JIS B 8577-2:2019 自動車用圧縮天然ガス燃料計量システム―第２部：計量管理及び性能試験 | ページ 5

18
B 8577-2 : 2019
                                        表11−寒冷試験
 適用規格       JIS C 60068-2-1及びJIS C 60068-3-1
 試験方法       低温に暴露
 試験目的       JIS B 8577-1の表1のb)に規定されている周囲温度が低温度条件の下でのJIS B 8577-1の5.9及
                び4.2の規定に適合していることの検証
 試験手順概略a) 試験は,EUTが温度安定に達した後に2時間,自由空気の条件下で一定温度(Tal)にEUTをさ
                ら(曝)すことからなる。
                温度の変化は,加熱及び冷却の間に1 ℃/分を超えてはならない。
                EUTは,少なくとも一つの流量(又は入力信号としてシミュレートした流量)に対して試験しな
                ければならない。
                − 20 ℃の基準温度に調整後
                − 温度が安定した2時間後の−25 ℃又は−10 ℃の温度
                − 20 ℃の標準温度でEUTが回復した後
 試験レベル指標 1) 温度 Tal
                2) 持続時間 2時間
                3) 試験サイクル数 1サイクル
 許容される影響 影響因子の適用中,
                − 全ての機能が設計どおり動作しなければならない。
                − 全ての誤差が最大許容誤差以内に入っていなければならない。
6.8.3  不規則振動
  不規則振動については,表12による。
                                   表12−振動(不規則)試験
 適用規格       JIS C 60068-2-47,JIS C 60068-2-64及びJIS C 60068-3-8
 試験方法       不規則振動への暴露
 試験目的       JIS B 8577-1の表1のf)に規定されている不規則振動条件下でのJIS B 8577-1の5.9及び4.2の規
                定に適合していることの検証
 試験手順概略   EUTは,通常の取付け手段を使用して剛性のある固定具に取り付けられた状態で,互いに直角の
                3軸方向で試験しなければならない。
                EUTは,重力ベクトルが正常使用時と同じ方向を指すように取り付けなければならない。測定原
                理に基づき,その方向の影響が無視できる場合,そのEUTをどの姿勢に取り付けてもよい。
                試験を適用することを目的としたEUTは,
                − 電源を切らなければならない。
                − 配管システムの上に取り付けてはならない。
                − いかなる種類の保護ケースの中に取り付けてはならない。
 試験レベル指標 パラメータ                                               値           単位
                全周波数範囲                                          10150           Hz
                全RMSレベル                                             1.6          m・s−2
                ASDレベル10 Hz20 Hz                                     0.05         m2・s−3
                ASDレベル20 Hz150 Hz                                    −3      dB/オクターブ
                軸数                                                     3             −
                軸当たり持続時間(又は測定を行うのに必要な場合,より長   2             分
                い時間)
 許容される変化 影響因子の適用後,
                − 全ての機能が設計どおり動作しなければならない。
                − 全ての誤差が最大許容誤差以内に入っていなければならない。

――――― [JIS B 8577-2 pdf 21] ―――――

                                                                                             19
                                                                                 B 8577-2 : 2019
6.8.4  主電源変動
  AC及びDC主電源電圧変動については,表13及び表14による。
                                  表13−AC主電源電圧変動試験
 適用規格       IEC/TR 61000-2-1及びIEC 61000-4-1
 試験方法       低レベル及び高レベルのAC主電源電圧を適用する(該当する場合)。
 試験目的       JIS B 8577-1の表1のi)に規定されている上下限値の間のAC主電源電圧変化の条件下でのJIS B
                8577-1の5.9及び4.2の規定に適合していることの検証
 試験手順概略   試験は,EUTが正常な大気条件下で動作して温度の安定を達成後,その後求められる測定を実施
                するのに十分な時間の間,規定の電源条件にさら(曝)すことからなる。
 試験レベル指標 1) 主電源の上限 Unom1+10 %
                2) 主電源の下限 Unom2−15 %
                3) 試験サイクル数 1サイクル
 許容される影響 影響因子の適用中,
                − 全ての機能が設計どおり動作しなければならない。
                − 全ての誤差が最大許容誤差以内に入っていなければならない。
 注記           1) 三相主電源については,その電圧変動は各相に連続して適用する。
                2)   nomの値は,計量器に刻印された値である。範囲が規定されている場合,Unom1は最大値に
                   関連し,Unom2は最小値に関連する。公称主電源電圧値(Unom)が一つしか提示されていない
                   場合,Unom1=Unom2=Unomとなる。
                                  表14−DC主電源電圧変動試験
 適用規格       IEC 60654-2
 試験方法       低レベル及び高レベルのDC主電源電圧を適用する(該当する場合)。
 試験目的       JIS B 8577-1の表1のg)に規定されている上下限値の間のDC主電源電圧変化の条件下でのJIS B
                8577-1の5.9及び4.2の規定に適合していることの検証
 試験手順概略   試験は,EUTが正常な大気条件下で動作して温度の安定を達成後,その後求められる測定を実施
                するのに十分な時間の間,規定の電源条件にさら(曝)すことからなる。
 試験レベル指標 上限値は,EUTが高レベル状態を自動的に検出するように製造されたそのDCレベルである。
                下限値は,EUT低レベル状態を自動的に検出するように製造されたそのDCレベルである。
                EUTは,この二つのレベル間の電圧レベルにおける規定の最大許容誤差に適合していなければな
                らない。試験は,暴露ごとに上下限の電圧レベルを限定してもよい。
 試験サイクル数 1サイクル
 許容される影響 影響因子を適用中,
                − 全ての機能が設計どおり動作しなければならない。
                − 全ての誤差が最大許容誤差以内に入っていなければならない。
6.8.5  電池電源変動
  内蔵電池の低電源については,表15による。

――――― [JIS B 8577-2 pdf 22] ―――――

20
B 8577-2 : 2019
                                   表15−内蔵電池の電圧試験
 適用規格       この試験に対する規格がない
 試験方法       最低供給電圧を適用する(該当する場合)
 試験目的       JIS B 8577-1の表1のg)で規定されている電池の低電圧条件下でのJIS B 8577-1の5.9及び4.2
                の規定に適合していることの検証
 試験手順概略   試験は,温度安定を達成し,要求された測定を実行するのに十分な時間を,規定された低電圧レ
                ベル条件にEUTをさら(曝)すことからなる。
                電池の内部インピーダンスの最大許容値及び最小電池供給電圧(Ubmin)は,計量器の製造業者が
                指定しなければならない。
                ベンチ試験などで代替の電力供給源を使用して電池をシミュレートする場合,電圧及び電流の仕
                様のシミュレーションに加えて,指定された型式の電池の内部インピーダンスの挙動もシミュレ
                ートしなければならない。
                代替電源は,適用可能な電源電圧において十分な電流を供給することができなければならない。
                試験シーケンスは次のとおりである。
                − 定格動作条件で決められた公称電圧で電源を安定させ,測定及び/又は負荷条件を適用す
                   る。
                − 次のデータを記録する。
                   a) 日付及び時間
                   b) 環境の温度
                   c) 電源電圧
                   d) 機能モード
                   e) 測定及び/又は負荷条件
                   f) 指示(該当する場合)
                   g) 誤差
                   h) 機能性能
                − 試験の目的に記載された細分箇条に適合していることを検証する。
                − 実際の電源電圧(Ubmin)で上記手順を繰り返し,再び0.9(Ubmin)で繰り返し,次のデータ
                   を書き留める。
                   i)  電源供給電圧
                   j) 指示
                   k) 誤差
                   l)  その他計量器の関連する応答
 試験レベル指標 電圧の下限 仕様に従ってEUTが適切に機能する最低電圧
 試験サイクル数 各機能モードに対して最低1試験サイクル
 許容される影響 影響因子を適用中,
                − 全ての機能が設計どおり動作しなければならない。
                − 全ての誤差が最大許容誤差以内に入っていなければならない。

6.9 更なる影響試験(潜在的妨害の試験)

6.9.1  計量システムは,表16の中に提示された試験に合格した場合,JIS B 8577-1の5.11に適合してい
るとみなす。これらの妨害試験の実施する順序は,どのような順序でもよい。

――――― [JIS B 8577-2 pdf 23] ―――――

                                                                                             21
                                                                                 B 8577-2 : 2019
                                  表16−更なる影響試験の概要
                  細分箇条   表                       試験
                   6.9.4.1   17  高温高湿サイクル
                   6.9.4.2   18  放射電磁界イミュニティ
                   6.9.4.2   19  伝導無線周波数電磁界イミュニティ
                   6.9.4.3   20  静電気放電
                   6.9.4.4   21  AC及びDC主電源線路上のサージ
                   6.9.4.4   22  信号,データ及び制御線路上のサージ
                   6.9.4.5   23  AC主電源電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動
                   6.9.4.5   24  DC主電源の電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動
                   6.9.4.5   25  AC及びDC主電源並びに信号線路上のバースト(過渡)
                   6.9.4.5   26  DC主電源上のリップル試験
6.9.2  表17表26に規定された試験は,試験手順及び適用される更なる試験条件を含んでいる。これは,
参照した規格の中で規定されている適用可能な様々な試験手順において利用可能な一般情報に加えられる。
6.9.3  能動電子回路又は構成部品(例えば,半導体回路)を一切備えていないメータは,6.9.4.1(表17)
で規定された高温湿潤及び周期的影響試験に合格した後,JIS B 8577-1の5.11に適合しているとみなす。
6.9.4  DC主電源網に(直接的にも間接的にも)接続されていない計量器,又はスイッチモード変換器を
内蔵する充電システムに接続された計量器は,6.9.4.5(表26)で規定された試験を行うことなく,JIS B
8577-1の5.11に適合しているとみなす。
6.9.4.1  大気じょう(擾)乱に対するイミュニティ
                                  表17−高温高湿サイクル試験
 適用規格       JIS C 60068-2-30及びJIS C 60068-3-4
 試験方法       周期的温度変動を伴う高温高湿への暴露
 試験目的       JIS B 8577-1の表4のa)[表1のe)]に規定されている周期的温度変化と組み合わせた高湿度条
                件に暴露させた後,JIS B 8577-1の5.11に適合していることの検証
 試験手順概略   試験は,相対湿度(RH)を温度変化の間及び低温相の間に95 %を超え,高温相において93 %RH
                又はそれ以上で維持し,25 ℃と温度(Tah)との間の周期的な温度変化にEUTをさら(曝)すこ
                とからなる。
                結露は,温度上昇中にEUT上に生じることが見込まれる。
                24時間サイクルは,次のとおり。
                1) 3時間の温度上昇。
                2) サイクルの開始から12時間まで,温度は上限値に維持。
                3) 3時間6時間以内に温度を下限温度レベルに下降させ,最初の1時間半の間の下降(下降
                   率)は,下限温度レベルに3時間の間で到達する。
                4) 24時間サイクルが完了するまで,温度を下限値に維持。
                周期的暴露の前及び回復期間後の安定化の間は,EUTの全ての部分の温度がその最終値の3 ℃
                以内になるようになければならない。
                暴露中,EUTは電源をスイッチオフ状態でなければならない。
 試験レベル指標 1) 温度 Tah
                2) 持続時間 24時間
                3) サイクル数 2
 許容される影響 妨害及び回復の適用後,試験前の指示と試験後の指示との間の差がJIS B 8577-1の5.10.1に規定
                されている誤りの限界値を超えてはならない,又は計量システムが有意誤りの可能性を検知し,
                対応しなければならない。

――――― [JIS B 8577-2 pdf 24] ―――――

22
B 8577-2 : 2019
6.9.4.2  無線周波数電磁(RF EM)界に対するイミュニティ
                               表18−放射電磁界イミュニティ試験
 適用規格       JIS C 61000-4-3及びJIS C 61000-4-20
 試験方法       放射無線周波数電磁界への暴露
 試験目的       JIS B 8577-1の表2のa)に規定されている電磁界への直接暴露でのJIS B 8577-1の5.11に適合し
                ていることの検証
 試験手順概略   適用規格で規定されている電界均一性を維持しながら,次に規定した周波数範囲の中にあり電界
                強度振幅をもつ電磁界にEUTをさら(曝)すことからなる。
                EUTは,変調波磁界に暴露させなければならない。周波数掃引は,RF信号レベルを調整するため,
                又は必要に応じて,RF発生器,増幅器及びアンテナを切り替えるために一時停止するだけでな
                ければならない。周波数範囲が徐々に掃引される場合,ステップサイズは,前の周波数値の1 %
                を超えてはならない。各周波数における振幅変調搬送波の滞留時間は,EUTが作動し応答するの
                に要する時間未満であってはならない。適切な電磁界は,その使用はEUTの寸法及び設備の周
                波数範囲で制限されるが,異なるタイプ及びセットアップの設備で発生させることができる。
 試験レベル仕様                     パラメータ                           値           単位
                周波数範囲                                           261 000 a)       MHz
                                                                     801 000 b)
                振幅                                                     3            V/m
                変調                                                     80            %
                AM(正弦波)                                             1            kHz
 許容される影響 試験中の表示と基準状態での表示との差がJIS B 8577-1の5.10.1に規定されている誤りの限界値
                を超えてはならない,又はその計量システムが有意誤りの可能性を検知し,対応しなければなら
                ない。
 注a)   IS C 61000-4-3は,80 MHz以上の試験レベルだけを規定している。低域の周波数については,無線周波数範
      囲のコモンモード電流の試験方法が適用可能である(表19参照)。
    b) 表19で規定された試験を適用するために必要なケーブル(主ポート又はその他の入力ポート)がないEUT
       については,表19に規定した試験は適用できないことを考慮に入れ,表20の試験の下限値は,26 MHzとす
       る(JIS C 61000-4-3の附属書F参照)。その他全ての場合には,6.9.4.2の両方の試験が適用される。
                          表19−伝導無線周波数電磁界イミュニティ試験
 適用規格       JIS C 61000-4-6
 試験方法       RF電磁界への暴露に相当するRFコモンモード電流の注入
 試験目的       JIS B 8577-1の表2のb)又は適用できる場合はJIS B 8577-1の表3のa)に規定されている電磁界
                に暴露させているとき,JIS B 8577-1の5.11の規定に適合していることの検証
 試験手順概略   電磁界の影響をシミュレートするためには,引用規格で規定されている結合又は減結合装置を使
                用して,RF電流をEUTの主電源及び入力ポートに結合又は注入しなければならない。
 試験レベル指標 レベル指数a)                               2             3           単位
                周波数範囲b)                                   0.1580                 MHz
                RF振幅(50 Ω)                            3             10         V (e.m.f.)
                変調                                              80                   %
                AM(正弦波)                                      1                   kHz
 許容される影響 誤りの値は,JIS B 8577-1の5.10.1で規定されている誤りの限界値を超えてはならない,又は計
                量システムが有意誤りの可能性を検知し,対応しなければならない。
 注a) レベル指標3の試験レベルは,工業環境の中に設置することができる計量システムに適用される。
    b) 周波数範囲26 MHz80 MHzについては,表18又は表19に従って試験を実施することができる。異議が生
       じた場合,表19に従った結果を優先しなければならない。

――――― [JIS B 8577-2 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26