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とも2個の清浄な噴霧採取容器をノズルに最も近い場所と,ノズルから最も遠い場所とに置き,それ
ぞれ水平採取面積80 cm2で16時間以上の動作を平均して,1時間当たり0.53.0 mlを採取できる量
とする。採取量に供試品及び他のものからの塩水の滴が混入しないようにする。採取された溶液は,
e) 2) の規定を満足しなければならない。
d) 供給空気 塩水を噴霧する圧搾空気は,その空気中に油,ほこりなどがなく,圧力は68.6176.4 kPa
に保たれていなければならない。
e) 塩水
1) 塩水は,JIS K 8150に規定するもの又はそれと同等の精製塩,及び蒸留水又は全固形物200 ppm以
下の水を用いて作る。
2) 塩水は,次の値に調整する。
塩分濃度 : 34±1 ℃において(5±1)%質量
比重g/cm3 : 34±1 ℃において1.026 81.041 3
水素イオン濃度pH : 35 ℃において6.57.2
3) Hの調節は,JIS K 8180に規定する試薬特級相当の塩酸,又はJIS K 8576に規定する水酸化ナト
リウム(試薬)を用いる。pHの測定は飽和塩化カリウム橋がある電極を用いて電気的に求めるが,
同じ結果が得られるならば,その他の方法を用いてもよい。
4) 塩水は,噴霧前に汚濁物があってはならない。
6.2.10.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表27に示す試験時間による。
表27−試験時間
試験時間
h
16±1
24±2
48±4
96±4
6.2.10.4 後処理
後処理は,次による。
a) 試験時間の終了後供試品は,特に各器具の個別規格に規定がある場合を除き,常温で水洗いして塩の
付着物を確実に除去する。このとき,柔らかいはけ(刷毛)を用いてもよい。
b) ) の水洗いによって付着した水滴は,手で振る,標準状態の空気を短時間吹き付けるなどして,落と
す。
6.2.11 傾斜試験
6.2.11.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定する。
b) 各器具の個別規格で規定がない場合は,供試品の正規の取付状態の2軸方向の各々について順次規定
の傾斜角に5分間以上保つ。
c) 試験は,各軸方向に対し供試品を正規の取付状態から正方向の傾斜を与えて保持し,その後正規の取
付方向に復帰させ,また負方向の傾斜を与えて保持する。さらに,その後正規の取付状態に復帰させ
る。
――――― [JIS F 0808 pdf 21] ―――――
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F 0808 : 2009
d) 供試品は,規定された傾斜角で,各個別規格の規定に基づいた動作をしていることを確認する。
e) 試験中は,通電するものとする。通電しない場合は,各器具の個別規格で規定するのがよい。
6.2.11.2 試験装置
試験装置は,次による。
a) 傾斜装置は,表28に示す傾斜角を+ 5.00
度の許容差内で制御できる。
b) 傾斜装置は,供試品が正規の取付状態から規定の傾斜角に達するまでの間及びその逆の場合の間,供
試品に過度の振動又は加速度を与えない。
6.2.11.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表28に示す傾斜角度による。
表28−傾斜角度
傾斜角
度
5.0
10.0
15.0
22.5
30.0
40.0
45.0
傾斜角度30.0度,40.0度及び45.0度は,特殊な場合に適用する。
6.2.12 動揺試験
6.2.12.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定する。
b) 各器具の個別規格で規定がない場合は,供試品の正規の取付状態の3軸の方向の各々について順次規
定の動揺を与える。
c) 試験は,供試品に正規の取付状態から正方向の傾斜を与えた後,正規の取付方向に復帰させ,次に負
方向の傾斜を与える。さらに,その後正規の取付状態に復帰させる。これを1サイクルとする。各軸
の方向に規定のサイクルを連続して行う。ただし,各器具の個別規格に規定された測定を行うときは,
中断してもよい。
d) 供試品は,規定された傾斜角で,各個別規格の規定に基づいた動作をしていることを確認する。
e) 試験中は,原則として通電する。通電しない場合は,各器具の個別規格で規定する。
6.2.12.2 試験装置
試験装置は,できるだけ正弦波状の動揺ができるものであり,その周期の許容差は表30に示す値の5 %
以内でなければならない。
6.2.12.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表29表31に示す傾斜角,周期及びサイクル数の組合せによる。
――――― [JIS F 0808 pdf 22] ―――――
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表29−傾斜角度 表30−周期 表31−サイクル数
傾斜角 周期 サイクル数
度 s 5
5.0 5 100
7.5 7 300
10.0 10 500
22.5 20 1 000
30.0
45.0
6.2.13 自由落下試験
6.2.13.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 試験には,標準状態の試験場所の温度と温度平衡がとれている状態にある供試品を用いる。
b) 供試品を固定された平滑な厚さ6 mm以上の鋼板上に,規定された高さから規定回数,各器具の個別
規格で規定された姿勢で落下させる。
c) 供試品は,できればつり下げた状態から自由落下させるものとし,自由落下を妨げる運動はできるだ
け少なくする。
d) 試験中は,通電するが,通電を必要としない場合は,各器具の個別規格で規定する。
6.2.13.2 試験装置
この試験に用いる試験装置は,規定された高さから供試品を規定された回数,できるだけ自由落下に近
い状態で落下させることができなければならない。
6.2.13.3 厳しさ
この試験の厳しさは,表32及び表33に示す高さ及び落下回数の組合せによる。
表32−高さ 表33−落下回数
高さ 落下回数
mm 回
500 1
750 2
1 000 3
1 500 5
8
10
6.2.13.4 後処理
後処理は,次による。
a) 落下試験を終了した供試品は,試験中に付着した ちり,ごみなどを圧縮空気,柔らかい布などで取り
除く。
b) 試験中に脱落又は損傷をした部分を復元又は拡大することがあってはならない。
6.2.14 衝撃試験
6.2.14.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 準備 準備は,次による。
――――― [JIS F 0808 pdf 23] ―――――
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1) 試験装置は,試験前に実際の供試品に規定の衝撃パルス波形が加わるように,実際の供試品,不合
格となった供試品又は剛体の疑似負荷を用いて校正する。疑似負荷を用いるときは,重心の位置及
び質量が供試品と同じものを,供試品の正規の取付方法と同じ方法で取り付ける。
2) 校正用試料に続けて2回衝撃を加えたとき,規定の衝撃パルス波形が発生するようにする。
3) 供試品,その附属リード線などを適切な取付金具で試験台に固定して所定の衝撃の厳しさが加えら
れるように配慮し,更に個別規格の規定がある場合は,試験中供試品を動作状態にする。
b) 方法1
1) 試験は,次の装置を用いて行う。
1.1) 供試品を取り付けた試験台に正弦波の衝撃パルスを発生させる試験機。
1.2) 衝撃パルスの加速度を測定する装置。
1.3) 衝撃パルスの速度を,積分回路を通して測定する装置。
2) 試験機によっては,表34に示す値の衝撃パルスを図3に示す二つの実線で囲まれた許容差範囲内で
再現性よく供試品に与える。
表34−衝撃の厳しさの分類表
厳しさの 加速度ピーク値 衝撃パルス 速度変化
分類 (A) 作用時間 (D) 2
AD
No. m/s2 ms m/s
1 150 11 1.0
2 300 18 3.4
3 300 11 2.1
4 300 6 1.1
5 500 11 3.5
6 500 3 1.0
注記1 図の点線は,標準の正弦半波衝撃パルスを示す。
注記2 衝撃パルスの許容差は,次の二つの実線の間にある。
注記3 点線の波形を+0.2Aだけ上に移動させた実線。
注記4 点線の正弦波の頂点と,衝撃パルス作用時間Dを−0.2Aだけ下に移動させたその両端と
を結ぶ直線で囲んだおおよその点線の波形を−0.2Aだけ下に移動させた実線。
図3−衝撃試験時の衝撃パルス許容差領域図
――――― [JIS F 0808 pdf 24] ―――――
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3) 供試品の故障が最も生じやすいと思われる互いに垂直な3軸を選び,各軸の正逆方向に3回,合計
18回の連続した衝撃パルスを加える。
4) 試験点において衝撃パルスAを加える方向と直交する方向(横運動)に発生する正又は負の衝撃パ
ルスのピーク値は,0.3Aを超えてはならない。
5) 衝撃パルスの加速度及び速度測定装置は,表34の値を測定できなければならない。また,装置全体
の周波数特性は,図4による。
なお,衝撃パルスの作用時間及び関連周波数を表35に示す。
図4−測定装置の周波数特性
表35−図4の測定装置の衝撃パルス作用時間に対する遮断周波数とレスポンスとの関係
衝撃パルス 低域遮断周波数 高域遮断 レスポンスが+1 dBを超える
作用時間 周波数 ことが許される下限周波数
ms f1 Hz f2 Hz f3 kHz f4 kHz
0.2 20 120 20 40
0.5 10 50 15 30
1 4 20 10 20
3 1.5 6 5 10
6 1 4 2 4
11 0.5 2 1 2
18 0.2 1 1 2
加速度を積分する場合,衝撃パルスの立ち上がり前0.4Dの点から始め,終了後0.1Dのところま
で積分する。
2 AD
正弦半波の速度変化をVi としたときの実測衝撃パルスの速度変化は,V=Vi±15 %に存在
することが必要である。
c) 方法2
1) 試験は,次の装置を用いて行う。
1.1) 供試品を取り付けた試験台に正弦半波の衝撃パルスを発生する試験機。
1.2) 衝撃パルスの加速度を測定する装置。
2) 試験機は,表36に示す値の正弦半波の衝撃パルスを,波形ひずみ±20 %以内で試験台上に一様に
――――― [JIS F 0808 pdf 25] ―――――
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JIS F 0808:2009の国際規格 ICS 分類一覧
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JIS F 0808:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISA1415:2013
- 高分子系建築材料の実験室光源による暴露試験方法
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-16:2017
- 電磁両立性―第4-16部:試験及び測定技術―直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-17:2004
- 電磁両立性―第4部:試験及び測定技術―第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISF8006:1979
- 船用電気器具の振動検査通則
- JISF8007:2004
- 船用電気機器―外被の保護等級及び検査通則
- JISF8009:1998
- 船用防爆電気機器一般通則
- JISF8081:2005
- 船用電気設備及び電子機器―電磁両立性
- JISK6258:2016
- 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―耐液性の求め方
- JISK7362:1999
- プラスチック―アンダーグラス屋外暴露,直接屋外暴露又は実験室光源による暴露後の色変化及び特性変化の測定方法
- JISK8150:2006
- 塩化ナトリウム(試薬)
- JISK8180:2015
- 塩酸(試薬)
- JISK8180:2021
- 塩酸(試薬)
- JISK8576:2019
- 水酸化ナトリウム(試薬)