湿度試験
6.2.6.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,事前に試験槽内の温度となるような処置を施す。
b) 供試品は,正規の取付状態で固定して試験槽に入れる。このとき供試品への水滴の滴下が特定の場所
に集中しないように注意する。
c) 供試品は,規定時間試験槽内に入れて試験を行う。
d) 試験中に中間測定を行う場合は,各器具の個別規格で別途規定する。ただし,この測定のために供試
品を試験槽から出してはならない。
6.2.6.2 試験装置
試験装置は,次による。
a) 試験槽は,相対湿度を93±3 %で保持できる。
b) 供試品がある付近の試験槽内温度及び湿度が監視できる。
c) 試験槽から出るドレンは再使用してはならない。
d) 射出方式で湿度を得る形式の試験槽の場合は,水の抵抗値は500 Ωm以上である。
6.2.6.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表18及び表19に示す試験温度及び試験時間の組合せによる。
表18−試験温度 表19−試験時間
試験温度 試験時間
℃ h
40±2 56
45±2 21
50±2 10
4

――――― [JIS F 0808 pdf 14] ―――――

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F 0808 : 2009
試験槽の大きさによって,許容温度差が保持できない場合は,±3 ℃まで広げてもよい。
6.2.6.4 後処理
後処理は,次による。
a) 試験終了後,回復のため供試品を4.4に規定する状態に12時間放置する。
b) 供試品は,後処理のために他の試験槽に移してもよい。ただし,この移動のために要する時間は,で
きる限り短時間とし,5分を超えてはならない。
c) 供試品表面に付着している水分の除去については,各器具の個別規格で規定する。
6.2.7 温湿度サイクル試験
6.2.7.1 試験方法及び厳しさ
試験方法の種類は,方法1及び方法2の2種類とする。
a) 方法1 特に各器具の個別規格で規定がない限り,4.5に規定する標準予備乾燥状態に供試品を放置し
た後,図1の段階agの操作を1サイクルとして,次によって試験を24時間で行い,特に各器具の
個別規格で規定がない限り連続して10サイクル行う。
1) 補助サイクル 特に各器具の個別規格で規定がない限り,段階g' は,補助サイクルとし,初めの9
サイクルのうち任意の5サイクルだけを行う。
段階g' の後,供試品を再び速やかに温度25±2 ℃,相対湿度(93±3)%の状態に移し,次のサ
イクルが始まるまで保つ。
2) 段階g' 段階gの開始後,12時間で供試品を取り出して他の低温の試験槽に移すか又は試験槽内
温度を下げるかして低温に放置する。供試品を他の試験槽に移す場合は5分以内に移送を完了する。
試験槽の温度は30分以内に−10±2 ℃まで下げた後,3時間保つ。この間,湿度は,調整しない。
次に1.5時間以内に25±2 ℃まで上げる。このとき供試品を元の試験槽に移す場合は,1015分
間で移動を完了する。
b) 方法2 試験は,特に各器具の個別規格で規定がない限り,4.4に規定する標準前処理状態に供試品を
放置した後,図2の操作を1サイクルとして,試験を24時間で行う。特に規定がない限り連続して表
20又は表21に規定するサイクル数で試験を行う。ただし,図2の25±2 ℃から40±2 ℃又は55±2
℃に上昇させる間に供試品の上に水が凝縮しなければならない。
表20−上限の温度が40±2 ℃ 表21−上限の温度が55±2 ℃
のときのサイクル数 のときのサイクル数
サイクル数 サイクル数
2 1
6 2
12 6
21
56
6.2.7.2 試験装置
この試験に使用する試験槽は,次の条件を満足しなければならない。
a) 図1及び図2に示すそれぞれの方法1及び方法2の温湿度サイクルの状態を全周期にわたって制御が
できる。
b) 直接,水を噴霧して加湿する場合は,使用する水の抵抗率が500 Ωm以上である。
c) 試験槽の内壁及び天井に凝縮した水が供試品又は供試品の付近に落下しない。

――――― [JIS F 0808 pdf 15] ―――――

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JIS F 0808:2009の国際規格 ICS 分類一覧

JIS F 0808:2009の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISA1415:2013
高分子系建築材料の実験室光源による暴露試験方法
JISC1302:2018
絶縁抵抗計
JISC61000-4-11:2008
電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
JISC61000-4-16:2017
電磁両立性―第4-16部:試験及び測定技術―直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験
JISC61000-4-17:2004
電磁両立性―第4部:試験及び測定技術―第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対するイミュニティ試験
JISC61000-4-2:2012
電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
JISC61000-4-3:2012
電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JISC61000-4-4:2015
電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
JISC61000-4-5:2018
電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
JISC61000-4-6:2017
電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
JISF8006:1979
船用電気器具の振動検査通則
JISF8007:2004
船用電気機器―外被の保護等級及び検査通則
JISF8009:1998
船用防爆電気機器一般通則
JISF8081:2005
船用電気設備及び電子機器―電磁両立性
JISK6258:2016
加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―耐液性の求め方
JISK7362:1999
プラスチック―アンダーグラス屋外暴露,直接屋外暴露又は実験室光源による暴露後の色変化及び特性変化の測定方法
JISK8150:2006
塩化ナトリウム(試薬)
JISK8180:2015
塩酸(試薬)
JISK8180:2021
塩酸(試薬)
JISK8576:2019
水酸化ナトリウム(試薬)