JIS F 0808:2009 船用電気器具環境試験通則 | ページ 6

24
F 0808 : 2009
      分布するように与える。
                                  表36−衝撃の厳しさの分類表
                     厳しさの分類   加速度ピーク値     衝撃パルス作用時間D
                                         m/s2                  ms
                          1              100
                          2              150
                          3              200                 20以下
                          4              300
                          5              500
  3) 供試品の故障が最も生じやすいと思われる互いに垂直な3軸を選び,各軸方向に3回,合計9回の
      連続した衝撃パルスを加える。
  4) 試験点において衝撃パルスAを加える方向と直交する方向(横運動)に発生する衝撃パルスのピー
      ク値は,0.3Aを超えてはならない。
  5) 衝撃パルスの加速度測定装置の測定範囲は,1 200 m/s2以上にわたり,加速度ピックアップの共振周
      波数は,衝撃周波数(正弦半波衝撃パルス作用時間の逆数)の5倍以上とする。
        また,加速度測定装置全体の周波数特性は,10 Hz10 kHzの範囲にわたり平たんでなければな
      らない。
d) 方法3
  1) 試験は,次の装置を用いて行う。
  1.1) 供試品及び加速度ピックアップを装着できる落下台。
  1.2) 衝撃パルスの加速度を測定する装置。
  2) この試験に使用する落下台の構造及び加速度測定装置の信頼性は,方法2の各項目をすべて満足し
      なければならない。ただし,試験方法の性能が方法2以上のものである場合はこの限りでない。
6.2.14.2 厳しさ
  この試験の厳しさは,次による。
a) 方法1の場合は,表34による。
b) 方法2及び方法3の場合は,表36による。
6.2.15 電源変動試験
6.2.15.1 試験方法
  試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとっておく。
      なお,各器具の個別規格の規定によって,他の試験と合わせて行う場合は,この限りでない。
b) 供試品は,その器具の正規の取付方法によって固定する。
c) 供試品の電源端子にその定格電圧,定格周波数の電源を接続し,供試品又は試験用に外部に設けた電
    源スイッチの“入”“切”を3回繰り返し,電源投入後及び電源遮断後のそれぞれにおいて,供試品は
    手動調整しなくても,各器具の個別規格に規定された動作を行うことを確認する。
d) 供試品の電源端子に表38表40に示す電圧変動及び周波数変動を与えた場合に,供試品は各器具の
    個別規格に規定された動作を行うことを確認する。
6.2.15.2 試験装置
  試験装置は,次による。

――――― [JIS F 0808 pdf 26] ―――――

                                                                                             25
                                                                                   F 0808 : 2009
a) この試験に用いる電源装置は,試験中の供試品に表37に規定する許容範囲内で供給できるような自動
    調整機能を備えていなければならない。
      なお,供試品の正常な動作に著しい影響を与えるような瞬時変動があってはならない。
                                  表37−電源装置の出力変動値
                                              電源装置の出力変動値
                      電源の種類                      %
                                           電圧                周波数
                         交流              ±0.5                ±0.5
                         直流              ±1.0                 −
                    注記 変動値は,供試品の定格値に対する割合(定常時)を示す。
b) 電源装置は,各器具の個別規格に規定された電圧及び周波数の単一の変動又は複合変動を与えること
    ができなければならない。
6.2.15.3 厳しさ
  この試験の厳しさは,表38表40に示す電圧変動,周波数変動及び変動時間の組合せによる。
         表38−電圧変動                表39−周波数変動                 表40−変動時間
             電圧変動                      周波数変動                      変動時間
                %                             %                             s
             −30                            −15                            0.5
             −25                            −10                            1.0
             −20                            −5                             1.5
             −15                            − 2.5                          2.0
             −10                               0                            3.0
             −6                                2.5                          5.0
             −5                                5                         600(定常)
                0                              10
                5                              15
                6
               10
               15
               20
               25
               30
6.2.16 耐電圧試験
6.2.16.1 試験方法
  試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所に24時間以上放置し,少なくとも試験場所の温度と温度平衡がとれて
    いなければならない。
b) 電子部品を使用し,試験電圧を加えることが好ましくない回路がある器具では,各器具の個別規格の
    規定によって,その回路の端子を取り外すなどの処置を行う。
c) 各器具の個別規格の規定によって,充電部と大地との間又は異極充電部間に徐々に電圧を加えて試験
    電圧に達した後,これを1分間加える。
d) 試験電圧の周波数は,各器具の個別規格に特に規定がない場合は商用周波数とする。

――――― [JIS F 0808 pdf 27] ―――――

26
F 0808 : 2009
6.2.16.2 試験装置
  試験装置は,次による。
a) この試験に用いる電圧調整装置は,6.2.16.3に規定する試験電圧を試験中連続して供試品に加えること
    ができなければならない。
b) 装置は,各器具の個別規格に特に規定がない場合は,正弦波に近い試験電圧を発生しなければならな
    い。
c) 装置は,供試品に電圧を加える場合,無電圧状態から試験電圧に達するまで安全に,かつ,速やかに
    電圧を上げることができなければならない。
6.2.16.3 厳しさ
  この試験の厳しさは,表41による。
                                         表41−厳しさ
                                                              単位 V
                                 定格電圧              試験電圧
                                  E≦65                2×E+500
                                 66≦250                 1 500
                                 251≦500                2 000
                                 500≦690                2 500
                          注記1 電圧は,実効値を示す。
                          注記2 Eは,各器具の定格電圧を示す。
6.2.17 絶縁抵抗試験
6.2.17.1 試験方法
  試験方法は,次による。
a) 供試品は,標準状態の試験場所に24時間以上放置し,少なくとも試験場所の温度と温度平衡がとれて
    いなければならない。
b) 電子部品を使用し,試験電圧を加えることが好ましくない回路がある器具では,各器具の個別規格の
    規定によって,その回路の端子を取り外すなどの処置を行う。
c) 各器具の個別規格の規定によって,充電部と大地との間又は異極充電部間に表42に示す電圧を加え絶
    縁抵抗を測定する。
      なお,抵抗値は,指針の振れが安定した後に読み取らなければならない。
d) 他の一連の環境試験の開始前及び試験の終了後,また必要な場合には個々の試験の前後に行う。
6.2.17.2 試験装置
  試験装置は,JIS C 1302[絶縁抵抗計(電池式)]によるのがよい。
6.2.17.3 厳しさ
  この試験の厳しさは,表42及び表43に示す試験電圧及び絶縁抵抗値の組合せによる。

――――― [JIS F 0808 pdf 28] ―――――

                                                                                             27
                                                                                   F 0808 : 2009
                表42−試験電圧                                 表43−絶縁抵抗値
                                 単位 V                            絶縁抵抗値
            定格電圧         試験電圧                                 MΩ
             E≦65             2×E                                    1
                              min. 24                                  5
             E>65             500                                     10
        注記 Eは,各器具の定格電圧を示す。                             20
                                                                       30
                                                                       50
                                                                       60
                                                                      100
  絶縁抵抗値は,個別規格の規定による。ただし,規定がない場合は受渡当事者間の協議による。
6.2.18 EMC(電磁環境適合性)試験
  EMC試験における各ポートの試験及びその合否基準を規定しなければならない。合格基準は,できる限
り定量的な値で規定しなければならない。
  評価のための性能基準は,次による。
  性能基準A 供試品は試験中及び試験後に予期された動作を継続しなければならない。関連機器の規格
及び製造業者発行の技術仕様書で規定される性能低下及び機能喪失は許されない。
  性能基準B 供試品は試験後に予期された動作を継続しなければならない。関連機器の規格及び製造業
者発行の技術仕様書で規定される性能低下及び機能喪失は許されない。ただし,試験中の自己復帰可能な
性能低下又は機能喪失は許されるが,実際の動作状態の変化又は記憶されたデータの変化は許されない。
  性能基準C 試験中及び試験後の一時的な性能低下又は機能喪失は,機能が自己復帰するか,又は関連
機器の規格及び製造業者発行の技術仕様書で規定される制御動作よりも機能復帰が可能であることを条件
とする。
  6.2.18.16.2.18.10で示す試験は対象となる機器によって,実施する試験項目が異なるので表63を参照
して試験を実施する。
6.2.18.1 放射性エミッション試験
a) 試験方法 試験方法は,次による。
  1) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡がとれていなければならない。
  2) オープンサイト又は電波暗室に測定アンテナ及び供試品を置き,両者間の距離3 mで測定する。
  3) 表44及び表45に示す周波数範囲でピーク値を測定し,制限値に対してマージンが小さい,又は超
      えた周波数についてはQP値の測定を行う。
b) 試験装置 この試験に用いる試験装置は,表46による。
c) 厳しさ この試験の厳しさは,表44及び表45による。
d) 判定 船橋及び甲板ゾーンに設置される機器については表44,一般分電ゾーンに設置される機器につ
    いては表45に示す制限値を超えてはならない。

――――― [JIS F 0808 pdf 29] ―――――

28
F 0808 : 2009
             表44−船橋及び甲板ゾーンに設置される機器の放射性エミッションの制限値
          ポート             周波数範囲                  制限値              引用規格
      外被            150 kHz  300 kHz          80 dB    一                  一
                                                                         CISPR16-1
                      300 kHz  30 MHz           52 dB    一                  一
                                                                         CISPR16-2
                      30 MHz  2 GHz             54 dB    一
                      ただし,
                      156 MHz  165 MHz          24 dB    一
               表45−一般分電ゾーンに設置される機器の放射性エミッションの制限値
          ポート             周波数範囲                  制限値              引用規格
      外被            150 kHz  30 MHz           80 dB    一                  一
                                                                         CISPR 16-1
                      30 MHz  100 MHz           60 dB    一                  一
                                                                         CISPR16-2
                      100 MHz  2 GHz            54 dB    一
                      ただし,
                      156 MHz  165 MHz          24 dB    一
                                        表46−試験装置
           試験装置                           詳細                           引用規格
      試験サイト        距離3 mでの測定が可能なオープンサイト又は電波暗室CISPR 16-1
      測定装置          周波数範囲 : 150 kHz  2 GHz                       CISPR 16-1
                        バンド幅 :  150 kHz  30 MHz : 9kHz
                                   30 MHz  2 GHz : 120 kHz
                                   ただし,156 MHz165 MHz : 9 kHz
                        検波モード : ピーク値,QP値
6.2.18.2 伝導性エミッション試験
a) 試験方法 試験方法は,次による。
  1) 供試品は,標準状態の試験場所の温度と温度平衡をとる。
  2) 疑似電源回路網を供試品用電源と供試品の電源ポート間に接続し,電源ポートとアース間の雑音電
      圧を測定する。
  3) 表47及び表48に示す周波数範囲でピーク値を測定し,制限値に対してマージンが小さい,又は超
      えた周波数についてはQP値の測定を行う。
b) 試験装置 この試験に用いる試験装置は,表49による。
c) 厳しさ この試験の厳しさは,表47及び表48による。
d) 判定 船橋及び甲板ゾーンに設置される機器については表47,一般分電ゾーンに設置される機器につ
    いては表48に示す制限値を超えてはならない。
             表47−船橋及び甲板ゾーンに設置される機器の伝導性エミッションの制限値
          ポート             周波数範囲                 制限値               引用規格
      電源,信号及び 10 kHz  150 kHz           96 dB                   CISPR 16-1
      制御           150 kHz  350 kHz          60 dB                   CISPR 16-2
                     350 kHz  30 MHz           50 dB 

――――― [JIS F 0808 pdf 30] ―――――

次のページ PDF 31